JPS63286780A - 故障検出方式および故障検出装置 - Google Patents
故障検出方式および故障検出装置Info
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- JPS63286780A JPS63286780A JP62121291A JP12129187A JPS63286780A JP S63286780 A JPS63286780 A JP S63286780A JP 62121291 A JP62121291 A JP 62121291A JP 12129187 A JP12129187 A JP 12129187A JP S63286780 A JPS63286780 A JP S63286780A
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- misr
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 17
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 9
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 8
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、論理回路の故障検出方式および装置に係り、
特にL S I (Large 5cale Int
egratedcircuit)の自己検査に好適な故
障検出方式および装置に関する。
特にL S I (Large 5cale Int
egratedcircuit)の自己検査に好適な故
障検出方式および装置に関する。
LSIの検査法の1つきして、従来からシグナチャ解析
法がおこなわれていた。シグナチャ解析では、mビット
巾の検査出力を、mビットの多入力帰還形シフトレジス
タ(MI SR)で時間軸方向に圧縮していた。従来の
MISRの例として、%@昭!’19−233153号
特願昭62−42555号を挙げることができる。
法がおこなわれていた。シグナチャ解析では、mビット
巾の検査出力を、mビットの多入力帰還形シフトレジス
タ(MI SR)で時間軸方向に圧縮していた。従来の
MISRの例として、%@昭!’19−233153号
特願昭62−42555号を挙げることができる。
上記従来技術は、検査出力パターンのビット巾nが、n
)mのとき、複数回に分けてMISRへ入力しなければ
ならず、検査時間が増大するという問題があった。
)mのとき、複数回に分けてMISRへ入力しなければ
ならず、検査時間が増大するという問題があった。
本発明の目的は、(1)検査時間を短縮すること、(2
)ハードウェアを減少させること、にある。
)ハードウェアを減少させること、にある。
上記目的は、nビット巾の検査出力パターンを排他的論
理和回路網ζこよりてmビットに圧縮し、その後、mビ
ットのMISRへ入力することにより、達成される。
理和回路網ζこよりてmビットに圧縮し、その後、mビ
ットのMISRへ入力することにより、達成される。
上記排他的論理和回路網は、検査出力パターンをピット
巾方向に圧縮するものであり、MISR・は時間軸方向
に圧縮するものである。
巾方向に圧縮するものであり、MISR・は時間軸方向
に圧縮するものである。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すプロ、り図である。被
検査回路1からは検査出力パターン、ao(xl、 a
l(幻、−、a 、−(xiが出力される。ここで、 a 、 (x)= a 、。+ a、1x + a、2
x−+a、、−?c’″″′であり、alJ+ aIJ
1+ ”’ + aIQの順に、ビット巾圧縮回路へ入
力される。ビット巾圧縮回路は、排他的論理和回路で構
成されnビット巾の入力をmビット巾へ圧縮する。すな
わち、ao4.a、、。
検査回路1からは検査出力パターン、ao(xl、 a
l(幻、−、a 、−(xiが出力される。ここで、 a 、 (x)= a 、。+ a、1x + a、2
x−+a、、−?c’″″′であり、alJ+ aIJ
1+ ”’ + aIQの順に、ビット巾圧縮回路へ入
力される。ビット巾圧縮回路は、排他的論理和回路で構
成されnビット巾の入力をmビット巾へ圧縮する。すな
わち、ao4.a、、。
…l”m−11を入力しs ’QHr ’IJ+…
+ rss−11を出力する。” I ” 1 ) r
”’ r ’ m−1+ ハ、GF(2°)上のシン
ボルr、とみなすこともできる。
+ rss−11を出力する。” I ” 1 ) r
”’ r ’ m−1+ ハ、GF(2°)上のシン
ボルr、とみなすこともできる。
よって、ビット巾圧縮回路の出力は次式で表わすことが
できる。
できる。
R(x)= r、 + rlx + r2X2+−−−
−1−r、−、x ’−”MISRは、R(x)を入力
し、シグナチャを生成する。
−1−r、−、x ’−”MISRは、R(x)を入力
し、シグナチャを生成する。
排他的論理和回路網の一例として、15ビツト巾の検査
出力パターンを5ビツトに圧縮する例を示す。このため
に符号長15.情報点数10の/・ミンク符号を用いて
いる。この符号のハリティ検査行列Hを以下に示す。
出力パターンを5ビツトに圧縮する例を示す。このため
に符号長15.情報点数10の/・ミンク符号を用いて
いる。この符号のハリティ検査行列Hを以下に示す。
この符号の最小距離は3であり、2重までの誤りを検生
ずることができる。この符号に基づく、圧縮回路の例を
第2図に示す。15ビットの入力ヴトの出力をr01+
rll + ’21 * ’31t r4.とする0
次式が成り立つ。
ずることができる。この符号に基づく、圧縮回路の例を
第2図に示す。15ビットの入力ヴトの出力をr01+
rll + ’21 * ’31t r4.とする0
次式が成り立つ。
r(N = aOtealt■a、、 ea、、■”1
01’11 = aOIea41■a、、$a、、■a
9,1’21””11e34i”a71のa81””1
21r3.=a2.■all、■a7.fE9a1の’
111r41”a31■a6.■a81■a91Φa1
41この回路は、上記パリティ検査行列をもつ修正ハミ
ング符号のシンドローム計算回路として知られているも
のである。
01’11 = aOIea41■a、、$a、、■a
9,1’21””11e34i”a71のa81””1
21r3.=a2.■all、■a7.fE9a1の’
111r41”a31■a6.■a81■a91Φa1
41この回路は、上記パリティ検査行列をもつ修正ハミ
ング符号のシンドローム計算回路として知られているも
のである。
上記符号は2重誤りまでを検出できるため、aol ”
’ a14+ までに2ビットの故障がありても検出
可能である。
’ a14+ までに2ビットの故障がありても検出
可能である。
またs (’011 r11+ rZIt rll1
’4()をGF(2’)上のシンボルr、とみなすこ
とも可能である。特願昭62−42555号で示したよ
うなシグナチャ回路を用いれば% rO+rl t
rJtに含まれるシンボル誤りを検出可能である。αを
0F(2’)上の原始元としたとき、(X−α−1)お
よび(X−α〕除算回路によるシグナチャレジスタを構
成した場合、2シンボルまでの故障検出が可能である。
’4()をGF(2’)上のシンボルr、とみなすこ
とも可能である。特願昭62−42555号で示したよ
うなシグナチャ回路を用いれば% rO+rl t
rJtに含まれるシンボル誤りを検出可能である。αを
0F(2’)上の原始元としたとき、(X−α−1)お
よび(X−α〕除算回路によるシグナチャレジスタを構
成した場合、2シンボルまでの故障検出が可能である。
つまり、第2図で示す圧縮回路と、特願昭62−425
55号で構成法を示した、(X−α−1)。
55号で構成法を示した、(X−α−1)。
(X−α)除算回路を用いると、検査出力パターン(、
、、)ζこ含まれる、2重誤りをすべて検出できる。
、、)ζこ含まれる、2重誤りをすべて検出できる。
検査入カバターンのビット巾が15ビツトの時、従来の
方法であると、15ビットのMI SRを用いるか、例
えば5ビットのMI8Bへ3回に分けて入力するか、で
あった。前者は、多量のハードウェアを必要とし、後者
はテスト時間の増大につながっていた。
方法であると、15ビットのMI SRを用いるか、例
えば5ビットのMI8Bへ3回に分けて入力するか、で
あった。前者は、多量のハードウェアを必要とし、後者
はテスト時間の増大につながっていた。
ここで示した例では% 5人力排他的論理和ゲートが5
個必要であるが、5ビットのMIS几で済んでおり、テ
スト時間が増大するこみもない。
個必要であるが、5ビットのMIS几で済んでおり、テ
スト時間が増大するこみもない。
別の例として、ビット圧縮用排他的論理和回路として修
正ハミング符号のパリティ検査行列を用い、MI8Rと
して、(X−α−1)(x−α0)(X−α)除算回路
を用いれば、検査出力パターンの3重誤りをすべて検出
できる。
正ハミング符号のパリティ検査行列を用い、MI8Rと
して、(X−α−1)(x−α0)(X−α)除算回路
を用いれば、検査出力パターンの3重誤りをすべて検出
できる。
一般に、ビット圧縮用排他的論理和回路として、最小重
みdの符号に基づくパリティ検査行列を用い、MI8R
として、(x ” )(X ” )+・・・<x
−a6−”>除算回路を用いると、検査出力パターンの
(d−1)重誤りをすべて検出できる。
みdの符号に基づくパリティ検査行列を用い、MI8R
として、(x ” )(X ” )+・・・<x
−a6−”>除算回路を用いると、検査出力パターンの
(d−1)重誤りをすべて検出できる。
本発明によれば、故障検出率を落すことなく高速な放論
判定ができる。
判定ができる。
第1図は本発明の一実施例を示すプロ、り図、第2図は
ビット巾圧縮回路の一例を示す。
ビット巾圧縮回路の一例を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、mビットの多入力帰還形シフトレジスタ(MISR
)によって、検査出力パターンをシグナチャとして圧縮
する論理回路の故障検出方式において、n(n>m)ビ
ット巾の検査出力を、排他的論理和回路網によってmビ
ット巾に圧縮し、その後、前記mビットのMISRへ入
力することを特徴とする故障検出方式。 2、mビットの多入力帰還形シフトレジスタ(MISR
)によって、検査出力パターンをシグナチャとして圧縮
する論理回路の故障検出装置において、n(n>m)ビ
ット巾の検査出力を、排他的論理和回路網によってmビ
ット巾に圧縮し、その後、前記mビットのMISRへ入
力することを特徴とする故障検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62121291A JPS63286780A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 故障検出方式および故障検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62121291A JPS63286780A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 故障検出方式および故障検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63286780A true JPS63286780A (ja) | 1988-11-24 |
Family
ID=14807623
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62121291A Pending JPS63286780A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 故障検出方式および故障検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63286780A (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0517444A2 (en) * | 1991-06-03 | 1992-12-09 | AT&T Corp. | Space compression technique for pseudo-exhaustive self-testing of digital electronic circuits |
JPH05249197A (ja) * | 1992-03-05 | 1993-09-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 組込み自己試験回路 |
US6445205B1 (en) | 1998-11-26 | 2002-09-03 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Method of testing integrated circuits |
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US7437640B2 (en) | 2003-02-13 | 2008-10-14 | Janusz Rajski | Fault diagnosis of compressed test responses having one or more unknown states |
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US9664739B2 (en) | 1999-11-23 | 2017-05-30 | Mentor Graphics Corporation | Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses |
-
1987
- 1987-05-20 JP JP62121291A patent/JPS63286780A/ja active Pending
Cited By (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US8914694B2 (en) | 2006-02-17 | 2014-12-16 | Mentor Graphics Corporation | On-chip comparison and response collection tools and techniques |
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