JPS6332982A - 半導体レ−ザ - Google Patents
半導体レ−ザInfo
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- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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- H01S5/4087—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar emitting more than one wavelength
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、複数の発振波長で発光する半導体レーザの
改良に関するものである。
改良に関するものである。
第4図は例えば、アプライド フィジクス レター1.
39巻、 134〜137頁(Appl、Phys、L
ett、 。
39巻、 134〜137頁(Appl、Phys、L
ett、 。
vol、39.pp134〜137)に示された従来の
量子井戸型半導体レーザを示す断面図であり、図におい
て、11はn”−GaAs基板、12はn−Al、Ga
+−5Asクラフト層、13はn A l t G
a I−zAs放物型屈折率分布層(2は徐々にyに変
化)、14はp A I X G a r−x A
sl子井戸活性層、15はp−AI、Ga、−、As放
物型屈折率分布層(yは徐々に2に変化)、16はp
xl、Cat−zAsクラッド層、17はp” −G
aAsコンタクト層である。
量子井戸型半導体レーザを示す断面図であり、図におい
て、11はn”−GaAs基板、12はn−Al、Ga
+−5Asクラフト層、13はn A l t G
a I−zAs放物型屈折率分布層(2は徐々にyに変
化)、14はp A I X G a r−x A
sl子井戸活性層、15はp−AI、Ga、−、As放
物型屈折率分布層(yは徐々に2に変化)、16はp
xl、Cat−zAsクラッド層、17はp” −G
aAsコンタクト層である。
次に動作について説明する。
500 Å以下の薄い半導体層をバンドキャンプの大き
い半導体バリヤ層ではさんでやると、この薄い半導体層
は第5図のエネルギーバンド構造図に示すようにポテン
シャルの井戸を形成する。この井戸に閉じ込められた電
子または正孔の伝導帯の底から測った固有エネルギーB
nはシュレーディンガ−(Schrodinger )
方程式よりn=1,2.3 となり、離散的なエネルギー準位を形成する。ここでm
、′は電子の有効質量、hはブランク定数を2πで割っ
たもの、L、は量子井戸層の厚さである。
い半導体バリヤ層ではさんでやると、この薄い半導体層
は第5図のエネルギーバンド構造図に示すようにポテン
シャルの井戸を形成する。この井戸に閉じ込められた電
子または正孔の伝導帯の底から測った固有エネルギーB
nはシュレーディンガ−(Schrodinger )
方程式よりn=1,2.3 となり、離散的なエネルギー準位を形成する。ここでm
、′は電子の有効質量、hはブランク定数を2πで割っ
たもの、L、は量子井戸層の厚さである。
このように量子井戸中では電子は量子化されたエネルギ
ーEnを持ち、その状態密度ρ(E)は図6に示すよう
に、バルク結晶では破線で示す放物線型であったものが
、実線で示すように階段型となる。
ーEnを持ち、その状態密度ρ(E)は図6に示すよう
に、バルク結晶では破線で示す放物線型であったものが
、実線で示すように階段型となる。
従って、量子井戸層を活性層とし、両側をバンドギャッ
プの大きいp型半導体層、n型半導体層とすると、キャ
リア(電子および正札)と光を閉じ込めることができる
、量子井戸型半導体レーザを作ることができる。このよ
うにして作られた半導体レーザは、通常のダブルへテロ
接合により構成された半導体レーザに比べ、活性層のバ
ンドギャップ(禁制帯幅)が同じ材料で作られていれば
、最低量子準位であるn=1のエネルギー準位が伝導帯
の底よりも高く (第6図の実線)、伝導帯の底と価電
子帯の天井のエネルギー差で発振する通常のダブルへテ
ロ接合半導体レーザに比べて、エネルギー差が大きいた
め、より短波長で発振する。
プの大きいp型半導体層、n型半導体層とすると、キャ
リア(電子および正札)と光を閉じ込めることができる
、量子井戸型半導体レーザを作ることができる。このよ
うにして作られた半導体レーザは、通常のダブルへテロ
接合により構成された半導体レーザに比べ、活性層のバ
ンドギャップ(禁制帯幅)が同じ材料で作られていれば
、最低量子準位であるn=1のエネルギー準位が伝導帯
の底よりも高く (第6図の実線)、伝導帯の底と価電
子帯の天井のエネルギー差で発振する通常のダブルへテ
ロ接合半導体レーザに比べて、エネルギー差が大きいた
め、より短波長で発振する。
また量子井戸型半導体レーザでは、エネルギー準位が離
散的であるため、そのスペクトル線幅も狭く単色性の良
いレーザ光が得られるといった特徴を持っている。
散的であるため、そのスペクトル線幅も狭く単色性の良
いレーザ光が得られるといった特徴を持っている。
第4図の従来例について説明する。
まず、n +G a A s基板11上にクラッド層と
なるn A lx Cat−z As 12を成長さ
せ、続いて、放物型屈折率分布層n−Al□G a +
−11A、s(zはその厚み方向に徐々にyに変化する
)13、量子井戸型活性RI) A l x G a
I−X A s14、放物型屈折率分布層pA ly
Cat−、As (yはその厚み方向に徐々に2に
変化する)15、p A 1 z G a +−z
A ”クラッド1i16、p゛GaAsコンタクト層1
7を成長させる(ただし・ z>y>xである)。
なるn A lx Cat−z As 12を成長さ
せ、続いて、放物型屈折率分布層n−Al□G a +
−11A、s(zはその厚み方向に徐々にyに変化する
)13、量子井戸型活性RI) A l x G a
I−X A s14、放物型屈折率分布層pA ly
Cat−、As (yはその厚み方向に徐々に2に
変化する)15、p A 1 z G a +−z
A ”クラッド1i16、p゛GaAsコンタクト層1
7を成長させる(ただし・ z>y>xである)。
このようにして作られた半導体レーザのクラッド層、屈
折率分布層、活性層のエネルギーバンド構造図を第4図
(b)に示す。
折率分布層、活性層のエネルギーバンド構造図を第4図
(b)に示す。
まず、本従来例においては、活性層の両側には、AIの
組成比を活性層から離れる程徐々に高めている領域があ
るので、バンド構造と同様に、屈折率も活性J!114
の外側は放物型に屈折率が減少する形になり、活性層1
4で発光した光は、この放物型屈折率分布層で閉じ込め
られ、活性層14と垂直な端面を反射面として形成し、
横閉じ込めをしてやれば、レーザ発振させることが可能
になる。
組成比を活性層から離れる程徐々に高めている領域があ
るので、バンド構造と同様に、屈折率も活性J!114
の外側は放物型に屈折率が減少する形になり、活性層1
4で発光した光は、この放物型屈折率分布層で閉じ込め
られ、活性層14と垂直な端面を反射面として形成し、
横閉じ込めをしてやれば、レーザ発振させることが可能
になる。
この型のレーザは、放物型の屈折率分布導波路と、キャ
リアと光の閉じ込めを分離した構造とを持つことからG
RI N −S CH(granded−index
waveguide and 5eparate c
arrier and optical confin
ements)レーザと呼ばれている。
リアと光の閉じ込めを分離した構造とを持つことからG
RI N −S CH(granded−index
waveguide and 5eparate c
arrier and optical confin
ements)レーザと呼ばれている。
本従来例装置においては、これに順方向にバイアスして
キャリア(電子、正孔)を注入すると、キャリアは量子
井戸活性層14に閉じ込められ、伝導帯と価電子帯の離
散的な(n−1,n=2゜・・・)エネルギー準位間で
電子と正孔が再結合し、発光する。この際、エネルギー
準位に応じた鋭い発光波長ピーク(λ1.λ2.λ0.
・・・)が得られる。そして一般のレーザではn=1で
の利得が共振器損失より大きくなり、n=1の量子準位
での発振が起こるが、注入電流を大きく増加させてゆく
と、伝導帯9の量子エネルギー準位のうちn=1の準位
ばかりでなくn=2の準位と、価電子帯10の対応する
準位との間でのキャリアの結合が可能となり、n=2の
発振を起こすことができる。このn=2の発振波長はn
=1とn−2の量子エネルギー準位の差が非常に大きい
ため、n=1の発振波長よりかなり短いものとなる。
キャリア(電子、正孔)を注入すると、キャリアは量子
井戸活性層14に閉じ込められ、伝導帯と価電子帯の離
散的な(n−1,n=2゜・・・)エネルギー準位間で
電子と正孔が再結合し、発光する。この際、エネルギー
準位に応じた鋭い発光波長ピーク(λ1.λ2.λ0.
・・・)が得られる。そして一般のレーザではn=1で
の利得が共振器損失より大きくなり、n=1の量子準位
での発振が起こるが、注入電流を大きく増加させてゆく
と、伝導帯9の量子エネルギー準位のうちn=1の準位
ばかりでなくn=2の準位と、価電子帯10の対応する
準位との間でのキャリアの結合が可能となり、n=2の
発振を起こすことができる。このn=2の発振波長はn
=1とn−2の量子エネルギー準位の差が非常に大きい
ため、n=1の発振波長よりかなり短いものとなる。
従来の量子井戸型半導体レーザでは以上のように量子エ
ネルギー準位n=lとn=2のエネルギー差ΔE12に
相当する発振波長差が、例えば量子井戸型活性層が厚さ
100人のGaAs層の場合は、ΔE、tが約11Qm
eV、波長差が570人となり、大きい。また、n=1
の発振からn=2の発振への切り替えには注入電流差を
大きくとる必要があるなどの問題があった。
ネルギー準位n=lとn=2のエネルギー差ΔE12に
相当する発振波長差が、例えば量子井戸型活性層が厚さ
100人のGaAs層の場合は、ΔE、tが約11Qm
eV、波長差が570人となり、大きい。また、n=1
の発振からn=2の発振への切り替えには注入電流差を
大きくとる必要があるなどの問題があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、レーザ発振する複数の波長間隔を小さくでき
るとともに、少しの注入電流差で発振波長を変えること
のできる量子井戸型半導体レーザを得ることを目的とす
る。
たもので、レーザ発振する複数の波長間隔を小さくでき
るとともに、少しの注入電流差で発振波長を変えること
のできる量子井戸型半導体レーザを得ることを目的とす
る。
この発明に係る半導体レーザは量子井戸構造の活性層を
有する半導体レーザにおいて、活性層となる量子井戸を
複数にし、それぞれの量子井戸の離散的エネルギー準位
を互いに異なるようにしたものである。
有する半導体レーザにおいて、活性層となる量子井戸を
複数にし、それぞれの量子井戸の離散的エネルギー準位
を互いに異なるようにしたものである。
この発明においては、複数の量子井戸活性層のエネルギ
ー準位を変えることにより、発光波長間隔を小さくでき
、且つ小さな注入電流差で発振波長を切りかえることが
できる。
ー準位を変えることにより、発光波長間隔を小さくでき
、且つ小さな注入電流差で発振波長を切りかえることが
できる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図(a)は本発明の一実施例による半導体レーザを示す
構造図であり、図において、1はn゛−GaAs基板、
2はn−A1.Ga、−、Asクラッド層、3はn−A
l、Cat−g As放物型屈折率分布層(2は徐々に
yに変化)、4aは第1のAlxGa、−XAs活性層
、5はAI、Cat−yAsバリア層、4bは第2のA
IX Cat−x As活性層、6はp−Al、Ga、
−yAs放物型屈折率分布層(yは徐々に2に変化)、
7はp−At。
図(a)は本発明の一実施例による半導体レーザを示す
構造図であり、図において、1はn゛−GaAs基板、
2はn−A1.Ga、−、Asクラッド層、3はn−A
l、Cat−g As放物型屈折率分布層(2は徐々に
yに変化)、4aは第1のAlxGa、−XAs活性層
、5はAI、Cat−yAsバリア層、4bは第2のA
IX Cat−x As活性層、6はp−Al、Ga、
−yAs放物型屈折率分布層(yは徐々に2に変化)、
7はp−At。
G a l−g A sクラッド層、8はp” −Ga
Asコンタクト層である。
Asコンタクト層である。
また、第1図(b)は第1図(alに示す本発明の一実
施例による半導体レーザのエネルギーバンド構造を示す
図であり、本実施例がGRIN−3CH構造であること
を示している。
施例による半導体レーザのエネルギーバンド構造を示す
図であり、本実施例がGRIN−3CH構造であること
を示している。
第2図は、バリア層5をはさんで、二つの量子井戸活性
1i4a、4bを配置した場合のバンド構造を示す。こ
の活性Ji4a、4bはLZI+ Lztと異なる厚
みをもつ、従って離散的なエネルギー準位は(1)式に
よって、L2が小さくなると伝導帯の底からの測ったエ
ネルギーは大きくなる。従って、Lz+、 Lz□の
値をうまく設計すると、活性層4aのn=1とn=2の
エネルギー準位の間に活性層4bのnwlのエネルギー
準位を設定することができる(Lz+〉Lzz)。
1i4a、4bを配置した場合のバンド構造を示す。こ
の活性Ji4a、4bはLZI+ Lztと異なる厚
みをもつ、従って離散的なエネルギー準位は(1)式に
よって、L2が小さくなると伝導帯の底からの測ったエ
ネルギーは大きくなる。従って、Lz+、 Lz□の
値をうまく設計すると、活性層4aのn=1とn=2の
エネルギー準位の間に活性層4bのnwlのエネルギー
準位を設定することができる(Lz+〉Lzz)。
次に動作について説明する。上記のような活性層を持つ
半導体レーザを順方向にバイアスしてキャリア(電子、
正孔)を注入してやると、まず活性層4aの伝導帯9の
n=1準位と価電子帯10間で電子と正札の結合が起こ
り、第1の波長で発光し、さらにキャリアを注入してや
ると活性層4bの伝導帯9のn−1準位と活性層10間
で結合が起こり、A2の波長で発光する。次に活性層4
aの伝導帯9のn=2準位と価電子帯間で結合が起こり
、λ、の波長で発光する。
半導体レーザを順方向にバイアスしてキャリア(電子、
正孔)を注入してやると、まず活性層4aの伝導帯9の
n=1準位と価電子帯10間で電子と正札の結合が起こ
り、第1の波長で発光し、さらにキャリアを注入してや
ると活性層4bの伝導帯9のn−1準位と活性層10間
で結合が起こり、A2の波長で発光する。次に活性層4
aの伝導帯9のn=2準位と価電子帯間で結合が起こり
、λ、の波長で発光する。
このように、注入電流を増加させてゆくと、A1からλ
2.λ3とだんだん波長の短いレーザ発振を得ることが
できる。
2.λ3とだんだん波長の短いレーザ発振を得ることが
できる。
次にこの発明の一実施例である第1図に示す半導体レー
ザの製造について説明する。まず、n゛−GaAs基板
1上に、クラッド層であるn−Al、Ga、、A!1層
2、放物型屈折率分布層n =A 1m G a +−
++ A s (zは徐々にyに変化する)3、第1
の活性層であるA 1.X Ga、−、As量子井戸層
4a、バリア層であるA 1 yG a +−y A
S5、第2の活性層であるAIX Cat−+c As
量子井戸層4し、放物型屈折率分布Np At、Ca
t−y A 3 (”!は徐々に2に変化する)6.ク
ラッドrfAp−AI、Ga+−++ As層7、p
” −GaASコンタクト158を順次成長させる。
ザの製造について説明する。まず、n゛−GaAs基板
1上に、クラッド層であるn−Al、Ga、、A!1層
2、放物型屈折率分布層n =A 1m G a +−
++ A s (zは徐々にyに変化する)3、第1
の活性層であるA 1.X Ga、−、As量子井戸層
4a、バリア層であるA 1 yG a +−y A
S5、第2の活性層であるAIX Cat−+c As
量子井戸層4し、放物型屈折率分布Np At、Ca
t−y A 3 (”!は徐々に2に変化する)6.ク
ラッドrfAp−AI、Ga+−++ As層7、p
” −GaASコンタクト158を順次成長させる。
さらにn゛−Q a A s基板1側にn型電極を全面
に、上部p・−GaAsコンタクト層側にp型ストライ
プ電極を形成し、活性層4a、4bと垂直にレーザ共振
器ミラーをヘキ開等で形成すれば複数の量子井戸活性層
を持った量子井戸型半導体レーザが出来上がる。複数の
量子井戸活性層を持つ以外は従来例と同様の構成である
。
に、上部p・−GaAsコンタクト層側にp型ストライ
プ電極を形成し、活性層4a、4bと垂直にレーザ共振
器ミラーをヘキ開等で形成すれば複数の量子井戸活性層
を持った量子井戸型半導体レーザが出来上がる。複数の
量子井戸活性層を持つ以外は従来例と同様の構成である
。
以上のように本実施例では活性層を層厚の異なる複数の
量子井戸で構成したから、単一の量子井戸活性層では得
られない短い波長間隔で複数のレーザ光を得ることがで
き、且つ小さな注入電流差でそれら複数のレーザ光を切
りかえることができる。
量子井戸で構成したから、単一の量子井戸活性層では得
られない短い波長間隔で複数のレーザ光を得ることがで
き、且つ小さな注入電流差でそれら複数のレーザ光を切
りかえることができる。
なお、上記実施例では、量子井戸間のエネルギー準位を
変えるこめ、量子井戸の厚みを変えたものを示したが、
第3図に示すように、量子井戸の厚みを変えずに(L□
=L、)に、材料組成(xt〉X、)を変えても同様の
効果がある。
変えるこめ、量子井戸の厚みを変えたものを示したが、
第3図に示すように、量子井戸の厚みを変えずに(L□
=L、)に、材料組成(xt〉X、)を変えても同様の
効果がある。
また、上記実施例では、量子井戸の数が二つの場合につ
いて述べたが、三つ以上の場合であっても良く、量子井
戸の厚みの異なるものと、材料組成の異なるものとを組
み合わせてもよい。
いて述べたが、三つ以上の場合であっても良く、量子井
戸の厚みの異なるものと、材料組成の異なるものとを組
み合わせてもよい。
また、上記実施例では、レーザ光の閉じ込めに0RIN
−3CH構造の場合について述べたが、他の閉じ込め法
を用いてもよい。
−3CH構造の場合について述べたが、他の閉じ込め法
を用いてもよい。
また、上記実施例では、材料としてGaAs系について
述べたが、InP系や他の材料系についても同様の効果
が期待できる。
述べたが、InP系や他の材料系についても同様の効果
が期待できる。
以上のように、この発明によれば、半導体レーザの活性
層をエネルギー準位の異なる複数の量子井戸層で構成し
たので、簡単な構造で波長の異なるレーザ光を1個の半
導体レーザで得ることができ、安価で、精度の高いもの
が得られる効果がある。
層をエネルギー準位の異なる複数の量子井戸層で構成し
たので、簡単な構造で波長の異なるレーザ光を1個の半
導体レーザで得ることができ、安価で、精度の高いもの
が得られる効果がある。
第1図(a)はこの発明の一実施例による量子井戸型半
導体レーザの構造図、第1図(b)は第1図(a)に示
す量子井戸型半導体レーザのエネルギーバンド構造図、
第2図は第1図の量子井戸型半導体レーザの量子井戸エ
ネルギーバンド構造図、第3図はこの発明の他の実施例
による量子井戸型半導体レーザの量子井戸エネルギーバ
ンド構造図、第4図fatは従来の量子井戸型半導体レ
ーザを示す構造図、第4図(b)は第4図(a)に示す
量子井戸型半導体レーザのエネルギーバンド構造図、第
5図は第4図に示す量子井戸型半導体レーザの動作を説
明するための量子井戸構造図、第6図は量子井戸の状態
密度とエネルギー準位を示す図である。 1はn” −GaAs基板、2はn−Al、Ga1−1
IAsクラフト層、3はn −A 1 g G a +
−s As放物型屈折率分布層(2は徐々にyに変化)
、4a、4bはA ] x G a +−x A 5f
it子井戸子弁層、5はAI、Ga、−、Asバリア層
、6はp−AlyGa+−、As放物型屈折率分布層(
yは徐々に2に変化)、7はp−A 1.Ga、−、A
sクラッド層、8はp′″−GaAsコンタクト層であ
る。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
導体レーザの構造図、第1図(b)は第1図(a)に示
す量子井戸型半導体レーザのエネルギーバンド構造図、
第2図は第1図の量子井戸型半導体レーザの量子井戸エ
ネルギーバンド構造図、第3図はこの発明の他の実施例
による量子井戸型半導体レーザの量子井戸エネルギーバ
ンド構造図、第4図fatは従来の量子井戸型半導体レ
ーザを示す構造図、第4図(b)は第4図(a)に示す
量子井戸型半導体レーザのエネルギーバンド構造図、第
5図は第4図に示す量子井戸型半導体レーザの動作を説
明するための量子井戸構造図、第6図は量子井戸の状態
密度とエネルギー準位を示す図である。 1はn” −GaAs基板、2はn−Al、Ga1−1
IAsクラフト層、3はn −A 1 g G a +
−s As放物型屈折率分布層(2は徐々にyに変化)
、4a、4bはA ] x G a +−x A 5f
it子井戸子弁層、5はAI、Ga、−、Asバリア層
、6はp−AlyGa+−、As放物型屈折率分布層(
yは徐々に2に変化)、7はp−A 1.Ga、−、A
sクラッド層、8はp′″−GaAsコンタクト層であ
る。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (5)
- (1)量子井戸構造の活性層を有する半導体レーザにお
いて、 該活性層は異なる量子エネルギー準位を有する複数の量
子井戸を近接させて構成したことを特徴とする半導体レ
ーザ。 - (2)上記異なる量子エネルギー準位を有する複数の量
子井戸は、同じ組成の材料からなり、その層厚が異なる
ものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の半導体レーザ。 - (3)上記異なる量子エネルギー準位を有する複数の量
子井戸は、その層厚は同じで異なる組成の材料からなる
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体レ
ーザ。 - (4)上記異なる量子エネルギー準位を有する複数の量
子井戸は、その層厚が異なり、かつ異なる組成の材料か
らなることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
導体レーザ。 - (5)上記活性層の注入電流を変えることにより複数の
量子井戸の各量子エネルギー準位に対応した複数の波長
で発振することを特徴とする特許請求の範囲第1項ない
し第4項のいずれかに記載の半導体レーザ。
Priority Applications (11)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61175970A JPS6332982A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 半導体レ−ザ |
DE3751549T DE3751549T2 (de) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | Halbleiterlaser. |
EP93200589A EP0547044B1 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
EP93200581A EP0547038B1 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
DE87306520T DE3787769T2 (de) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | Halbleiterlaservorrichtung. |
DE3751535T DE3751535T2 (de) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | Halbleiterlaser. |
EP19930200587 EP0547042A3 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
EP87306520A EP0254568B1 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
EP93200588A EP0547043B1 (en) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | A semiconductor laser device |
DE3751548T DE3751548T2 (de) | 1986-07-25 | 1987-07-23 | Halbleiterlaser. |
US07/078,393 US4817110A (en) | 1986-07-25 | 1987-07-24 | Semiconductor laser device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61175970A JPS6332982A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 半導体レ−ザ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6332982A true JPS6332982A (ja) | 1988-02-12 |
Family
ID=16005429
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61175970A Pending JPS6332982A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 半導体レ−ザ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6332982A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63156383A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-06-29 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体レ−ザ |
JPH01179488A (ja) * | 1988-01-07 | 1989-07-17 | Nec Corp | 光増幅器 |
JPH0290583A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-30 | Canon Inc | 多波長半導体レーザ装置 |
JPH02246390A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-02 | Hikari Gijutsu Kenkyu Kaihatsu Kk | 半導体レーザ |
JPH02252284A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レーザアレイ |
JPH02260489A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-10-23 | Canon Inc | 半導体レーザ素子 |
JPH02285690A (ja) * | 1989-04-26 | 1990-11-22 | Nec Corp | 半導体レーザと光ディスク装置 |
US5224114A (en) * | 1990-11-11 | 1993-06-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser devices with a plurality of light emitting layers having different bands gaps and methods for driving the same |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP61175970A patent/JPS6332982A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63156383A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-06-29 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体レ−ザ |
JPH01179488A (ja) * | 1988-01-07 | 1989-07-17 | Nec Corp | 光増幅器 |
JPH0290583A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-30 | Canon Inc | 多波長半導体レーザ装置 |
JPH02246390A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-02 | Hikari Gijutsu Kenkyu Kaihatsu Kk | 半導体レーザ |
JPH02252284A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レーザアレイ |
JPH02260489A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-10-23 | Canon Inc | 半導体レーザ素子 |
JPH02285690A (ja) * | 1989-04-26 | 1990-11-22 | Nec Corp | 半導体レーザと光ディスク装置 |
US5224114A (en) * | 1990-11-11 | 1993-06-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser devices with a plurality of light emitting layers having different bands gaps and methods for driving the same |
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