JPS6338727B2 - - Google Patents
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- JPS6338727B2 JPS6338727B2 JP58227213A JP22721383A JPS6338727B2 JP S6338727 B2 JPS6338727 B2 JP S6338727B2 JP 58227213 A JP58227213 A JP 58227213A JP 22721383 A JP22721383 A JP 22721383A JP S6338727 B2 JPS6338727 B2 JP S6338727B2
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 16
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
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Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
この発明はモード変換回路に関し、特に、与え
られた動作モード指定信号に基づいて、システム
全体の動作モードを切換える信号を発生してシス
テムに与えるモード変換回路に関する。
られた動作モード指定信号に基づいて、システム
全体の動作モードを切換える信号を発生してシス
テムに与えるモード変換回路に関する。
［従来技術］
第１図は、従来のモード変換回路の一例を示す
ブロツク図である。
ブロツク図である。
まず、第１図を参照して従来のモード変換回路
の構成について説明する。第１図に示したモード
変換回路は、レベル検出型のモード変換回路であ
り、大きくは、システム（図示せず）の動作モー
ドを指定する信号を入力する入力端子１と、入力
端子１に入力された信号のレベルを検出するレベ
ル検出回路２と、レベル検出回路２が出力する信
号を演算してシステム全体の動作モードを変換す
る信号を出力するモード変換信号出力回路３とか
ら構成されている。
の構成について説明する。第１図に示したモード
変換回路は、レベル検出型のモード変換回路であ
り、大きくは、システム（図示せず）の動作モー
ドを指定する信号を入力する入力端子１と、入力
端子１に入力された信号のレベルを検出するレベ
ル検出回路２と、レベル検出回路２が出力する信
号を演算してシステム全体の動作モードを変換す
る信号を出力するモード変換信号出力回路３とか
ら構成されている。
レベル検出回路２はさらに、互いに異なるしき
い値を有し入力信号レベルがそれぞれのしきい値
以下のときには入力信号をハイレベルに、しきい
値以上のときにはローレベルに反転するインバー
タ４，５と、入力信号を反転する通常のしきい
値、すなわち電源電圧の1/2のしきい値を有する
インバータ６とから構成されている。
い値を有し入力信号レベルがそれぞれのしきい値
以下のときには入力信号をハイレベルに、しきい
値以上のときにはローレベルに反転するインバー
タ４，５と、入力信号を反転する通常のしきい
値、すなわち電源電圧の1/2のしきい値を有する
インバータ６とから構成されている。
また、モード変換信号出力回路３はさらに、イ
ンバータ４およびインバータ６の出力を入力とす
るNANDゲート７と、NANDゲート７およびイ
ンバータ６の出力を入力とするNANDゲート８
と、NANDゲート７の出力を反転するインバー
タ８と、NANDゲート８の出力を反転するイン
バータ１０とから構成されている。
ンバータ４およびインバータ６の出力を入力とす
るNANDゲート７と、NANDゲート７およびイ
ンバータ６の出力を入力とするNANDゲート８
と、NANDゲート７の出力を反転するインバー
タ８と、NANDゲート８の出力を反転するイン
バータ１０とから構成されている。
ここで、モード変換信号出力回路３から動作モ
ード変換信号を受けてその動作モードが切換わる
システムを、たとえば内部ROMを有する１チツ
プマイクロコンピユータのようなシステムとす
る。そして、そのシステムの動作モードとして、
システムを内部ROMを用いて動作させる内部
ROMモード（通常、ユーザが実際に利用するモ
ード）と、システムの外部に接続されている
ROMを用いて動作させる外部ROMモード（外
部より１チツプマイクロコンピユータに命令を与
え、１チツプマイクロコンピユータが動作するか
どうかをテストするモード）と、システムのテス
トのために内部ROMの内容を外部に出力する
ROM出力モード（内部ROMに指定のコードが
入つているかどうかをテストするモード）との３
つのモードがあるものとする。
ード変換信号を受けてその動作モードが切換わる
システムを、たとえば内部ROMを有する１チツ
プマイクロコンピユータのようなシステムとす
る。そして、そのシステムの動作モードとして、
システムを内部ROMを用いて動作させる内部
ROMモード（通常、ユーザが実際に利用するモ
ード）と、システムの外部に接続されている
ROMを用いて動作させる外部ROMモード（外
部より１チツプマイクロコンピユータに命令を与
え、１チツプマイクロコンピユータが動作するか
どうかをテストするモード）と、システムのテス
トのために内部ROMの内容を外部に出力する
ROM出力モード（内部ROMに指定のコードが
入つているかどうかをテストするモード）との３
つのモードがあるものとする。
さらに、モード変換信号出力回路３から出力さ
れる２つの動作モード変換信号TEST１および
TEST２と、それに対応して設定されるシステム
の動作モードとの関係を以下のように定める。
れる２つの動作モード変換信号TEST１および
TEST２と、それに対応して設定されるシステム
の動作モードとの関係を以下のように定める。
すなわち、TEST１がハイレベルでありかつ
TEST２がローレベルのときにシステムはROM
出力モード、TEST１がローレベルかつTEST２
がハイレベルのときにシステムは外部ROMモー
ド、TEST１およびTEST２が共にローレベルの
ときにシステムは内部ROMモードとなるものと
する。
TEST２がローレベルのときにシステムはROM
出力モード、TEST１がローレベルかつTEST２
がハイレベルのときにシステムは外部ROMモー
ド、TEST１およびTEST２が共にローレベルの
ときにシステムは内部ROMモードとなるものと
する。
次に、第１図に示す従来のモード変換回路の動
作について説明する。
作について説明する。
まず、入力端子１に動作モード指定信号として
ローレベルの信号を与えた場合について説明す
る。この信号のレベルは、インバータ４および５
のしきい値以下であり、インバータ４によつて反
転されてハイレベルの信号ａとなり、同時にイン
バータ５および６によつて反転されてローレベル
の信号ｂとなる。このように、レベル検出回路２
は、ハイレベルの信号ａとローレベルの信号ｂと
を次段のモード変換信号出力回路３に与える。ハ
イレベル信号ａとローレベルの信号ｂとを受けた
NANDゲート７はハイレベルの信号を出力し、
インバータ９とNANDゲート８とに与える。イ
ンバータ９はハイレベルの入力を反転してローレ
ベルの信号TEST１として出力する。また、
NANDゲート８はローレベルの信号ｂとNAND
ゲート７からのハイレベルの出力とを受けてハイ
レベルの信号を出力し、インバータ１０はこの信
号を反転してローレベルの信号TEST２として出
力する。すなわち、この場合モード変換信号出力
回路３の出力は双方共にローレベルとなり、上述
のシステムとの対応関係により、システムは内部
ROMモードとなる。
ローレベルの信号を与えた場合について説明す
る。この信号のレベルは、インバータ４および５
のしきい値以下であり、インバータ４によつて反
転されてハイレベルの信号ａとなり、同時にイン
バータ５および６によつて反転されてローレベル
の信号ｂとなる。このように、レベル検出回路２
は、ハイレベルの信号ａとローレベルの信号ｂと
を次段のモード変換信号出力回路３に与える。ハ
イレベル信号ａとローレベルの信号ｂとを受けた
NANDゲート７はハイレベルの信号を出力し、
インバータ９とNANDゲート８とに与える。イ
ンバータ９はハイレベルの入力を反転してローレ
ベルの信号TEST１として出力する。また、
NANDゲート８はローレベルの信号ｂとNAND
ゲート７からのハイレベルの出力とを受けてハイ
レベルの信号を出力し、インバータ１０はこの信
号を反転してローレベルの信号TEST２として出
力する。すなわち、この場合モード変換信号出力
回路３の出力は双方共にローレベルとなり、上述
のシステムとの対応関係により、システムは内部
ROMモードとなる。
次に、入力端子１に動作モード指定信号として
ハイレベルの信号を与えた場合について説明す
る。この信号のレベルはインバータ４および５の
しきい値以上であり、インバータ４によつて反転
されてローレベルの信号ａとなり、同時にインバ
ータ５および６によつて反転されてハイレベルの
信号ｂとなる。このように、レベル検出回路２
は、ローレベルの信号ａとハイレベルの信号ｂと
を次段のモード変換信号出力回路３に与える。ロ
ーレベルの信号ａとハイレベルの信号ｂとを受け
たNANDゲート７はハイレベルの信号を出力し、
インバータ９とNANDゲート８とに与える。イ
ンバータ９はハイレベルの入力を反転してローレ
ベルの信号TEST１として出力する。また、
NANDゲート８は、ハイレベルの信号ｂと
NANDゲート７とからのハイレベルの出力を受
けてローレベルの信号を出力し、インバータ１０
はこの信号を反転してハイレベルの信号TEST２
として出力する。すなわち、上述のシステムとの
対応関係により、システムは外部ROMモードと
なる。
ハイレベルの信号を与えた場合について説明す
る。この信号のレベルはインバータ４および５の
しきい値以上であり、インバータ４によつて反転
されてローレベルの信号ａとなり、同時にインバ
ータ５および６によつて反転されてハイレベルの
信号ｂとなる。このように、レベル検出回路２
は、ローレベルの信号ａとハイレベルの信号ｂと
を次段のモード変換信号出力回路３に与える。ロ
ーレベルの信号ａとハイレベルの信号ｂとを受け
たNANDゲート７はハイレベルの信号を出力し、
インバータ９とNANDゲート８とに与える。イ
ンバータ９はハイレベルの入力を反転してローレ
ベルの信号TEST１として出力する。また、
NANDゲート８は、ハイレベルの信号ｂと
NANDゲート７とからのハイレベルの出力を受
けてローレベルの信号を出力し、インバータ１０
はこの信号を反転してハイレベルの信号TEST２
として出力する。すなわち、上述のシステムとの
対応関係により、システムは外部ROMモードと
なる。
次に、インバータ４のしきい値電圧をV4、イ
ンバータ５のしきい値電圧をV5とし、その中間
の電圧VT（V4＞VT＞V5）の信号を動作モード指
定信号として入力端子１に与えた場合について説
明する。この信号のレベルはインバータ４のしき
い値以下なので、インバータ４はハイレベルの信
号ａを出力し、一方インバータ５のしきい値以上
なのでインバータ５はローレベルの信号を出力す
る。インバータ６はこの信号を反転してハイレベ
ルの信号ｂを出力する。このように、レベル検出
回路２は双方共にハイレベルである信号ａおよび
ｂを次段のモード変換信号出力回路３に与える。
ハイレベルの信号ａおよびｂを受けたNANDゲ
ート７はローレベルの信号を出力し、インバータ
９とNANDゲート８とに与える。インバータ９
は、ローレベルの入力を反転してハイレベルの信
号TEST１として出力する。また、NANDゲー
ト８はハイレベルの信号ｂとNANDゲート７か
らのローレベルの出力とを受けてハイレベルの信
号を出力し、インバータ１０はこの信号を反転し
てローレベルの信号TEST２として出力する。す
なわち、上述のシステムとの対応関係により、シ
ステムはROM出力モードとなる。
ンバータ５のしきい値電圧をV5とし、その中間
の電圧VT（V4＞VT＞V5）の信号を動作モード指
定信号として入力端子１に与えた場合について説
明する。この信号のレベルはインバータ４のしき
い値以下なので、インバータ４はハイレベルの信
号ａを出力し、一方インバータ５のしきい値以上
なのでインバータ５はローレベルの信号を出力す
る。インバータ６はこの信号を反転してハイレベ
ルの信号ｂを出力する。このように、レベル検出
回路２は双方共にハイレベルである信号ａおよび
ｂを次段のモード変換信号出力回路３に与える。
ハイレベルの信号ａおよびｂを受けたNANDゲ
ート７はローレベルの信号を出力し、インバータ
９とNANDゲート８とに与える。インバータ９
は、ローレベルの入力を反転してハイレベルの信
号TEST１として出力する。また、NANDゲー
ト８はハイレベルの信号ｂとNANDゲート７か
らのローレベルの出力とを受けてハイレベルの信
号を出力し、インバータ１０はこの信号を反転し
てローレベルの信号TEST２として出力する。す
なわち、上述のシステムとの対応関係により、シ
ステムはROM出力モードとなる。
以上のように従来のモード変換回路では、動作
モードを指定する信号のレベルに応じて、システ
ムの動作モードを変換する信号を発生するように
構成されていた。
モードを指定する信号のレベルに応じて、システ
ムの動作モードを変換する信号を発生するように
構成されていた。
しかしながら、上述のように構成された従来の
モード変換回路では、システムをROM出力モー
ドにするときに、動作モード指定信号としてイン
バータ４および５のしきい値電圧V4，V5の中間
の電圧VTの信号をレベル判定しているが、プロ
セスパラメータ等のばらつきにより、インバータ
４，５のしきい値電圧が変動し、中間電圧VTの
誤判定が起こり、指定されたモード以外で動作す
る可能性があつた。
モード変換回路では、システムをROM出力モー
ドにするときに、動作モード指定信号としてイン
バータ４および５のしきい値電圧V4，V5の中間
の電圧VTの信号をレベル判定しているが、プロ
セスパラメータ等のばらつきにより、インバータ
４，５のしきい値電圧が変動し、中間電圧VTの
誤判定が起こり、指定されたモード以外で動作す
る可能性があつた。
［発明の概要］
それゆえに、この発明の主たる目的は、従来の
ハイレベル、ローレベルの信号の他に、システム
の動作のタイミングに同期して所定のレベルに変
化する動作モード指定信号を入力として使用し、
その入力信号を一定のタイミングでサンプリング
することによつてシステムの動作モードを変換す
る信号を発生するモード変換回路を提供すること
である。
ハイレベル、ローレベルの信号の他に、システム
の動作のタイミングに同期して所定のレベルに変
化する動作モード指定信号を入力として使用し、
その入力信号を一定のタイミングでサンプリング
することによつてシステムの動作モードを変換す
る信号を発生するモード変換回路を提供すること
である。
この発明の上述の目的およびその他の目的と特
徴は、以下に図面を参照して行なう詳細な説明か
ら一層明らかとなろう。
徴は、以下に図面を参照して行なう詳細な説明か
ら一層明らかとなろう。
［発明の実施例］
第２図は、この発明の一実施例を示すブロツク
図である。
図である。
まず、第２図に示す実施例の構成について説明
する。第２図に示した実施例は、大きくは、動作
モードを指定する信号を入力する入力端子１と、
入力端子１に入力された信号をある一定のタイミ
ングでサンプリングするサンプリング回路１２
と、サンプリング回路１２が出力する信号を演算
してシステム全体の動作モードを変換する信号を
出力するモード変換信号出力回路３とから構成さ
れている。さらに、入力端子１とアース電位との
間には、クロツク信号φ１を制御入力とするトラ
ンジスタ１１が設けられる。
する。第２図に示した実施例は、大きくは、動作
モードを指定する信号を入力する入力端子１と、
入力端子１に入力された信号をある一定のタイミ
ングでサンプリングするサンプリング回路１２
と、サンプリング回路１２が出力する信号を演算
してシステム全体の動作モードを変換する信号を
出力するモード変換信号出力回路３とから構成さ
れている。さらに、入力端子１とアース電位との
間には、クロツク信号φ１を制御入力とするトラ
ンジスタ１１が設けられる。
サンプリング回路１２はさらに、入力信号を反
転するインバータ１４と、クロツク信号φ２を制
御入力とするトランスフアゲート１６と、クロツ
ク信号φ４を制御入力とするトランスフアゲート
１５とから構成されている。
転するインバータ１４と、クロツク信号φ２を制
御入力とするトランスフアゲート１６と、クロツ
ク信号φ４を制御入力とするトランスフアゲート
１５とから構成されている。
また、モード変換信号出力回路１３はさらに、
トランスフアゲート１６の出力を反転するインバ
ータ１７と、インバータ１７の出力とトランスフ
アゲート１５の出力とを入力とするNORゲート
１８と、クロツク信号φ１がハイレベルのタイミ
ングでインバータ１７の出力を反転するクロツク
ドインバータ１９と、同じくクロツク信号φ１が
ハイレベルのタイミングでNORゲート１８の出
力を反転するクロツクドインバータ２０と、クロ
ツクドインバータ２０の出力を反転する通常のイ
ンバータ２１と、クロツクドインバータ１９の出
力を反転する通常のインバータ２２とから構成さ
れている。
トランスフアゲート１６の出力を反転するインバ
ータ１７と、インバータ１７の出力とトランスフ
アゲート１５の出力とを入力とするNORゲート
１８と、クロツク信号φ１がハイレベルのタイミ
ングでインバータ１７の出力を反転するクロツク
ドインバータ１９と、同じくクロツク信号φ１が
ハイレベルのタイミングでNORゲート１８の出
力を反転するクロツクドインバータ２０と、クロ
ツクドインバータ２０の出力を反転する通常のイ
ンバータ２１と、クロツクドインバータ１９の出
力を反転する通常のインバータ２２とから構成さ
れている。
ここで、システムの動作モードとして第１図の
従来のモード変換回路の場合と同じように、内部
ROMモードと、外部ROMモードと、ROM出力
モードとの３つのモードを考える。また、モード
変換信号１３から出力される動作モード変換信号
TEST１およびTEST２と、それに対応して設定
されるシステムの動作モードとの関係も上述の従
来のモード変換回路の場合と同じものとする。
従来のモード変換回路の場合と同じように、内部
ROMモードと、外部ROMモードと、ROM出力
モードとの３つのモードを考える。また、モード
変換信号１３から出力される動作モード変換信号
TEST１およびTEST２と、それに対応して設定
されるシステムの動作モードとの関係も上述の従
来のモード変換回路の場合と同じものとする。
第３図および第４図は第２図に示す実施例の動
作を説明するための波形図である。
作を説明するための波形図である。
次に、第３図および第４図を参照して第２図に
示す実施例の動作について説明する。
示す実施例の動作について説明する。
まず、入力端子１に動作モード指定信号として
ローレベルの信号を与えた場合について説明す
る。この入力信号は、ローレベルの信号なので、
第３図Ａに示すクロツク信号φ１によるトランジ
スタ１１のオンオフにかかわらず、ローレベルの
ままインバータ１４に与えられ、反転されてハイ
レベルの信号となり、さらにトランスフアゲート
１５，１６に与えられる。ここで、第３図Ｂ，Ｃ
に示すように、クロツク信号φ２，φ４が各々ハ
イレベルになつたときにトランスフアゲート１
６，１５は開き、ハイレベルの信号ｃおよびｄを
出力する。次に、φ２およびφ４がそれぞれハイ
レベルからローレベルに落ちてトランスフアゲー
ト１６，１５が閉じた後もインバータ１７および
NORゲート１８のゲート容量のために、信号ｃ
およびｄはハイレベルのままに保たれる。したが
つて、インバータ１７はハイレベルの入力信号ｃ
を反転してローレベルの信号を出力してクロツク
ドインバータ１９とNORゲート１８とに与え、
NORゲート１８は、ハイレベルの信号ｄとイン
バータ１７からのローレベルの信号とを受けてロ
ーレベルの信号を出力してクロツクドインバータ
２０に与える。次に、クロツク信号φ１がハイレ
ベルになつたときに、クロツクドインバータ１９
と２０とは、それぞれローレベルの入力を反転し
てハイレベルの信号を出力し、次段のインバータ
２２，２１に与える。そしてインバータ２２は、
TEST2信号としてローレベルの信号を出力し、
インバータ２１もまた、TEST1信号としてロー
レベルの信号を出力する。すなわち、この場合、
モード変換信号出力回路１３の出力は双方共にロ
ーレベルとなり、前述のシステムとの対応関係に
より、システムは内部ROMモードとなる。
ローレベルの信号を与えた場合について説明す
る。この入力信号は、ローレベルの信号なので、
第３図Ａに示すクロツク信号φ１によるトランジ
スタ１１のオンオフにかかわらず、ローレベルの
ままインバータ１４に与えられ、反転されてハイ
レベルの信号となり、さらにトランスフアゲート
１５，１６に与えられる。ここで、第３図Ｂ，Ｃ
に示すように、クロツク信号φ２，φ４が各々ハ
イレベルになつたときにトランスフアゲート１
６，１５は開き、ハイレベルの信号ｃおよびｄを
出力する。次に、φ２およびφ４がそれぞれハイ
レベルからローレベルに落ちてトランスフアゲー
ト１６，１５が閉じた後もインバータ１７および
NORゲート１８のゲート容量のために、信号ｃ
およびｄはハイレベルのままに保たれる。したが
つて、インバータ１７はハイレベルの入力信号ｃ
を反転してローレベルの信号を出力してクロツク
ドインバータ１９とNORゲート１８とに与え、
NORゲート１８は、ハイレベルの信号ｄとイン
バータ１７からのローレベルの信号とを受けてロ
ーレベルの信号を出力してクロツクドインバータ
２０に与える。次に、クロツク信号φ１がハイレ
ベルになつたときに、クロツクドインバータ１９
と２０とは、それぞれローレベルの入力を反転し
てハイレベルの信号を出力し、次段のインバータ
２２，２１に与える。そしてインバータ２２は、
TEST2信号としてローレベルの信号を出力し、
インバータ２１もまた、TEST1信号としてロー
レベルの信号を出力する。すなわち、この場合、
モード変換信号出力回路１３の出力は双方共にロ
ーレベルとなり、前述のシステムとの対応関係に
より、システムは内部ROMモードとなる。
次に、入力端子１にプルアツプ抵抗（図示せ
ず）を介してハイレベルの信号を与えた場合につ
いて説明する。この入力信号はハイレベルの信号
なので、クロツク信号φ１がハイレベルのときに
トランジスタ１１がオンすると、入力信号は第４
図Ｂに示すようなφ１のタイミングでローレベル
に変化する信号となつてインバータ１４に与えら
れる。インバータ１４は、この入力信号を反転し
てφ１のタイミングでハイレベルに変化する信号
を出力してトランスフアゲート１６，１５に与え
る。クロツク信号φ２，φ４がそれぞれハイレベ
ルになつたときにトランスフアゲート１６，１５
は開き、サンプリングが行なわれて、ローレベル
の信号ｃおよびｄが出力される。インバータ１７
はローレベルの信号ｃを反転してハイレベルの信
号を出力してクロツクドインバータ１９とNOR
ゲート１８とに与える。NORゲート１８は、ロ
ーレベルの信号ｄとインバータ１７からのハイレ
ベルの信号とを受けてローレベルの信号を出力し
てクロツクドインバータ２０に与える。次に、ク
ロツク信号φ１がハイレベルになつたときに、ク
ロツクドインバータ１９は、ハイレベルの入力を
反転してローレベルの信号を出力し、クロツクド
インバータ２０はローレベルの入力を反転してハ
イレベルの信号を出力する。そして、次段のイン
バータ２２は、ローレベルの信号を反転して
TEST2信号としてハイレベルの信号を出力し、
インバータ２１は、ハイレベルの信号を反転して
TEST1信号としてローレベルの信号を出力する。
すなわち、この場合、前述のシステムとの対応関
係により、システムは外部ROMモードとなる。
ず）を介してハイレベルの信号を与えた場合につ
いて説明する。この入力信号はハイレベルの信号
なので、クロツク信号φ１がハイレベルのときに
トランジスタ１１がオンすると、入力信号は第４
図Ｂに示すようなφ１のタイミングでローレベル
に変化する信号となつてインバータ１４に与えら
れる。インバータ１４は、この入力信号を反転し
てφ１のタイミングでハイレベルに変化する信号
を出力してトランスフアゲート１６，１５に与え
る。クロツク信号φ２，φ４がそれぞれハイレベ
ルになつたときにトランスフアゲート１６，１５
は開き、サンプリングが行なわれて、ローレベル
の信号ｃおよびｄが出力される。インバータ１７
はローレベルの信号ｃを反転してハイレベルの信
号を出力してクロツクドインバータ１９とNOR
ゲート１８とに与える。NORゲート１８は、ロ
ーレベルの信号ｄとインバータ１７からのハイレ
ベルの信号とを受けてローレベルの信号を出力し
てクロツクドインバータ２０に与える。次に、ク
ロツク信号φ１がハイレベルになつたときに、ク
ロツクドインバータ１９は、ハイレベルの入力を
反転してローレベルの信号を出力し、クロツクド
インバータ２０はローレベルの入力を反転してハ
イレベルの信号を出力する。そして、次段のイン
バータ２２は、ローレベルの信号を反転して
TEST2信号としてハイレベルの信号を出力し、
インバータ２１は、ハイレベルの信号を反転して
TEST1信号としてローレベルの信号を出力する。
すなわち、この場合、前述のシステムとの対応関
係により、システムは外部ROMモードとなる。
次に、第４図Ｃに示すようなクロツク信号φ２
のタイミングにおいてローレベルに変化するハイ
レベルの信号を動作モード指定信号としてプルア
ツプ抵抗を介して入力端子１に与えた場合につい
て説明する。この入力信号はφ１のタイミングに
おけるトランジスタ１１のオンによつてφ１でも
ローレベルとなり、第４図Ｄに示すような波形と
なつてインバータ１４に与えられる。インバータ
１４はこの入力信号を反転してφ１，φ２のタイ
ミングでハイレベルになる信号を出力し、トラン
スフアゲート１６，１５に与える。したがつて、
トランスフアゲート１６は、φ２のタイミングで
ハイレベルの信号ｃを出力し、トランスフアゲー
ト１６は、φ４のタイミングでローレベルの信号
ｄを出力する。このとき、クロツク信号φ１によ
つて制御されるトランジスタ１１はシステムの動
作タイミングを外部に出力するために用いられ
る。インバータ１７はハイレベルの信号ｃを反転
してローレベルの信号を出力してクロツクドイン
バータ１９とNORゲート１８とに与える。NOR
ゲート１８は、ローレベルの信号ｄとインバータ
１７からのローレベルの信号とを受けて、ハイレ
ベルの信号を出力してクロツクドインバータ２０
に与える。次に、クロツク信号φ１がハイレベル
になつたときに、クロツクドインバータ１９は、
ローレベルの入力を反転してハイレベルの信号を
出力し、クロツクドインバータ２０は、ハイレベ
ルの入力を反転してローレベルの信号を出力す
る。そして、次段のインバータ２２は、ハイレベ
ルの信号を反転してTEST2信号としてローレベ
ルの信号を出力し、インバータ２１はローレベル
の信号を反転してTEST1信号としてハイレベル
の信号を出力する。すなわち、この場合、前述の
システムとの対応関係により、システムはROM
出力モードとなる。
のタイミングにおいてローレベルに変化するハイ
レベルの信号を動作モード指定信号としてプルア
ツプ抵抗を介して入力端子１に与えた場合につい
て説明する。この入力信号はφ１のタイミングに
おけるトランジスタ１１のオンによつてφ１でも
ローレベルとなり、第４図Ｄに示すような波形と
なつてインバータ１４に与えられる。インバータ
１４はこの入力信号を反転してφ１，φ２のタイ
ミングでハイレベルになる信号を出力し、トラン
スフアゲート１６，１５に与える。したがつて、
トランスフアゲート１６は、φ２のタイミングで
ハイレベルの信号ｃを出力し、トランスフアゲー
ト１６は、φ４のタイミングでローレベルの信号
ｄを出力する。このとき、クロツク信号φ１によ
つて制御されるトランジスタ１１はシステムの動
作タイミングを外部に出力するために用いられ
る。インバータ１７はハイレベルの信号ｃを反転
してローレベルの信号を出力してクロツクドイン
バータ１９とNORゲート１８とに与える。NOR
ゲート１８は、ローレベルの信号ｄとインバータ
１７からのローレベルの信号とを受けて、ハイレ
ベルの信号を出力してクロツクドインバータ２０
に与える。次に、クロツク信号φ１がハイレベル
になつたときに、クロツクドインバータ１９は、
ローレベルの入力を反転してハイレベルの信号を
出力し、クロツクドインバータ２０は、ハイレベ
ルの入力を反転してローレベルの信号を出力す
る。そして、次段のインバータ２２は、ハイレベ
ルの信号を反転してTEST2信号としてローレベ
ルの信号を出力し、インバータ２１はローレベル
の信号を反転してTEST1信号としてハイレベル
の信号を出力する。すなわち、この場合、前述の
システムとの対応関係により、システムはROM
出力モードとなる。
以上のように第２図に示した実施例のモード変
換回路は、３種類の動作モード指定信号入力に基
づいて、システムを対応する動作モードに変換す
る信号を発生することができる。
換回路は、３種類の動作モード指定信号入力に基
づいて、システムを対応する動作モードに変換す
る信号を発生することができる。
ところで、上述の実施例では３種類の動作モー
ドを有するシステムについて説明したが、動作モ
ードの種類の数には関係なく、４種類以上の動作
モードを有するシステムあつてもよい。たとえ
ば、第５図は４種類の動作モードを有するシステ
ムに対応できるモード変換回路の実施例を示すブ
ロツク図である。第５図に示した例は、第２図に
示した実施例のサンプリング回路１２にクロツク
信号φ５によつて制御されるトランスフアゲート
２５を新たに１つ追加してサンプリング回路２３
を構成し、モード変換信号出力回路１３に新たに
１つのNORゲート２６と、φ１に同期するクロ
ツクドインバータ２７と、インバータ２８とを追
加して信号処理系が１つ増加したモード変換信号
出力回路２４を構成したものであり、その動作は
第２図に示す実施例と同じである。
ドを有するシステムについて説明したが、動作モ
ードの種類の数には関係なく、４種類以上の動作
モードを有するシステムあつてもよい。たとえ
ば、第５図は４種類の動作モードを有するシステ
ムに対応できるモード変換回路の実施例を示すブ
ロツク図である。第５図に示した例は、第２図に
示した実施例のサンプリング回路１２にクロツク
信号φ５によつて制御されるトランスフアゲート
２５を新たに１つ追加してサンプリング回路２３
を構成し、モード変換信号出力回路１３に新たに
１つのNORゲート２６と、φ１に同期するクロ
ツクドインバータ２７と、インバータ２８とを追
加して信号処理系が１つ増加したモード変換信号
出力回路２４を構成したものであり、その動作は
第２図に示す実施例と同じである。
また、上述の実施例ではサンプリング回路とし
てトランスフアゲートを使用したが、これはＤ−
フリツプフロツプなどでもよく、サンプリング回
路の種類には関係なしに同様の効果を得ることが
できる。
てトランスフアゲートを使用したが、これはＤ−
フリツプフロツプなどでもよく、サンプリング回
路の種類には関係なしに同様の効果を得ることが
できる。
また、第２図の実施例の出力段に使用されてい
るインバータはドライブ能力を向上させるための
ものであり、必ずしも第２図に示すように設ける
必要はない。
るインバータはドライブ能力を向上させるための
ものであり、必ずしも第２図に示すように設ける
必要はない。
［発明の効果］
以上のように、この発明によれば、従来のハイ
レベル、ローレベルの動作モード指定信号の他
に、システムの動作タイミングに同期して所定の
レベルに変化する動作モード指定信号を入力とし
てシステムの動作モードを変換する信号を発生す
るように構成したので、プロセスパラメータなど
のばらつきなどによる動作モードの誤判定の可能
性のないモード変換回路を得ることができる。
レベル、ローレベルの動作モード指定信号の他
に、システムの動作タイミングに同期して所定の
レベルに変化する動作モード指定信号を入力とし
てシステムの動作モードを変換する信号を発生す
るように構成したので、プロセスパラメータなど
のばらつきなどによる動作モードの誤判定の可能
性のないモード変換回路を得ることができる。
第１図は従来のモード変換回路を示すブロツク
図である。第２図および第５図はこの発明の一実
施例を示すブロツク図である。第３図および第４
図は第２図に示した実施例の動作を説明するため
の波形図である。 図において、１は入力端子、２は信号レベル検
出回路、３，１３，２４はモード変換信号出力回
路、４，５，６，９，１０，１４，１７，２１，
２２，２８はインバータ、７，８はNANDゲー
ト、１１はトランジスタ、１２，２３はサンプリ
ング回路、１５，１６，２５はトランスフアゲー
ト、１９，２０，２７はクロツクドインバータ、
１８，２６はNORゲートを示す。
図である。第２図および第５図はこの発明の一実
施例を示すブロツク図である。第３図および第４
図は第２図に示した実施例の動作を説明するため
の波形図である。 図において、１は入力端子、２は信号レベル検
出回路、３，１３，２４はモード変換信号出力回
路、４，５，６，９，１０，１４，１７，２１，
２２，２８はインバータ、７，８はNANDゲー
ト、１１はトランジスタ、１２，２３はサンプリ
ング回路、１５，１６，２５はトランスフアゲー
ト、１９，２０，２７はクロツクドインバータ、
１８，２６はNORゲートを示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ システムを所望の動作モードに切換える信号
を発生するモード変換回路であつて、 所望の動作モードに対応する信号レベルを有す
る動作モード指定信号を入力する入力端子と、 前記動作モード指定信号を一定の異なるタイミ
ングでサンプリングする複数のサンプリング手段
と、 前記複数のサンプリング手段による複数のサン
プリング値を演算して前記システムを所望の動作
モードに切換えるデイジタル値の組合せを出力す
る演算手段とを備えた、モード変換回路。 ２ 前記動作モード指定信号の少なくとも１つ
は、前記システムの一定の動作タイミングに同期
して一定の信号レベルに変化し、前記サンプリン
グ手段の少なくとも１つは前記一定の動作タイミ
ングに同期してサンプリングを行なう、特許請求
の範囲第１項記載のモード変換回路。 ３ 前記サンプリング手段は、トランスフアゲー
トを含む、特許請求の範囲第１項または第２項記
載のモード変換回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58227213A JPS60117343A (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | モ−ド変換回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58227213A JPS60117343A (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | モ−ド変換回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60117343A JPS60117343A (ja) | 1985-06-24 |
| JPS6338727B2 true JPS6338727B2 (ja) | 1988-08-02 |
Family
ID=16857262
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58227213A Granted JPS60117343A (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | モ−ド変換回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60117343A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4847037B2 (ja) * | 2005-04-05 | 2011-12-28 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | 磁性体鉗子 |
-
1983
- 1983-11-29 JP JP58227213A patent/JPS60117343A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60117343A (ja) | 1985-06-24 |
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