JPH0675570B2 - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH0675570B2 JPH0675570B2 JP60199521A JP19952185A JPH0675570B2 JP H0675570 B2 JPH0675570 B2 JP H0675570B2 JP 60199521 A JP60199521 A JP 60199521A JP 19952185 A JP19952185 A JP 19952185A JP H0675570 B2 JPH0675570 B2 JP H0675570B2
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-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/025—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はＸ線CT装置に係り、特にＸ線のスライス方向に
おける散乱線の除去を図ったものに関する。
おける散乱線の除去を図ったものに関する。
Ｘ線を使用して被検体のＸ線情報を得る装置において
は、被検体で生ずる散乱線を十分に除去することが、診
断能に優れたＸ線情報を得る上で極めて重要となる。
は、被検体で生ずる散乱線を十分に除去することが、診
断能に優れたＸ線情報を得る上で極めて重要となる。
ところで、被検体の断層像を再構成するＸ線CT装置であ
っては、Ｘ線検出器それ自体がグリッド的働きを有して
おり、特にＸ線ビームのファン方向において生ずる散乱
線は実用上問題とならない程度にまで除去されている。
っては、Ｘ線検出器それ自体がグリッド的働きを有して
おり、特にＸ線ビームのファン方向において生ずる散乱
線は実用上問題とならない程度にまで除去されている。
ところが、Ｘ線ビームのスライス方向において生ずる散
乱線はＸ線検出器のグリッド的働きが少ないため、十分
に除去されていない状態にある。それにもかかわらず、
従来のＸ線CT装置においては、散乱線除去対策、特にＸ
線ビームのスライス方向における散乱線除去対策がなさ
れていない。その理由として、Ｘ線ビームのスライス方
向はＸ線検出器における入射面のほぼ全域を使用してい
るため、Ｘ線ビームのファン方向に比べて散乱線の入射
量が少ないということが考えられる。しかしながら、近
年Ｘ線CT画像の空間解像度を向上させるため、Ｘ線ビー
ムのスライス幅を狭くする傾向にあり、この結果、Ｘ線
ビームの半影部分が増大し散乱線の入射量が増大すると
いう不都合を生じている。すなわち、第４図（ａ），
（ｂ）はＸ線ビームのスライス方向とＸ線検出器との関
係を示す説明図であり、同図（ａ）に示すようにＸ線管
の焦点１より曝射されたＸ線ビームXBのスライス幅Ｓが
広い場合には半影部分２が少なく、この場合散乱線のＸ
線検出器５への入射量は少ないが、同図（ｂ）に示すよ
うに上部コリメータ（Ｘ線絞り）３によってＸ線ビーム
XBのスライス幅Ｓを狭くする、半影部分２が増大し、被
検体（図示せず）より生じた多量の散乱線４がＸ線検出
器５に入射し、再構成画像に悪影響を及ぼすことにな
る。
乱線はＸ線検出器のグリッド的働きが少ないため、十分
に除去されていない状態にある。それにもかかわらず、
従来のＸ線CT装置においては、散乱線除去対策、特にＸ
線ビームのスライス方向における散乱線除去対策がなさ
れていない。その理由として、Ｘ線ビームのスライス方
向はＸ線検出器における入射面のほぼ全域を使用してい
るため、Ｘ線ビームのファン方向に比べて散乱線の入射
量が少ないということが考えられる。しかしながら、近
年Ｘ線CT画像の空間解像度を向上させるため、Ｘ線ビー
ムのスライス幅を狭くする傾向にあり、この結果、Ｘ線
ビームの半影部分が増大し散乱線の入射量が増大すると
いう不都合を生じている。すなわち、第４図（ａ），
（ｂ）はＸ線ビームのスライス方向とＸ線検出器との関
係を示す説明図であり、同図（ａ）に示すようにＸ線管
の焦点１より曝射されたＸ線ビームXBのスライス幅Ｓが
広い場合には半影部分２が少なく、この場合散乱線のＸ
線検出器５への入射量は少ないが、同図（ｂ）に示すよ
うに上部コリメータ（Ｘ線絞り）３によってＸ線ビーム
XBのスライス幅Ｓを狭くする、半影部分２が増大し、被
検体（図示せず）より生じた多量の散乱線４がＸ線検出
器５に入射し、再構成画像に悪影響を及ぼすことにな
る。
Ｘ線CT画像の空間解像度の向上を目的としてＸ線ビーム
のスライス幅を狭くしたのにもかかわらず、上述したよ
うに散乱線の悪影響が増大するのではＸ線ビームのスラ
イス幅を狭くしたことによる効果が半減するといわざる
を得ない。
のスライス幅を狭くしたのにもかかわらず、上述したよ
うに散乱線の悪影響が増大するのではＸ線ビームのスラ
イス幅を狭くしたことによる効果が半減するといわざる
を得ない。
本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、その目
的とするところは、Ｘ線ビームのスライス方向において
生ずる散乱線を除去することにより診断能に優れた断層
像を再構成することができるＸ線CT装置を提供すること
にある。
的とするところは、Ｘ線ビームのスライス方向において
生ずる散乱線を除去することにより診断能に優れた断層
像を再構成することができるＸ線CT装置を提供すること
にある。
上記目的を達成するための本発明の概要は、被検体に向
って曝射されたＸ線を被検体透過後に取り込むことによ
り被検体透過Ｘ線情報を検出するＸ線検出器を有し、こ
のＸ線検出器によって検出された被検体透過Ｘ線情報を
基に被検体の断層像を再構成するＸ線CT装置において、
前記被検体を透過したＸ線成分中より、曝射Ｘ線のスラ
イス方向に生じた散乱線成分を除去するために、Ｘ線の
入射方向に所定長を有しＸ線遮断性の複数枚の板材から
なり、かつこの板材を前記スアリス方向に配列して構成
した散乱線除去手段を、前記Ｘ線検出器の前段に設けた
ことを特徴とするものである。
って曝射されたＸ線を被検体透過後に取り込むことによ
り被検体透過Ｘ線情報を検出するＸ線検出器を有し、こ
のＸ線検出器によって検出された被検体透過Ｘ線情報を
基に被検体の断層像を再構成するＸ線CT装置において、
前記被検体を透過したＸ線成分中より、曝射Ｘ線のスラ
イス方向に生じた散乱線成分を除去するために、Ｘ線の
入射方向に所定長を有しＸ線遮断性の複数枚の板材から
なり、かつこの板材を前記スアリス方向に配列して構成
した散乱線除去手段を、前記Ｘ線検出器の前段に設けた
ことを特徴とするものである。
以下、本発明を実施例により具体的に説明する。
第１図は本発明の一実施例たるＸ線CT装置の主要部の構
成を示す説明図であり、Ｘ線ビームのスライス側より見
たものがある。12はＸ線管であり、３は上部コリメータ
である。Ｐは被検体であり、13は被検体Ｐを透過した後
のＸ線ビームXBを所定幅に絞るための下部コリメータ
（ビームトリマー）である。５はＸ線検出器であり、10
はこのＸ線検出器５の前段に配置された散乱線除去手段
である。この散乱線除去手段10は、被検体Ｐを透過した
Ｘ線成分中より、Ｘ線ビームXBのスライス方向に生じた
散乱線成分を除去し、直接Ｘ成分のみ透過させるもので
ある。
成を示す説明図であり、Ｘ線ビームのスライス側より見
たものがある。12はＸ線管であり、３は上部コリメータ
である。Ｐは被検体であり、13は被検体Ｐを透過した後
のＸ線ビームXBを所定幅に絞るための下部コリメータ
（ビームトリマー）である。５はＸ線検出器であり、10
はこのＸ線検出器５の前段に配置された散乱線除去手段
である。この散乱線除去手段10は、被検体Ｐを透過した
Ｘ線成分中より、Ｘ線ビームXBのスライス方向に生じた
散乱線成分を除去し、直接Ｘ成分のみ透過させるもので
ある。
次に、この散乱線除去手段10の詳細について第２図及び
第３図をも参照しながら説明する。
第３図をも参照しながら説明する。
第２図は散乱線除去手段10の斜視図であり、第３図は第
２図Ａ−Ａ断面図である。第２図及び第３図に示すよう
に散乱線除去手段10は、Ｘ線検出器５のチャンネル方向
と同様に、Ｘ線ビームのファン方向に所定の曲率を有し
て形成された複数の金属板（以下、グリッドという）11
を平行配設して構成されている。グリッド11の材質とし
てはＸ線を遮断し得る金属例えば鉛又はモリブデンある
いはタングステなどが適用される。散乱線除去手段10の
長手方向及び短手方向の長さはそれぞれＸ線検出器５に
ほぼ等しい。
２図Ａ−Ａ断面図である。第２図及び第３図に示すよう
に散乱線除去手段10は、Ｘ線検出器５のチャンネル方向
と同様に、Ｘ線ビームのファン方向に所定の曲率を有し
て形成された複数の金属板（以下、グリッドという）11
を平行配設して構成されている。グリッド11の材質とし
てはＸ線を遮断し得る金属例えば鉛又はモリブデンある
いはタングステなどが適用される。散乱線除去手段10の
長手方向及び短手方向の長さはそれぞれＸ線検出器５に
ほぼ等しい。
ここに、Ｘ線ビームのスライス方向に所定の曲率をして
散乱線除去手段10を構成したのは、散乱線除去手段10を
Ｘ線検出器５に密着させ、Ｘ線検出器といわば一体構造
化することにより、例えば振動などにより散乱線除去方
法10とＸ線検出器５との間に生ずる位置ずれを防止する
ためである。位置ずれを防止することによりＸ線検出器
５のチャネル特性の変化を防ぐことができる。
散乱線除去手段10を構成したのは、散乱線除去手段10を
Ｘ線検出器５に密着させ、Ｘ線検出器といわば一体構造
化することにより、例えば振動などにより散乱線除去方
法10とＸ線検出器５との間に生ずる位置ずれを防止する
ためである。位置ずれを防止することによりＸ線検出器
５のチャネル特性の変化を防ぐことができる。
Ｘ線検出器５の出力はディジタル信号に変換され、被検
体Ｐの断層像の再構成に供されるのであるが、この点に
ついては従来装置と同様であるのでその詳細な説明は省
略する。
体Ｐの断層像の再構成に供されるのであるが、この点に
ついては従来装置と同様であるのでその詳細な説明は省
略する。
以上構成による実施例装置において、Ｘ線管12より発生
したＸ線ビームXBは上部コリメータ３により所定の幅に
絞られた後に被検体Ｐに照射される。そして被検体Ｐを
透過した直接Ｘ線成分は、散乱線除去手段10を構成する
複数のグリッド11間を透過し、Ｘ線検出器５に入射す
る。しかしながら、被検体ＰにおいてＸ線ビームXBのス
ライス方向に生じた散乱線成分（第４図（ｂ）の４参
照）は、グリッド11に平行でないため複数のグリッド11
の壁面によって遮断され、グリッド11間を通過すること
ができない。このため、Ｘ線ビームXBのスライス幅を十
分狭くしても、散乱線成分のＸ線検出器５への入射量が
増大するという不都合は生じない。従って、Ｘ線検出器
５によって検出された被検体透過Ｘ線情報を基に再構成
された被検体Ｐの断層像は、散乱線の影響を受けないた
め、空間解像度が十分に向上し診断能に優れたものとな
る。
したＸ線ビームXBは上部コリメータ３により所定の幅に
絞られた後に被検体Ｐに照射される。そして被検体Ｐを
透過した直接Ｘ線成分は、散乱線除去手段10を構成する
複数のグリッド11間を透過し、Ｘ線検出器５に入射す
る。しかしながら、被検体ＰにおいてＸ線ビームXBのス
ライス方向に生じた散乱線成分（第４図（ｂ）の４参
照）は、グリッド11に平行でないため複数のグリッド11
の壁面によって遮断され、グリッド11間を通過すること
ができない。このため、Ｘ線ビームXBのスライス幅を十
分狭くしても、散乱線成分のＸ線検出器５への入射量が
増大するという不都合は生じない。従って、Ｘ線検出器
５によって検出された被検体透過Ｘ線情報を基に再構成
された被検体Ｐの断層像は、散乱線の影響を受けないた
め、空間解像度が十分に向上し診断能に優れたものとな
る。
ここで、本実施例装置の散乱線除去手段10の構成におい
て複数のグリッド11をスライス方向のみに平行配列し、
ファン方向に配列しない理由について説明する。
て複数のグリッド11をスライス方向のみに平行配列し、
ファン方向に配列しない理由について説明する。
先ず、ファン方向について考えてみる。Ｘ線検出器５の
１チャンネルの間隔は約1mmであり、現在のグリッド配
列技術によればこの1mm間隔内には約50枚のグリッドを
挿入することができる。Ｘ線検出器５の複数チャンネル
中いずれかのチャンネルにおいてグリッドが１枚抜けて
いた場合には、全チャンネル間の均一性に対して1/50
（２％）の変動を生ずることになる。所謂第３世代のＸ
線CT装置においては0.05〜0.2％以下のチャンネル間均
一性が要求されているため、上記２％の変動は到命的で
あり再構成画像上にアーチファクトを生ずるのは必至と
なる。一方、スライス方向について上記と同様のことを
考えてみると、10mmのスライス幅の時のＸ線検出器面で
のビーム幅は約20mmであり、この20mm幅の中には約1000
枚のグリッドを配列することができる。この場合、グリ
ッド１枚分の均一性変動は0.1％であり、この値は許容
し得る値である。従って、本実施例のようにスライス方
向にのみグリッドを複数枚配列するのは、十分実現可能
であり且つ再構成画像の空間解像度の向上を図る上で極
めて有効な手段といえる。
１チャンネルの間隔は約1mmであり、現在のグリッド配
列技術によればこの1mm間隔内には約50枚のグリッドを
挿入することができる。Ｘ線検出器５の複数チャンネル
中いずれかのチャンネルにおいてグリッドが１枚抜けて
いた場合には、全チャンネル間の均一性に対して1/50
（２％）の変動を生ずることになる。所謂第３世代のＸ
線CT装置においては0.05〜0.2％以下のチャンネル間均
一性が要求されているため、上記２％の変動は到命的で
あり再構成画像上にアーチファクトを生ずるのは必至と
なる。一方、スライス方向について上記と同様のことを
考えてみると、10mmのスライス幅の時のＸ線検出器面で
のビーム幅は約20mmであり、この20mm幅の中には約1000
枚のグリッドを配列することができる。この場合、グリ
ッド１枚分の均一性変動は0.1％であり、この値は許容
し得る値である。従って、本実施例のようにスライス方
向にのみグリッドを複数枚配列するのは、十分実現可能
であり且つ再構成画像の空間解像度の向上を図る上で極
めて有効な手段といえる。
このように本実施例装置であっては、Ｘ線ビームのスラ
イス方向に生ずる散乱線成分を除去する散乱線除去手段
10を、Ｘ線検出器５の前段に配置したことにより、検出
器５に入射する散乱線量を減少さえることができるもの
であるから、Ｘ線ビームのスライス幅を狭くすることに
より再構成像の空間解像度を十分に向上させることがで
きる。
イス方向に生ずる散乱線成分を除去する散乱線除去手段
10を、Ｘ線検出器５の前段に配置したことにより、検出
器５に入射する散乱線量を減少さえることができるもの
であるから、Ｘ線ビームのスライス幅を狭くすることに
より再構成像の空間解像度を十分に向上させることがで
きる。
以上本発明の一実施例について説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内で適宜に変形実施が可能であるのはいうまでもな
い。
記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範
囲内で適宜に変形実施が可能であるのはいうまでもな
い。
以上詳述したように本発明によれば、Ｘ線ビームのスラ
イス方向において生ずる散乱線を除去することができ、
診断能に優れた断層像を再構成するこができるＸ線CT装
置を提供することができる。
イス方向において生ずる散乱線を除去することができ、
診断能に優れた断層像を再構成するこができるＸ線CT装
置を提供することができる。
第１図は本発明の一実施例たるＸ線CT装置の主要部の構
成を示す説明図、第２図は散乱線除去手段の斜視図、第
３図は第２図Ａ−Ａ断面図、第４図（ａ），（ｂ）はそ
れぞれＸ線ビームのスライス方向とＸ線検出器との関係
を示す説明図である。 ５……Ｘ線検出器、10……散乱線除去手段、 11……グリッド、Ｐ……被検体。
成を示す説明図、第２図は散乱線除去手段の斜視図、第
３図は第２図Ａ−Ａ断面図、第４図（ａ），（ｂ）はそ
れぞれＸ線ビームのスライス方向とＸ線検出器との関係
を示す説明図である。 ５……Ｘ線検出器、10……散乱線除去手段、 11……グリッド、Ｐ……被検体。
Claims (2)
- 【請求項１】被検体に向って曝射されたＸ線を被検体透
過後に取り込むことにより被検体透過Ｘ線情報を検出す
るＸ線検出器を有し、このＸ線検出器によって検出され
た被検体透過Ｘ線情報を基に被検体の断層像を再構成す
るＸ線CT装置において、前記被検体を透過したＸ線成分
中より、曝射Ｘ線のスライス方向に生じた散乱線成分を
除去するために、Ｘ線の入射方向に所定長を有しＸ線遮
断性の複数枚の板材からなり、かつこの板材を前記スラ
イス方向に配列して構成した散乱線除去手段を、前記Ｘ
線検出部の前段に設けたことを特徴とするＸ線CT装置。 - 【請求項２】前記散乱線除去手段は、Ｘ線遮断性の金属
よりなるグリッドを、曝射Ｘ線のスライス方向に所定間
隙を有して複数枚配列することにより構成したものであ
る特許請求の範囲第１項に記載のＸ線CT装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60199521A JPH0675570B2 (ja) | 1985-09-11 | 1985-09-11 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US07/243,111 US4866744A (en) | 1985-09-11 | 1988-09-06 | Scattering beam eliminating device for x-ray CT apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60199521A JPH0675570B2 (ja) | 1985-09-11 | 1985-09-11 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6260539A JPS6260539A (ja) | 1987-03-17 |
| JPH0675570B2 true JPH0675570B2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=16409209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60199521A Expired - Lifetime JPH0675570B2 (ja) | 1985-09-11 | 1985-09-11 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4866744A (ja) |
| JP (1) | JPH0675570B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004329561A (ja) * | 2003-05-07 | 2004-11-25 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8701122A (nl) * | 1987-05-12 | 1988-12-01 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting voor spleetradiografie met beeldharmonisatie. |
| JP3408848B2 (ja) * | 1993-11-02 | 2003-05-19 | 株式会社日立メディコ | 散乱ｘ線補正法及びｘ線ｃｔ装置並びに多チャンネルｘ線検出器 |
| US5528659A (en) * | 1994-04-25 | 1996-06-18 | Gray*Star, Inc. | Radiation flux polarizer or distributor |
| US5668851A (en) * | 1996-06-21 | 1997-09-16 | Analogic Corporation | X-ray Tomography system with stabilized detector response |
| RU2171979C2 (ru) | 1999-05-28 | 2001-08-10 | Общество с ограниченной ответственностью "Новая оптика" | Антирассеивающий рентгеновский растр (варианты) |
| US7356125B2 (en) * | 2003-09-12 | 2008-04-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Arrangement for collimating electromagnetic radiation |
| US20120087462A1 (en) * | 2010-10-12 | 2012-04-12 | Abdelaziz Ikhlef | Hybrid collimator for x-rays and method of making same |
| US9510792B2 (en) * | 2013-05-17 | 2016-12-06 | Toshiba Medical Systems Corporation | Apparatus and method for collimating X-rays in spectral computer tomography imaging |
| WO2018194937A1 (en) * | 2017-04-17 | 2018-10-25 | The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate | A hybrid flat panel detector for cone beam ct systems |
| US11779296B2 (en) * | 2020-03-20 | 2023-10-10 | Canon Medical Systems Corporation | Photon counting detector based edge reference detector design and calibration method for small pixelated photon counting CT apparatus |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2442809A1 (de) * | 1974-09-06 | 1976-03-18 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur ermittlung der absorption in einem koerper |
| GB1569413A (en) * | 1976-02-05 | 1980-06-18 | Emi Ltd | Radography |
| US4096389A (en) * | 1976-05-10 | 1978-06-20 | G. D. Searle & Co. | Apparatus for minimizing radiation exposure and improving resolution in radiation imaging devices |
| JPS54100680A (en) * | 1978-01-26 | 1979-08-08 | Toshiba Corp | Computer tomographic equipment |
| DE2821083A1 (de) * | 1978-05-13 | 1979-11-22 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur ermittlung der raeumlichen absorptionsverteilung in einem ebenen untersuchungsbereich |
| JPS57160441A (en) * | 1981-03-28 | 1982-10-02 | Hitachi Medical Corp | X-ray ct apparatus |
| JPS5847280A (ja) * | 1981-09-16 | 1983-03-18 | Hitachi Ltd | Ｘ線検出装置 |
-
1985
- 1985-09-11 JP JP60199521A patent/JPH0675570B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-09-06 US US07/243,111 patent/US4866744A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004329561A (ja) * | 2003-05-07 | 2004-11-25 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
| JP4596748B2 (ja) * | 2003-05-07 | 2010-12-15 | キヤノン株式会社 | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影装置における再構成方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4866744A (en) | 1989-09-12 |
| JPS6260539A (ja) | 1987-03-17 |
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