JPS63286780A - 故障検出方式および故障検出装置 - Google Patents

故障検出方式および故障検出装置

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JPS63286780A
JPS63286780A JP62121291A JP12129187A JPS63286780A JP S63286780 A JPS63286780 A JP S63286780A JP 62121291 A JP62121291 A JP 62121291A JP 12129187 A JP12129187 A JP 12129187A JP S63286780 A JPS63286780 A JP S63286780A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bit width
misr
circuit
bit
output pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP62121291A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Iwasaki
一彦 岩崎
Fumio Arakawa
文男 荒川
Daisuke Mishina
三科 大介
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS63286780A publication Critical patent/JPS63286780A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、論理回路の故障検出方式および装置に係り、
特にL S I (Large  5cale Int
egratedcircuit)の自己検査に好適な故
障検出方式および装置に関する。
〔従来の技術〕
LSIの検査法の1つきして、従来からシグナチャ解析
法がおこなわれていた。シグナチャ解析では、mビット
巾の検査出力を、mビットの多入力帰還形シフトレジス
タ(MI SR)で時間軸方向に圧縮していた。従来の
MISRの例として、%@昭!’19−233153号
 特願昭62−42555号を挙げることができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術は、検査出力パターンのビット巾nが、n
)mのとき、複数回に分けてMISRへ入力しなければ
ならず、検査時間が増大するという問題があった。
本発明の目的は、(1)検査時間を短縮すること、(2
)ハードウェアを減少させること、にある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、nビット巾の検査出力パターンを排他的論
理和回路網ζこよりてmビットに圧縮し、その後、mビ
ットのMISRへ入力することにより、達成される。
〔作用〕
上記排他的論理和回路網は、検査出力パターンをピット
巾方向に圧縮するものであり、MISR・は時間軸方向
に圧縮するものである。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すプロ、り図である。被
検査回路1からは検査出力パターン、ao(xl、 a
l(幻、−、a 、−(xiが出力される。ここで、 a 、 (x)= a 、。+ a、1x + a、2
x−+a、、−?c’″″′であり、alJ+ aIJ
1+ ”’ + aIQの順に、ビット巾圧縮回路へ入
力される。ビット巾圧縮回路は、排他的論理和回路で構
成されnビット巾の入力をmビット巾へ圧縮する。すな
わち、ao4.a、、。
…l”m−11を入力しs  ’QHr  ’IJ+…
+ rss−11を出力する。” I ” 1 ) r
 ”’ r ’ m−1+ ハ、GF(2°)上のシン
ボルr、とみなすこともできる。
よって、ビット巾圧縮回路の出力は次式で表わすことが
できる。
R(x)= r、 + rlx + r2X2+−−−
−1−r、−、x ’−”MISRは、R(x)を入力
し、シグナチャを生成する。
排他的論理和回路網の一例として、15ビツト巾の検査
出力パターンを5ビツトに圧縮する例を示す。このため
に符号長15.情報点数10の/・ミンク符号を用いて
いる。この符号のハリティ検査行列Hを以下に示す。
この符号の最小距離は3であり、2重までの誤りを検生
ずることができる。この符号に基づく、圧縮回路の例を
第2図に示す。15ビットの入力ヴトの出力をr01+
 rll + ’21 * ’31t r4.とする0
次式が成り立つ。
r(N = aOtealt■a、、 ea、、■”1
01’11 = aOIea41■a、、$a、、■a
9,1’21””11e34i”a71のa81””1
21r3.=a2.■all、■a7.fE9a1の’
111r41”a31■a6.■a81■a91Φa1
41この回路は、上記パリティ検査行列をもつ修正ハミ
ング符号のシンドローム計算回路として知られているも
のである。
上記符号は2重誤りまでを検出できるため、aol ”
’ a14+  までに2ビットの故障がありても検出
可能である。
またs  (’011 r11+ rZIt rll1
 ’4()をGF(2’)上のシンボルr、とみなすこ
とも可能である。特願昭62−42555号で示したよ
うなシグナチャ回路を用いれば%  rO+rl  t
rJtに含まれるシンボル誤りを検出可能である。αを
0F(2’)上の原始元としたとき、(X−α−1)お
よび(X−α〕除算回路によるシグナチャレジスタを構
成した場合、2シンボルまでの故障検出が可能である。
つまり、第2図で示す圧縮回路と、特願昭62−425
55号で構成法を示した、(X−α−1)。
(X−α)除算回路を用いると、検査出力パターン(、
、、)ζこ含まれる、2重誤りをすべて検出できる。
検査入カバターンのビット巾が15ビツトの時、従来の
方法であると、15ビットのMI SRを用いるか、例
えば5ビットのMI8Bへ3回に分けて入力するか、で
あった。前者は、多量のハードウェアを必要とし、後者
はテスト時間の増大につながっていた。
ここで示した例では% 5人力排他的論理和ゲートが5
個必要であるが、5ビットのMIS几で済んでおり、テ
スト時間が増大するこみもない。
別の例として、ビット圧縮用排他的論理和回路として修
正ハミング符号のパリティ検査行列を用い、MI8Rと
して、(X−α−1)(x−α0)(X−α)除算回路
を用いれば、検査出力パターンの3重誤りをすべて検出
できる。
一般に、ビット圧縮用排他的論理和回路として、最小重
みdの符号に基づくパリティ検査行列を用い、MI8R
として、(x  ”  )(X  ” )+・・・<x
−a6−”>除算回路を用いると、検査出力パターンの
(d−1)重誤りをすべて検出できる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、故障検出率を落すことなく高速な放論
判定ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すプロ、り図、第2図は
ビット巾圧縮回路の一例を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、mビットの多入力帰還形シフトレジスタ(MISR
    )によって、検査出力パターンをシグナチャとして圧縮
    する論理回路の故障検出方式において、n(n>m)ビ
    ット巾の検査出力を、排他的論理和回路網によってmビ
    ット巾に圧縮し、その後、前記mビットのMISRへ入
    力することを特徴とする故障検出方式。 2、mビットの多入力帰還形シフトレジスタ(MISR
    )によって、検査出力パターンをシグナチャとして圧縮
    する論理回路の故障検出装置において、n(n>m)ビ
    ット巾の検査出力を、排他的論理和回路網によってmビ
    ット巾に圧縮し、その後、前記mビットのMISRへ入
    力することを特徴とする故障検出装置。
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