JPS6332981A - 半導体レ−ザアレイ - Google Patents
半導体レ−ザアレイInfo
- Publication number
- JPS6332981A JPS6332981A JP61175969A JP17596986A JPS6332981A JP S6332981 A JPS6332981 A JP S6332981A JP 61175969 A JP61175969 A JP 61175969A JP 17596986 A JP17596986 A JP 17596986A JP S6332981 A JPS6332981 A JP S6332981A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- laser array
- quantum well
- loss
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 7
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910005091 Si3N Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/11—Comprising a photonic bandgap structure
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0601—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium comprising an absorbing region
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/06209—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in single-section lasers
- H01S5/0622—Controlling the frequency of the radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4031—Edge-emitting structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/028—Coatings ; Treatment of the laser facets, e.g. etching, passivation layers or reflecting layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0601—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium comprising an absorbing region
- H01S5/0602—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium comprising an absorbing region which is an umpumped part of the active layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/06203—Transistor-type lasers
- H01S5/06206—Controlling the frequency of the radiation, e.g. tunable twin-guide lasers [TTG]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/06209—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in single-section lasers
- H01S5/06213—Amplitude modulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
- H01S5/06255—Controlling the frequency of the radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
- H01S5/06255—Controlling the frequency of the radiation
- H01S5/06258—Controlling the frequency of the radiation with DFB-structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/1039—Details on the cavity length
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1206—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
- H01S5/1215—Multiplicity of periods
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1228—DFB lasers with a complex coupled grating, e.g. gain or loss coupling
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/125—Distributed Bragg reflector [DBR] lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/2004—Confining in the direction perpendicular to the layer structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/3211—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures characterised by special cladding layers, e.g. details on band-discontinuities
- H01S5/3216—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures characterised by special cladding layers, e.g. details on band-discontinuities quantum well or superlattice cladding layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
- H01S5/3409—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers special GRINSCH structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
- H01S5/3418—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers using transitions from higher quantum levels
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4087—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar emitting more than one wavelength
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は同一ウニバー内に異なった波長を発振するレ
ーザを複数個並べた集積型半導体レーザアレイに関する
ものである。
ーザを複数個並べた集積型半導体レーザアレイに関する
ものである。
第3図は例えばアプライド フィジクス レターズ、3
6巻、441頁(1980年) (Appl、Phy
s、Latt。
6巻、441頁(1980年) (Appl、Phy
s、Latt。
36.441(1980) )に記載された4種の波長
の異なった光を出すトランスバース・ジャンクション・
ストライプレーザの層構造を示す図であり、図において
lは上部電極、2はSi3N、電流阻止層、3はN−A
l、Ga、−、Asクラッド層、4はNA 1 xl
G a +−*+ A s第1活性層、5はNAIXz
G a 、−、、A S第2活性層、6はN = A
l x2Gal−X3As第3活性層、7はN A
I l14G a 1−xaA s第4活性層、9はn
−GaAs基板、10は下部電極、11の斜線はZn拡
散領域、12の点線間はZnドライブ領域である。ここ
で、クラッド層及び活性層のA1組成比はX l< X
z < X 1 < X 4〈yとなっている。
の異なった光を出すトランスバース・ジャンクション・
ストライプレーザの層構造を示す図であり、図において
lは上部電極、2はSi3N、電流阻止層、3はN−A
l、Ga、−、Asクラッド層、4はNA 1 xl
G a +−*+ A s第1活性層、5はNAIXz
G a 、−、、A S第2活性層、6はN = A
l x2Gal−X3As第3活性層、7はN A
I l14G a 1−xaA s第4活性層、9はn
−GaAs基板、10は下部電極、11の斜線はZn拡
散領域、12の点線間はZnドライブ領域である。ここ
で、クラッド層及び活性層のA1組成比はX l< X
z < X 1 < X 4〈yとなっている。
第4図は例えばアプライド フィジクス レターズ、
4B−i、 7頁(1986年) (Appl、P
hys、Lett。
4B−i、 7頁(1986年) (Appl、P
hys、Lett。
vol、48+p−7(1986))に記載された3つ
のレーザを同一基板上に集積したアレイを示す図である
。図において、13はP−GaA3コンタクト層、14
はp−AlGaAsクラッド層、15はAlGa A
s / G a A s多重量子井戸活性層、16はn
−AlGaAsクラッド層、17はSi拡散領域(図示
斜線部分)、18はプロトン照射領域(図示点線内)で
ある。
のレーザを同一基板上に集積したアレイを示す図である
。図において、13はP−GaA3コンタクト層、14
はp−AlGaAsクラッド層、15はAlGa A
s / G a A s多重量子井戸活性層、16はn
−AlGaAsクラッド層、17はSi拡散領域(図示
斜線部分)、18はプロトン照射領域(図示点線内)で
ある。
次に動作について説明する。第3図においてp側の上部
電極1から流れ込む正孔とn側の下部電極10から流れ
込む電子は図中の矢印のような経路をとっており、4つ
の活性Ji4. 5. 6. 7で発光する。ここでX
、<x!<X、<x4であるため光の波長はλ、〉A8
〉A3〉A4である(A7は第n活性層から出る光)。
電極1から流れ込む正孔とn側の下部電極10から流れ
込む電子は図中の矢印のような経路をとっており、4つ
の活性Ji4. 5. 6. 7で発光する。ここでX
、<x!<X、<x4であるため光の波長はλ、〉A8
〉A3〉A4である(A7は第n活性層から出る光)。
また、第4図において下部電極1から流れ込む正孔と下
部電極から流れこむ電子はStで無秩序化されていない
3つの活性層15で再結合し、発振する。
部電極から流れこむ電子はStで無秩序化されていない
3つの活性層15で再結合し、発振する。
従来の多波長発振レーザは第3図のようなトランスバー
ス・ジャンクション・ストライプ以外では作製困難で、
この作製方法はプロセスが複雑でありコスト面において
問題があり、また第4@のレーザアレイは3つの活性層
とも同じ波長を出すため波長多重はできないなどの問題
があった。
ス・ジャンクション・ストライプ以外では作製困難で、
この作製方法はプロセスが複雑でありコスト面において
問題があり、また第4@のレーザアレイは3つの活性層
とも同じ波長を出すため波長多重はできないなどの問題
があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、簡単なプロセスで作製できる異なった波長を
出すレーザアレイを得ることを目的とする。
たもので、簡単なプロセスで作製できる異なった波長を
出すレーザアレイを得ることを目的とする。
C問題点を解決するための手段〕
この発明に係る半導体レーザアレイはそれぞれ内部ロス
の異なった量子井戸活性層を有する半導体レーザを複数
個1チツプ上に集積化したものである。
の異なった量子井戸活性層を有する半導体レーザを複数
個1チツプ上に集積化したものである。
〔作用〕
この発明におけるレーザアレイの各レーザはそれぞれの
共振器内部ロスが異なるため異なる量子準位に対応した
異なった波長で発振する。
共振器内部ロスが異なるため異なる量子準位に対応した
異なった波長で発振する。
以下この発明の一実施例を図について説明する。
第1図は本発明の一実施例による半導体レーザアレイを
示す構造図であり、図において1は上部電極、10は下
部電極、11はZn拡散領域、13はp−GaAsコン
タクト層、14はp−AtGaAsクラッド層、16は
n−AlGaAsクラッド層、9はn−GaAs基板、
19はp−A10.3 G a o、I A s光とじ
こめ層、20は厚さが100人のGaAs活性層、21
はn Alo、tGaAs光とじこめ層である。
示す構造図であり、図において1は上部電極、10は下
部電極、11はZn拡散領域、13はp−GaAsコン
タクト層、14はp−AtGaAsクラッド層、16は
n−AlGaAsクラッド層、9はn−GaAs基板、
19はp−A10.3 G a o、I A s光とじ
こめ層、20は厚さが100人のGaAs活性層、21
はn Alo、tGaAs光とじこめ層である。
また第2図は第1図の活性層20の中央でのA−A’断
面図であり、活性層の平均のストライプ巾はそれぞれ0
.5μm、2μm、5μmである。
面図であり、活性層の平均のストライプ巾はそれぞれ0
.5μm、2μm、5μmである。
ただしここでストライプエツジは意図的に凹凸にしであ
る。
る。
本レーザの作製法は例えばアプライド フィジクス レ
ターズ、44巻、700頁(1984年) (八ppt
。
ターズ、44巻、700頁(1984年) (八ppt
。
Phys、Lett、vol、44. p、700(1
984))にしたがえばよい。
984))にしたがえばよい。
次に動作について説明する。
活性層が量子井戸構造である場合、活性層内に注入され
たキャリアは、量子化されたエネルギーを持ち、n ”
’ 1 + n−2+・・・といった離散的なエネル
ギー準位間で電子と正孔が再結合し発光する。
たキャリアは、量子化されたエネルギーを持ち、n ”
’ 1 + n−2+・・・といった離散的なエネル
ギー準位間で電子と正孔が再結合し発光する。
レーザ発振は先導波路内での電流利得が共振器損失より
大きくなったときに起こる。量子井戸活性層の場合、電
流を注入することにより、nxlの量子準位に対応する
波長をピークとして利得が高まってこの波長での利得g
lが共振器損失より大きくなると、n−1の量子準位に
対応する波長λ1で発振するが、一方共振器損失が非常
に高いとn=1の利得では発振されず、注入する電流量
をさ′らに増してやることによりn=2の量子準位に対
応する波長λ2の利得が増し、このn=2の利得g2が
ある注入電流量以上でn=1の利得g1よりも大きくな
り、しかも共振器損失より大きくなると、n−2の量子
準位に対応する波長λ2 (くλl)でレーザ発振が起
こる。ここで上記gzがg、より大となることに対して
はn=2の量子準位におけるキャリアの状態密度がn=
1の量子準位におけるそれよりも大きいことと、バンド
フィリングとが関与している。
大きくなったときに起こる。量子井戸活性層の場合、電
流を注入することにより、nxlの量子準位に対応する
波長をピークとして利得が高まってこの波長での利得g
lが共振器損失より大きくなると、n−1の量子準位に
対応する波長λ1で発振するが、一方共振器損失が非常
に高いとn=1の利得では発振されず、注入する電流量
をさ′らに増してやることによりn=2の量子準位に対
応する波長λ2の利得が増し、このn=2の利得g2が
ある注入電流量以上でn=1の利得g1よりも大きくな
り、しかも共振器損失より大きくなると、n−2の量子
準位に対応する波長λ2 (くλl)でレーザ発振が起
こる。ここで上記gzがg、より大となることに対して
はn=2の量子準位におけるキャリアの状態密度がn=
1の量子準位におけるそれよりも大きいことと、バンド
フィリングとが関与している。
本実施例による半導体レーザアレイでは、第1図、第2
図に示すように量子井戸活性N20の光導波路25a、
25b、25cのストライプ幅をそれぞれ0.5 μm
、2μm、5μmと変えることによって共振器内部損失
に変化をつけである。すなわちストライプ幅がせまいほ
どストライプエッヂでの光の散乱が大きくなり、共振器
内部損失が高くなるため光導波路25a、25b、25
cでの内部損失α□、、αZ%b r α8.cの大き
さは、α2S1〉αzsb >αtsc となる。
図に示すように量子井戸活性N20の光導波路25a、
25b、25cのストライプ幅をそれぞれ0.5 μm
、2μm、5μmと変えることによって共振器内部損失
に変化をつけである。すなわちストライプ幅がせまいほ
どストライプエッヂでの光の散乱が大きくなり、共振器
内部損失が高くなるため光導波路25a、25b、25
cでの内部損失α□、、αZ%b r α8.cの大き
さは、α2S1〉αzsb >αtsc となる。
ここで本実施例による半導体レーザアレイに電流を注入
してやると、まず共振器損失の低い光導波路25cにお
いて最低量子準位であるn=1の量子準位に対応する波
長の利得が損失(α2.c)より大きくなり、n=1に
対応する波長λ1に対応する波長λ、のレーザ光が発振
される0次に中間の共振器損失を有する光導波路25b
においてはn=1での発振は起こらず、n=2の量子準
位に対応する波長の利得が損失(αtub )より大き
くなることによりnm2に対応する波長λ2 (〈λ1
)のレーザ光が発振される。最後に共振器損失が高い光
導波路25aにおいてはn−1,n−2での発振はその
利得が損失αZSmよりも大きくならないため起こらず
、さらに上のn=3の量子準位に対応する波長の利得が
高まることによって損失α2oより大きくなり、n=3
に対応する波長λ、(〈λ2〈λ、)のレーザ光を発振
する。
してやると、まず共振器損失の低い光導波路25cにお
いて最低量子準位であるn=1の量子準位に対応する波
長の利得が損失(α2.c)より大きくなり、n=1に
対応する波長λ1に対応する波長λ、のレーザ光が発振
される0次に中間の共振器損失を有する光導波路25b
においてはn=1での発振は起こらず、n=2の量子準
位に対応する波長の利得が損失(αtub )より大き
くなることによりnm2に対応する波長λ2 (〈λ1
)のレーザ光が発振される。最後に共振器損失が高い光
導波路25aにおいてはn−1,n−2での発振はその
利得が損失αZSmよりも大きくならないため起こらず
、さらに上のn=3の量子準位に対応する波長の利得が
高まることによって損失α2oより大きくなり、n=3
に対応する波長λ、(〈λ2〈λ、)のレーザ光を発振
する。
ここでストライプのエッヂを意図的に凸凹にしであるの
は、この凸凹によっても共振器内部損失を高めるためで
ある。
は、この凸凹によっても共振器内部損失を高めるためで
ある。
なお、この方法では共振器内部ロスに変化をつけるため
、ストライプ幅をかえたが、これは他の共振器内部ロス
を変える方法、たとえば活性層の両側の光の吸収される
部分の吸収の良さを変える方法などで行ってもよい。ま
た端面コートの方法などによりそれぞれのレーザのミラ
ーの反射率をかえてミラーロスをかえてもよい。
、ストライプ幅をかえたが、これは他の共振器内部ロス
を変える方法、たとえば活性層の両側の光の吸収される
部分の吸収の良さを変える方法などで行ってもよい。ま
た端面コートの方法などによりそれぞれのレーザのミラ
ーの反射率をかえてミラーロスをかえてもよい。
また本レーザの作製法はたとえばジャーナルオブ アプ
ライド フィジックス(J、Appl、Phys、)5
8.4515 (1985)に記されたStとZnの拡
散を用いる方法を用いればレーザのしきい値電流が下が
りなおよい。
ライド フィジックス(J、Appl、Phys、)5
8.4515 (1985)に記されたStとZnの拡
散を用いる方法を用いればレーザのしきい値電流が下が
りなおよい。
また横とじこめ法としては、−iに用いられている横方
向のとじこめ法(たとえば埋め込みへテロ・ストラクチ
ュア法等)を用いてもよい。
向のとじこめ法(たとえば埋め込みへテロ・ストラクチ
ュア法等)を用いてもよい。
また活性層は多重量子井戸構造でもよい。
また必ずしもSCH構造による厚み方向の光とじこめ層
が必要なものではない。
が必要なものではない。
以上のように、この発明によればレーザアレイの構成す
るそれぞれの量子井戸レーザの共振器内部ロスあるいは
ミラーロスを相互にかえてそれぞれ異なった量子準位に
関係した波長の光を出させるように構成したから、波長
多重に用いるレーザアレイが安価にできる効果がある。
るそれぞれの量子井戸レーザの共振器内部ロスあるいは
ミラーロスを相互にかえてそれぞれ異なった量子準位に
関係した波長の光を出させるように構成したから、波長
多重に用いるレーザアレイが安価にできる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例によるレーザアレイを示す
図、第2図は第1図のA−に断面図(活性層断面図)、
第3図は従来の異なった光を出すレーザ構造を示す図、
第4図は従来のレーザアレイの一例を示す図である。 1は上部電極、9はn−GaAs基板、10は下部電極
、11はZn拡散領域、13はp−GaAsコンタクト
層、14はp−AlGaAsクラッド層、16はn−A
lGaAsクラッド層、19はI) −A l o、3
G a 17 A s光間じ込め層、20は量子井戸活
性層、21はnA l 6,3 G a O,?A3光
閉光間め層、25a、25b、25cは光導波路。
図、第2図は第1図のA−に断面図(活性層断面図)、
第3図は従来の異なった光を出すレーザ構造を示す図、
第4図は従来のレーザアレイの一例を示す図である。 1は上部電極、9はn−GaAs基板、10は下部電極
、11はZn拡散領域、13はp−GaAsコンタクト
層、14はp−AlGaAsクラッド層、16はn−A
lGaAsクラッド層、19はI) −A l o、3
G a 17 A s光間じ込め層、20は量子井戸活
性層、21はnA l 6,3 G a O,?A3光
閉光間め層、25a、25b、25cは光導波路。
Claims (11)
- (1)量子井戸構造の活性層を有する半導体レーザを複
数個横に並べて集積化した半導体レーザアレイにおいて
、 上記半導体レーザの共振器内部ロスが相互に異なること
を特徴とする半導体レーザアレイ。 - (2)上記半導体レーザの共振器内部ロスは、該半導体
レーザの光導波路のストライプ幅を変えることにより異
なるものとしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の半導体レーザアレイ。 - (3)上記活性層が単一量子井戸構造であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の半導体レ
ーザアレイ。 - (4)上記活性層が多重量子井戸構造であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の半導体レ
ーザアレイ。 - (5)上記量子井戸構造は、量子井戸の層厚がそれぞれ
異なる、あるいは材料の組成がそれぞれ異なることを特
徴とする特許請求の範囲第4項記載の半導体レーザアレ
イ。 - (6)上記量子井戸構造は、バリア層の層厚がそれぞれ
異なる、あるいは材料の組成がそれぞれ異なることを特
徴とする特許請求の範囲第4項又は第5項記載の半導体
レーザアレイ。 - (7)量子井戸構造の活性層を有する半導体レーザを複
数個横に並べて集積化した半導体レーザアレイにおいて
、 上記半導体レーザの端面反射率によるミラーロスが相互
に異なることを特徴とする半導体レーザアレイ。 - (8)上記活性層が単一量子井戸構造であることを特徴
とする特許請求の範囲第7項記載の半導体レーザアレイ
。 - (9)上記活性層が多重量子井戸構造であることを特徴
とする特許請求の範囲第7項記載の半導体レーザアレイ
。 - (10)上記量子井戸構造は、量子井戸の層厚がそれぞ
れ異なる、あるいは材料の組成がそれぞれ異なることを
特徴とする特許請求の範囲第9項記載の半導体レーザア
レイ。 - (11)上記量子井戸構造は、バリア層の層厚がそれぞ
れ異なる、あるいは材料の組成がそれぞれ異なることを
特徴とする特許請求の範囲第9項又は第10項記載の半
導体レーザアレイ。
Priority Applications (11)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61175969A JPS6332981A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 半導体レ−ザアレイ |
DE3751549T DE3751549T2 (de) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | Halbleiterlaser. |
EP93200589A EP0547044B1 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
EP93200581A EP0547038B1 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
DE87306520T DE3787769T2 (de) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | Halbleiterlaservorrichtung. |
DE3751535T DE3751535T2 (de) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | Halbleiterlaser. |
EP19930200587 EP0547042A3 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
EP87306520A EP0254568B1 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
EP93200588A EP0547043B1 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
DE3751548T DE3751548T2 (de) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | Halbleiterlaser. |
US07/078,393 US4817110A (en) | 1986-07-25 | 1987-07-24 | Semiconductor laser device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61175969A JPS6332981A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 半導体レ−ザアレイ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6332981A true JPS6332981A (ja) | 1988-02-12 |
Family
ID=16005414
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61175969A Pending JPS6332981A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 半導体レ−ザアレイ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6332981A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0318080A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 量子井戸半導体レーザ |
US5157680A (en) * | 1989-11-08 | 1992-10-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Integrated semiconductor laser |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59107590A (ja) * | 1982-11-24 | 1984-06-21 | ゼロツクス・コ−ポレ−シヨン | 多重モ−ド光フアイバ用光源及び光通信装置 |
JPS6057991A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 多波長半導体レ−ザ |
JPS61242093A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-10-28 | マツクス‐プランク‐ゲゼルシヤフト ツール フオエルデルングデール ヴイセンシヤフテン エー.フアオ | 改良半導体レーザデバイス |
JPS62234389A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レ−ザアレイ装置 |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP61175969A patent/JPS6332981A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59107590A (ja) * | 1982-11-24 | 1984-06-21 | ゼロツクス・コ−ポレ−シヨン | 多重モ−ド光フアイバ用光源及び光通信装置 |
JPS6057991A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 多波長半導体レ−ザ |
JPS61242093A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-10-28 | マツクス‐プランク‐ゲゼルシヤフト ツール フオエルデルングデール ヴイセンシヤフテン エー.フアオ | 改良半導体レーザデバイス |
JPS62234389A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レ−ザアレイ装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0318080A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 量子井戸半導体レーザ |
US5157680A (en) * | 1989-11-08 | 1992-10-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Integrated semiconductor laser |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0547043B1 (en) | A semiconductor laser device | |
US6167073A (en) | High power laterally antiguided semiconductor light source with reduced transverse optical confinement | |
US6594297B1 (en) | Laser apparatus in which surface-emitting semiconductor is excited with semiconduct laser element and high-order oscillation modes are suppressed | |
US20010012307A1 (en) | Laser apparatus including surface-emitting semiconductor excited with semiconductor laser element, and directly modulated | |
US7567603B2 (en) | Semiconductor laser diode with advanced window structure | |
JP2002076502A (ja) | 半導体レーザ素子 | |
JPS6332981A (ja) | 半導体レ−ザアレイ | |
JPH0233991A (ja) | 半導体レーザ | |
JPS6332982A (ja) | 半導体レ−ザ | |
US4633477A (en) | Semiconductor laser with blocking layer | |
US4631729A (en) | Semiconductor laser structure | |
JPH04107976A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
US7949027B2 (en) | Semiconductor laser device | |
JPH09199782A (ja) | 半導体レーザ | |
JPS6332979A (ja) | 半導体レ−ザ | |
JPH04245493A (ja) | 多波長半導体レーザ素子及びその駆動方法 | |
JPH0824207B2 (ja) | 半導体レ−ザ装置 | |
JPH09321379A (ja) | 半導体レーザ | |
JPS63312688A (ja) | 半導体レ−ザ及びその使用方法 | |
JP2862889B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JPS6332987A (ja) | 半導体レ−ザ | |
JPH11163459A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JPS6332985A (ja) | 半導体レ−ザ | |
JPS6332986A (ja) | 集積化半導体レ−ザ | |
JPH07162084A (ja) | 半導体レーザの量子井戸構造 |