JPS63294116A - 時定数回路 - Google Patents

時定数回路

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JPS63294116A
JPS63294116A JP62128263A JP12826387A JPS63294116A JP S63294116 A JPS63294116 A JP S63294116A JP 62128263 A JP62128263 A JP 62128263A JP 12826387 A JP12826387 A JP 12826387A JP S63294116 A JPS63294116 A JP S63294116A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitor
voltage
junction
junction capacitor
circuits
Prior art date
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Pending
Application number
JP62128263A
Other languages
English (en)
Inventor
Ritsuji Takeshita
竹下 律司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、所望の遅延時間を設足する場合に用いて好適
な特定数回路に関し、特に特定数を決定するコンデンサ
の破壊低減を行うための回路技術に関する。、 〔従来の技術〕 コンデンサ、抵抗からなる特定数回路、及び特定数回路
の利用は、当業者間において広く知られているものであ
る。また上記特定数回路を含む素子回路が、半導体集積
回路(以下においてICという)化されつつあることも
、よく知られている。
特定数回路に使用されるコンデンサが小容量でよい場合
、MOSコンデンサかPN接合コンデンサが使用される
ことがある。なお、上記MOSコンデンサについては、
「集積回路工学(1)J (昭和57年5月15日初版
第5版発行、発行所コロナ社、p55 )に、接合コン
デンサについては同書のI)I)39〜40に記載され
ている。
その概要は、MOSコンデンサは酸化膜とシリコン半導
体との間に形成され、接合コンデンサは逆バイアスされ
たPN接合間に形成される、というものである。
本発明者は、コンデンサの充電及び放電特性を利用した
特定数回路のIC化を検討した。この際上記二種のコン
デンサについて、下記の如き問題点があることが明らか
になった。以下は公知とされた技術ではないが、本発明
者によって検討された技術でろシ、その概要は下記のと
おりである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
すなわち、MOSコンデンサの耐圧は20V程度と優れ
ているが、単位面積当たりのStが小さいためICの集
積度が低下する、という問題点を有している。
接合コンデンサについては、単位面積当たシの容量が大
きく、ICの集積度を向上し得る、という利点を有して
いるものの、耐圧が約7,3V程度であり電圧変動によ
って破壊されやすい、という問題点を有している。
上記したICの集積度の低下は、実装密度の低下、生産
コストの増大、素子機器の小型軽量化の障害になり、好
ましくない。
そこで本発明者は、接合コンデンサの利点を活かし、問
題点を克服することを検討した。その結果、接合コンデ
ンサに印加される電圧レベルの上限を規定することがで
きれば、接合コンデンサが低耐圧であっても電源変動時
等に破壊低減を行い得ることに気づき、本発明を提案す
るに至った。
この際、回路構成が複雑になり、回路素子数が増大して
は、集積度の低下を防ぐ、という主旨に逆行することに
なるので、回路構成の簡易化にも多大の注意が払われた
本発明の目的は、ICに形成される接合コンデンサを利
用した特定数回路の信頼度を向上せしめることにある。
本発明の他の目的は、特定数回路に利用される接合コン
デンサの破壊低減を行い、特定数回路が形成されたIC
の集積度の向上、信頼度の向上を図ることにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書および添付図面から明らかになるであろう。
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、制御信号によυオン、オフ動作するスイッチ
ング素子(トランジスタQ、)に対し並列に接合コンデ
ンサCを接続し、上記スイッチング素子がオン状態のと
き上記接合コンデンサCの放電を行い、オフ状態のとき
上記接合コンデンサCの充電を行うように構成し、充電
時の変位電流から所定時間遅延した出力信号を得る。更
に上記接合コンデンサCに対し実質的に並列にクランプ
回路を設け、上記接合コンデンサCにかかる電圧が、耐
圧以上に変動するとき上記クランプ回路によって所定電
圧レベルに設定し、接合コンデンサの破壊低減を行うも
のである。
〔作用〕
上記した手段によれば、接合コンデンサの両端に耐圧以
上の電圧がかかることがなく、接合コンデンサを利用し
た特定数回路の信頼度を向上することができる。
〔実施例−1〕 以下、第1図および第2図を参照して本発明を適用した
特定数回路の第1実施例を説明する。なお、第1図は特
定数回路の回路図、第2図は回路動作を説明する電圧特
性図である。
不実施レリの特徴は、充電及び放電動作を行う接合コン
デンサCに対し、ツェナーダイオードZD。
抵抗1(、aからなるクランプ回路1を並列接続したこ
とにある。
スイッチSWは、制御信号(図示せず)によって開閉さ
れるものであり、先ずオン状態に切シ換−見られた場合
の回路動作から説明する。
この場合、抵抗R,、R,の電流径路が構成され、所定
のバイアス電圧がトランジスタQ1に供給される。トラ
ンジスタQ、は、本発明でいうスイッチング素子に相尚
するものであり、これがオン状態に動作する。接合コン
デンサCの両端電圧はVceQ、になり、いわば短絡さ
れた状態になって充電動作は行われない。
トランジスタQ、のコレクタ電流1cは、ダイオードI
J1を介して定電流回路C8に流れると同時に、トラン
ジスタQ3のベース電流ともなる。
なお、ダイオードD、は、トランジスタQ3の電流増幅
率hfeのばらつきによる遅延時間Tの変動を抑制する
ものであフ、ダイオードD、を流れる電流をId、ベー
ス電流をibとするとI d )) I bの分流動作
を行う。
トランジスタQ3がオン状態に動作し、定電流回路C8
の一端から出力電圧VOが得られる。ここでトランジス
タQ3のペース電圧vaと出力電圧VOとを比較するト
、V a −V b e Q 、 == Vc)となる
演算増幅器1t、、上記出力電圧■0と基準電圧■re
fとを比較するものであって、Vo)Vrefのときハ
イレベルの出力信号vbを得る。
インバータ3は、位相反転した出力信号VCを出力トラ
ンジスタQ4に供給する。出力トランジスタQ4がオフ
になり、出力信号■Outは第2図に示すようにハイレ
ベルになる。
次に、スイッチSWがオフに切り換えられた場合の回路
動作を説明する。
スイッチSWが、第2図に示す11 時点でオフ状態に
切り換えられたとする。
トランジスタQ1に供給されていたバイアス電圧が遮断
され、トランジスタQ、がオフになる。
コンデンサCが充電開始となシ、変位電流■aがトラン
ジスタQ、のベースとダイオードD、とに流れる。コン
デンサCの両端電圧は次第に上昇するが、+VCC電圧
が一定であるため、電圧■aおよび出力電圧vOの電圧
レベルが第2図に示すように+VCCからみて次第に低
下する。このときの電圧レベルの低下速度、換言すれば
電圧レベルが低下する角度は、上記コンデンサCの容量
と電流IOとによって決定される。
出力電圧■0と基準電圧■refとが、Vo(Vref
の関係になったとき演算増幅器2の出力信号vbがロー
レベルになバインバータ3の出力信号VCがハイレベル
になる。
トランジスタQ4がオン状態に動作し、抵抗R3の電圧
降下によって出力信号V o、u t がローレベルに
変化する。
すなわち、第2図に示すように、スイッチSWがオフに
切り換えられた時点t1から1時間遅延して、出力信号
■Outがハイレベルからローレベルに変化する。
ここで上記遅延時間Tについて述べると、Vo(Vre
fの時点で演算増幅器2の出力信号vbが位相反転する
のであるから、基準電圧■refの電圧レベルも遅延時
間Tに関与していることが理解できる。
定されることになる。
次に、クランプ回路1によるコンデンサCの破壊低減動
作を説明する。
上記特定数回路が自動車用機器に登載されている場合を
想定すると、カーパッテリイの電圧は13V〜18Vも
あシ、接合コンデンサCの耐圧は上記のように7.3V
程度であるから、このままでは使用できない。しかもカ
ーバッテリイの電圧レベルは、第1図のごとくフィルタ
回路4を設けていても大幅に変動するものであり、コン
デンサCが破壊される可能性が犬である。
しかし、クランプ回路1を設けることにより、以下に述
べるようにしてコンデンサCの破壊低減が行われる。
すなわち、ツェナーダイオードZDのツェナー電圧Vz
は5.6V程度であるため、コンデンサCの両端電圧が
5.6v以上になると、ツェナー電流が流れるようにな
る。
この結果、コンデンサCの両端電圧、換言すれば電圧V
aの電圧レベルは、第2図のa点以降に示すように傾斜
状態から水平状態に移行し、コンデンサCの両端電圧の
クランプが行われる。従って、Vcc電源がコンデンサ
Cの耐圧以上の電圧レベルであっても、或いは不測の事
態にょシ一時的に急上昇しても、コンデンサCに耐圧以
上の電圧がかかることがなく、コンデンサCの保護が行
われる。
次に、スイッチSWを再びオン状態に切り換えた場合の
回路動作を説明する。
抵抗R,,R,の電流径路が形成され、トランジスタQ
1に再びバイアス電圧が供給される。トランジスタQ、
がオンになシ、電圧Vaの電圧レベルはVcc−Vce
Qlで決定されるようになシ、12時点で示すように急
上昇する。コンデンサCが短絡状態になり、電流Iaが
遮断される。トランジスタQ3がオン状態になり、出力
電圧VOはVo=Va−VbeQ、で決定されるように
なる。
基準電圧■refとはVref(Voの関係になるので
、演算増幅器2の出力信号vbはハイレベル、インバー
タ3の出力信号VCはローレベルに変化する。トランジ
スタQ4がオフになり、出力信号■outtが第2図の
t7時点で示すようにハイレベルに移行する。
以上に述べたように、スイッチSWをオン状態に切り換
えることにより、特定数回路は再び初期の状態に復帰し
、特定数動作を開始し得るようになる。
不実施例に示した特定数回路は、下記の如き効果を奏す
るものである。 − (1)半導体基板に形成される接合コンデンサを用いて
特定数回路を構成することにより、特定数回路を具備す
るICの集積度を向上し得る、という効果が得られる。
(2)上記接合コンデンサの耐圧よシ低電圧のクランプ
回路を上記援合コンテンサに接続し、接合コンデンサの
両端電圧を耐圧以下のレベルにクランプすることにより
、上記接合コンデンサの過電圧による破壊を低減し得る
、という効果が得られる。
(3)上記(1,)(2)により、特定数回路を具備す
るICの信頼度が向上する、という効果が得られる。
(4)上記(1)により、特定数回路を具備するICの
小型化が可能になり、このICを使用する素子機器の実
装密度を向上し得る、という効果が得られる。
次に、第3図を参照して本発明の第2実施例を説明する
なお、本実施例と上記第1実施例との相違点は、クラン
プ回路1によって上記出力電圧■0の電圧レベルをクラ
ンプするように構成したことにある。
従って、上記第1実施例と同一の回路動作をなす部分に
は同一の符号を付し、説明の重複を避けるものとする。
スイッチSWがオン状態に切シ換えられた場合の回路動
作は、上記第1実施例と同様である。′スイッチSWが
オフに切シ換えられると、電圧Va、出力電圧■0が第
2図に示すようにレベル変化する。そして基準電圧■r
efと出力電圧■0との比較動作の上記同様に行われ、
インバータ3、トランジスタQ4も上記同様に動作して
1時間遅延した出力信号■outが得られる。
本実施例では、クランプ回路1が電源VCCと出力電圧
■0との電圧差を検出してクランプ動作を行うので、出
力電圧■0がVCC−Vz iで低下した時点、すなわ
ち第2図に示すb点でクランプ動作が行われる。
この結果、コンデンサCの両端電圧は、Vz−VbeQ
3の電圧レベルに保持されるようになシ、上記第1実施
例に比較して約0.7■低電圧に保持される。従って、
コンデンサCの保護は、上記第1実施例に比較し更に確
実になる。
なお、スイッチSWを再びオン状態に切り換えると、上
記第1実施例で述べた場合と同様の復帰動作が行われ、
特定数動作を繰り返して行い得るようになる。
以上に本発明の第2実施例を説明したが、不実施例に示
した特定数回路は、上記第1実施例で述べた如き効果を
奏するものである。
以上に、本発明者によってなされた発明を実施例にもと
づき具体的に説明したが、本発明は上記に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、定電流回路C8は電圧に変更し得る。
更にダイオードD、に抵抗を直列接続し、電流1dを調
整してもよい。また基準電圧Vrefは、可変し得るよ
うにしてもよい。この場合、遅延時間の可変が容易にな
る、という利点がある。
以上の説明では、主として本発明者によってなされた発
明をその背景となった利用分野である特定数回路に適用
した場合について説明したが、それに限定されるもので
はなく、特定数回路を必要とする各種制御機器、特に電
源が変動する自動車用制御機器等に広く利用することが
できる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。
すなわち、半導体基板に形成される接合コンデンサを利
用して特定数回路を構成し、上記接合コンデンサの耐圧
よりも低電圧のクランプ回路によって上記接合コンデン
サの両端電圧をクランプするように構成した。依って、
上記特定数回路が形成されるICの集積度を向上させる
ことができるうえに、上記接合コンデンサの過電圧によ
る破壊を低減することができ、特定数回路が形成された
ICの信頼度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を適用した特定数回路の第1実施例を示
す回路図、 第2図は上記特定数回路の回路動作を説明する電圧特性
図、 第3図は本発明の第2実施例を示す特定数回路の回路図
をそれぞれ示すものである。 1・・・クランプ回路、2・・・演算増幅器、3・・・
インバータ、C・・・接合コンデンサ、Q+〜Q4・・
・トランスタ、Zd・・・ツェナーダイオ−)”、la
〜Io・・・電流、■a・・・電圧、■0・・・出力電
圧、■ref・・・基準電圧、vout・・・出力信号
。 ゛、−ノ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、半導体基板に、形成された接合コンデンサと、上記
    接合コンデンサを充電及び放電動作に選択的に駆動する
    スイッチ素子と、上記接合コンデンサの耐圧よりも低電
    圧レベルの定電圧で該接合コンデンサの両端電圧をクラ
    ンプするクランプ回路と、をそれぞれ具備したことを特
    徴とする特定数回路。
JP62128263A 1987-05-27 1987-05-27 時定数回路 Pending JPS63294116A (ja)

Priority Applications (1)

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JP62128263A JPS63294116A (ja) 1987-05-27 1987-05-27 時定数回路

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JP62128263A JPS63294116A (ja) 1987-05-27 1987-05-27 時定数回路

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JPS63294116A true JPS63294116A (ja) 1988-11-30

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ID=14980519

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JP62128263A Pending JPS63294116A (ja) 1987-05-27 1987-05-27 時定数回路

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JP (1) JPS63294116A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017125484A (ja) * 2016-01-15 2017-07-20 富士電機株式会社 スイッチ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017125484A (ja) * 2016-01-15 2017-07-20 富士電機株式会社 スイッチ装置

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