JP2000237178A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 100
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 15
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 マルチスライス型のＸ線検出器を搭載したＸ
線ＣＴ装置において、スライス方向に配列されたＸ線検
出部間のＸ線検出感度及び個々のＸ線検出部内のＸ線検
出感度分布の均一性を向上させる。 【解決手段】 スライス方向に配列される各Ｘ線検出部
Ｓが、それぞれＸ線管焦点Ｆを向くように各Ｘ線検出部
Ｓを配置した。また、各Ｘ線検出部ＳのＸ線入射側に配
設される検出側コリメータ部材２３は、Ｘ線管焦点Ｆを
向くように複数のスライス間コリメータ２３ｂが内設さ
れている。この検出側コリメータ部材２３のＸ線検出部
Ｓ側の底面２３ｃの形状を、Ｘ線検出器２４のスライス
方向を望む方向から見た断面形状が円弧状となるように
形成した。
線ＣＴ装置において、スライス方向に配列されたＸ線検
出部間のＸ線検出感度及び個々のＸ線検出部内のＸ線検
出感度分布の均一性を向上させる。 【解決手段】 スライス方向に配列される各Ｘ線検出部
Ｓが、それぞれＸ線管焦点Ｆを向くように各Ｘ線検出部
Ｓを配置した。また、各Ｘ線検出部ＳのＸ線入射側に配
設される検出側コリメータ部材２３は、Ｘ線管焦点Ｆを
向くように複数のスライス間コリメータ２３ｂが内設さ
れている。この検出側コリメータ部材２３のＸ線検出部
Ｓ側の底面２３ｃの形状を、Ｘ線検出器２４のスライス
方向を望む方向から見た断面形状が円弧状となるように
形成した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、被検体の断層像
を撮影するＸ線ＣＴ装置に係り、特には、Ｘ線管に対向
させてスライス方向に複数のＸ線検出部が配列されたＸ
線ＣＴ装置に関する。
を撮影するＸ線ＣＴ装置に係り、特には、Ｘ線管に対向
させてスライス方向に複数のＸ線検出部が配列されたＸ
線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管
とＸ線検出器との対向状態を維持して、Ｘ線管やＸ線検
出器を被検体の周りで回転させ、被検体の周回多方向か
らの投影データを収集して断層像を再構成するように構
成されている。
とＸ線検出器との対向状態を維持して、Ｘ線管やＸ線検
出器を被検体の周りで回転させ、被検体の周回多方向か
らの投影データを収集して断層像を再構成するように構
成されている。
【０００３】図１１に示すように、Ｘ線管２１に対向配
置するＸ線検出器２４は、これまで一般的に、Ｘ線管２
１やＸ線検出器２４の回転軸芯に平行なスライス方向
（通常は、被検体の体軸方向に平行な方向）に１つのＸ
線検出部Ｓを配置させて、１スライス分の透過Ｘ線だけ
を検出する、いわゆるシングルスライス型のものが用い
られていた。しかしながら、近年、図１２に示すよう
に、スライス方向に複数のＸ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）
を配列させて、複数スライス分の透過Ｘ線を同時に検出
できる、いわゆるマルチスライス型のＸ線検出器２４が
用いられるようになってきている。
置するＸ線検出器２４は、これまで一般的に、Ｘ線管２
１やＸ線検出器２４の回転軸芯に平行なスライス方向
（通常は、被検体の体軸方向に平行な方向）に１つのＸ
線検出部Ｓを配置させて、１スライス分の透過Ｘ線だけ
を検出する、いわゆるシングルスライス型のものが用い
られていた。しかしながら、近年、図１２に示すよう
に、スライス方向に複数のＸ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）
を配列させて、複数スライス分の透過Ｘ線を同時に検出
できる、いわゆるマルチスライス型のＸ線検出器２４が
用いられるようになってきている。
【０００４】このようなマルチスライス型のＸ線検出器
２４を搭載したＸ線ＣＴ装置は、複数枚の断層像を同時
に得たり、１スライス分の断層像を再構成するための投
影データをスライス方向に分割して収集し分解能が高い
断層像を得たりすることなどが可能となる。
２４を搭載したＸ線ＣＴ装置は、複数枚の断層像を同時
に得たり、１スライス分の断層像を再構成するための投
影データをスライス方向に分割して収集し分解能が高い
断層像を得たりすることなどが可能となる。
【０００５】また、この種のＸ線ＣＴ装置には、通常、
図１１、図１２に示すように、Ｘ線管２１から照射され
るＸ線を絞る照射側コリメータ機構２２以外に、Ｘ線検
出器２４に近接配置する検出側コリメータ部材２３も設
けられる。この検出側コリメータ部材２３は、各Ｘ線検
出部Ｓに散乱Ｘ線が入射するのを防止し、Ｘ線管焦点Ｆ
から直進してきたＸ線（透過Ｘ線）だけを入射させるた
めに設けられている。図１２に示すように、マルチスラ
イス型のＸ線検出器２４に近接配置される検出側コリメ
ータ部材２３には、Ｘ線検出器２４に入射するＸ線束
を、スライス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓにそれぞ
れ個別に入射するように分離する仕切りであるスライス
間コリメータ２３ｂがＸ線管焦点Ｆを向くように内設し
ている。図１２に示すように、この検出側コリメータ部
材２３は、従来、スライス方向を望む方向から見た断面
形状が矩形になるように形成されている。
図１１、図１２に示すように、Ｘ線管２１から照射され
るＸ線を絞る照射側コリメータ機構２２以外に、Ｘ線検
出器２４に近接配置する検出側コリメータ部材２３も設
けられる。この検出側コリメータ部材２３は、各Ｘ線検
出部Ｓに散乱Ｘ線が入射するのを防止し、Ｘ線管焦点Ｆ
から直進してきたＸ線（透過Ｘ線）だけを入射させるた
めに設けられている。図１２に示すように、マルチスラ
イス型のＸ線検出器２４に近接配置される検出側コリメ
ータ部材２３には、Ｘ線検出器２４に入射するＸ線束
を、スライス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓにそれぞ
れ個別に入射するように分離する仕切りであるスライス
間コリメータ２３ｂがＸ線管焦点Ｆを向くように内設し
ている。図１２に示すように、この検出側コリメータ部
材２３は、従来、スライス方向を望む方向から見た断面
形状が矩形になるように形成されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図１２
に示すように、マルチスライス型のＸ線検出器２４を搭
載したＸ線ＣＴ装置は、従来、スライス方向に配列され
た各Ｘ線検出部Ｓの各Ｘ線入射面２４ａが同一平面を形
成するように配置されている。
に示すように、マルチスライス型のＸ線検出器２４を搭
載したＸ線ＣＴ装置は、従来、スライス方向に配列され
た各Ｘ線検出部Ｓの各Ｘ線入射面２４ａが同一平面を形
成するように配置されている。
【０００７】そのため、例えば、図１２に示すように、
中央の２つのＸ線検出部Ｓ２、Ｓ３の境界がＸ線検出器
２４のスライス方向の中心である場合、Ｘ線管焦点Ｆか
ら各Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４に入射するＸ線束の角度θ１
〜θ４は、（θ１＝θ４）＜（θ２＝θ３）の関係が成
り立ち、図１２に示すように、各Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４
間のＸ線検出感度ＯＳ１〜ＯＳ４が不均一になる。ま
た、Ｘ線検出器２４のスライス方向の中心から離れるに
従って、Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４へのＸ線の入射角度の傾
きが大きくなっていくので、個々のＸ線検出部Ｓ１〜Ｓ
４内のＸ線検出感度分布も不均一になる。その結果、各
Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４に対応して収集された投影データ
に基づき再構成された断層像の画質の低下を招いてい
る。
中央の２つのＸ線検出部Ｓ２、Ｓ３の境界がＸ線検出器
２４のスライス方向の中心である場合、Ｘ線管焦点Ｆか
ら各Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４に入射するＸ線束の角度θ１
〜θ４は、（θ１＝θ４）＜（θ２＝θ３）の関係が成
り立ち、図１２に示すように、各Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４
間のＸ線検出感度ＯＳ１〜ＯＳ４が不均一になる。ま
た、Ｘ線検出器２４のスライス方向の中心から離れるに
従って、Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４へのＸ線の入射角度の傾
きが大きくなっていくので、個々のＸ線検出部Ｓ１〜Ｓ
４内のＸ線検出感度分布も不均一になる。その結果、各
Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４に対応して収集された投影データ
に基づき再構成された断層像の画質の低下を招いてい
る。
【０００８】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、スライス方向に配列されたＸ線検出
部間のＸ線検出感度及び個々のＸ線検出部内のＸ線検出
感度分布の均一性を向上させることができるＸ線ＣＴ装
置を提供することを目的とする。
れたものであって、スライス方向に配列されたＸ線検出
部間のＸ線検出感度及び個々のＸ線検出部内のＸ線検出
感度分布の均一性を向上させることができるＸ線ＣＴ装
置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項１に記載の発明は、Ｘ線管に対向させてスラ
イス方向に複数のＸ線検出部が配列されたＸ線ＣＴ装置
において、スライス方向に配列される各Ｘ線検出部が、
少なくともモジュール単位でそれぞれＸ線管焦点を向く
ように各Ｘ線検出部を配置したことを特徴とするもので
ある。
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項１に記載の発明は、Ｘ線管に対向させてスラ
イス方向に複数のＸ線検出部が配列されたＸ線ＣＴ装置
において、スライス方向に配列される各Ｘ線検出部が、
少なくともモジュール単位でそれぞれＸ線管焦点を向く
ように各Ｘ線検出部を配置したことを特徴とするもので
ある。
【００１０】請求項２に記載の発明は、上記請求項１に
記載のＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線管焦点を向くように
複数のスライス間コリメータが内設された検出側コリメ
ータ部材を、各Ｘ線検出部のＸ線入射側に配設する場
合、その検出側コリメータ部材のＸ線検出部側の形状
が、少なくともモジュール単位でそれぞれＸ線管焦点を
向くように配置された各Ｘ線検出部の各Ｘ線入射面に沿
った形状になるように形成したことを特徴とするもので
ある。
記載のＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線管焦点を向くように
複数のスライス間コリメータが内設された検出側コリメ
ータ部材を、各Ｘ線検出部のＸ線入射側に配設する場
合、その検出側コリメータ部材のＸ線検出部側の形状
が、少なくともモジュール単位でそれぞれＸ線管焦点を
向くように配置された各Ｘ線検出部の各Ｘ線入射面に沿
った形状になるように形成したことを特徴とするもので
ある。
【００１１】〔作用〕請求項１に記載の発明によれば、
スライス方向に配列される各Ｘ線検出部が、少なくとも
モジュール単位でそれぞれＸ線管焦点を向くように各Ｘ
線検出部を配置したので、Ｘ線管焦点から各Ｘ線検出部
に入射するＸ線束の角度の均一性を向上させることがで
きるとともに、各Ｘ線検出部へのＸ線の入射角度の傾き
の不均一化を抑制することもできる。
スライス方向に配列される各Ｘ線検出部が、少なくとも
モジュール単位でそれぞれＸ線管焦点を向くように各Ｘ
線検出部を配置したので、Ｘ線管焦点から各Ｘ線検出部
に入射するＸ線束の角度の均一性を向上させることがで
きるとともに、各Ｘ線検出部へのＸ線の入射角度の傾き
の不均一化を抑制することもできる。
【００１２】なお、この種のＸ線検出部は、１つ々々独
立して構成することもできるし、複数のＸ線検出部をま
とめて１つのＸ線検出モジュールとして構成することも
できる。１つのＸ線検出モジュール内において、スライ
ス方向に複数のＸ線検出部を設けている場合には、個々
のＸ線検出モジュールが（モジュール単位で）それぞれ
Ｘ線管焦点を向くように各Ｘ線検出部（各Ｘ線検出モジ
ュール）を配置させる。
立して構成することもできるし、複数のＸ線検出部をま
とめて１つのＸ線検出モジュールとして構成することも
できる。１つのＸ線検出モジュール内において、スライ
ス方向に複数のＸ線検出部を設けている場合には、個々
のＸ線検出モジュールが（モジュール単位で）それぞれ
Ｘ線管焦点を向くように各Ｘ線検出部（各Ｘ線検出モジ
ュール）を配置させる。
【００１３】請求項２に記載の発明によれば、Ｘ線管焦
点を向くように複数のスライス間コリメータが内設され
た検出側コリメータ部材を、各Ｘ線検出部のＸ線入射側
に配設する場合、その検出側コリメータ部材のＸ線検出
部側の形状が、少なくともモジュール単位でそれぞれＸ
線管焦点を向くように配置された各Ｘ線検出部の各Ｘ線
入射面に沿った形状になるように形成したので、各Ｘ線
検出部の各Ｘ線入射面の近傍まで各スライス間コリメー
タによる入射Ｘ線の分離を行うことができる。
点を向くように複数のスライス間コリメータが内設され
た検出側コリメータ部材を、各Ｘ線検出部のＸ線入射側
に配設する場合、その検出側コリメータ部材のＸ線検出
部側の形状が、少なくともモジュール単位でそれぞれＸ
線管焦点を向くように配置された各Ｘ線検出部の各Ｘ線
入射面に沿った形状になるように形成したので、各Ｘ線
検出部の各Ｘ線入射面の近傍まで各スライス間コリメー
タによる入射Ｘ線の分離を行うことができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を説明する。図１はこの発明に係るＸ線ＣＴ
装置の全体構成を示す正面図、図２はＸ線管やＸ線検出
器の回転方向を望む方向から見たＸ線管やＸ線検出器の
一部断面図、図３はこの発明の一実施例を示すスライス
方向を望む方向から見たＸ線管やＸ線検出器の一部断面
図である。
実施の形態を説明する。図１はこの発明に係るＸ線ＣＴ
装置の全体構成を示す正面図、図２はＸ線管やＸ線検出
器の回転方向を望む方向から見たＸ線管やＸ線検出器の
一部断面図、図３はこの発明の一実施例を示すスライス
方向を望む方向から見たＸ線管やＸ線検出器の一部断面
図である。
【００１５】このＸ線ＣＴ装置は、ベッド１やガントリ
２、画像再構成処理部３などを備えている。
２、画像再構成処理部３などを備えている。
【００１６】ベッド１は、昇降可能なベッド基台１０と
天板１１を備えており、被検体Ｍを搭載した天板１１を
ベッド基台１０に対して水平方向にスライド移動させる
ことで、被検体Ｍをガントリ２の開口部２０に挿抜でき
るように構成されている。
天板１１を備えており、被検体Ｍを搭載した天板１１を
ベッド基台１０に対して水平方向にスライド移動させる
ことで、被検体Ｍをガントリ２の開口部２０に挿抜でき
るように構成されている。
【００１７】ガントリ２内には、Ｘ線管２１や照射側コ
リメータ機構２２、検出側コリメータ部材２３、マルチ
スライス型のＸ線検出器２４、データ収集部（ＤＡＳ）
２５、回転架台２６などが備えられている。これら機器
２１〜２５は、Ｘ線管２１とＸ線検出器２４とを対向さ
せた状態で回転架台２６に取り付けられ、回転架台２６
を回転させることで、Ｘ線管２１とＸ線検出器２４との
対向状態を維持して、Ｘ線管２１や照射側コリメータ機
構２２、検出側コリメータ部材２３、Ｘ線検出器２４、
ＤＡＳ２５を一体的に、開口部２０（に挿入された被検
体Ｍ）の周りで回転させるように構成している。
リメータ機構２２、検出側コリメータ部材２３、マルチ
スライス型のＸ線検出器２４、データ収集部（ＤＡＳ）
２５、回転架台２６などが備えられている。これら機器
２１〜２５は、Ｘ線管２１とＸ線検出器２４とを対向さ
せた状態で回転架台２６に取り付けられ、回転架台２６
を回転させることで、Ｘ線管２１とＸ線検出器２４との
対向状態を維持して、Ｘ線管２１や照射側コリメータ機
構２２、検出側コリメータ部材２３、Ｘ線検出器２４、
ＤＡＳ２５を一体的に、開口部２０（に挿入された被検
体Ｍ）の周りで回転させるように構成している。
【００１８】Ｘ線検出器２４及びＤＡＳ２５により収集
された被検体Ｍの周回多方向からの投影データは、画像
再構成処理部３に与えられて断層像の再構成が行われ、
モニタ（図示省略）に表示されたり、保存装置（図示省
略）に保存されるようになっている。
された被検体Ｍの周回多方向からの投影データは、画像
再構成処理部３に与えられて断層像の再構成が行われ、
モニタ（図示省略）に表示されたり、保存装置（図示省
略）に保存されるようになっている。
【００１９】図４の平面図に示すように、Ｘ線検出器２
４は、回転方向とスライス方向とにそれぞれ複数のＸ線
検出部Ｓが配列された２次元配列構造で構成されてい
る。各Ｘ線検出部Ｓは、例えば、入射Ｘ線を光に変換す
るシンチレータと、その光を電気信号に変換するフォト
ダイオードなどの光電変換部とを備えている。なお、図
２、図３に示すように、各Ｘ線検出部Ｓは基板Ｂに支持
されている。
４は、回転方向とスライス方向とにそれぞれ複数のＸ線
検出部Ｓが配列された２次元配列構造で構成されてい
る。各Ｘ線検出部Ｓは、例えば、入射Ｘ線を光に変換す
るシンチレータと、その光を電気信号に変換するフォト
ダイオードなどの光電変換部とを備えている。なお、図
２、図３に示すように、各Ｘ線検出部Ｓは基板Ｂに支持
されている。
【００２０】図２に示すように、Ｘ線検出器２４の回転
方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓは、それぞれＸ線管焦
点Ｆを向くように略円弧状に配置させている。なお、図
５（ａ）に示すように、１つのＸ線検出モジュールＳＭ
内にセパレータＳＰを設けて、１つのＸ線検出モジュー
ルＳＭ内にＸ線検出器２４の回転方向に沿って複数のＸ
線検出部Ｓが設けているような場合には、図５（ｂ）に
示すように、各Ｘ線検出モジュールＳＭごとに、Ｘ線管
焦点Ｆを向くように配置される。
方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓは、それぞれＸ線管焦
点Ｆを向くように略円弧状に配置させている。なお、図
５（ａ）に示すように、１つのＸ線検出モジュールＳＭ
内にセパレータＳＰを設けて、１つのＸ線検出モジュー
ルＳＭ内にＸ線検出器２４の回転方向に沿って複数のＸ
線検出部Ｓが設けているような場合には、図５（ｂ）に
示すように、各Ｘ線検出モジュールＳＭごとに、Ｘ線管
焦点Ｆを向くように配置される。
【００２１】また、図３に示すように、スライス方向に
配列される各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）も、それぞれ
Ｘ線管焦点Ｆを向くように略円弧状に配置させている。
配列される各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）も、それぞれ
Ｘ線管焦点Ｆを向くように略円弧状に配置させている。
【００２２】この実施例では、図５（ａ）に示すよう
に、１つのＸ線検出モジュールＳＭ内に、スライス方向
へ１つのＸ線検出部Ｓを設けるように構成している。従
って、スライス方向に配列される各Ｘ線検出部Ｓは、１
つ々々がＸ線管焦点Ｆを向くように配置させることがで
きる。すなわち、各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）に入射
するＸ線束の中心軸ＸＪが、それぞれ各Ｘ線検出部Ｓ
（Ｓ１〜Ｓ４）のＸ線入射面２４ａと直交（各Ｘ線検出
部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）のＸ線入射面２４ａのスライス方向
の中心軸と一致）するように構成されている。
に、１つのＸ線検出モジュールＳＭ内に、スライス方向
へ１つのＸ線検出部Ｓを設けるように構成している。従
って、スライス方向に配列される各Ｘ線検出部Ｓは、１
つ々々がＸ線管焦点Ｆを向くように配置させることがで
きる。すなわち、各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）に入射
するＸ線束の中心軸ＸＪが、それぞれ各Ｘ線検出部Ｓ
（Ｓ１〜Ｓ４）のＸ線入射面２４ａと直交（各Ｘ線検出
部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）のＸ線入射面２４ａのスライス方向
の中心軸と一致）するように構成されている。
【００２３】このように構成したことにより、Ｘ線管焦
点Ｆからスライス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ
１〜Ｓ４）に入射するＸ線束の角度θ１〜θ４（図３参
照）は、θ１＝θ２＝θ３＝θ４となり、図６に示すよ
うに、スライス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１
〜Ｓ４）間のＸ線検出感度ＯＳ１〜ＯＳ４を均一にする
ことができる。また、各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）へ
のＸ線の入射角度の傾きの不均一化を抑制することもで
き、個々のＸ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）内のＸ線検出感
度ＯＳ１〜ＯＳ４の分布の均一性も向上させることもで
きる。従って、各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）に対応し
て収集された投影データに基づき再構成された断層像の
画質を向上させることができる。
点Ｆからスライス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ
１〜Ｓ４）に入射するＸ線束の角度θ１〜θ４（図３参
照）は、θ１＝θ２＝θ３＝θ４となり、図６に示すよ
うに、スライス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１
〜Ｓ４）間のＸ線検出感度ＯＳ１〜ＯＳ４を均一にする
ことができる。また、各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）へ
のＸ線の入射角度の傾きの不均一化を抑制することもで
き、個々のＸ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）内のＸ線検出感
度ＯＳ１〜ＯＳ４の分布の均一性も向上させることもで
きる。従って、各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）に対応し
て収集された投影データに基づき再構成された断層像の
画質を向上させることができる。
【００２４】次に、検出側コリメータ部材２３の構成を
説明する。この検出側コリメータ部材２３は、外囲がア
ルミニウムやステンレス鋼などで形成されており、その
中には、図７の平面図に示すように、モリブデンや鉛な
どのＸ線遮蔽材で形成されたチャネル間コリメータ２３
ａとスライス間コリメータ２３ｂとが格子状に配設され
ている。なお、チャネル間コリメータ２３ａは、Ｘ線検
出器２４に入射するＸ線束を、Ｘ線検出器２４の回転方
向に配列された各Ｘ線検出部Ｓにそれぞれ個別に入射す
るように分離する仕切りであり、スライス間コリメータ
２３ｂは、Ｘ線検出器２４に入射するＸ線束を、スライ
ス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓにそれぞれ個別に入
射するように分離する仕切りである。図２、図３に示す
ように、これら各チャネル間コリメータ２３ａ及びスラ
イス間コリメータ２３ｂは、それぞれＸ線管焦点Ｆを向
くように検出側コリメータ部材２３に内設されている。
説明する。この検出側コリメータ部材２３は、外囲がア
ルミニウムやステンレス鋼などで形成されており、その
中には、図７の平面図に示すように、モリブデンや鉛な
どのＸ線遮蔽材で形成されたチャネル間コリメータ２３
ａとスライス間コリメータ２３ｂとが格子状に配設され
ている。なお、チャネル間コリメータ２３ａは、Ｘ線検
出器２４に入射するＸ線束を、Ｘ線検出器２４の回転方
向に配列された各Ｘ線検出部Ｓにそれぞれ個別に入射す
るように分離する仕切りであり、スライス間コリメータ
２３ｂは、Ｘ線検出器２４に入射するＸ線束を、スライ
ス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓにそれぞれ個別に入
射するように分離する仕切りである。図２、図３に示す
ように、これら各チャネル間コリメータ２３ａ及びスラ
イス間コリメータ２３ｂは、それぞれＸ線管焦点Ｆを向
くように検出側コリメータ部材２３に内設されている。
【００２５】また、図２、図３に示すように、検出側コ
リメータ部材２３は、Ｘ線検出器２４側の底面２３ｃの
形状が、Ｘ線検出器２４の回転方向を望む方向から見た
断面形状と、スライス方向を望む方向から見た断面形状
とのいずれもが円弧状となる、球面状の凸部形状に形成
され、Ｘ線検出器２４の回転方向及びスライス方向にそ
れぞれＸ線管焦点Ｆを向くように配置された各Ｘ線検出
部Ｓの各Ｘ線入射面２４ａに沿った形状になるように形
成している。
リメータ部材２３は、Ｘ線検出器２４側の底面２３ｃの
形状が、Ｘ線検出器２４の回転方向を望む方向から見た
断面形状と、スライス方向を望む方向から見た断面形状
とのいずれもが円弧状となる、球面状の凸部形状に形成
され、Ｘ線検出器２４の回転方向及びスライス方向にそ
れぞれＸ線管焦点Ｆを向くように配置された各Ｘ線検出
部Ｓの各Ｘ線入射面２４ａに沿った形状になるように形
成している。
【００２６】検出側コリメータ部材２３の形状をこのよ
うに形成したことにより、各Ｘ線検出部Ｓの各Ｘ線入射
面２４ａの近傍まで各スライス間コリメータ２３と、各
チャネル間コリメータ２３ｂによる入射Ｘ線の分離を行
うことができ、スライス方向に配列される各Ｘ線検出部
Ｓが、それぞれＸ線管焦点Ｆを向くように各Ｘ線検出部
Ｓを配置した状態において、各Ｘ線検出部Ｓへの散乱Ｘ
線などノイズ成分となる不要なＸ線の入射を好適に防止
することができる。また、Ｘ線検出器２４の回転方向に
配列された各Ｘ線検出部Ｓについても同様の効果が得ら
れる。
うに形成したことにより、各Ｘ線検出部Ｓの各Ｘ線入射
面２４ａの近傍まで各スライス間コリメータ２３と、各
チャネル間コリメータ２３ｂによる入射Ｘ線の分離を行
うことができ、スライス方向に配列される各Ｘ線検出部
Ｓが、それぞれＸ線管焦点Ｆを向くように各Ｘ線検出部
Ｓを配置した状態において、各Ｘ線検出部Ｓへの散乱Ｘ
線などノイズ成分となる不要なＸ線の入射を好適に防止
することができる。また、Ｘ線検出器２４の回転方向に
配列された各Ｘ線検出部Ｓについても同様の効果が得ら
れる。
【００２７】また、この実施例では、検出側コリメータ
部材２３のＸ線入射側の上面２３ｄの形状も、Ｘ線検出
器２４側の底面２３ｃの形状に相似する球面状の凹部形
状（Ｘ線検出器２４の回転方向を望む方向から見た断面
形状と、スライス方向を望む方向から見た断面形状との
いずれもが円弧状となる）に形成し、検出側コリメータ
部材２３の厚みがどこでも略均一になるように形成して
いる。検出側コリメータ部材２３のＸ線入射側の上面２
３ｄの形状は、必ずしもこの実施例のような形状に限ら
ないが、この実施例のように構成すると、検出側コリメ
ータ部材２３の厚みがどこでも略均一になるので、各Ｘ
線検出部Ｓへの不要なＸ線の入射除去精度が全ての部位
で略均一にでき、投影データの収集場所によるノイズ成
分のバラツキを抑制できて再構成された断層像の画質が
向上でき、また、例えば、スライス方向に配列された各
Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４に対応する各投影データに基づき
複数の断層像を再構成する場合には、各断層像の画質の
均一化を向上させることもできる。
部材２３のＸ線入射側の上面２３ｄの形状も、Ｘ線検出
器２４側の底面２３ｃの形状に相似する球面状の凹部形
状（Ｘ線検出器２４の回転方向を望む方向から見た断面
形状と、スライス方向を望む方向から見た断面形状との
いずれもが円弧状となる）に形成し、検出側コリメータ
部材２３の厚みがどこでも略均一になるように形成して
いる。検出側コリメータ部材２３のＸ線入射側の上面２
３ｄの形状は、必ずしもこの実施例のような形状に限ら
ないが、この実施例のように構成すると、検出側コリメ
ータ部材２３の厚みがどこでも略均一になるので、各Ｘ
線検出部Ｓへの不要なＸ線の入射除去精度が全ての部位
で略均一にでき、投影データの収集場所によるノイズ成
分のバラツキを抑制できて再構成された断層像の画質が
向上でき、また、例えば、スライス方向に配列された各
Ｘ線検出部Ｓ１〜Ｓ４に対応する各投影データに基づき
複数の断層像を再構成する場合には、各断層像の画質の
均一化を向上させることもできる。
【００２８】上記実施例では、Ｘ線検出モジュールＳＭ
内に、スライス方向に沿って１つのＸ線検出部Ｓを設け
て、各Ｘ線検出部ＳがそれぞれＸ線管焦点Ｆに向くよう
に配置したが、Ｘ線検出モジュールＳＭ内に、スライス
方向に沿って複数（例えば、２つ）のＸ線検出部Ｓを設
けている場合には、図８に示すように、個々のＸ線検出
モジュールＳＭが（モジュール単位で）それぞれＸ線管
焦点Ｆを向くように各Ｘ線検出部Ｓ（各Ｘ線検出モジュ
ールＳＭ）を配置させればよい。すなわち、各Ｘ線検出
モジュールＳＭに入射するＸ線束の中心軸ＸＪが、それ
ぞれ各Ｘ線検出モジュールＳＭのＸ線入射面２４ａと直
交（各Ｘ線検出モジュールＳＭのＸ線入射面２４ａのス
ライス方向の中心軸と一致）するように構成されてい
る。
内に、スライス方向に沿って１つのＸ線検出部Ｓを設け
て、各Ｘ線検出部ＳがそれぞれＸ線管焦点Ｆに向くよう
に配置したが、Ｘ線検出モジュールＳＭ内に、スライス
方向に沿って複数（例えば、２つ）のＸ線検出部Ｓを設
けている場合には、図８に示すように、個々のＸ線検出
モジュールＳＭが（モジュール単位で）それぞれＸ線管
焦点Ｆを向くように各Ｘ線検出部Ｓ（各Ｘ線検出モジュ
ールＳＭ）を配置させればよい。すなわち、各Ｘ線検出
モジュールＳＭに入射するＸ線束の中心軸ＸＪが、それ
ぞれ各Ｘ線検出モジュールＳＭのＸ線入射面２４ａと直
交（各Ｘ線検出モジュールＳＭのＸ線入射面２４ａのス
ライス方向の中心軸と一致）するように構成されてい
る。
【００２９】図８の構成の場合も、Ｘ線管焦点Ｆからス
ライス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）
に入射するＸ線束の角度θ１〜θ４（図８参照）は、θ
１＝θ２＝θ３＝θ４となり、スライス方向に配列され
た各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）間のＸ線検出感度を均
一にすることができる。また、個々のＸ線検出部Ｓ（Ｓ
１〜Ｓ４）内のＸ線感度分布の均一性は、上記実施例よ
りも若干低下するが、従来装置よりも格段に向上させる
ことができる。
ライス方向に配列された各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）
に入射するＸ線束の角度θ１〜θ４（図８参照）は、θ
１＝θ２＝θ３＝θ４となり、スライス方向に配列され
た各Ｘ線検出部Ｓ（Ｓ１〜Ｓ４）間のＸ線検出感度を均
一にすることができる。また、個々のＸ線検出部Ｓ（Ｓ
１〜Ｓ４）内のＸ線感度分布の均一性は、上記実施例よ
りも若干低下するが、従来装置よりも格段に向上させる
ことができる。
【００３０】上記実施例や変形例では、Ｘ線検出部Ｓを
スライス方向に４つ配列する場合を例に採ったが、この
発明はこれに限定されず、スライス方向に４つ以外の複
数のＸ線検出部Ｓを配列する場合にも同様に適用するこ
とができる。図９は、スライス方向に８つのＸ線検出部
Ｓを、この発明によって配列した場合の構成例を示す。
図９（ａ）は、Ｘ線検出モジュールＳＭ内に、スライス
方向に沿って１つのＸ線検出部Ｓを設けた場合の構成例
を、図９（ｂ）、（ｃ）は、Ｘ線検出モジュールＳＭ内
に、スライス方向に沿って２つのＸ線検出部Ｓを設けた
場合と４つのＸ線検出部Ｓを設けた場合の各構成例をそ
れぞれ示している。スライス方向に配列された各Ｘ線検
出部Ｓ間のＸ線検出感度の均一性や、個々のＸ線検出部
Ｓ内のＸ線感度分布の均一性は、Ｘ線検出モジュールＳ
Ｍ内のＸ線検出部Ｓの個数が増えれば低下していくが、
それでも従来装置よりは向上させることができる。
スライス方向に４つ配列する場合を例に採ったが、この
発明はこれに限定されず、スライス方向に４つ以外の複
数のＸ線検出部Ｓを配列する場合にも同様に適用するこ
とができる。図９は、スライス方向に８つのＸ線検出部
Ｓを、この発明によって配列した場合の構成例を示す。
図９（ａ）は、Ｘ線検出モジュールＳＭ内に、スライス
方向に沿って１つのＸ線検出部Ｓを設けた場合の構成例
を、図９（ｂ）、（ｃ）は、Ｘ線検出モジュールＳＭ内
に、スライス方向に沿って２つのＸ線検出部Ｓを設けた
場合と４つのＸ線検出部Ｓを設けた場合の各構成例をそ
れぞれ示している。スライス方向に配列された各Ｘ線検
出部Ｓ間のＸ線検出感度の均一性や、個々のＸ線検出部
Ｓ内のＸ線感度分布の均一性は、Ｘ線検出モジュールＳ
Ｍ内のＸ線検出部Ｓの個数が増えれば低下していくが、
それでも従来装置よりは向上させることができる。
【００３１】また、上記実施例や変形例では、検出側コ
リメータ部材２３のＸ線検出器２４側の底面２３ｃの形
状を、Ｘ線検出器２４のスライス方向を望む方向から見
た断面形状が円弧状となるように形成したが、図１０に
示すように、検出側コリメータ部材２３の底面２３ｃの
形状を、各Ｘ線検出部Ｓの各Ｘ線入射面２４ａに平行に
なる多角形状となるように形成してもよい。
リメータ部材２３のＸ線検出器２４側の底面２３ｃの形
状を、Ｘ線検出器２４のスライス方向を望む方向から見
た断面形状が円弧状となるように形成したが、図１０に
示すように、検出側コリメータ部材２３の底面２３ｃの
形状を、各Ｘ線検出部Ｓの各Ｘ線入射面２４ａに平行に
なる多角形状となるように形成してもよい。
【００３２】また、図１０に示すように、検出側コリメ
ータ部材２３のＸ線入射側の上面２３ｄの形状も、Ｘ線
検出器２４のスライス方向を望む方向から見た断面形状
が多角形状となるように形成してもよい。
ータ部材２３のＸ線入射側の上面２３ｄの形状も、Ｘ線
検出器２４のスライス方向を望む方向から見た断面形状
が多角形状となるように形成してもよい。
【００３３】さらに、上記検出側コリメータ部材２３の
底面２３ｃまたは上面２３ｄのいずれか一方の形状を、
Ｘ線検出器２４のスライス方向を望む方向から見た断面
形状が円弧状となるように形成し、他方の形状を、Ｘ線
検出器２４のスライス方向を望む方向から見た断面形状
が多角形状となるように形成してもよい。
底面２３ｃまたは上面２３ｄのいずれか一方の形状を、
Ｘ線検出器２４のスライス方向を望む方向から見た断面
形状が円弧状となるように形成し、他方の形状を、Ｘ線
検出器２４のスライス方向を望む方向から見た断面形状
が多角形状となるように形成してもよい。
【００３４】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１に記載の発明によれば、スライス方向に配列される各
Ｘ線検出部が、少なくともモジュール単位でそれぞれＸ
線管焦点を向くように各Ｘ線検出部を配置したので、Ｘ
線管焦点から各Ｘ線検出部に入射するＸ線束の角度の均
一性を向上させることができるとともに、各Ｘ線検出部
へのＸ線の入射角度の傾きの不均一化を抑制することも
でき、スライス方向に配列された各Ｘ線検出部間のＸ線
検出感度の均一性と個々のＸ線検出部内のＸ線検出感度
分布の均一性とを向上させることができ、各Ｘ線検出部
に対応して収集された投影データに基づき再構成された
断層像の画質を向上させることができる。
１に記載の発明によれば、スライス方向に配列される各
Ｘ線検出部が、少なくともモジュール単位でそれぞれＸ
線管焦点を向くように各Ｘ線検出部を配置したので、Ｘ
線管焦点から各Ｘ線検出部に入射するＸ線束の角度の均
一性を向上させることができるとともに、各Ｘ線検出部
へのＸ線の入射角度の傾きの不均一化を抑制することも
でき、スライス方向に配列された各Ｘ線検出部間のＸ線
検出感度の均一性と個々のＸ線検出部内のＸ線検出感度
分布の均一性とを向上させることができ、各Ｘ線検出部
に対応して収集された投影データに基づき再構成された
断層像の画質を向上させることができる。
【００３５】請求項２に記載の発明によれば、Ｘ線管焦
点を向くように複数のスライス間コリメータが内設され
た検出側コリメータ部材を、各Ｘ線検出部のＸ線入射側
に配設する場合、その検出側コリメータ部材のＸ線検出
部側の形状が、少なくともモジュール単位でそれぞれＸ
線管焦点を向くように配置された各Ｘ線検出部の各Ｘ線
入射面に沿った形状になるように形成したので、各Ｘ線
検出部の各Ｘ線入射面の近傍まで各スライス間コリメー
タによる入射Ｘ線の分離を行うことができ、スライス方
向に配列される各Ｘ線検出部が、少なくともモジュール
単位でそれぞれＸ線管焦点を向くように各Ｘ線検出部を
配置した状態において、各Ｘ線検出部への散乱Ｘ線など
ノイズ成分となる不要なＸ線の入射を好適に防止するこ
とができる。
点を向くように複数のスライス間コリメータが内設され
た検出側コリメータ部材を、各Ｘ線検出部のＸ線入射側
に配設する場合、その検出側コリメータ部材のＸ線検出
部側の形状が、少なくともモジュール単位でそれぞれＸ
線管焦点を向くように配置された各Ｘ線検出部の各Ｘ線
入射面に沿った形状になるように形成したので、各Ｘ線
検出部の各Ｘ線入射面の近傍まで各スライス間コリメー
タによる入射Ｘ線の分離を行うことができ、スライス方
向に配列される各Ｘ線検出部が、少なくともモジュール
単位でそれぞれＸ線管焦点を向くように各Ｘ線検出部を
配置した状態において、各Ｘ線検出部への散乱Ｘ線など
ノイズ成分となる不要なＸ線の入射を好適に防止するこ
とができる。
【図１】この発明に係るＸ線ＣＴ装置の全体構成を示す
正面図である。
正面図である。
【図２】Ｘ線管やＸ線検出器の回転方向を望む方向から
見たＸ線管やＸ線検出器の一部断面図である。
見たＸ線管やＸ線検出器の一部断面図である。
【図３】この発明の一実施例を示すスライス方向を望む
方向から見たＸ線管やＸ線検出器の一部断面図である。
方向から見たＸ線管やＸ線検出器の一部断面図である。
【図４】実施例に係るＸ線検出器の平面図である。
【図５】Ｘ線検出モジュールの一例を示す斜視図と、Ｘ
線検出器の回転方向へのＸ線検出モジュールの配置の変
形例を示す図である。
線検出器の回転方向へのＸ線検出モジュールの配置の変
形例を示す図である。
【図６】Ｘ線検出器のスライス方向に配列された各Ｘ線
検出部のＸ線検出感度（分布）を示す図である。
検出部のＸ線検出感度（分布）を示す図である。
【図７】実施例に係る検出側コリメータ部材の平面図で
ある。
ある。
【図８】Ｘ線検出器のスライス方向へのＸ線検出モジュ
ールの配置の変形例を示す図である。
ールの配置の変形例を示す図である。
【図９】Ｘ線検出器のスライス方向へのＸ線検出モジュ
ールの配置のその他の各種変形例を示す図である。
ールの配置のその他の各種変形例を示す図である。
【図１０】検出側コリメータ部材の変形例の構成を示す
図である。
図である。
【図１１】Ｘ線検出器のスライス方向に１つのＸ線検出
部を配置した従来装置の要部構成図である。
部を配置した従来装置の要部構成図である。
【図１２】Ｘ線検出器のスライス方向に複数のＸ線検出
部を配置した従来装置の要部構成図及びその問題点を説
明するための図である。
部を配置した従来装置の要部構成図及びその問題点を説
明するための図である。
２１：Ｘ線管 ２３：検出側コリメータ部材 ２３ｂ：スライス間コリメータ ２４：Ｘ線検出器 ２４ａ：Ｘ線入射面 Ｆ：Ｘ線管焦点 Ｓ：Ｘ線検出部 ＳＭ：Ｘ線検出モジュール
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線管に対向させてスライス方向に複数
のＸ線検出部が配列されたＸ線ＣＴ装置において、スラ
イス方向に配列される各Ｘ線検出部が、少なくともモジ
ュール単位でそれぞれＸ線管焦点を向くように各Ｘ線検
出部を配置したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置におい
て、Ｘ線管焦点を向くように複数のスライス間コリメー
タが内設された検出側コリメータ部材を、各Ｘ線検出部
のＸ線入射側に配設する場合、その検出側コリメータ部
材のＸ線検出部側の形状が、少なくともモジュール単位
でそれぞれＸ線管焦点を向くように配置された各Ｘ線検
出部の各Ｘ線入射面に沿った形状になるように形成した
ことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04442099A JP4250795B2 (ja) | 1999-02-23 | 1999-02-23 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04442099A JP4250795B2 (ja) | 1999-02-23 | 1999-02-23 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000237178A true JP2000237178A (ja) | 2000-09-05 |
| JP4250795B2 JP4250795B2 (ja) | 2009-04-08 |
Family
ID=12691013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04442099A Expired - Lifetime JP4250795B2 (ja) | 1999-02-23 | 1999-02-23 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4250795B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2838867A1 (fr) * | 2002-04-23 | 2003-10-24 | Ge Med Sys Global Tech Co Llc | Procede d'assemblage de detecteurs en mosaique pour detection d'images a base de rayonnements ionisants |
| WO2004051312A1 (ja) * | 2002-12-02 | 2004-06-17 | Hitachi Medical Corporation | 放射線検出器及び医用画像診断装置 |
| CN100443053C (zh) * | 2005-04-29 | 2008-12-17 | Ge医疗系统环球技术有限公司 | 信号处理方法与装置以及x射线ct装置 |
| WO2012026223A1 (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-01 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法、並びに放射線画像撮影システム |
| JP2012081264A (ja) * | 2010-10-11 | 2012-04-26 | General Electric Co <Ge> | 容積測定計算機式断層写真法撮像用のタイル構成可能な多面検出器 |
-
1999
- 1999-02-23 JP JP04442099A patent/JP4250795B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2838867A1 (fr) * | 2002-04-23 | 2003-10-24 | Ge Med Sys Global Tech Co Llc | Procede d'assemblage de detecteurs en mosaique pour detection d'images a base de rayonnements ionisants |
| WO2004051312A1 (ja) * | 2002-12-02 | 2004-06-17 | Hitachi Medical Corporation | 放射線検出器及び医用画像診断装置 |
| CN100443053C (zh) * | 2005-04-29 | 2008-12-17 | Ge医疗系统环球技术有限公司 | 信号处理方法与装置以及x射线ct装置 |
| WO2012026223A1 (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-01 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法、並びに放射線画像撮影システム |
| JP2012081264A (ja) * | 2010-10-11 | 2012-04-26 | General Electric Co <Ge> | 容積測定計算機式断層写真法撮像用のタイル構成可能な多面検出器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4250795B2 (ja) | 2009-04-08 |
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