JP2000037377A5 - - Google Patents
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Description
【特許請求の範囲】
【請求項1】 マルチスライス型コンピュータ断層撮影システム用の検出器(18)において、
少なくとも第1および第2のセルを持ち、これらの間に間隙が形成されている平坦なシンチレータ・アレイ(56)と、
前記シンチレータ・アレイ(56)の前に配置されたコリメータ(62)であって、該コリメータ(62)が少なくとも1つのコリメータ板(64)を含み、該コリメータ板の中心線が前記シンチレータ・アレイの間隙の中心線から変位し、X線の陰が前記検出器の間隙に中心合わせされるように、前記シンチレータ・アレイ(56)に対して位置づけられているコリメータ(62)と、を有しており、
前記コリメータ板の幅が前記シンチレータ・アレイ(56)の隣接した前記第1および第2のセルの間の前記間隙の幅よりも大きいことを特徴とする検出器。
【請求項2】 前記シンチレータ・アレイが少なくとも第1の方向に1つのX軸間隙(70)及び前記第1の方向と垂直な方向に少なくとも1つのZ軸間隙を含んでいる請求項1記載の検出器。
【請求項3】 前記コリメータ板の中心線が前記第1の方向で前記X軸間隙(70)の中心線から変位している請求項2記載の検出器。
【請求項4】 前記コリメータ板の幅が前記第1の方向で前記X軸間隙の幅よりも大きい請求項3記載の検出器。
【請求項5】 前記コリメータが複数のコリメータ板(64)を含んでいる請求項1乃至4のいずれかに記載の検出器。
【請求項6】 物体の画像を作成するためのマルチスライス型コンピュータ断層撮影システムにおいて、
焦点からX線ビーム(16)を放出するX線源(14)と、
請求項1乃至5のいずれかに記載の検出器と、を有していることを特徴とするマルチスライス型コンピュータ断層撮影システム。
【請求項7】 焦点からX線ビーム(16)を放出するX線源(14)と、少なくとも第1および第2のセルを持ち、これらの間に間隙が形成されている平坦なシンチレータ・アレイ(56)と、前記シンチレータ・アレイ(56)の前に配置され少なくとも1つのコリメータ板(64)を含むコリメータ(62)とを備えるマルチスライス型CTシステムにおいてスペクトル・アーティファクトを低減する方法であって、
前記シンチレータ・アレイ(56)の上にコリメータ(62)配置する工程であって、前記コリメータ板の中心線が前記シンチレータ・アレイの間隙の中心線から変位し、前記X線ビーム(16)が前記X線源から放出されたときにX線の陰が前記検出器の間隙に中心合わせされるように、前記シンチレータ・アレイ(56)に対して位置づけられる、前記配置する工程を含み、
前記コリメータ板の幅が前記シンチレータ・アレイ(56)の隣接した前記第1および第2のセルの間の前記間隙の幅よりも大きいことを特徴とする方法。
【請求項1】 マルチスライス型コンピュータ断層撮影システム用の検出器(18)において、
少なくとも第1および第2のセルを持ち、これらの間に間隙が形成されている平坦なシンチレータ・アレイ(56)と、
前記シンチレータ・アレイ(56)の前に配置されたコリメータ(62)であって、該コリメータ(62)が少なくとも1つのコリメータ板(64)を含み、該コリメータ板の中心線が前記シンチレータ・アレイの間隙の中心線から変位し、X線の陰が前記検出器の間隙に中心合わせされるように、前記シンチレータ・アレイ(56)に対して位置づけられているコリメータ(62)と、を有しており、
前記コリメータ板の幅が前記シンチレータ・アレイ(56)の隣接した前記第1および第2のセルの間の前記間隙の幅よりも大きいことを特徴とする検出器。
【請求項2】 前記シンチレータ・アレイが少なくとも第1の方向に1つのX軸間隙(70)及び前記第1の方向と垂直な方向に少なくとも1つのZ軸間隙を含んでいる請求項1記載の検出器。
【請求項3】 前記コリメータ板の中心線が前記第1の方向で前記X軸間隙(70)の中心線から変位している請求項2記載の検出器。
【請求項4】 前記コリメータ板の幅が前記第1の方向で前記X軸間隙の幅よりも大きい請求項3記載の検出器。
【請求項5】 前記コリメータが複数のコリメータ板(64)を含んでいる請求項1乃至4のいずれかに記載の検出器。
【請求項6】 物体の画像を作成するためのマルチスライス型コンピュータ断層撮影システムにおいて、
焦点からX線ビーム(16)を放出するX線源(14)と、
請求項1乃至5のいずれかに記載の検出器と、を有していることを特徴とするマルチスライス型コンピュータ断層撮影システム。
【請求項7】 焦点からX線ビーム(16)を放出するX線源(14)と、少なくとも第1および第2のセルを持ち、これらの間に間隙が形成されている平坦なシンチレータ・アレイ(56)と、前記シンチレータ・アレイ(56)の前に配置され少なくとも1つのコリメータ板(64)を含むコリメータ(62)とを備えるマルチスライス型CTシステムにおいてスペクトル・アーティファクトを低減する方法であって、
前記シンチレータ・アレイ(56)の上にコリメータ(62)配置する工程であって、前記コリメータ板の中心線が前記シンチレータ・アレイの間隙の中心線から変位し、前記X線ビーム(16)が前記X線源から放出されたときにX線の陰が前記検出器の間隙に中心合わせされるように、前記シンチレータ・アレイ(56)に対して位置づけられる、前記配置する工程を含み、
前記コリメータ板の幅が前記シンチレータ・アレイ(56)の隣接した前記第1および第2のセルの間の前記間隙の幅よりも大きいことを特徴とする方法。
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- 1999-07-15 JP JP20109599A patent/JP4502422B2/ja not_active Expired - Lifetime
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