JPS60111637A - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
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- JPS60111637A JPS60111637A JP58220123A JP22012383A JPS60111637A JP S60111637 A JPS60111637 A JP S60111637A JP 58220123 A JP58220123 A JP 58220123A JP 22012383 A JP22012383 A JP 22012383A JP S60111637 A JPS60111637 A JP S60111637A
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
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- H04N5/32—Transforming X-rays
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
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-
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-
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- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
- A61B6/5282—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise due to scatter
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、Ｘ線を被写体に曝射することにより祷られ
る透過Ｘ＆！情報に基つく可視画像によシ医用診助を可
能とう゛るＸ触診り装置に関する。
る透過Ｘ＆！情報に基つく可視画像によシ医用診助を可
能とう゛るＸ触診り装置に関する。
一般に、Ｘ触診１ｔｌｌ装置において、Ｘ線を検出する
検出器には、直接Ｘ線と共に、被与体等で散跣した散乱
Ｘ線が入射する。この散乱Ｘ勝は、画像のコントラスト
鮮鋭度を劣化させる主たる原因となる。このため、散乱
Ｘ線を除去することが１蛍である。
検出器には、直接Ｘ線と共に、被与体等で散跣した散乱
Ｘ線が入射する。この散乱Ｘ勝は、画像のコントラスト
鮮鋭度を劣化させる主たる原因となる。このため、散乱
Ｘ線を除去することが１蛍である。
そこで、従来、散乱Ｘ勝を除去するために、Ｘ線診助に
、置にはクリッドが使用されている。
、置にはクリッドが使用されている。
しかしなから、グリッドは、それ自体散乱Ｘ＆Ｊの健生
源となるので、散乱Ｘ線の除去には自ずと限界かある。
源となるので、散乱Ｘ線の除去には自ずと限界かある。
尚、散乱Ｘ縁の除去は、コントラストおよび鮮鋭度を向
上して良質の１１！ｌｌ像とし、さらに、直接Ｘ線によ
る画像に対する対数変換を可能としその結果被写体によ
るＸ線の減弱知を正確にめられるので極めて１俄である
。その１仮性によシ、散乱Ｘ線の性質につき、極々研究
されているにもかかわらず、複雑な現象を呈することに
よシ、統一的な理解が拘られていないはかりか、散乱Ｘ
線の十分な除去の方法について未た殆んど知られていな
いのが塊状である。
上して良質の１１！ｌｌ像とし、さらに、直接Ｘ線によ
る画像に対する対数変換を可能としその結果被写体によ
るＸ線の減弱知を正確にめられるので極めて１俄である
。その１仮性によシ、散乱Ｘ線の性質につき、極々研究
されているにもかかわらず、複雑な現象を呈することに
よシ、統一的な理解が拘られていないはかりか、散乱Ｘ
線の十分な除去の方法について未た殆んど知られていな
いのが塊状である。
この発明は、８１］記如悄に知みてなされたものであシ
、検出器に入射するＸ線取分から散乱Ｘ線取分を除去し
て、コントラストおよび鮮鋭度が篩く、かつ、ボケのな
い画体を飽水することのできるＸ勝診障ｊ装置を提供す
ることを目的とするものでめる。
、検出器に入射するＸ線取分から散乱Ｘ線取分を除去し
て、コントラストおよび鮮鋭度が篩く、かつ、ボケのな
い画体を飽水することのできるＸ勝診障ｊ装置を提供す
ることを目的とするものでめる。
口ｊ」記目的を達成するだめの本発明の概硯＆ｊ１、被
写体を透過するＸ＆ｌを検出する検出器によ多出力され
る検出信号を基にして画像葡六示するＸ線診助装置にお
いて、Ｘ線照射野内のＸ鹸を部力的に遮障’ｌ Ｌかつ
Ｘ線照射野内に出入シ可能なＸ＆Ｉ遮回手回手段このＸ
線遮助手段をＸ線照射野内に位置させて被写体にＸ線を
１泰射して有られる被写体透過Ｘ線情報を基にＸ線照射
野内の散乱Ｘ脚開を詩。
写体を透過するＸ＆ｌを検出する検出器によ多出力され
る検出信号を基にして画像葡六示するＸ線診助装置にお
いて、Ｘ線照射野内のＸ鹸を部力的に遮障’ｌ Ｌかつ
Ｘ線照射野内に出入シ可能なＸ＆Ｉ遮回手回手段このＸ
線遮助手段をＸ線照射野内に位置させて被写体にＸ線を
１泰射して有られる被写体透過Ｘ線情報を基にＸ線照射
野内の散乱Ｘ脚開を詩。
出する第１の演界」・段と、この第１の演算手段の出力
データを、Ｘ飽ｊ損躬肪′内にＭ記Ｘ組遮障１手段を位
置させずに扱方Ｉ・にＸ線を曝射して拘られる被写体透
過Ｘ線情報よシ減算し、直接Ｘ糾成分による被写体透過
Ｘね情報を出力可能な第２の演檜−十段とを具備するこ
とを喘徴とするものである。
データを、Ｘ飽ｊ損躬肪′内にＭ記Ｘ組遮障１手段を位
置させずに扱方Ｉ・にＸ線を曝射して拘られる被写体透
過Ｘ線情報よシ減算し、直接Ｘ糾成分による被写体透過
Ｘね情報を出力可能な第２の演檜−十段とを具備するこ
とを喘徴とするものである。
先ず、この発明につきその原理を説明する。
被与体に人別したＸ線は、そのまま透過して検出器に入
射する直接Ｘ轟になるものと、被写体を構成する原子（
あるいは分子）との和瓦作用によシ吸収あるいはｔ’ｒ
、ｋ １ＩＩＬするものとがある。仮名の散乱するのが
散乱Ｘ線である。
射する直接Ｘ轟になるものと、被写体を構成する原子（
あるいは分子）との和瓦作用によシ吸収あるいはｔ’ｒ
、ｋ １ＩＩＬするものとがある。仮名の散乱するのが
散乱Ｘ線である。
第１図に、Ｘ糾究生部たる例えばＸ線管１１よシ出射す
るＸ線が被写体１２内で散乱し、空間的広がｐをもって
検出器１３に到達する有様を模式的に示す。第２図は、
＝ｉＪ記検出器１３上の位置とＸ線強度との関係を示す
％付図である。第２図における中央部の鋭いピークのわ
ずかな広がシにはシステムたとえはＸ線焦点等に起因す
るホブに対比、し、その周辺にすそ野の広い散ｎＫ ７
Ｊ応する分布りが観測される。
るＸ線が被写体１２内で散乱し、空間的広がｐをもって
検出器１３に到達する有様を模式的に示す。第２図は、
＝ｉＪ記検出器１３上の位置とＸ線強度との関係を示す
％付図である。第２図における中央部の鋭いピークのわ
ずかな広がシにはシステムたとえはＸ線焦点等に起因す
るホブに対比、し、その周辺にすそ野の広い散ｎＫ ７
Ｊ応する分布りが観測される。
Δ
また、第３図（２）＼凪＼（転）は前記散乱線の全問分
布の様子を模式的に示したものであｐ１同図（５）は被
写体１２に細いビーム状のＸ ？ｄｒが入射する様子を
ボし、同図のプはそれぞれ１本づつのＸ悟ビームに対す
る散乱Ｘ線の全問分布を乙くシ、同図（Ｃ＋は出）に示
ずＸ線ビームの個々の分伯の血ね合せて与えられる実際
の散乱線分仕を示している。ここで、−ａおよびａはＸ
線照射封の境界でおり、丑だＩ ｓ ｃ （ｘＪは散乱
Ｘ線の強展を意味する。尚、ロー〕単のため第３図（５
）、（１３）、Ｃノは一次元として衣わした１、ところ
で、Ｘ線１４（１射によシ伏出番に入射するＸ勝強度Ｉ
ｒｎ（ｘ、ｙ）は、直線Ｘ膨強ａ Ｉ ｐ （Ｘ＋ ｙ
）と散乱Ｘ線強度１ｓｅ（ｘ、ｙ）との第１１として
次式のように衣わされる。ずなわぢ、 Ｉｒｎ（ｘ、ｙ）＝Ｉｐ（ｘ、ｙ）＋ｌ５ｃ（ｘ、ｙ）
−＝ ・＝−（ｉ）ここで、（ｘ、ｙ）は検出ム面土の
位置を次わず座標である。すでに述べたように、散乱肪
成分１ｓｃ（ｘ、ｙ）の空間的な変動はゆるやかである
ので、Ｘ線照射野内におりる複数個の散乱Ｘｉ成分のデ
ータを用いて、比較的精度良くＸ勝照射野内全域の散乱
線成分ｌ５ｅ（Ｘ、ｙ）を推定することか可能となる。
布の様子を模式的に示したものであｐ１同図（５）は被
写体１２に細いビーム状のＸ ？ｄｒが入射する様子を
ボし、同図のプはそれぞれ１本づつのＸ悟ビームに対す
る散乱Ｘ線の全問分布を乙くシ、同図（Ｃ＋は出）に示
ずＸ線ビームの個々の分伯の血ね合せて与えられる実際
の散乱線分仕を示している。ここで、−ａおよびａはＸ
線照射封の境界でおり、丑だＩ ｓ ｃ （ｘＪは散乱
Ｘ線の強展を意味する。尚、ロー〕単のため第３図（５
）、（１３）、Ｃノは一次元として衣わした１、ところ
で、Ｘ線１４（１射によシ伏出番に入射するＸ勝強度Ｉ
ｒｎ（ｘ、ｙ）は、直線Ｘ膨強ａ Ｉ ｐ （Ｘ＋ ｙ
）と散乱Ｘ線強度１ｓｅ（ｘ、ｙ）との第１１として
次式のように衣わされる。ずなわぢ、 Ｉｒｎ（ｘ、ｙ）＝Ｉｐ（ｘ、ｙ）＋ｌ５ｃ（ｘ、ｙ）
−＝ ・＝−（ｉ）ここで、（ｘ、ｙ）は検出ム面土の
位置を次わず座標である。すでに述べたように、散乱肪
成分１ｓｃ（ｘ、ｙ）の空間的な変動はゆるやかである
ので、Ｘ線照射野内におりる複数個の散乱Ｘｉ成分のデ
ータを用いて、比較的精度良くＸ勝照射野内全域の散乱
線成分ｌ５ｅ（Ｘ、ｙ）を推定することか可能となる。
次に、前記原理に則った本発明の一実施例について説明
する。
する。
第４図は本発明に保るＸ紛診障１装置をボず説明図であ
る。同図に示すように、本発明に係るＸ線診助装置は、
Ｘ線発生１ＪＩｌたる例えはＸ線管１８と、このＸ線管
１８よシ曝射されるＸ線のＸ線照射野内であって被写体
２１とＸ線管１８との間に出入ｐ Ｅｌ能なＸ線遮助乎
攻２０（後に詳述する）と、被写体２１を透過するＸ線
を検出する検出器２２と、この検出器２２より出力され
る被写体透過Ｘ線情報（アナログ信号）をテイジタル佃
号に変換するＡ／ＤＣアツーロノ・テイジタル）変換手
段２３と、Ｘ細手ぬ１手段２（）をＸ肪照射野ビタに位
置、させたまま被写体２１にＸ線を曝射したときに、Ａ
／Ｄ変換手埃２３よ多出力されるデータを一旦記憶する
とともに、このデータを後述する第１の演算乎段２６に
転送し、この第１の演算手段２６の出力（演算結果）を
再ひ記憶する第１の記１．し手段２４と、この第１のｇ
ｂ憶十手段４に先に記憶されたデータを基に散乱線分布
を演初、シ、この演力、Ｒ１釆を抛１の記憶手段２４に
転送する第１の演算手段２６と、Ｘ線遮助手段２０をＸ
線照射野外に位１ｈさせたまま被写体２１にＸ線を曝射
したときに、Ａ／Ｄ変換＋段２３よシ出力されるデータ
を記１息する第２の記憶手段２５と、この第２のｄ已憶
引段２ ＋Ｊよシ読春出されたデータから、前記第１の
記１急−１−反２４よシ軌み出されたデータ（散ａＸ肪
データ）を減鏝−する第２の演算手段２７と、この第２
の演誇一手段の出力（テイジタル化＋′ｊ）をアナログ
Ｗｕ’ｊに変換するＤ／Ａ（ディジタル・アナログ）変
換手段２８と、このＤ／Ａ変換手段２８の出力を基に画
像表示を行うモニタ２９と、６１」肥Ｘ線遮障１手段２
０及び前記第１、第２の記憶手段２４．２５並びに前記
第１、弗２の演算手段２６．２７の動作を制御する制御
手段３０とを含んで構取嘔れる。尚、同図１９で示すの
は、Ｘ線照射野を次短するＸ肪教ｐである。
る。同図に示すように、本発明に係るＸ線診助装置は、
Ｘ線発生１ＪＩｌたる例えはＸ線管１８と、このＸ線管
１８よシ曝射されるＸ線のＸ線照射野内であって被写体
２１とＸ線管１８との間に出入ｐ Ｅｌ能なＸ線遮助乎
攻２０（後に詳述する）と、被写体２１を透過するＸ線
を検出する検出器２２と、この検出器２２より出力され
る被写体透過Ｘ線情報（アナログ信号）をテイジタル佃
号に変換するＡ／ＤＣアツーロノ・テイジタル）変換手
段２３と、Ｘ細手ぬ１手段２（）をＸ肪照射野ビタに位
置、させたまま被写体２１にＸ線を曝射したときに、Ａ
／Ｄ変換手埃２３よ多出力されるデータを一旦記憶する
とともに、このデータを後述する第１の演算乎段２６に
転送し、この第１の演算手段２６の出力（演算結果）を
再ひ記憶する第１の記１．し手段２４と、この第１のｇ
ｂ憶十手段４に先に記憶されたデータを基に散乱線分布
を演初、シ、この演力、Ｒ１釆を抛１の記憶手段２４に
転送する第１の演算手段２６と、Ｘ線遮助手段２０をＸ
線照射野外に位１ｈさせたまま被写体２１にＸ線を曝射
したときに、Ａ／Ｄ変換＋段２３よシ出力されるデータ
を記１息する第２の記憶手段２５と、この第２のｄ已憶
引段２ ＋Ｊよシ読春出されたデータから、前記第１の
記１急−１−反２４よシ軌み出されたデータ（散ａＸ肪
データ）を減鏝−する第２の演算手段２７と、この第２
の演誇一手段の出力（テイジタル化＋′ｊ）をアナログ
Ｗｕ’ｊに変換するＤ／Ａ（ディジタル・アナログ）変
換手段２８と、このＤ／Ａ変換手段２８の出力を基に画
像表示を行うモニタ２９と、６１」肥Ｘ線遮障１手段２
０及び前記第１、第２の記憶手段２４．２５並びに前記
第１、弗２の演算手段２６．２７の動作を制御する制御
手段３０とを含んで構取嘔れる。尚、同図１９で示すの
は、Ｘ線照射野を次短するＸ肪教ｐである。
肖１■己Ｘ線遮肉ｌＪ父２０は、か］ｂじ制拉９号段３
０により制御される図ボしない駆動手段によりＸ線照射
野内に出入ｂ」能に駆動（たとえは矢印Ｘ方向）される
とともに、たとえは第５図に示すように、複数個のＸ線
遮蔽部拐たとえは鉛片３１Ａを有する薄板たとえはアク
リル板３１Ｂにより構成される。しかして、第６図に示
すように、Ｘ線速１手ぬ１２０をＸ線照射Ｉｆ内に位置
芒せた−１：ま、被写体２１にＸ線を１４ｊｔ ＃Ｊす
ると、極出福２２によって検出される被写体透過Ｘ線の
強度分布は、たとえはｈ−ｈ’ｍｒについて、第７図に
示すように、１．２．３．４．５でボずｉＸｌ＼分（鉛
片３１ＡによってＸ線がおおわれた部分）が急、激に洛
ぢ込む強度分布となシ、この１〜５で示す落ち込み部分
の値が散乱Ｘ線強度ｌ５ｃｒ示すことになる。（なぜな
ら、＠接Ｘ ｉ１Ｍ成分は鉛片３１Ａで遮蔽部れるので
現われ倚ないはずである） 前記第１の演算手段２６は、Ｘ線遮り１手段２０におけ
る鉛片３１Ａでおおわれた部分に相当する記憶データ（
第１の記憶手段２４にｉじ憶されている）を基に、たと
えは内部補間によシ各両累の散乱Ｘ物量を算出する。
０により制御される図ボしない駆動手段によりＸ線照射
野内に出入ｂ」能に駆動（たとえは矢印Ｘ方向）される
とともに、たとえは第５図に示すように、複数個のＸ線
遮蔽部拐たとえは鉛片３１Ａを有する薄板たとえはアク
リル板３１Ｂにより構成される。しかして、第６図に示
すように、Ｘ線速１手ぬ１２０をＸ線照射Ｉｆ内に位置
芒せた−１：ま、被写体２１にＸ線を１４ｊｔ ＃Ｊす
ると、極出福２２によって検出される被写体透過Ｘ線の
強度分布は、たとえはｈ−ｈ’ｍｒについて、第７図に
示すように、１．２．３．４．５でボずｉＸｌ＼分（鉛
片３１ＡによってＸ線がおおわれた部分）が急、激に洛
ぢ込む強度分布となシ、この１〜５で示す落ち込み部分
の値が散乱Ｘ線強度ｌ５ｃｒ示すことになる。（なぜな
ら、＠接Ｘ ｉ１Ｍ成分は鉛片３１Ａで遮蔽部れるので
現われ倚ないはずである） 前記第１の演算手段２６は、Ｘ線遮り１手段２０におけ
る鉛片３１Ａでおおわれた部分に相当する記憶データ（
第１の記憶手段２４にｉじ憶されている）を基に、たと
えは内部補間によシ各両累の散乱Ｘ物量を算出する。
次に、以上のように柘取される装置の作用について、第
８１葡も参照しなから祝すｊする。
８１葡も参照しなから祝すｊする。
先ず、散乱Ｘ恐強度をめるために、第４図に示ずように
Ｘ脚遮助手攻２０をＸ線照射灯内に位置ちぜて、Ｘ勝盲
１８によシ級方体２１にＸ線を曝射する。被写体２１を
透過したＸ線に、検出器２２で検出され、被写体透過Ｘ
肪情報としてＡ／Ｄ俊換手段２３に入力し、ディジタル
信号に笈挾芒れ、第１のｂ己ｔは手段２４に一旦Ｑｅ憶
さ７’Ｌる。この第１の記憶手段２４に一旦記憶された
ケータを基に第１の演舞一手段２６は、散乱Ｘ＆ｌ知を
貌、出する。
Ｘ脚遮助手攻２０をＸ線照射灯内に位置ちぜて、Ｘ勝盲
１８によシ級方体２１にＸ線を曝射する。被写体２１を
透過したＸ線に、検出器２２で検出され、被写体透過Ｘ
肪情報としてＡ／Ｄ俊換手段２３に入力し、ディジタル
信号に笈挾芒れ、第１のｂ己ｔは手段２４に一旦Ｑｅ憶
さ７’Ｌる。この第１の記憶手段２４に一旦記憶された
ケータを基に第１の演舞一手段２６は、散乱Ｘ＆ｌ知を
貌、出する。
すなわち、Ｘ線遮障１手段２０におりる鉛片３１Ａでお
おわれた部分に相当する記１．リテータ（第１の記憶手
段２５に記憶される〕から、内部補間によって各両系の
散乱Ｘ鉛量を算出づ−る。
おわれた部分に相当する記１．リテータ（第１の記憶手
段２５に記憶される〕から、内部補間によって各両系の
散乱Ｘ鉛量を算出づ−る。
ここで、内部軸１’ｔＪＪ法について、たとえは第６図
におりるＡ−Ａ’ｍに沿ってデータを腺形袖間する例を
示した第８１ス１を用いて説明する。同図横軸は第１の
記憶手段２４内の八−Ｘ線（第６図参照）に対応するメ
モリアドレスを、また縦軸は画素値をそれぞれ示し、■
印で示す値１′、２′、３′、４′は、第６図に示す鉛
片１．２．３．４におおわれた位置における散乱Ｘ線デ
ータを示している。この散乱Ｘ綜データ１′、２′、３
′、４′を基に補間された各画集における計ｑ−値は・
印で与えられる。尚、散乱Ｘ線データ１より左側の値は
補間不可能となるので、たとえば散乱Ｘ９Ｊデータ１の
値を配置すると良い。このようにして補間された散乱Ｘ
＠データは、再び第１の記憶手段２４に記憶される。
におりるＡ−Ａ’ｍに沿ってデータを腺形袖間する例を
示した第８１ス１を用いて説明する。同図横軸は第１の
記憶手段２４内の八−Ｘ線（第６図参照）に対応するメ
モリアドレスを、また縦軸は画素値をそれぞれ示し、■
印で示す値１′、２′、３′、４′は、第６図に示す鉛
片１．２．３．４におおわれた位置における散乱Ｘ線デ
ータを示している。この散乱Ｘ綜データ１′、２′、３
′、４′を基に補間された各画集における計ｑ−値は・
印で与えられる。尚、散乱Ｘ線データ１より左側の値は
補間不可能となるので、たとえば散乱Ｘ９Ｊデータ１の
値を配置すると良い。このようにして補間された散乱Ｘ
＠データは、再び第１の記憶手段２４に記憶される。
次に、Ｘ＠遮断手段２０をＸ線照射野外に位置させたま
までＸ線を曝射する。このＸ線曝射によって得られた被
写体透過Ｘ線は、検出器２２で検出され、Ａ／Ｄ変換手
段２３でディジタル信号に変換された後、第２の記憶手
段２５に記憶される。
までＸ線を曝射する。このＸ線曝射によって得られた被
写体透過Ｘ線は、検出器２２で検出され、Ａ／Ｄ変換手
段２３でディジタル信号に変換された後、第２の記憶手
段２５に記憶される。
しかして、この第２の記憶手段２５に記憶されたデータ
と、前記第１の記憶手段２４に記憶された散乱Ｘ線デー
タとが、それぞれ読み出され、第２の演算手段２７の演
算に供される。すなわち、この第２の演卦１手段２７ｉ
Ｉｉ、第２の記憶寸段２５の記１．はテークに八は、Ｘ
線遮り１手段２０を用いない場合にイｑられた沙写体透
過Ｘ約情報を意味する）から、第１の記１．ハ手段２４
の記憶テーク（補間された散乱Ｘ１Ｍテークを意味する
〕を差し引き、Ｘ線の直接成分の冷（散乱肪成分を含壕
ないことを意味する）によるデータ暫り／Ａ裳供手攻２
８に出力する。このようにしてＤ／Ａ変挾手段２８に人
力もれたテークは、アナログイム号に変換さ！しモニタ
２９における１Ｉｉ１１１島六不に供される。ここで、
モニタ２９のｉＩ！ＩＩ像表示は、ボケが力く、コン）
・ラスト及び鮮鋭度の商いＸ線画像となる。以］・、そ
の坤山について説明する１、すなわち、本装置によれは
、Ｘ（財）遮１Ｉ１１手段２０を用い／ζ場合と用いな
い場合との粗力体透過Ｘ勝情報を曲、０す名ずなわち、
Ｘ約遮断手段２０を用いた賜金の情報ケ基に散乱Ｘ勝Ｉ
Ｊ又分をｑ、出し、この散乱線成分を？Ｊｉｌ記Ｘ細遮
助手段２０を月」いない場合の情報より減ｔ＋、するこ
とによυ、モニタ２９の画像入水に供されるテークは、
散乱線成分を含まない直接Ｘ線成分のみによる被与体透
過ｘ＆！佇ｊ報となる。よって、モニタ２９のＩｌｉ＋
１偽表示はボケかなく、コントラスト及び鮮鋭度の高い
Ｘ線画像となるのでめゐ。
と、前記第１の記憶手段２４に記憶された散乱Ｘ線デー
タとが、それぞれ読み出され、第２の演算手段２７の演
算に供される。すなわち、この第２の演卦１手段２７ｉ
Ｉｉ、第２の記憶寸段２５の記１．はテークに八は、Ｘ
線遮り１手段２０を用いない場合にイｑられた沙写体透
過Ｘ約情報を意味する）から、第１の記１．ハ手段２４
の記憶テーク（補間された散乱Ｘ１Ｍテークを意味する
〕を差し引き、Ｘ線の直接成分の冷（散乱肪成分を含壕
ないことを意味する）によるデータ暫り／Ａ裳供手攻２
８に出力する。このようにしてＤ／Ａ変挾手段２８に人
力もれたテークは、アナログイム号に変換さ！しモニタ
２９における１Ｉｉ１１１島六不に供される。ここで、
モニタ２９のｉＩ！ＩＩ像表示は、ボケが力く、コン）
・ラスト及び鮮鋭度の商いＸ線画像となる。以］・、そ
の坤山について説明する１、すなわち、本装置によれは
、Ｘ（財）遮１Ｉ１１手段２０を用い／ζ場合と用いな
い場合との粗力体透過Ｘ勝情報を曲、０す名ずなわち、
Ｘ約遮断手段２０を用いた賜金の情報ケ基に散乱Ｘ勝Ｉ
Ｊ又分をｑ、出し、この散乱線成分を？Ｊｉｌ記Ｘ細遮
助手段２０を月」いない場合の情報より減ｔ＋、するこ
とによυ、モニタ２９の画像入水に供されるテークは、
散乱線成分を含まない直接Ｘ線成分のみによる被与体透
過ｘ＆！佇ｊ報となる。よって、モニタ２９のＩｌｉ＋
１偽表示はボケかなく、コントラスト及び鮮鋭度の高い
Ｘ線画像となるのでめゐ。
尚、本発明はｒｊ；Ｊ記憶り也例によって限定δれるも
のではなく、本光り」の景旨の範囲内で適宜に変形実施
か−ｉＪ能であるのｔ」、いう゛よ−（もない。
のではなく、本光り」の景旨の範囲内で適宜に変形実施
か−ｉＪ能であるのｔ」、いう゛よ−（もない。
／ことえは、ｉｌ」記美力也ｖＩｌｌの変形例として、
第８図に７」クシた袖ＩＮＪ法の他に、第６図Ａ−Ａ’
方向に直角あるいは和方向への補間もｂ」能でりる。ｌ
た、第７図に示した線形袖曲法の公に、？（岨らかにテ
ークを補間するための適当な補ＩＩ、法も実施ｂ」罷で
りる。
第８図に７」クシた袖ＩＮＪ法の他に、第６図Ａ−Ａ’
方向に直角あるいは和方向への補間もｂ」能でりる。ｌ
た、第７図に示した線形袖曲法の公に、？（岨らかにテ
ークを補間するための適当な補ＩＩ、法も実施ｂ」罷で
りる。
例えは、標不化関数として知られるＳ ｉ １１ ｃ曲
数を用いた補間が考えられる。
数を用いた補間が考えられる。
址だ、ｎｌ」詑実施例では、最初にＸ線遮断手段２０を
用いて扱方体透逼Ｘ線情報を倚、次いでＸ約遮断手段２
０を用いないで被写透過Ｘ線情報を僅だが、これは、Ｘ
線遮断手段２０を用いずに情報を伯る間に包１の演ｊ本
手段２６による演ＪＪを終了させるようにし、本装置に
おけるテーク収集から画像表示葦での特出」を短かくす
るためであシ、いずれ力・先であっても本発明の幼果に
４”１ら影替１−るものでｅ、ｊない。
用いて扱方体透逼Ｘ線情報を倚、次いでＸ約遮断手段２
０を用いないで被写透過Ｘ線情報を僅だが、これは、Ｘ
線遮断手段２０を用いずに情報を伯る間に包１の演ｊ本
手段２６による演ＪＪを終了させるようにし、本装置に
おけるテーク収集から画像表示葦での特出」を短かくす
るためであシ、いずれ力・先であっても本発明の幼果に
４”１ら影替１−るものでｅ、ｊない。
また、Ｍ’ｌＪ記実施伝ではＸ忽遮蔽手段２０を、Ｘ紬
発生都１８と被写体２１とのｈに配置づ４〕ものとした
か、被写体２１と検出器２２との間に土ｉじＸ線遮蔽手
段２０を配附しても本発明の幼果に（”Ｊら影響を与え
るものではない。
発生都１８と被写体２１とのｈに配置づ４〕ものとした
か、被写体２１と検出器２２との間に土ｉじＸ線遮蔽手
段２０を配附しても本発明の幼果に（”Ｊら影響を与え
るものではない。
以上直り」したように１この発明によると鈑ｌＪ体を透
過したＸ線透過像を衣ボすることかできるので、両得の
コントラストと鮮鋭度か向上しかつボケのないＸ線Ｉｉ
！１１作かイーＪられるところのＸ緋＃断装箔−を提供
することがでさ、医用診ｌＯｉ′能力の向上に大きく霜
与することができる。
過したＸ線透過像を衣ボすることかできるので、両得の
コントラストと鮮鋭度か向上しかつボケのないＸ線Ｉｉ
！１１作かイーＪられるところのＸ緋＃断装箔−を提供
することがでさ、医用診ｌＯｉ′能力の向上に大きく霜
与することができる。
第１図は被写体にＸ線を曝材Ｊしたときに散乱Ｘ線が光
年する状態を示す説明図、第２図は散乱Ｘ線を宮むＸ線
の強度と検出器上の位じとの関係を示す肋付図、第３図
占〜西＼αはＩ収乱Ｘ肪の空間分布の４ホ子を模式的に
示す説明図、第４図は奉光１力に係るＸ急診障ｒ装匝の
拓底を示す欧明図、第５図は第４図しこ示−１′睦１１
菫に共仙ＵされるＸ絶遮饅１手段の一物」を示す制ψ」
図、第６図は２Ａ′ＪＪ５図に力（１−Ｘ紡速ｌ）「芋
表を Ｘ糺、ｌ（４月ｊジ１」 内 に自己五１ し）
こ ゛ま ま Ｘ糸宋曝身」をする状態を力くず説明図
、第７図は第６図り（おける検出器により検出器れたＸ
姶のり虫展分イｔを示すｔｒ′Ｊ仙図、第８図は１１り
乱Ｘｍｌの補間の方法を欣１するための説明図でりる。 １８・・Ｘ物官（Ｘ軸元生柿）、２０・・・Ｘ線遮〜［
手段、２１・・祖力体、２２・・検出器、２６・・・第
１の渉４問・Ｈ＞、 ２７−・第２の辿多一番手段Ｏ第
１図 第３図 第６図 ２２ 第７図
年する状態を示す説明図、第２図は散乱Ｘ線を宮むＸ線
の強度と検出器上の位じとの関係を示す肋付図、第３図
占〜西＼αはＩ収乱Ｘ肪の空間分布の４ホ子を模式的に
示す説明図、第４図は奉光１力に係るＸ急診障ｒ装匝の
拓底を示す欧明図、第５図は第４図しこ示−１′睦１１
菫に共仙ＵされるＸ絶遮饅１手段の一物」を示す制ψ」
図、第６図は２Ａ′ＪＪ５図に力（１−Ｘ紡速ｌ）「芋
表を Ｘ糺、ｌ（４月ｊジ１」 内 に自己五１ し）
こ ゛ま ま Ｘ糸宋曝身」をする状態を力くず説明図
、第７図は第６図り（おける検出器により検出器れたＸ
姶のり虫展分イｔを示すｔｒ′Ｊ仙図、第８図は１１り
乱Ｘｍｌの補間の方法を欣１するための説明図でりる。 １８・・Ｘ物官（Ｘ軸元生柿）、２０・・・Ｘ線遮〜［
手段、２１・・祖力体、２２・・検出器、２６・・・第
１の渉４問・Ｈ＞、 ２７−・第２の辿多一番手段Ｏ第
１図 第３図 第６図 ２２ 第７図
Claims (1)
- 被写体を透過するＸ線を検出する検出器により出力され
る検出信号を基にして画像を表示するＸ線診断装置にお
いて、Ｘ線照射野内のＸ線を部分的に遮断しかつＸ線照
射野内に出入り可能なＸ線遮断手段と、このＸ線遮断手
段をＸ線照射野内に位置させて被写体にＸａｌを曝射し
て得られる被写体透過Ｘ綜情報を基にＸ線照射野内の散
乱Ｘ線量を算出する第１の演算手段と、この第１の演算
手段の出力データを、Ｘ線照射野内に前記Ｘ線遮断手段
を位置させずに被写体にＸ線を曝射して得られる被写体
透過Ｘ線情報より減算し、直接Ｘ線成分による被写体透
過Ｘ線情報を出力可能な第２の演算手段とを具備するこ
とを特徴とするＸ線診断装置ハ１．
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58220123A JPS60111637A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | Ｘ線診断装置 |
| EP19840114043 EP0142864A3 (en) | 1983-11-22 | 1984-11-20 | X-ray diagnostic apparatus utilizing x-ray shield member |
| KR1019840007276A KR870000635B1 (ko) | 1983-11-22 | 1984-11-21 | X선 진단장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58220123A JPS60111637A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | Ｘ線診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60111637A true JPS60111637A (ja) | 1985-06-18 |
| JPH0430787B2 JPH0430787B2 (ja) | 1992-05-22 |
Family
ID=16746269
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58220123A Granted JPS60111637A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | Ｘ線診断装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0142864A3 (ja) |
| JP (1) | JPS60111637A (ja) |
| KR (1) | KR870000635B1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6287136A (ja) * | 1985-09-16 | 1987-04-21 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 像を較正する方法 |
| JP2003018463A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-17 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線検査装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02237277A (ja) * | 1989-03-09 | 1990-09-19 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP3459745B2 (ja) * | 1997-03-27 | 2003-10-27 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、放射線撮影装置及び画像処理方法 |
| US6807250B2 (en) * | 2001-04-30 | 2004-10-19 | Eastman Kodak Company | Collimation device and method for acquiring a radiation image of a long body part using direct digital X-ray detectors |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57126061U (ja) * | 1981-02-02 | 1982-08-06 | ||
| JPS5869532A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-25 | 株式会社東芝 | Ｘ線撮影装置 |
| JPS58116890A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-12 | Shimadzu Corp | デイジタルサブトラクシヨン式ｘ線装置およびｘ線画像処理方式 |
| JPS58116891A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-12 | Shimadzu Corp | デイジタルサブトラクション式ｘ線装置 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3860821A (en) * | 1970-10-02 | 1975-01-14 | Raytheon Co | Imaging system |
| DE2452166A1 (de) * | 1974-11-02 | 1976-05-13 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zum verringern des streustrahleneinflusses |
| DE2454537A1 (de) * | 1974-11-16 | 1976-05-20 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur reduzierung des einflusses von streustrahlung und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| DE2939146A1 (de) * | 1979-09-27 | 1981-04-16 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zur untersuchung eines koerpers mit durchdringender strahlung |
| FR2526575A1 (fr) * | 1982-05-04 | 1983-11-10 | Thomson Csf | Procede de traitement d'image radiologique en vue de corriger ladite image des defauts dus au rayonnement diffuse |
| EP0105618B1 (en) * | 1982-09-07 | 1989-10-25 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | X-ray imaging system having radiation scatter compensation and method |
| DE3304213A1 (de) * | 1983-02-08 | 1984-08-09 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikanlage mit mitteln zur unterdrueckung der streustrahlung |
| EP0123276B1 (en) * | 1983-04-25 | 1988-03-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray diagnostic apparatus |
-
1983
- 1983-11-22 JP JP58220123A patent/JPS60111637A/ja active Granted
-
1984
- 1984-11-20 EP EP19840114043 patent/EP0142864A3/en not_active Withdrawn
- 1984-11-21 KR KR1019840007276A patent/KR870000635B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57126061U (ja) * | 1981-02-02 | 1982-08-06 | ||
| JPS5869532A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-25 | 株式会社東芝 | Ｘ線撮影装置 |
| JPS58116890A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-12 | Shimadzu Corp | デイジタルサブトラクシヨン式ｘ線装置およびｘ線画像処理方式 |
| JPS58116891A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-12 | Shimadzu Corp | デイジタルサブトラクション式ｘ線装置 |
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|---|---|---|---|---|
| JPS6287136A (ja) * | 1985-09-16 | 1987-04-21 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 像を較正する方法 |
| JP2003018463A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-17 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0142864A2 (en) | 1985-05-29 |
| KR870000635B1 (ko) | 1987-04-03 |
| KR850003498A (ko) | 1985-06-20 |
| EP0142864A3 (en) | 1987-06-10 |
| JPH0430787B2 (ja) | 1992-05-22 |
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