JP2000037377A5 - - Google Patents

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JP2000037377A5
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【特許請求の範囲】
【請求項1】 マルチスライス型コンピュータ断層撮影システム用の検出器(18)において、
少なくとも第1および第2のセルを持ち、これらの間に間隙が形成されている平坦なシンチレータ・アレイ(56)と、
前記シンチレータ・アレイ(56)の前に配置されたコリメータ(62)であって、該コリメータ(62)が少なくとも1つのコリメータ板(64)を含み、該コリメータ板の中心線が前記シンチレータ・アレイの間隙の中心線から変位し、X線の陰が前記検出器の間隙に中心合わせされるように、前記シンチレータ・アレイ(56)に対して位置づけられているコリメータ(62)と、を有しており
前記コリメータ板の幅が前記シンチレータ・アレイ(56)の隣接した前記第1および第2のセルの間の前記間隙の幅よりも大きいことを特徴とする検出器。
【請求項2】 前記シンチレータ・アレイが少なくとも第1の方向に1つのX軸間隙(70)及び前記第1の方向と垂直な方向に少なくとも1つのZ軸間隙を含んでいる請求項1記載の検出器。
【請求項3】 前記コリメータ板の中心線が前記第1の方向で前記X軸間隙(70)の中心線から変位している請求項2記載の検出器。
【請求項4】 前記コリメータ板の幅が前記第1の方向で前記X軸間隙の幅よりも大きい請求項3記載の検出器。
【請求項5】 前記コリメータが複数のコリメータ板(64)を含んでいる請求項1乃至4のいずれかに記載の検出器。
【請求項6】 物体の画像を作成するためのマルチスライス型コンピュータ断層撮影システムにおいて、
焦点からX線ビーム(16)を放出するX線源(14)と、
請求項1乃至5のいずれかに記載の検出器と、を有していることを特徴とするマルチスライス型コンピュータ断層撮影システム。
【請求項7】 焦点からX線ビーム(16)を放出するX線源(14)と、少なくとも第1および第2のセルを持ち、これらの間に間隙が形成されている平坦なシンチレータ・アレイ(56)と、前記シンチレータ・アレイ(56)の前に配置され少なくとも1つのコリメータ板(64)を含むコリメータ(62)とを備えるマルチスライス型CTシステムにおいてスペクトル・アーティファクトを低減する方法であって、
前記シンチレータ・アレイ(56)の上にコリメータ(62)配置する工程であって、前記コリメータ板の中心線が前記シンチレータ・アレイの間隙の中心線から変位し、前記X線ビーム(16)が前記X線源から放出されたときにX線の陰が前記検出器の間隙に中心合わせされるように、前記シンチレータ・アレイ(56)に対して位置づけられる、前記配置する工程を含み、
前記コリメータ板の幅が前記シンチレータ・アレイ(56)の隣接した前記第1および第2のセルの間の前記間隙の幅よりも大きいことを特徴とする方法

JP20109599A 1998-07-17 1999-07-15 検出器及びマルチスライス型コンピュータ断層撮影システム Expired - Lifetime JP4502422B2 (ja)

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US09/118397 1998-07-17

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3961468B2 (ja) 2003-09-19 2007-08-22 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 放射線計算断層画像装置およびそれに用いる放射線検出器
US7086780B2 (en) * 2004-05-20 2006-08-08 General Electric Company Methods for spectrally calibrating CT imaging apparatus detectors
US7391844B2 (en) * 2005-01-14 2008-06-24 General Electric Company Method and apparatus for correcting for beam hardening in CT images
US20120056095A1 (en) * 2010-09-03 2012-03-08 Scott Metzler Collimation apparatus for high resolution imaging
US10610191B2 (en) * 2017-07-06 2020-04-07 Prismatic Sensors Ab Managing geometric misalignment in x-ray imaging systems

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5093850A (en) * 1976-04-19 1992-03-03 General Electric Company Tomographic scanning apparatus
US4180737A (en) * 1978-02-06 1979-12-25 General Electric Company X-ray detector
US4392057A (en) * 1980-02-22 1983-07-05 National Research Development Corporation Position-sensitive radiation detector
EP0208225B1 (de) * 1985-07-12 1990-03-28 Siemens Aktiengesellschaft Röntgendetektorsystem
JPH01305930A (ja) * 1988-06-04 1989-12-11 Toshiba Corp Ctスキヤナ用放射線検出器
AU646068B2 (en) * 1990-07-02 1994-02-03 Varian Medical Systems, Inc. Computed tomography apparatus using image intensifier detector
US5168532A (en) * 1990-07-02 1992-12-01 Varian Associates, Inc. Method for improving the dynamic range of an imaging system
JPH05256950A (ja) * 1992-03-13 1993-10-08 Toshiba Corp X線コンピュータトモグラフィ装置用固体検出器
US5335255A (en) * 1992-03-24 1994-08-02 Seppi Edward J X-ray scanner with a source emitting plurality of fan beams
US5684855A (en) * 1995-02-16 1997-11-04 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray CT scanner
JP3549169B2 (ja) * 1995-03-10 2004-08-04 株式会社日立メディコ X線ct装置
US5961457A (en) * 1996-05-03 1999-10-05 The Regents Of The University Of Michigan Method and apparatus for radiopharmaceutical-guided biopsy
JPH10104359A (ja) * 1996-09-30 1998-04-24 Shimadzu Corp X線ct装置用検出器の製造方法
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
US5903008A (en) * 1997-07-02 1999-05-11 General Electric Company Scatter correction methods and systems in single photon emission computed tomography
US5970113A (en) * 1997-10-10 1999-10-19 Analogic Corporation Computed tomography scanning apparatus and method with temperature compensation for dark current offsets
US6115448A (en) 1997-11-26 2000-09-05 General Electric Company Photodiode array for a scalable multislice scanning computed tomography system
JPH11295432A (ja) * 1998-04-15 1999-10-29 Shimadzu Corp Ct用固体検出器

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