JPS6332982A - 半導体レ−ザ - Google Patents

半導体レ−ザ

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JPS6332982A
JPS6332982A JP61175970A JP17597086A JPS6332982A JP S6332982 A JPS6332982 A JP S6332982A JP 61175970 A JP61175970 A JP 61175970A JP 17597086 A JP17597086 A JP 17597086A JP S6332982 A JPS6332982 A JP S6332982A
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JP
Japan
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layer
semiconductor laser
quantum
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Application number
JP61175970A
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English (en)
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Teruhito Matsui
松井 輝仁
Yoshitoku Nomura
野村 良徳
Yasuki Tokuda
徳田 安紀
Kenzo Fujiwara
藤原 賢三
Noriaki Tsukada
塚田 紀昭
Keisuke Kojima
啓介 小島
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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    • H01S5/3409Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers special GRINSCH structures
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    • H01S5/3418Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers using transitions from higher quantum levels
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、複数の発振波長で発光する半導体レーザの
改良に関するものである。
〔従来の技術〕
第4図は例えば、アプライド フィジクス レター1.
39巻、 134〜137頁(Appl、Phys、L
ett、 。
vol、39.pp134〜137)に示された従来の
量子井戸型半導体レーザを示す断面図であり、図におい
て、11はn”−GaAs基板、12はn−Al、Ga
+−5Asクラフト層、13はn  A l t G 
a I−zAs放物型屈折率分布層(2は徐々にyに変
化)、14はp  A I X G a r−x A 
sl子井戸活性層、15はp−AI、Ga、−、As放
物型屈折率分布層(yは徐々に2に変化)、16はp 
 xl、Cat−zAsクラッド層、17はp” −G
aAsコンタクト層である。
次に動作について説明する。
500 Å以下の薄い半導体層をバンドキャンプの大き
い半導体バリヤ層ではさんでやると、この薄い半導体層
は第5図のエネルギーバンド構造図に示すようにポテン
シャルの井戸を形成する。この井戸に閉じ込められた電
子または正孔の伝導帯の底から測った固有エネルギーB
nはシュレーディンガ−(Schrodinger )
方程式よりn=1,2.3 となり、離散的なエネルギー準位を形成する。ここでm
、′は電子の有効質量、hはブランク定数を2πで割っ
たもの、L、は量子井戸層の厚さである。
このように量子井戸中では電子は量子化されたエネルギ
ーEnを持ち、その状態密度ρ(E)は図6に示すよう
に、バルク結晶では破線で示す放物線型であったものが
、実線で示すように階段型となる。
従って、量子井戸層を活性層とし、両側をバンドギャッ
プの大きいp型半導体層、n型半導体層とすると、キャ
リア(電子および正札)と光を閉じ込めることができる
、量子井戸型半導体レーザを作ることができる。このよ
うにして作られた半導体レーザは、通常のダブルへテロ
接合により構成された半導体レーザに比べ、活性層のバ
ンドギャップ(禁制帯幅)が同じ材料で作られていれば
、最低量子準位であるn=1のエネルギー準位が伝導帯
の底よりも高く (第6図の実線)、伝導帯の底と価電
子帯の天井のエネルギー差で発振する通常のダブルへテ
ロ接合半導体レーザに比べて、エネルギー差が大きいた
め、より短波長で発振する。
また量子井戸型半導体レーザでは、エネルギー準位が離
散的であるため、そのスペクトル線幅も狭く単色性の良
いレーザ光が得られるといった特徴を持っている。
第4図の従来例について説明する。
まず、n +G a A s基板11上にクラッド層と
なるn  A lx Cat−z As 12を成長さ
せ、続いて、放物型屈折率分布層n−Al□G a +
−11A、s(zはその厚み方向に徐々にyに変化する
)13、量子井戸型活性RI)  A l x G a
 I−X A s14、放物型屈折率分布層pA ly
 Cat−、As  (yはその厚み方向に徐々に2に
変化する)15、p  A 1 z G a +−z 
A ”クラッド1i16、p゛GaAsコンタクト層1
7を成長させる(ただし・ z>y>xである)。
このようにして作られた半導体レーザのクラッド層、屈
折率分布層、活性層のエネルギーバンド構造図を第4図
(b)に示す。
まず、本従来例においては、活性層の両側には、AIの
組成比を活性層から離れる程徐々に高めている領域があ
るので、バンド構造と同様に、屈折率も活性J!114
の外側は放物型に屈折率が減少する形になり、活性層1
4で発光した光は、この放物型屈折率分布層で閉じ込め
られ、活性層14と垂直な端面を反射面として形成し、
横閉じ込めをしてやれば、レーザ発振させることが可能
になる。
この型のレーザは、放物型の屈折率分布導波路と、キャ
リアと光の閉じ込めを分離した構造とを持つことからG
 RI N −S CH(granded−index
 waveguide and 5eparate c
arrier and optical confin
ements)レーザと呼ばれている。
本従来例装置においては、これに順方向にバイアスして
キャリア(電子、正孔)を注入すると、キャリアは量子
井戸活性層14に閉じ込められ、伝導帯と価電子帯の離
散的な(n−1,n=2゜・・・)エネルギー準位間で
電子と正孔が再結合し、発光する。この際、エネルギー
準位に応じた鋭い発光波長ピーク(λ1.λ2.λ0.
・・・)が得られる。そして一般のレーザではn=1で
の利得が共振器損失より大きくなり、n=1の量子準位
での発振が起こるが、注入電流を大きく増加させてゆく
と、伝導帯9の量子エネルギー準位のうちn=1の準位
ばかりでなくn=2の準位と、価電子帯10の対応する
準位との間でのキャリアの結合が可能となり、n=2の
発振を起こすことができる。このn=2の発振波長はn
=1とn−2の量子エネルギー準位の差が非常に大きい
ため、n=1の発振波長よりかなり短いものとなる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の量子井戸型半導体レーザでは以上のように量子エ
ネルギー準位n=lとn=2のエネルギー差ΔE12に
相当する発振波長差が、例えば量子井戸型活性層が厚さ
100人のGaAs層の場合は、ΔE、tが約11Qm
eV、波長差が570人となり、大きい。また、n=1
の発振からn=2の発振への切り替えには注入電流差を
大きくとる必要があるなどの問題があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、レーザ発振する複数の波長間隔を小さくでき
るとともに、少しの注入電流差で発振波長を変えること
のできる量子井戸型半導体レーザを得ることを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る半導体レーザは量子井戸構造の活性層を
有する半導体レーザにおいて、活性層となる量子井戸を
複数にし、それぞれの量子井戸の離散的エネルギー準位
を互いに異なるようにしたものである。
〔作用〕
この発明においては、複数の量子井戸活性層のエネルギ
ー準位を変えることにより、発光波長間隔を小さくでき
、且つ小さな注入電流差で発振波長を切りかえることが
できる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図(a)は本発明の一実施例による半導体レーザを示す
構造図であり、図において、1はn゛−GaAs基板、
2はn−A1.Ga、−、Asクラッド層、3はn−A
l、Cat−g As放物型屈折率分布層(2は徐々に
yに変化)、4aは第1のAlxGa、−XAs活性層
、5はAI、Cat−yAsバリア層、4bは第2のA
IX Cat−x As活性層、6はp−Al、Ga、
−yAs放物型屈折率分布層(yは徐々に2に変化)、
7はp−At。
G a l−g A sクラッド層、8はp” −Ga
Asコンタクト層である。
また、第1図(b)は第1図(alに示す本発明の一実
施例による半導体レーザのエネルギーバンド構造を示す
図であり、本実施例がGRIN−3CH構造であること
を示している。
第2図は、バリア層5をはさんで、二つの量子井戸活性
1i4a、4bを配置した場合のバンド構造を示す。こ
の活性Ji4a、4bはLZI+  Lztと異なる厚
みをもつ、従って離散的なエネルギー準位は(1)式に
よって、L2が小さくなると伝導帯の底からの測ったエ
ネルギーは大きくなる。従って、Lz+、  Lz□の
値をうまく設計すると、活性層4aのn=1とn=2の
エネルギー準位の間に活性層4bのnwlのエネルギー
準位を設定することができる(Lz+〉Lzz)。
次に動作について説明する。上記のような活性層を持つ
半導体レーザを順方向にバイアスしてキャリア(電子、
正孔)を注入してやると、まず活性層4aの伝導帯9の
n=1準位と価電子帯10間で電子と正札の結合が起こ
り、第1の波長で発光し、さらにキャリアを注入してや
ると活性層4bの伝導帯9のn−1準位と活性層10間
で結合が起こり、A2の波長で発光する。次に活性層4
aの伝導帯9のn=2準位と価電子帯間で結合が起こり
、λ、の波長で発光する。
このように、注入電流を増加させてゆくと、A1からλ
2.λ3とだんだん波長の短いレーザ発振を得ることが
できる。
次にこの発明の一実施例である第1図に示す半導体レー
ザの製造について説明する。まず、n゛−GaAs基板
1上に、クラッド層であるn−Al、Ga、、A!1層
2、放物型屈折率分布層n =A 1m G a +−
++ A s  (zは徐々にyに変化する)3、第1
の活性層であるA 1.X Ga、−、As量子井戸層
4a、バリア層であるA 1 yG a +−y A 
S5、第2の活性層であるAIX Cat−+c As
量子井戸層4し、放物型屈折率分布Np  At、Ca
t−y A 3 (”!は徐々に2に変化する)6.ク
ラッドrfAp−AI、Ga+−++  As層7、p
”  −GaASコンタクト158を順次成長させる。
さらにn゛−Q a A s基板1側にn型電極を全面
に、上部p・−GaAsコンタクト層側にp型ストライ
プ電極を形成し、活性層4a、4bと垂直にレーザ共振
器ミラーをヘキ開等で形成すれば複数の量子井戸活性層
を持った量子井戸型半導体レーザが出来上がる。複数の
量子井戸活性層を持つ以外は従来例と同様の構成である
以上のように本実施例では活性層を層厚の異なる複数の
量子井戸で構成したから、単一の量子井戸活性層では得
られない短い波長間隔で複数のレーザ光を得ることがで
き、且つ小さな注入電流差でそれら複数のレーザ光を切
りかえることができる。
なお、上記実施例では、量子井戸間のエネルギー準位を
変えるこめ、量子井戸の厚みを変えたものを示したが、
第3図に示すように、量子井戸の厚みを変えずに(L□
=L、)に、材料組成(xt〉X、)を変えても同様の
効果がある。
また、上記実施例では、量子井戸の数が二つの場合につ
いて述べたが、三つ以上の場合であっても良く、量子井
戸の厚みの異なるものと、材料組成の異なるものとを組
み合わせてもよい。
また、上記実施例では、レーザ光の閉じ込めに0RIN
−3CH構造の場合について述べたが、他の閉じ込め法
を用いてもよい。
また、上記実施例では、材料としてGaAs系について
述べたが、InP系や他の材料系についても同様の効果
が期待できる。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、半導体レーザの活性
層をエネルギー準位の異なる複数の量子井戸層で構成し
たので、簡単な構造で波長の異なるレーザ光を1個の半
導体レーザで得ることができ、安価で、精度の高いもの
が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)はこの発明の一実施例による量子井戸型半
導体レーザの構造図、第1図(b)は第1図(a)に示
す量子井戸型半導体レーザのエネルギーバンド構造図、
第2図は第1図の量子井戸型半導体レーザの量子井戸エ
ネルギーバンド構造図、第3図はこの発明の他の実施例
による量子井戸型半導体レーザの量子井戸エネルギーバ
ンド構造図、第4図fatは従来の量子井戸型半導体レ
ーザを示す構造図、第4図(b)は第4図(a)に示す
量子井戸型半導体レーザのエネルギーバンド構造図、第
5図は第4図に示す量子井戸型半導体レーザの動作を説
明するための量子井戸構造図、第6図は量子井戸の状態
密度とエネルギー準位を示す図である。 1はn” −GaAs基板、2はn−Al、Ga1−1
IAsクラフト層、3はn −A 1 g G a +
−s As放物型屈折率分布層(2は徐々にyに変化)
、4a、4bはA ] x G a +−x A 5f
it子井戸子弁層、5はAI、Ga、−、Asバリア層
、6はp−AlyGa+−、As放物型屈折率分布層(
yは徐々に2に変化)、7はp−A 1.Ga、−、A
sクラッド層、8はp′″−GaAsコンタクト層であ
る。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)量子井戸構造の活性層を有する半導体レーザにお
    いて、 該活性層は異なる量子エネルギー準位を有する複数の量
    子井戸を近接させて構成したことを特徴とする半導体レ
    ーザ。
  2. (2)上記異なる量子エネルギー準位を有する複数の量
    子井戸は、同じ組成の材料からなり、その層厚が異なる
    ものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の半導体レーザ。
  3. (3)上記異なる量子エネルギー準位を有する複数の量
    子井戸は、その層厚は同じで異なる組成の材料からなる
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体レ
    ーザ。
  4. (4)上記異なる量子エネルギー準位を有する複数の量
    子井戸は、その層厚が異なり、かつ異なる組成の材料か
    らなることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
    導体レーザ。
  5. (5)上記活性層の注入電流を変えることにより複数の
    量子井戸の各量子エネルギー準位に対応した複数の波長
    で発振することを特徴とする特許請求の範囲第1項ない
    し第4項のいずれかに記載の半導体レーザ。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63156383A (ja) * 1986-12-19 1988-06-29 Sanyo Electric Co Ltd 半導体レ−ザ
JPH01179488A (ja) * 1988-01-07 1989-07-17 Nec Corp 光増幅器
JPH0290583A (ja) * 1988-09-28 1990-03-30 Canon Inc 多波長半導体レーザ装置
JPH02246390A (ja) * 1989-03-20 1990-10-02 Hikari Gijutsu Kenkyu Kaihatsu Kk 半導体レーザ
JPH02252284A (ja) * 1989-03-27 1990-10-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レーザアレイ
JPH02260489A (ja) * 1989-03-30 1990-10-23 Canon Inc 半導体レーザ素子
JPH02285690A (ja) * 1989-04-26 1990-11-22 Nec Corp 半導体レーザと光ディスク装置
US5224114A (en) * 1990-11-11 1993-06-29 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser devices with a plurality of light emitting layers having different bands gaps and methods for driving the same

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63156383A (ja) * 1986-12-19 1988-06-29 Sanyo Electric Co Ltd 半導体レ−ザ
JPH01179488A (ja) * 1988-01-07 1989-07-17 Nec Corp 光増幅器
JPH0290583A (ja) * 1988-09-28 1990-03-30 Canon Inc 多波長半導体レーザ装置
JPH02246390A (ja) * 1989-03-20 1990-10-02 Hikari Gijutsu Kenkyu Kaihatsu Kk 半導体レーザ
JPH02252284A (ja) * 1989-03-27 1990-10-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レーザアレイ
JPH02260489A (ja) * 1989-03-30 1990-10-23 Canon Inc 半導体レーザ素子
JPH02285690A (ja) * 1989-04-26 1990-11-22 Nec Corp 半導体レーザと光ディスク装置
US5224114A (en) * 1990-11-11 1993-06-29 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser devices with a plurality of light emitting layers having different bands gaps and methods for driving the same

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