JPS63293527A - 電気光学装置 - Google Patents
電気光学装置Info
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- JPS63293527A JPS63293527A JP12872487A JP12872487A JPS63293527A JP S63293527 A JPS63293527 A JP S63293527A JP 12872487 A JP12872487 A JP 12872487A JP 12872487 A JP12872487 A JP 12872487A JP S63293527 A JPS63293527 A JP S63293527A
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電気光学装置に関する。更に詳しくは強誘電性
液晶を用いた高コントラスト高透過率の電気光学装置に
関する。
液晶を用いた高コントラスト高透過率の電気光学装置に
関する。
従来、表示コントラストが高く、光透過性もすぐれた強
誘電性液晶を用いた電気光学装置の液晶配向法としてS
iOの斜方蒸着法が用いられてきた。(第12回液晶討
論会予稿集1連F12(1)32)あるいはJapan
Display’ 8G予稿集12.3 (9464)
)。この方法を用いると、ポリイミド、ポリアミド、ポ
リビニルアルコール、ポリエステル、ポリアクリロニト
リル、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレン、ポリ
フッ化ビニリデン、テフロン、などの樹III t−布
テこする配向法の場合に得られる光学特性よりも、数1
0倍のコントラスト、数倍の透過率が得られる。しかも
、この方法を用いれば液晶を配向させる際の徐冷処理も
必要ない。
誘電性液晶を用いた電気光学装置の液晶配向法としてS
iOの斜方蒸着法が用いられてきた。(第12回液晶討
論会予稿集1連F12(1)32)あるいはJapan
Display’ 8G予稿集12.3 (9464)
)。この方法を用いると、ポリイミド、ポリアミド、ポ
リビニルアルコール、ポリエステル、ポリアクリロニト
リル、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレン、ポリ
フッ化ビニリデン、テフロン、などの樹III t−布
テこする配向法の場合に得られる光学特性よりも、数1
0倍のコントラスト、数倍の透過率が得られる。しかも
、この方法を用いれば液晶を配向させる際の徐冷処理も
必要ない。
しかし前述の従来技術では、液晶を、液晶挟持体に封入
した際配向はよいが、その後記向が乱れる、電気光学装
置として抵抗が低く、消費電力が大きいという問題点を
有する。詳しくは、siOを基板表面から0〜10°の
方位で斜方蒸着を行うと、柱状突起物(カラム)が生長
する。とのカラムは基板表面から30〜60°の角度を
もっている。液晶は、このカラムの方位を向くのである
が、とのカラムは、非常に脆(、折れやすい。このため
配向に安定性が無く、カラムが折れてしまった場所では
、上下シ冒−トが生じ、電気抵抗が低くなると考えられ
る。そこで本発明は、このような問題点を解決するもの
で、その目的とするところは、とのカラムを補強し、配
向の安定性を増し、電気抵抗を高くする方法を提供する
ところにある。
した際配向はよいが、その後記向が乱れる、電気光学装
置として抵抗が低く、消費電力が大きいという問題点を
有する。詳しくは、siOを基板表面から0〜10°の
方位で斜方蒸着を行うと、柱状突起物(カラム)が生長
する。とのカラムは基板表面から30〜60°の角度を
もっている。液晶は、このカラムの方位を向くのである
が、とのカラムは、非常に脆(、折れやすい。このため
配向に安定性が無く、カラムが折れてしまった場所では
、上下シ冒−トが生じ、電気抵抗が低くなると考えられ
る。そこで本発明は、このような問題点を解決するもの
で、その目的とするところは、とのカラムを補強し、配
向の安定性を増し、電気抵抗を高くする方法を提供する
ところにある。
本発明の電気光学装置は強誘電性液晶を用いた電気光学
装置において液晶の配向処理法として斜方蒸着法を行い
、その表面を表面改質剤で処理したことを特徴とする。
装置において液晶の配向処理法として斜方蒸着法を行い
、その表面を表面改質剤で処理したことを特徴とする。
本発明の上記の構成によれば、表面改質剤をカラム上に
塗布することにより、カラムを補強し、またそのカラム
表面をコーティングしたことにより、電気抵抗が高くな
るという効果を存する。この際、表面改質層の厚さはカ
ラムの凹凸を埋めるほど厚いものではいけない。
塗布することにより、カラムを補強し、またそのカラム
表面をコーティングしたことにより、電気抵抗が高くな
るという効果を存する。この際、表面改質層の厚さはカ
ラムの凹凸を埋めるほど厚いものではいけない。
〔実施例1〕
第1図は本発明の実施例における基本構成を示す電気光
学装置の断面図である。ここでは、表面改質剤としてポ
リイミドを用いた実施例を示す。
学装置の断面図である。ここでは、表面改質剤としてポ
リイミドを用いた実施例を示す。
I To、及びS i Oj絶縁層を設けた基板に対し
、基板表面から5°傾いた方位よりSiOを斜方蒸着し
、第1図に示すSiO配向層(4)を形成した。層の厚
さは1000人である。の表面に、ポリイミド(東し社
製セミコファイン5P−740を40=1にN、N−ジ
メチルアセトアミドで希釈したもの)をスピンコードし
、乾燥した。表面改質層(6)は、この場合で50人で
あった。この状態を電子顕微鏡にて観察してみると、改
質処理する前よりも2〜3倍強度は増している。ここで
、第1図における絶縁層(3,8)はどちらか一方のみ
でもよい、また、斜方蒸着における蒸着物質は絶縁体で
あればSiOでなくともよい。さて、こうして得られた
基板を@1図に示したように、上下基板で蒸着方位が1
80°を成すように組み立てる。セル厚は、2.6μm
であった。(液晶物質によりセル厚は、1〜3μmの範
囲で設定する。)ここで液晶を封入するが、ここで用い
た液晶は、メルク社製ZLI−3854である。
、基板表面から5°傾いた方位よりSiOを斜方蒸着し
、第1図に示すSiO配向層(4)を形成した。層の厚
さは1000人である。の表面に、ポリイミド(東し社
製セミコファイン5P−740を40=1にN、N−ジ
メチルアセトアミドで希釈したもの)をスピンコードし
、乾燥した。表面改質層(6)は、この場合で50人で
あった。この状態を電子顕微鏡にて観察してみると、改
質処理する前よりも2〜3倍強度は増している。ここで
、第1図における絶縁層(3,8)はどちらか一方のみ
でもよい、また、斜方蒸着における蒸着物質は絶縁体で
あればSiOでなくともよい。さて、こうして得られた
基板を@1図に示したように、上下基板で蒸着方位が1
80°を成すように組み立てる。セル厚は、2.6μm
であった。(液晶物質によりセル厚は、1〜3μmの範
囲で設定する。)ここで液晶を封入するが、ここで用い
た液晶は、メルク社製ZLI−3854である。
次に、こうしてできた装置をクロスニコルではさみ、第
2図に示した駆動波形を用い特性を評価した。第2図の
上図は駆動波形であり、下図はそれに対応した電気光学
製置の光学応答である。
2図に示した駆動波形を用い特性を評価した。第2図の
上図は駆動波形であり、下図はそれに対応した電気光学
製置の光学応答である。
コントラスト及び透過率を第1表に示した。表面改質処
理をしたものとしないものでは、光学特性は、大差ない
、しかも1週間放w後再度光学特性を評価すると、表面
改質処理したものでは明らかに未処理のものより劣化が
小さい、しかも液晶を封入した時点でのインピーダンス
も未処理のものよりも太き(消費電力は小さくなってい
る。
理をしたものとしないものでは、光学特性は、大差ない
、しかも1週間放w後再度光学特性を評価すると、表面
改質処理したものでは明らかに未処理のものより劣化が
小さい、しかも液晶を封入した時点でのインピーダンス
も未処理のものよりも太き(消費電力は小さくなってい
る。
第 1 表
注)1)液晶封入直後のコントラスト
2)液晶封入直後の透過率
3)液晶封入1週間後のコントラスト
4)液晶封入1週間後の透過率
測定温度は50℃である。
(実施例2〕
次に表面改質剤として、ポリビニルアルコール(PVA
) 、 ポリフッ化ビニリゾy (PVDF)、ポリ
メチルメタクリレ−) (PMMA)、ポリエステル(
PET)、ポリアミド、ポリエステルを用いた場合につ
いて実施例を示す。ポリビニルアルコールは0.5wt
%水溶液、ポリフッ化ビニリデン(トリフロロエチレン
を含むKynar#7201)は0.5wt%MEK溶
液、ポリメチルメタクリレートは0.2wt%キシレン
溶液、ポリエステルはポリエチレンテレフタレートを用
い0.2wt%m−クレゾール溶液、ポリアミドは、ナ
イロン6.6を用い0.2wt%m−クレゾール溶液、
ポリエチレンは0.5wtLAキシレ、ン溶液(80℃
)とし、スピンコードを行なった。膜厚は50人となっ
た。実施例1と同様の方法により、光学特性を評価した
。第1表にそのコントラスト、透過率を示す、ポリアミ
ド、ポリビニルアルコールについては、ポリイミドと同
様によい特性を示しており、1週間の放置後もポリイミ
ドと同様に経時変化が小さい、ポリフッ化ビニリデン、
ポリメチルメタクリレート、ポリエチレ/については、
光学特性はかなり落ちているが、やはり経時変化は小さ
い、上下基板で用いるポリマーを変えても同様の効果が
得られる。
) 、 ポリフッ化ビニリゾy (PVDF)、ポリ
メチルメタクリレ−) (PMMA)、ポリエステル(
PET)、ポリアミド、ポリエステルを用いた場合につ
いて実施例を示す。ポリビニルアルコールは0.5wt
%水溶液、ポリフッ化ビニリデン(トリフロロエチレン
を含むKynar#7201)は0.5wt%MEK溶
液、ポリメチルメタクリレートは0.2wt%キシレン
溶液、ポリエステルはポリエチレンテレフタレートを用
い0.2wt%m−クレゾール溶液、ポリアミドは、ナ
イロン6.6を用い0.2wt%m−クレゾール溶液、
ポリエチレンは0.5wtLAキシレ、ン溶液(80℃
)とし、スピンコードを行なった。膜厚は50人となっ
た。実施例1と同様の方法により、光学特性を評価した
。第1表にそのコントラスト、透過率を示す、ポリアミ
ド、ポリビニルアルコールについては、ポリイミドと同
様によい特性を示しており、1週間の放置後もポリイミ
ドと同様に経時変化が小さい、ポリフッ化ビニリデン、
ポリメチルメタクリレート、ポリエチレ/については、
光学特性はかなり落ちているが、やはり経時変化は小さ
い、上下基板で用いるポリマーを変えても同様の効果が
得られる。
〔実施例3〕
次に表面改質剤としてシランカップリング剤を用いた場
合について示す、実施例1と同様にSiOを斜方蒸着し
た基板上に信越シリコン社製のKDM−403、KBM
−802、KBE−!JO3各0.5wt%エタノール
溶液をスピンコードして120℃にて焼成した。
合について示す、実施例1と同様にSiOを斜方蒸着し
た基板上に信越シリコン社製のKDM−403、KBM
−802、KBE−!JO3各0.5wt%エタノール
溶液をスピンコードして120℃にて焼成した。
実施例1と同様に2枚の基板を貼り合わせ、液晶を封入
した。そのフントラスト、透過率を第1表に示す。特性
は、未処理のものに較べそれほど劣っていない。また比
抵抗も落ちていない、他のシランカップリング剤を用い
ても同様の効果が得られる。また上下基板で改質剤を変
えてもよい。
した。そのフントラスト、透過率を第1表に示す。特性
は、未処理のものに較べそれほど劣っていない。また比
抵抗も落ちていない、他のシランカップリング剤を用い
ても同様の効果が得られる。また上下基板で改質剤を変
えてもよい。
以上述べたように発明によれば斜方蒸着処理した表面上
に表面改質剤を塗布するという単純な方法により、その
配向の信頼性を大幅に向上できるという効果を存する。
に表面改質剤を塗布するという単純な方法により、その
配向の信頼性を大幅に向上できるという効果を存する。
tJ1図は本発明の電気光学装置の一実施例を示す主要
断面図。 1・・・基板 2・・・電極 3・・・絶R層 4・・・斜方蒸着層 5・・・表面改質層 6・・・表面改質層 7・・・斜方蒸着層 8・・・絶縁層 9・・・電極 10・・・基板 第2図は本発明の電気光学装置を評価する際に用いた駆
動波形と光学応答を示す図。 第3図は従来の斜方蒸着を用いた電気光学装置の主要断
面図で、区内の番号は第1図に対応している。 第1図 禮聞 第2区
断面図。 1・・・基板 2・・・電極 3・・・絶R層 4・・・斜方蒸着層 5・・・表面改質層 6・・・表面改質層 7・・・斜方蒸着層 8・・・絶縁層 9・・・電極 10・・・基板 第2図は本発明の電気光学装置を評価する際に用いた駆
動波形と光学応答を示す図。 第3図は従来の斜方蒸着を用いた電気光学装置の主要断
面図で、区内の番号は第1図に対応している。 第1図 禮聞 第2区
Claims (1)
- 強誘電性液晶を用いた電気光学装置において、液晶の配
向処理法として斜方蒸着法を行い、その表面を表面改質
剤で処理したことを特徴とする電気光学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12872487A JPS63293527A (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | 電気光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12872487A JPS63293527A (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | 電気光学装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63293527A true JPS63293527A (ja) | 1988-11-30 |
Family
ID=14991873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12872487A Pending JPS63293527A (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | 電気光学装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63293527A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007264624A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-10-11 | Canon Inc | 液晶パネルの製造方法及び配向膜の表面処理方法 |
JP2014211592A (ja) * | 2013-04-22 | 2014-11-13 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶装置、液晶装置の製造方法、及び電子機器 |
-
1987
- 1987-05-26 JP JP12872487A patent/JPS63293527A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007264624A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-10-11 | Canon Inc | 液晶パネルの製造方法及び配向膜の表面処理方法 |
JP2014211592A (ja) * | 2013-04-22 | 2014-11-13 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶装置、液晶装置の製造方法、及び電子機器 |
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