JPS63279110A - 立体物測定装置 - Google Patents

立体物測定装置

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JPS63279110A
JPS63279110A JP11501887A JP11501887A JPS63279110A JP S63279110 A JPS63279110 A JP S63279110A JP 11501887 A JP11501887 A JP 11501887A JP 11501887 A JP11501887 A JP 11501887A JP S63279110 A JPS63279110 A JP S63279110A
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JP
Japan
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laser
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center
gravity
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Pending
Application number
JP11501887A
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English (en)
Inventor
Takeyoshi Ochiai
勇悦 落合
Kunio Yoshida
邦夫 吉田
Kazutoshi Iketani
池谷 和俊
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS63279110A publication Critical patent/JPS63279110A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は非接触で対象物体の移動量または形状を測定す
る立体物測定装置に関するものである。
従来の技術 従来の立体物測定装置は、第6図に示すようにレーザー
発掘器1より発射されたレーザービーム2を集光レンズ
3によってビーム径を絞った後、スキャナ4によって対
象物体6に照射し、その対象物体6をビデオカメラ7で
撮影し、その映像信号をA/Dコンバータ8でデジタル
の画像情報に変換した後、この画像情報を画像メモリ9
に記憶し、CPU12によって画像メモリ9の画像情報
を読み出しながらCPUメモリ13を用いて重心座標の
計算を行い、その後重心座標の値により三次元座標の計
算を行っていた。なお、CRTコントローラ14、及び
モニタ15はビデオカメラ7の撮影状況を監視・制御、
あるいは画像メモリ9の内容をモニタするものである。
また第7図に示すように、撮像装置内に光位置検出器(
゛・ 話甫;以下PSDと略記する)を設置して重心座標を検
出した後三次元座標を求めていた。(たと第7図におい
ては、LED駆動回路71により制御されるI、IDD
72のレーザービームは、レンズ73を介して対象物体
74に照射され、その反射光はレンズ75を介してPS
D76に入射される。そしてPSD760入射位置に応
じて、電流が発生し、駆動素子77a〜77d、信号処
理回路78a〜78bを介し、Y座標及びX座標演算回
路793〜79bではその位置を2次元座標として求め
ることができる。
発明が解決しようとする問題点 しかし、第6図のような構成ではスポットの重心座標の
計算をCPU12が行っているので計算に時間がかかり
、また第7図のような構成ではPAD76そのものの光
スポットの検出分解能で座標計算の精度が定まり、本質
的に誤差が大きいという問題があった。
本発明はこのような問題点を解決するためになされたも
ので、重心座標の計算を比較的簡単な回路で実現するこ
とにより高速、かつ高精度の立体物の座標を測定する立
体物測定装置を提供するものである。
問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するため、レーザー発振器よ
り発射されるレーザービームを集光する集光手段と、前
記集光手段により集光されたレーザービームをスリット
状に変換するレーザービーム変換手段と、前記レーザー
ビーム変換手段により変換されたレーザースリット光を
対象物体に照射させ、かつレーザースリット光を偏向さ
せる偏光手段と、前記対象物体上のスリット光の画像を
撮影する撮像手段と、前記撮像手段より出力される輝度
信号を量子化するA/D変換器と、前記A/D変換器に
より変換された画像情報を記憶する記憶手段と、前記記
憶手段が記憶する画像情報の中から、前記撮像手段の一
水平走査ごとに最大値を検出するとともに、その最大値
を示す前記記憶手段のアドレス情報を検出するアドレス
検出手段と、前記アドレス検出手段により検出されたア
ドレス情報が示す画素を中心に±n画素の画像情報によ
り重心座標を計算する重心座標演算手段と、前記重心座
標演算手段によって計算されたスリット光画像の重心か
ら対象物体上のスリット光に照らされている部位の三次
元空間座標を計算する演算手段とを設けたものである。
作    用 本発明は上記構成により撮影手段から出力される映像信
号をA/D変換した後、この画像情報を画像メモリに記
憶させると同時に一水平走査ごとの最大値を検出し、こ
の最大値を示す画像メモリのアドレス情報を検出し、こ
の最大値の画素を中心として走査線方向に士n画素の画
像情報から重心座標を計算し、かつレーザーをスリット
状にして重心座標の計算を一次元にすることによりレー
ザースリット光が対象物体のどこに当っているかをすば
やく、かつ精度よく検出するようにし、回路の簡素化を
図り、上記目的を達成するものであるO 実施例 第1図は本発明の立体物測定装置の一実施例を示すブロ
ック図である。第1図において、1はレーザー発振器、
2はレーザー発振器1より発射さレタレーザービーム、
3はレーザービーム2を集光するための集光レンズ、4
は集光されたレーザービーム2をスリット状に変換し、
かつスリット光を移動させるためのスキャナ、5はその
スリット光、6は形状が測定される対象物体、7は対象
物体6を撮影するビデオカメラ、8はビデオカメラ7で
撮影した対象物体6のアナログ映像信号をmビットのデ
ジタル画像情報に変換するA/Dコンバータ、9はA/
Dコンバータ8で変換された画像情報を記憶する画像メ
モリ、10はA/Dコンバータ8で変換された画像情報
の中で一水平走査ごとに最大値を見つけ出し、その最大
値を示すアドレス情報を検出するアドレス検出回路、 
11はその最大値の画素を中心に士n画素の画像情報の
中から定められたレベル以下の画像情報、すなわち雑音
成分を除去して重心座標を計算する重心座標演算回路、
12は重心座標演算回路11により求められた値により
対象物体6の三次元座標を計算するとともに、本装置の
制御を行うCPU、13はePulzの命令およびデー
タを格納するCPUメモリ、14は画像メモリ9に記憶
されている画像情報をモニタに出力するCRTコントロ
ーラ、15はモニタ、16はスキャナ4を制御するスキ
ャナ制御回路である。
上記構成において、以下その動作を説明する。
まず、レーザー発振器lより発射されたレーザービーム
2は集光レンズ3を通りスキャナ4に入力される。スキ
ャナ4は集光されたレーザービーム2をシリンドリカル
レンズ等でスリット光に変換し、かつそのスリット光を
ガルバノミラ−等で偏向させる機能を有する。スキャナ
4より出力されたスリット光5は対象物体6に照射され
る。この対象物体6をビデオカメラ7で撮影する。ビデ
オカメラ7から出力されるアナログ映像信号はA/Dコ
ンバータ8によりmビットのデジタル画像信号に変換さ
れる。A/Dコンバータ8から出力される画像信号は、
CPU12の指令により画像メモリ9に記憶されると同
時に、アドレス検出回路10に入力され、−水平走査ご
とに画像情報が最大の時のアドレスを検知する。
第2図はその画像メモリ9の内容を表したものである。
同図に示すように水平り画素、垂直V画素、各画素mビ
ットで構成されており、水平方向のアドレスを1(i=
l〜h)、垂直方向のアドレスをj(j=1−v)で表
す。この画像メモリ9はビデオカメラ7の視野情報を二
次元的に配列しているものである。なお、水平方向のア
ドレス1はアドレス検出回路10および重心座標演算回
路11で使用される。
第3図はそのアドレス検出回路10を更に詳しく表した
ブロック図である。同図において、100は入力される
画像情報を比較する比較器、101は画像情報を比較し
た結果、あらたに入力された画像情報が大きい時のみそ
の入力された画像情報を保持するレジスタ、102はレ
ジスタ101と同様に画像情報を比較した結果、あらた
に入力された画像情報が大きい時のみその入力された画
像情報を示すアドレスを保持するレジスタ、103はレ
ジスタ102から出力されたアドレス情報が重心座標を
計算するのに適した値であるか否かを調べる範囲を設定
する範囲設定回路、104および105はレジスタ10
2が出力するアドレスが所定の範囲内であるか否かを調
べるための比較器、106は比較器104および105
の出力を論理和するゲートである。
以下、その動作を説明する。通常、レジスタ101およ
びレジスタ102は水平ブランキング期間にII□nに
リセットされている。CPU12の指令によpA/Dコ
ンバータ8から出力される画像情報は画像メモリ9に記
憶されると同時にアドレス検出器10に入力される。ア
ドレス検出回路10では、一画素ごとに入力される画像
情報とレジスタ101の出力とを比較器100で比較し
、入力された画像情報が大きい時のみ比較器100が信
号を出力し、この信号によりレジスタ101には画像情
報が、レジスタ102にはレジスタ101に保持されて
いる画像情報を示すアドレス情報が保持される口したが
って一水平走査が終了するとレジスタ102は入力され
た画像情報の中で最も大きな値の画素のアドレス情報が
保持されている。レジスタ102の出力は比較器104
および105に入力され、検出されたアドレスが所定の
範囲内であるか否かを調べる。すなわち、このアドレス
が示す画素を中心に±n画素の画像情報により重心座標
の計算を行うため、ここで検出されるアドレスAiは画
像メモリ9の水平方向のアドレスを1(i=l〜h)と
すると、1+n≦Ai≦h −nを満たす範囲でなけれ
ばならない。この結果、検出されたアドレスが範囲外で
あればゲート106から信号が出力され、後述するよう
に重心座標および三次元座標の計算は行わないようにす
る。なお、レジスタ102から出力されるアドレス情報
は重心座標演算回路11に入力される。
アドレス検出器10により、−水平走査ごとに画像情報
が最大の時のアドレス情報が検出されると、水平ブラン
キング期間にこのアドレス情報は重心座標演算回路11
に入力され、このアドレスが示す画素を中心に±n画素
の画像情報より一水平走査ごとに重心座標の計算を行う
準備をする。
なお、重心座標の計算は次式により行う〇但し、Di−
−デジタル変換された画像情報の各画素の値 ! −一水平方向のアドレス値 j −一垂直方向のアドレス値 第4図は重心座標演算回路11を更に詳しく表したブロ
ック図である。同図において、110はアドレス検出回
路10で検出されたアドレスからnを減じる減算器、1
11は画像メモリ9のアドレスを示すカウンタ、112
は雑音除去回路、113は画像情報を加算する加算器、
114は加算器113の結果を累積するレジスタ、11
5はレジスタ114の最終結果を記憶するメモリ、11
6は各画素に重み付けをする乗算器、117は重み付け
された結果を加算する加算器、118は加算器117の
結果を累積するレジスタ、119はレジスタ118の最
終結果を記憶するメモリである。この重心座標演算回路
11は、水平ブランキング期間に(1)式の分母および
分子の各部分、すなわち次式の計算をそれぞれ行う。
ΣDi−−−  (2) Σ1Di−−−  (3) 以下、その動作を説明する。アドレス検出器10で検出
されたアドレスは減算器110に入力される。
減算器110はアドレス検出器10で検出されたアドレ
スからnを減じ、その結果をカウンタ111にロードす
る。カウンタ111の出力は画像メモリ9のアドレスと
なっており、クロックが入力されるたびに出力の値が更
新される。すなわち、この値によって画像メモリ9から
一水平走査のうちの最大値とその前後n画素ずつの画像
情報が読み出され、雑音除去回路112に入力される。
雑音除去回路112ではある大きさ以下の画像情報が1
011に変換されるようになっている。したがって、画
像メモリ9から出力された画像情報がこの雑音除去回路
112を通ることによって、画像情報に含まれる雑音が
除去されることになる・ 第5図は雑音除去回路112を更に詳しく表したブロッ
ク図である。同図において、1120は画像情報に含ま
れる雑音を除去するためのレベルを設定するしきい値設
定回路、1121はしきい値設定回路1120により設
定された値と画像情報を比較する比較器、1122は比
較器1121によって、画像情報と0″の値のどちらか
一つを選択する選択回路である。雑音除去回路112に
画像情報が入力される前に、しきい値設定回路1120
にあらかじめ雑音レベルより少し高い値を設定しておく
。なおこの値は複数のスイッチで設定されるものであっ
ても良く、CPU12によって設定されるものであって
も良い。画像メモリ9より出力された画像情報は比較器
1121に入力される。比較器1121ではこの画像情
報としきい値設定回路1120で設定された値とを比較
して、しきい値設定回路1120で設定された値が大き
い時のみ出力信号を出す。
比較器1121から信号が出力されると選択回路112
2は1IO1′の値を選択しそれを出力する。したがっ
てここでは、入力される画像情報がしきい値設定回路1
120で設定された値より大きい時はそのままの画像情
報を、以下の時は+101を出力する。
すなわち雑音を除去する。
第4図にもどってふたたび重心座標演算回路11の説明
をする。雑音除去回路112から出力された画像情報は
加算器113および乗算器116に入力される。なおレ
ジスタ114およびレジスタ118はあらかじめクリア
しておく。加算器113およびレジスタ114は入力さ
れる画像情報を一画素ずつ加算し累積する。すなわちこ
こでは、前記第(2)式の計算を行う。この結果はメモ
リ115に格納される。
また、乗算器116は雑音除去回路112から出力され
る画像情報とカウンタ111から出力される画像メモリ
9のアドレス情報とを乗算しその結果を加算器117に
送る。加算器117およびレジスタ118は乗算器11
6から出力される値を累積する。すなわちここでは、前
記第(3)式の計算を行う。この結果はメモリ119に
格納される。以上の処理を水平ブランキング期間に行う
。したがって、CPU12の指令によりレーザースリッ
ト画像の取り込みを行つと、メモリ115および119
には各水平走査ごとの重心座標の計算に必要な情報が格
納されることになる。
その後、CPU12はレーザースリット光取り込み終了
信号を受けて、メモリ115および119の情報を読み
出し重心座標の計算、すなわち前記(1)式の計算を行
った後、対象物体6の三次元座標を計算する。この計算
が終了するとCPU12はスキャナ制御回路16に指令
を出して、スリット光を移動させ、前記処理を繰り返す
。なお、アドレス検出回路10の中の論理和ゲート10
6が信号を出力した時、すなわち、検出されたアドレス
が範囲外である時は、重心座標演算回路11の中のメモ
リ115およびメモリ119には選択回路(図示せず)
によって、特定の値が記憶されるようになっており、C
PU12がこの値を検知すると、重心座標と三次元座標
の計算は行わない。
発明の効果 以上述べてきたように本発明によれば、レーザーをスリ
ット光にし、アドレス検出回路と雑音除去回路と重心演
算回路を付加することにより、比較的簡易な回路構成で
レーザースリット光が対象物体のどこに当っているかを
すばやく、かつ精度よく計算することができ、その効果
は太きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における立体物測定装置の、
ブロック結線図、第2図は同装置の要部である画像メモ
リの概念図、第3図は同装置の要部であるアドレス検出
回路のブロック結線図、第4図は同装置の要部である重
心座標演算回路のブロック結線図、第5図は同装置の要
部である雑音除去回路のブロック結線図、第6図は従来
の立体物測定装置のブロック結線図、第7図は従来の撮
像装置および重心座標演算装置のブロック結線図である
。 1、・・レーザー発振器、3・・集光レンズ、4・・ス
キャナ、6・・・対象物体、7・・・ビデオカメラ、8
・・・A/Dコンバータ、99.・画像メモリ、10・
・・アドレス検出回路、11・・・重心座標演算回路、
12・・・CPU、代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏
 男 ほか1名W&1図 6対象物体 第2図 嬉3図 ψアトLズ検出日路 第 5rl!:1 112藉音除去回路 第6図 第7図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザー発振器と、前記レーザー発振器より発射
    されるレーザービームを集光する集光手段と、前記集光
    手段により集光されたレーザービームをスリット状に変
    換するレーザービーム変換手段と、前記レーザービーム
    変換手段により変換されたレーザースリット光を対象物
    体に照射させ、かつレーザースリット光を偏向させる偏
    光手段と、前記対象物体上のスリット光の画像を撮影す
    る撮像手段と、前記撮像手段より出力される輝度信号を
    量子化するA/D変換器と、前記A/D変換器により変
    換された画像情報を記憶する記憶手段と、前記記憶手段
    が記憶する画像情報の中から、前記撮像手段の一水平走
    査ごとに最大値を検出するとともに、その最大値を示す
    前記記憶手段のアドレス情報を検出するアドレス検出手
    段と、前記アドレス検出手段により検出されたアドレス
    情報が示す画素を中心に±n画素の画像情報により重心
    座標を計算する重心座標演算手段と、前記重心座標演算
    手段によって計算されたスリット光画像の重心から対象
    物体上のスリット光に照らされている部位の三次元空間
    座標を計算する演算手段とを具備する立体物測定装置。
  2. (2)重心座標演算手段は、任意の定められた値以上の
    画像情報によって演算がなされるようにする演算決定手
    段を具備することを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の立体物測定装置。
  3. (3)演算決定手段は、画像情報の最小値から最大値ま
    での全ての値に設定することが可能であることを特徴と
    する特許請求の範囲第2項記載の立体物測定装置。
JP11501887A 1987-05-12 1987-05-12 立体物測定装置 Pending JPS63279110A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991010111A1 (en) * 1989-12-28 1991-07-11 Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho Apparatus for measuring three-dimensional coordinate

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO1991010111A1 (en) * 1989-12-28 1991-07-11 Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho Apparatus for measuring three-dimensional coordinate
US5280542A (en) * 1989-12-28 1994-01-18 Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho XYZ coordinates measuring system

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