JPS6145737A - Ｘ線検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は、被検体を透過したＸ線を検出することにより
医学的診断又は工業的検査に有効な画像及び計測値を出
力するＸ線検査装置に関する。

［発明の技術的背景とその同題点］ 従来のＸ線検査装置の一例としてデイジタルフルオログ
ラフ装置？￥客のＸ線透過画像検査装置をηげろことが
できる。この装置において表示される画像には検出器系
等による空間歪みが存在しているため、実態のディメン
ジョンと画像から推定したディメンジョンどが著しく異
なる場合が生ずる。

また、被検体の各部位について収集した複数枚の画像を
連結して一枚の画像に合成する場合にあっては、前記空
間歪みのために画像を滑らかに連結できないという欠点
があった。さらに、Ｘ線断層検査装置又はＸ線立体画像
検査装置においても、再構成前の透過画像に空間歪みが
含まれているため、再構成された断層像あるいは立体画
像と実体とが結果的に著しく異なってしまう場合があっ
た。

従って、このような空間歪みを含む画像に基づいて検査
を行ったり、又は前記画像から被検体のディメンジョン
を４測したりする場合には、空間歪みによる誤差が重畳
して画像検査及び定量検査を困難にし、ひいては誤った
検査結果に通ずるという問題があった。

［発明の目的］ 本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、空間歪
みを補正して実体像により近似した画像を表示し、又は
この画像より正確な定量検査を行うことのできるＸ線検
査装置を提供することを目的とするものである。

［発明の概要］ 上記目的を達成するための本発明の概要は、Ｘ線発生器
により被検体にＸ線を曝射し、被検体を透過した透過Ｘ
線像を電気信号に変換した後、画像処理装置により画像
処理して画像表示装置上に被検体画像を表示するＸ線検
査装置において、格子状のテストチャートの収集画像か
ら作成される格子点歪み量テーブル及び格子点出現テー
ブルと、被検体の収集画像を記憶する第１の記憶手段と
、前記被検体の収集画像に空間歪み補正を施した補正後
の画像を記憶する第２の記憶手段と、この第２の記憶手
段における画素アドレスと対応する前記被検体の収集画
像中の画素アドレスを前記格子点出現テーブル及び格子
点歪み量テーブルを用いて格子点のアドレスから補間し
て算出する第１の演算手段と、前記収集画像中の画素ア
ドレスにおりる画素濃度を前記被検体の収集画像におけ
る格子点上の画素濃度より補間して算出し、前記第２の
記憶手段の画素アドレス上に書き込む第２の演算手段と
を有寸ることを特徴とするものである。

［発明の実施例１ 以下、本発明の原理及び実施例について図面を参照して
説明する。

先ず本発明の詳細な説明する。本発明では、被検体撮影
前に格子状のテストチャートを撮影し、空間歪みを含む
この格子状テストチャートの画像から空間歪み量デープ
ルと格子点出現テーブルとを作成している。第１図（Ａ
＞、（Ｂ）は前記格子状のデストチ１フートを示す概略
説明図である。

第１図（Ａ）は前記テストチャートの縦縞チャートを示
し、縦縞チャートがピッチＭで配列されている。第１図
（Ｂ）は前記テストチャートの横縞チャートを示し、横
縞チャートがピッチＮで配列されている。この格子状テ
ストチャートの撮影画像を第２図（Ａ）、（Ｂ）に示す
。第２図（Ａ）。

（Ｂ）はそれぞれ前記縦縞チャート、横縞チャートの収
集画像であって、共に空間歪みを含むために歪んでいる
。尚、第２図（Ａ）、（Ｂ）に示ず円はＸ線検出器が円
形であることを示している。

第３図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）は前記テストチャートの
格子点の実体像、テストチャートの格子点の収集画像（
歪み画像）、この収集画像を補止した補正済み画像をそ
れぞれ示している。ここで、′ベクトルＸ＝　（ｘ　、
　ｙ　）は補正済み画像の画素アドレスを示し、ベクト
ルＸ’　＝（ｘ’　、ｙ’　）は歪み画像の画素アドレ
スを示す。第３図（Ａ）。

（Ｂ）より分かるように、実体像では格子点が整然と配
列されているのに対し、歪み画像では空間歪みのために
配列位置が歪み、かつ、Ｘ線検出器の円形領域の制限の
ために格子点の数が少なくなっている。この歪み画像は
、補正を行うための基・　礎となるため、格子点が歪み
画像中で見つかったかどうかを示す格子点出現テーブル
（第４図参照）中に格子点が臀されていたことを示す。

尚、第４図中に、ｌは格子点の分類座標を示す。また、
第３図（Ｂ）に示す格子点の歪み画像と第３図（Ｃ）に
示す補正済み画像との関係は第６図←Ａ）。

（Ｂ）に示すようになっている。第６図（Ａ＞は補正済
み画像中の４格子点を示し、その位置座標をそれぞれベ
クｉ−ルＵ　（ｋ　、乏）、、　Ｕ　（ｋ　＋１゜り、
Ｕ（ｋ、ｍｌ）、Ｕ（ｌ＋１．ｊＭ＋１）とする。ここ
で、ベクトルＵ＝（Ｌｌｘ、ｕｖ）であり、Ｘ方向にｌ
Ｊｘ、Ｙ方向にｕｙを有する。第６図（Ｂ）は歪みｉｉ
Ｎｉｆｇ＋中の４格子点を示しその位置外！ｔｉ−３（
ｋ、　１）、Ｓ（ｌ＋１．　！＞、Ｓ（ｋ、ｌ＋１）、
Ｓ　（ｋ　＋１．１＋１）とする。

ここで、ベクトルＳ”’　（Ｓｘ’　ｌ　ｓｖ＋　＞で
あり、Ｓはｘ′力方向ｓ　ｘ　／　、　ｙ　／方向にＳ
　Ｙ　”　／成分を右ｊる。尚、第６図（Ａ＞から第６
図（Ｂ）への変換をｒとするとこの「は歪みを示し、逆
に第６図（Ｂ）から第６図（Ａ）への変換をｆ−１とす
るとこの［−１は補正を意味する。第７図に前記４格子
点の各歪みベクトルＤ（ｋ、ｊり、Ｄ（ｌ＋１゜ｌ）、
Ｄ（ｋ、　Ｉｌ＋１）、Ｄ（ｌ＋１．１＋１）を示す。

尚、ベクトルＤはＸ方向成分がｄＸ、Ｖ方向成分がｄＹ
である。ここで、座標ムク１ヘルＵ（ｋ、ｊ）、座標ベ
タ１〜ルＳ　（ｋ　、り及び歪みベクトルＤ（ｋｌりの
関係は、下記の式ｆｌ）に示すようになる。

Ｄ（ｋ、ｊり＝Ｕ（ｋ、ｊＭｌ−３（ｋ、ｊＭ・・・・
・・・・・（１） 上記（１）式と同様にして各格子点の歪みベクトルが算
出できる。そして、この各格子点の歪みベクトルはＸ方
向とＸ方向とのベクトルに分解できるため、このＸ方向
歪みベクトルとｙ方向歪みベクトルとをそれぞれ第５図
（Ａ）、（Ｂ）に示す格子点歪みベクトルテーブルに記
憶しておく。上記の操作は、被検体に対するＸ＃ｌｌｌ
射を行う前に完了しておく。

次に、上記のようにして格子点出現テーブルと格子点歪
みベクトルテーブルとを作成した後、被検体に対してｘ
ｍを曝射してそのＸ線透過像を得る。このＸ線透過像に
は空間歪みが含まれているため、これを補正しなければ
ならない。ここで問題となるのは、補正後の画素アドレ
スベクトルＸに、補正前のいずれの画素アドレスベクト
ルＸ′の画素濃度を記憶するかである。そこで、前記格
子点出現テーブルと格子点歪みベクトルテーブルとを用
いて、補正後の画素アドレスベクトルＸに対応する補正
前のｌｉ！ｉｉ累アドレスベクトルＸ′を求め、この位
置からその点における画素濃度を算出する。

先ず、画素アドレスベクトルＸ′を求める。ここで、補
正済み画像中の画素アドレスベクトル×（例えば第６図
（Ａ）の４格子点内の画素アドレス）は、必ず−これと
対応する歪み画像中の４格子点内に存在するという仮定
を置く。上記仮定の下において、次に前記画素アドレス
ベクトルＸを包含する４格子点の位１ｒＲ座標ベクトル
Ｕ（ｋ、１）等と対応する歪み画像中の４格子点の位置
座標ベク；〜ルＳ（ｋ、乏）？７が、第４図に示す格子
点出現テーブルの斜線部内に含まれるものであるかを判
断する。斜線部外であればもはや画像表示する必要もな
く従って対応する画素アドレスベクトルＸ′を見い出す
必要がないか、境界領域についてのみ特別な近似を行な
えばよいか簡単に見分けることができる。斜線部内であ
ったならば、前記格子点の歪みベクトルを用いて画素ア
ドレスベクトルＸ′の位置を求める。ここで、補正済み
画像の画素アドレスベクトルＸにおける歪みベクトルを
Ｄ　（ｘ　、　ｖ　）とすれば（Ｄ　（ｘ　、　ｙ　）
は未知である）、歪み画像中の画素アドレスベクトルＸ
′は前記式（１）を引用して、 Ｘ’　＝　Ｘ　−Ｄ　（ｘ　、　Ｖ　）　　　　　　　
−−・−−−−（２）として表わされる。Ｄ（ｘ、ｙ）
は未知であるから、これを格子点の歪みベクトルＤ（ｋ
、ｌ）。

Ｄ（ｌ＋１．ｊＭ、Ｄ（ｋ、　１＋１）、Ｉ）（ｌ＋１
、ｌ＋１）より補間して求める。この−例として、双一
次式による補間法を用いてＤ　（Ｘ　、　ｙ　）を求め
る。ここで第７図に示すように、各格子点の位置座標は
ベクトルＵ（ｋ、　１）−（ｕｘ　（ｋ。

ｌ）、ｕｖ　　（ｋ　、　ｌ））と、Ｕ（ｌ＋１．乏）
＝（！Ｘ　（ｌ＋１．Ｉｌ）、ｕｖ　（ｌ＋１．ｊり）
とし、格子点間のＸ方向の距離を△Ｐ、Ｖ方向の距離を
ΔＱとすると、第７図中の位置座標（ＵＸ（ｋ、乏）、
■）にお１プる歪みベクトル［）　（Ｕ　ｘ（ｋ、　　
　ｌ　）、ｙ）ｔよ　、 Ｄ（ｌｘ　（ｋ、ｌ）、Ｖ）＝Ｄ（ｋ、ｊり十ＮＩ−ｕ
ｖ（ｋ、乏）〕・１／ΔＱ・（’Ｄ（ｋ、！＋１＞−Ｄ
’（ｋ、ｊり）・・・・・・・・・【３） また、第６図（Ｃ）中の位置座標（ｕｘ（ｋ＋１’。

ｊＭ、Ｖ）にお１ノる歪みベクトルＤ（ｕｘ（ｋ＋１、
乏）、■）は、 Ｄ（ｕｘ　（ｋ＋１．乏）、Ｖ）＝Ｄ（ｋ＋１゜乏）　
＋　（ｙ−ｕＹ（ｋ　、り）・１／ΔＱ（Ｄ　（ｋ　＋
１．　ｆｆｉ＋１＞−Ｄ　（ｋ　＋１．乏））・・・・
・・・・・（４） 従って、位置バク１〜ルＸ＝　（Ｘ　、　Ｖ　）におけ
る歪みベクトルＤ（ｘ、ｙ）＝（ｄｘ（χ、ｙ）、ｃｌ
ｖ（Ｘ、ｌ／））は式（３）、（４）を用いて、（以下
余白） ［）（ｘ、ｙ）＝Ｄ（ｕｘ　（ｋ、ｌ）、Ｖ’）＋（ｘ
−ｕｘ　　（ｋ、ｌ））・１／ΔＰ・（Ｄ（ｕｘ　　（
ｋ＋１．Ｉｌ）、Ｖ）−Ｄ（Ｏｘ（ｋ、乏）、Ｖ））　
　　−・・・・・・・・・（５）として求まる。このよ
うにして、上記式（２）・〜式（５）を用いて補正済み
画像中の画素アドレスベクトルＸに対応する歪み画像中
の画素アドレスベクトルＸ′が求まる。

次に、この画素アドレスベクトルＸ′にお（プる画素濃
度を求める。この画素アドレスベタ１−ルＸ′は歪み画
像中の画素（記憶装置の画素）−ヒに存在するとは限ら
ないため、この位置を第８図に示すように整数部（ｉ、
、ｉ）と小数部（α、β）とに分解し、 ｘ　ｌ−ｉ＋α ｙ′−ｊ＋β とする。ここで、この画素アドレスベクトルＸ′を包含
する４格子点の画素濃度をＣ（ｉ、ｊ）。

Ｃ（＋＋１．ｊ）、Ｃ（ｉ、＋＋１）、Ｃ（ｉ十ｉ、＋
＋１）とすると、この画素アドレスへクトルＸ′の画素
ｍ度Ｃ（Ｘ’、Ｖｌは双一次式より補間することにより
求まる。

Ｃ（α、ｊ）−＝Ｃ（ｉ、ｊ）＋α（Ｃ（＋＋１゜ｊ）
−Ｃ（ｉ、、ｉ））　　　　　　　・・・・・・・・・
（６１Ｃ（α、ｊ＋１ンーＣ（ｉ、＋＋１＞＋α〔Ｃ（
ｉ　＋１．　ｊ　４−１＞−Ｃ（ｉ　、　ｊ　＋１）　
）・・・・・・・・・（力 Ｃ（Ｘ’　、１　）−Ｇ（α、ｊ）＋β（Ｃ（α。

＋＋１）−Ｃ（α、ｊ））　　　　・・・・・・・・・
（８）上記のようにして求められた画素アドレスベクト
ルＸ′における画素濃度Ｃ（ｘ’、ｙ’）を補正済み画
像中にａ３Ｌノる画素アドレスベクトルＸの画素濃度Ｃ
（ｘ　、　ｙ　）として表示することにより、空間歪み
を補正りることができる。

尚、上記の説明は、画素アドレスベクトルＸの回りに格
子点が４つ存在した場合であったが、４つの格子点が存
イ１しない場合には最近接の格子領域の歪みベクトルＪ
：り補間することもできる。

以上説明した本発明の原理に基づく補正手順をまとめる
と下記のにうになる。

１、　格子点出現テーブルと格子点歪みベタ１〜ルテー
ブルとを作成する。

１−’　１．　　縦縞及び横縞のテストチレートを撮影
して画像を得る。

１−２．　上記画像を用いて格子点の位置座標ベクトル
ＬＪ　（ｋ　、乏）と歪み画像にお（）る格子点座標ベ
クトルＳ（ｋ、１）とを求める。

１−３　、　　歪み画像中に格子点が見つかった場合に
フラッグを立てて格子点出現テーブルを作成する。

１−４．　格子点の歪みベクトル［）（ｋ、ｆｆｉ＞を
求め格子点歪みベクトルテーブルを作成する。

２、　被検体をｆＭ影して透過像を収集し、空間歪みを
補正する。

２−１．　被検体を撮影し画像を収集、記憶づ“る。

２−２．　格子点出現テーブルと格子点歪みベクトルテ
ーブルを用いて、補正済み画像の画素アドレスベクトル
Ｘにおける歪みべクトルｆ）（Ｘ、Ｖ）を篩用する。

２−３．　画素アドレスベクトルＸに対応する歪み画像
中の画素アドレスベクトルＸ′を求める。

２−４．　画素ｊ１ドレスベトクルＸ′を整数部（ｉ、
、ｉ）と小数部（α、β）とに分解する。

２−５．　画素アドレスベタ１〜ルＸ′の画素濃度Ｃ（
ｘ’、ｙ’）を算出する。

３、　　Ｉ１済；１）、　ｊｌＩｉ像を記憶プる領域の
画素濃度Ｃ（ｘ　、　ｙ　）どして前記画素濃度Ｃ（Ｘ
’、Ｖ’）を書き込む、。

次に上記原理に則った本発明の一実施例について説明す
る。第９図は本発明の一実施例であるＸ線診断装置を示
−ＴＪｌロック図である。

同図において、′Ｉで示すのは、Ｘ線を発生し、被検体
２に曝射りるところのＸ線強度及び管電圧の調節可能な
ｘｍ発生器であり、３で示すものは第２図（Ａ）、（Ｂ
）に示す縦縞チャート又は横縞チャートをＸ線照射野に
出入させるテストチャート自動設定装置である。４で示
すものは前記テストチャート又は被検体２を透過して得
られるＸ線透過像を増幅し、これを光学像に変換づるイ
メージインテンシファイア７（以下、１・Ｉと略する。

）であり、５で示すのは、前記■・１４により変換され
た光を集光し、その光強度を調節する光学系、たとえば
レンズ・光学フィルタ系及び絞り系であり、６で示すの
は、前記光学系５を透過した光学像を光電変換する２次
元検出器たとえば撮像管である。７で示すのは前記２次
元検出器６より出力されるアナログ信号をデジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換器であり、８で示すのは、後述す
るところの、画像処理コントローラと画像記憶装置と演
算ユニットとを有する画像処理装置であり、９で示すの
は、前記画像処理装置８より出力されるデジタル信号を
アナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器である。１０で示
すのは、前記Ｄ／Ａ変換器９より出力されるアナログ信
号に基づき、被検体の画像を表示する画像表示装置であ
る。

１１で示すものは、Ｘ線発生器１．テストチャート自動
設定装置３．光学系５及び画像処理装置８等の装置各部
の動作を制御するところの、後述する中央演算処Ｊ！１
１装置（以下、ＣＰＵという）を内蔵するシスチムニ」
ントローラである。１２で示Ｊのは、前記システムコン
トローラ１１内にあらかじめプログラムされているとこ
ろの、被検体２内の目的部位に応じた撮影条件と画像処
理モードとシーケンス等を選択Ｊる選択キイを有する操
作パネルである１゜ 次に、前記シス−ｊバー１ントローラ１１と画像処理装
置８とについて第１０図を参照して説明する。

第１０図に示りＪ、うに、前記システムコントローラ１
１はＣＰＵ２０とリードオンリーメモリ（以下、ＲＯＭ
ど略Ｊ）２１とランダムアクセスメモリ（以下、ＲＡＭ
と略す）２２とから構成され、前記画像処ノ１１！　１
４置８を制御している。画像処理装置８は、画像処理コ
ントローラ３０と画像記憶装置３１と画像演算ユニット
３２とから構成される。そして、前記システムコントロ
ーラ１１の制御によってＡ／］〕変換器７より送られて
くる画像データを画像処理コントローラ３０を介して画
像記憶装置３１に記憶し、画像演算ユニット３２で所定
の演算を行なった後の処理結果を画像記憶装置３１又は
Ｄ／Ａ変換器９又は画像処理コン（−ローラ３０を介し
て前記システムコントローラ１１内のＲＡＭテーブル２
２内に出力する。

第１１図は、画像演算種火ユニット３２の詳細を示すブ
ロック図である。同図において、１０１で示すのは対数
変換演算ユニットであり、１０２で示すのはシェーディ
ング補正演算ユニツ１−であり、１０３で示寸のはテス
トチャート画像を解析して空間歪み補正用のパラメータ
（ここでは格子点出現テーブルと格子点歪みベクトルテ
ーブル）を求め、前記ＲＡＭテーブル２２内に上記パラ
メータを書き込むことのできる空間歪みパラメータ演算
ユニットである。１０４で示すのは前記空間歪みパラメ
ータをＲＡＭテーブル２２から読み出して被検体の歪み
画像データに空間歪み補正を実行し補正済み画像を前記
画像記憶装置３１に出力する空間歪み補正演算ユニット
である。７０５で示すのは距離、面４ｒ１１体積等の被
検体のディメンジョンを計測する計測演算ユニットであ
り、１０６で示すのは画像１−）憶装＠３１内に記憶さ
れている画像を入力し−Ｃ階調変調処理等を実施してＤ
／Ａ変換器９に画像ｆ−夕を出力する画像表示演算ユニ
ットである。

尚、前記画像記憶装置３１は、被検体の収集画像を記憶
する第１の記憶手段と、補正後の画像を記憶する第２の
記１０手段とを兼ねるものであり、前記空間補正演算ユ
ニット１０４は画素アドレスベクトルＸ′を求める第１
の演算手段と画素ＩＩ曵Ｃ（ｘ　ｌ　、　ｙ　ｌ　）を
求める第２の演算手段とを兼ねるものである。

次に、以上のＪ、うに構成されたＸ線診断装置の作用に
ついて設明Ｊ０ 先ず、空間歪みパラメータ（格子点出現テーブルと格子
点歪みムク１ヘルテーブル）の設定手順を説明する。

操作パネル１１を操作して空間歪みパラメータ設定キイ
を押下Ｊるど、システムコントローラ１１はＸ線発生器
１にＸ線曝射条件を示ずデータを。

光学系５に光強度の減衰度を示すデータを２画像処理装
置８に処理シーケンス制御信号をそれぞれ出力する。最
初に被検体２及びテストチャートを共に置かない状態で
Ｘ線発生器１よりＸ線を曝射する。このＸ線曝射に基づ
くＸ線透過像は、Ｉ・Ｉ４により光学像に変換される。

この光学像は、光学系５で指定された強度に減衰され、
２次元検出器例えば撮像管６に入力する。この２次元検
出器６より出力されるアナログのエアバスデータは、Ａ
／Ｄ変換器７でディジタル化されて画像処理装置８に入
力する。画像処理装置８においては、前記エアバスデー
タは画像記憶装置３１を通過して対数変換演算ユニット
１０１によって対数変換さ　、れ、再び画像記憶装置３
１内の所定のアドレスに記憶される。

次に、システムコントローラ１１はテストチ【ｌ−ト自
動設定器３を駆動して縦縞チャートを設定し、前記エア
バスデータの場合と同様にして画像記憶装置３１内の所
定のアドレスに対数変換された縦縞画像を記憶りる。そ
して、前記エアバス画像と縦縞画像とをシェーディング
補正演算ユニツ。

１−１０２に入ノＪし、シェーディング補正を施した縦
縞画像を画像記憶装置３１内の所定領域に記憶する。同
様にてシェーディグ補正を施した横縞画像も画像記憶装
置３１内の所定領域に記憶する。

次に、シスデム′Ｏｌントローラ１１は画像処理コント
ローラ３０を駆動し、上記の画像記憶装置３１内に記憶
されている縦縞画像と横縞画像とを空間歪みパラメータ
演算ユニット１０３に入力し、格子点出現フラグと格子
点歪みベクトルとを計算し、前記ＲＡＭデープル２２に
記憶する。

上記のようにしＣ１格子点出現テーブルと格子点歪みベ
クトルテーブルとが設定された後に、縦。

横縞チャートを１ｌＩＩＩ　１１＋１　Ｌ、、被検体２
を載置する。そして、操作パネル１１を操作して空間歪
み補正処理キイを押下し、２きらに検査開始キイを押下
する。

そうすると、Ｘ線発生器１は所定のシーケンスでＸ線を
曝射し、被検体２を透過したＸ線がｌ−Ｉ４に入射して
増幅された光に変換され、２次元検出器５に検出される
。その後は前記デス１〜チヤートの場合と同様にして対
数変換演算ユニツ］・１０１及びシェーデング補正演算
ユニット１０２を順次通過し、シェーディング補正が施
された被検体の画像が画像記憶装置３１内の所定領域に
記憶される。

次に、上記のようにして記憶された被検体の画像は、空
間歪み補正演算ユニット１０４に入力する。空間歪み補
正演算ユニット１０４は前記ＲＡＭテーブル２２内に記
憶されている格子点出現テーブルと格子点歪みベクトル
とを読み出し、原理説明で述べた前記式（２）乃至式（
８）を実行して空間歪み補正済み画像を作成し、画像記
憶装置３１内の所定の領域に記憶してゆく。尚、計測が
必要な場合には空間歪み補正済み画像を読み出して８１
測演算ユニツト１０５で所定のディメンジョン計測又は
新たな画像を作成し、画像記憶装置３１内の所定領域に
記憶する。計測値についてはＲＡＭテーブル２２内に記
憶する。また、画像記憶装置３１内に記憶されている処
理画像は表示ユニット１０６を通って階調変調が成され
Ｄ／Ａ変換器９を介した後画像表示装買での画像表示に
供されることになる。

尚、本発明は１記実施例に限定されるもので一壕なく、
本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。

本発明は、医学的診断に限らずＸｌ１ｉｌを用いた工業
的検査にも適用し得ることは言うまでもない。まｌ、二
、第１．第２の演算手段にお（）る演算方法は双一次補
完法に限らず他の演算方法によるものであフ（ｔ）よい
。双一次補完法は演算を高速に行うことができる点で有
利である。

［発明の効果１ 以上詳述したＪ：うに、本発明によれば空間歪みを補正
して実体像により近似した画像を表示することができる
Ｘ線検査装置を提供することができる。従って、医学的
診断又は工業的検査の精疫が大幅に向上する１、また、
空間歪みを補正することができるため、複数枚の画像を
滑らかに連結でき、断層像あるいは立体像の再構成画像
も実体像に近いものを表示することができる。さらに、
補正後の画像より各部位のｉＥ確な距離２面積１体積等
のディメンション計測を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図＜Ａ）、（Ｂ）は縦縞チャー１へ、横縞ヂャー１
〜の概略説明図、第２図（△）、（［３）は縦縞ヂャー
ト、横縞チャー１〜の撮影像を示づ概略説明図、第３図
（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）は格子点の撤影像、実体像、補
正後の画像を示す概略説明図、第４図は格子点出現テー
ブルの概略説明図、第５図（Ａ）、（Ｂ）は格子点歪み
ベクトルテーブルのＸ成分、■成分を示す概略説明図、
第６図は格子点の歪みと補正との関係を示す概略説明図
、第７図は、格子点歪みベクトルを示す概略説明図、第
８図は補正済画像の濃度と収集画像の濃度どの関係を示
す概略説明図、第９図はＸ線診断装胃のブロック図、第
１０図はシスデムコントローラ及び画像処理装置の詳細
を示ずブロック図、第１１図は画像演算ユニットのブロ
ック図である。 ２２・・・・・・格子点出現テーブル、格子点歪み吊デ
ープル、 ３１・・・・・・第１の記憶ｆ段、第２の記憶手段、１
０４・・・・・・第１の演算手段、第２の演算手段。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）Ｘ線発生器により被検体にＸ線を曝射し、被検体
   を透過した透過Ｘ線像を電気信号に変換した後、画像処
   理装置により画像処理して画像表示装置上に被検体画像
   を表示するＸ線検査装置において、格子状のテストチャ
   ートの収集画像から作成される格子点歪み量テーブル及
   び格子点出現テーブルと、被検体の収集画像を記憶する
   第１の記憶手段と、前記被検体の収集画像に空間歪み補
   正を施した補正後の画像を記憶する第２の記憶手段と、
   この第２の記憶手段における画素アドレスと対応する前
   記被検体の収集画像中の画素アドレスを前記格子点出現
   テーブル及び格子点歪み量テーブルを用いて格子点のア
   ドレスから補間して算出する第１の演算手段と、前記収
   集画像中の画素アドレスにおける画素濃度を前記被検体
   の収集画像における格子点上の画素濃度より補間して算
   出し、前記第２の記憶手段の画素アドレス上に書き込む
   第２の演算手段とを有することを特徴とするＸ線検査装
   置。
2. （２）第１の演算手段は、双一次補間法により演算を行
   うものである特許請求の範囲第１項に記載のＸ線検査装
   置。
3. （３）第２の演算手段は、双一次補間法により演算を行
   うものである特許請求の範囲第１項又は第２項に記載の
   Ｘ線検査装置。
4. （４）第２の記憶手段より読み出された画像のディメン
   ジョン計測を行うディメンジョン計測手段を具備したも
   のである特許請求の範囲第１項乃至第３項のいずれかに
   記載のＸ線検査装置。