JPH0196504A - 立体物測定装置 - Google Patents

立体物測定装置

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JPH0196504A
JPH0196504A JP25418587A JP25418587A JPH0196504A JP H0196504 A JPH0196504 A JP H0196504A JP 25418587 A JP25418587 A JP 25418587A JP 25418587 A JP25418587 A JP 25418587A JP H0196504 A JPH0196504 A JP H0196504A
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JP
Japan
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JP25418587A
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English (en)
Inventor
Kazutoshi Iketani
池谷 和俊
Kunio Yoshida
邦夫 吉田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、非接触で対象物体の移動量または形状を測定
する立体物測定装置に関するものである。
従来の技術 従来の立体物測定装置は、第7図に示すようにレーザ発
振器lより発射されたレーザビーム2を集束レンズ3に
よってビーム径を絞った後、スキャナ4によって対象物
体6にスリット状に照射し、その対象物体6をビデオカ
メラ7で撮影し、その映像信号をA / Dコンバータ
8でデジタルの画像情報に変換した後、この画像情報を
画像メモリ9に記憶し、OP U、□によって画像メモ
リ9の画像情報を読み出しながら重心座標の計算を行い
、その後重心座標の値により三角測量の原理を用いて三
次元座標の計算を行っていた。
特に最近は、半導体技術の進展に伴い、また、その安定
性が良いことから対象物体を撮影する手段としてCCD
カメラが多く使われてきている。
一般的に立体物測定装置については、いかに精度よく対
象物体の三次元座標を測定するかが重要な課題となって
いる。従って、第7図のような構成において座標測定精
度を高めるためには、ビデオカメラ7からの映像信号の
中のレーザビーム像の重心座標の検出精度を充分高くし
なければならない。
発明が解決しようとする問題点 しかし、第7図のような構成でOCDカメラを用いて重
心座標を検出する場合、カメラの撮像面となるCCD基
板上には第8図(a)で示すような受光部81の窓が間
隔をあけて配列されている。そのため、受光部81と受
光部81の間は光を感じることができず、レーザスリッ
ト像82の映像信号は連続しておらず、第8図(b)で
示したように光強度の部分的な積分値(斜線部)83で
与えられる。
このCCD素子上の離散的な画像情報、即ち輝度値(D
n)を用いて、重心計算をすると、計算に(但し、Xは
CCD素子上の水平走査方向の位置) 用いる画像情報が位置に関して連続していないため、第
9図に示すようにスリット像の重心位置の計算結果は、
連続した直線ではなく、CCD素子間で不連続な曲線9
1となってしまい、重心計算に周期的に大きな誤差が生
じてしまう。なお、スリット像の真の中心を示す直線9
2からの誤差の分散本発明は上記問題点を解決するため
、撮影手段から出力される映像信号をA/D変換した後
、この画像情報を画像メモリに記憶させると同時に一水
平走査ごとの画像情報の最大値を検出し、この最大値を
示す画像メモリのアドレス情報を検出するアドレス検出
手段と、この最大値の画素を中心として走査方向に±n
画素の画像情報と各画素のアドレス情報を入力とし、画
素ごとに画像情報を変数とした多項式に変換し、その多
項式の値を各画素の代表値とし、各画素のアドレス情報
とその代表値とから重心計算を行なう回路で構成されて
いる重心座標演算手段と三次元空間座標計算手段とから
構成されているものである。
作用 本発明は上記の構成により、レーザスリット光が対象物
体のどこに当っているかをすばやく、かつ高精度に検出
し、その検出結果から対象物体の三次元空間座標を測定
するものである。
実施例 第1図は本発明の立体物測定装置の一実施例を示すブロ
ック図である。第1図において、1はレーザ発振器、2
はレーザ発振器1より発射されたレーザビーム、3はレ
ーザビーム2を集束させる集束レンズ、4は集束された
レーザビームをスリット状に変換し、かつスリット光を
偏向させるスキャナ、5はスリット光、6は形状を測定
される対象物体、7は対象物体6を撮影するためのCC
Dカメラ、8はCCDカメラ7で撮影した対象物体6の
映像信号をmピットのデジタル画像情報に変換するA/
Dコンバータ、9はA/Dコンしく一タ8で変換された
画像情報を記憶する画像メモリ、10d A / Dコ
ンバータ8で変換された画像情報の中で一水平走査ごと
に最大値を見つけ出し、その最大値を示すアドレス情報
を検出するアドレス検出回路、11はその最大値の画素
を中心に±n画素の画像情報を多項変換して、その式の
値を用いて重心座標を計算する重心座標演算回路、12
は重心座標演算回路11により求められた値により対象
物体6の三次元座標を計算するとともに、本装置の制御
を行5C!PU、13は0PUI2の命令およびデータ
を格納するCPUメモリ、14は画像メモリ9に記憶さ
れている画像情報をモニタに出力するCI’LTコント
ローラ、15はそのモニタ、16はスキャナ4を制御す
るスキャナ制御回路である。
以下、上記装置の動作を説明する。レーザ発振器1より
発射されたレーザビーム2は集束レンズ3を通りスキャ
ナ4に入力される。スキャナ4は集束されたレーザビー
ムをシリンドリカルレンズ等でスリット光に変換し、か
つそのスリット光をガルバノミラ−等で偏向させる機能
を有する。
スキャナ4より出力されたスリット光5は対象物体6に
照射される。この対象物体6をCCDカメラ7で撮影す
る。OCDカメラ7から出力される映像信号は、A/D
コンバータ8によpmビットのデジタル画像信号に変換
される。A/Dコンバータ8から出力される画像信号は
、0PU12の指令により画像メモリ9に記憶されると
同時にアドレス検出回路10に入力され、−水平走査ご
とに画像情報が最大の時のアドレスを検知する。
第2図は画像メモリ9の内容を表わしたものである。同
図に示すように、水平り画素、垂直1画素、各画素mピ
ットで構成されており、水平方向のアドレスを1(i=
l〜h)、垂直方向のアドレスなj (j=1〜V)で
表わす。この画像メモリ9はCCDカメラ7の視野情報
を二次元的に配列しているものであり、CCDカメラ7
の各CCD素子に対応している。なお、水平方向のアド
レスiはアドレス検出回路10及び重心座標演算回路1
1で使用される。
第3図はアドレス検出回路10を更に詳しく表わしたブ
ロック図である。同図において、100は入力される画
像情報を比較する比較器、101は画像情報を比較した
結果、あらたに入力された画像情報が大きい時のみその
入力された画像情報を保持するレジスタ、102はレジ
スタ101と同様に画像情報を比較した結果、あらたに
入力された画像情報が大きい時のみその入力された画像
情報を示すアドレスを保持するレジスタ、103はレジ
スタ102から出力されたアドレス情報が重心座標を計
算するのに適した値であるかどうかを調べるだめの範囲
を設定する範囲設定回路、104及び105はレジスタ
102が出力するアドレスが所定の範囲内であるかを調
べるための比較器、106は比較器104及び105の
出力を論理和するゲートである。
以下、その動作を説明する。通常、レジスタ101及び
レジスタ102は水平ブランキング期間に“0”にリセ
ットされている。OP Ul□の指令により、A/Dコ
ンバータ8から出力される画像情報は、画像メモリ9に
記憶されると同時にアドレス検出回路10に入力される
。アドレス検出回路10では、一画素ごとに入力される
画像情報とレジスタ101の出力とを比較器100で比
較し、入力された画像情報が大きい時のみ比較器100
が信号を出力し、この信号によりレジスタ101には画
像情報が、レジスタ102にはレジスタ101に保持さ
れている画像情報を示すアドレス情報が保持される。
従って、−水平走査が終了するとレジスタ102には、
入力された画像情報の中で最も大きな値の画素のアドレ
ス情報が保持されている。
レジスタ102の出力は比較器104及び105に入力
され、検出されたアドレスが所定の範囲内であるかどう
かを調べる。即ち、このアドレスが示す画素を中心に十
〇画素の画像情報により重心座標の計算を行なうため、
ここで検出されるアドレスAtは、画像メモリ9の水平
方向のアドレスを1(蔦=1〜h)とすると、 1+n≦Ai≦h −n         −−(2)
で、上記第(2)式を満たす範囲でなければならない。
この結果、検出されたアドレスが第(2)式で示す範囲
外であれば、ゲート106から信号が出力され、後述す
るように重心座標及び三次元座標の計算は行なわないよ
うにする。なお、レジスタ102から出力されるアドレ
ス情報は重心座標演算回路11に入力される。
アドレス検出器10により、−水平走査ごとに画像情報
が最大の時のアドレス情報が検出されると、水平ブラン
キング期間にこのアドレス情報は重心座標演算回路11
に入力され、このアドレスが示す画素を中心に±n画素
の画像情報を用いて、−水平走査ごとに重心座標の計算
を行なう準備をする。
ここで画素ごとに画像情報は、その画像情報を変数とす
る多項式に変換され、その多項式の値(Vi)を用いて
下記筒(3)式により重心計算を行なう。
第4図は重心座標演算回路11を更に詳しく表わしたブ
ロック図である。同図において、110はアドレス検出
回路10で検出されたアドレスからnを減じる減算器、
111は画像メモリ9のナトレスを示すカウンタ、11
2は多項式変換回路、113は多項式の値を加算する加
算器、114は加算器113の結果を累積するレジスタ
、115はレジスタ114の最終結果を記憶するメモリ
、116は各画素に重み付けをする乗算器、117は重
み付けされた結果を加算する加算器、118は加算器1
17の結果を累積するレジスタ、119はレジスタ11
8の最終結果を記憶するメモリである。この重心座標演
算回路11は、水平ブランキング期間に第(3)式の分
母及び分子の各部分、即ち第(4)及び(5)式の計算
をそれぞれ行なう。
D Vi           ・・・・・・(4)Σ
(i−Vi)        ・・・・・・(5)以下
、その動作を説明する。アドレス検出器10で検出され
たアドレスは減算器110に入力される。
減算器110は、アドレス検出器110で検出されたア
ドレスからnを減じ、その結果をカウンタ111にロー
ドする。カウンタ111の出力は画像メモリ9のアドレ
スとなっており、クロックが入力されるたびに出力の値
が更新される。即ち、この値によって画像メモリ9から
一水平走査のうちの最大値とその前後n画素ずつの画像
情報が読み出され、多項式変換回路112に入力される
。多項式変換回路112では、画素ごとに、画像情報を
変数とした多項式の値が第(6)式に基づいて計算され
る。
Vt= Be + B+ Di 十B2 Di” 十B
s Di3+ −−BK Di ・・(6)本実施例に
おいては、第(6)式において3次の項までの多項式、
即ち、第(7)式で表わされる多項式を用いた。
Vl=Be 十B+ Di 十B2 Di 十Ds D
i3   ・・・・・・(7)ここで第5図の多項式変
換回路112のブロック図を用いて更に詳しく多項式変
換回路の構成を説明する。同図において、1120. 
1121. 1122゜1127及び1129は乗算器
で、1124. 1126及び1131は加算器である
。また、1125. 1123. 1128及び113
0はレジスタで、あらかじめ第(7)式の係数であるB
e 、  B+ 、  Bz及びB、が設定されている
1132は加算のタイミングをとるクロックである。
以下、その動作を説明する。多項式変換回路112に入
力された画像情報は乗算器1120.乗算器1121へ
2人力及び乗算器1122へ入力される。乗算器112
0では、予めレジスタ1123に設定しである係数B1
の値と画像情報とを乗算し、加算器1124へ出力する
。加算器1124では、予めレジスタ1125に設定し
である係数B。と乗算器1120の出力とを加算し、更
に加算器1126へ出力する。これらの回路で第(7)
式の第1項(B。)と第2項(B、Di)の加算がまず
終了した。
次に、乗算器1121で画像情報を2乗し、結果を乗算
器1127と乗算器1122へ出力する。乗算器112
7では、予めレジスタ1128に設定しである係数Bt
 と乗算器1121の出力とを乗算し、その結果を加算
器1126へ出力する。加算器1126では、加算器1
124と乗算器1127のそれぞれの出力を加算し、加
算器1131へ出力する。これまでの回路で第(7)式
の第1項から第3項までの加算が終了した。
そして、乗算器1122では、乗算器1121の出力と
画像情報とを乗算し、即ち画像情報の3乗した値を乗算
器1129へ出力する。乗算器1129では、予めレジ
スタ1130に設定しである係数B、と乗算器1122
の出力とを乗算し、その結果を加算器1131へ出力す
る。加算器1131では、加算器1126の出力と乗算
器1129の出力とを加算し、回路外部へ出力する。こ
の時、それぞれの加算器は、タイミングクロック113
2によって動作を制御される。
以上の動作で、式(7)の多項式の計算が終了する。
第4図にもどって再び重心演算回路11の説明をする。
多項式変換回路112から出力された多項式の値は、加
算器113及び乗算器116に入力される。
なお、レジスタ114及びレジスタ118は予めクリア
しておく。加算器113及びレジスタ114は入力され
る多項式の値を一画素ずつ加算し累積する。
即ちここでは、前記第(4)式の計算を行なう。この結
果はメモリ115に格納される。また、乗算器116は
多項式変換回路112から出力される値と、カウンタ1
11から出力される画像メモリ9のアドレス情報とを乗
算し、その結果を加算器117に送る。
加算器117及びレジスタ118は乗算器116から出
力される値を累積する。即ちここでは、前記第(5)式
の計算を行なう。この結果はメモリ119に格納される
以上の処理を水平ブランキング期間に行なう。
従って、CPUI2の指令によりレーザスリット画像の
取り込みを行うと、メモリ115及び119には各水平
走査ごとの重心座標の計算に必要な情報が格納されるこ
とになる。
その後、0PU12はレーザスリット光取り込み終了信
号を受けて、メモリ115及び119の情報を読み出し
、重心座標の計算、即ち前記第(3)式の計算を行なっ
た後、対象物体6の三次元座標を計算する。この計算が
終了すると0PUIλはスキャナ制御回路16に指令を
出して、スリット光を移動させ、前記処理を繰り返す。
なお、アドレス検出回路10の中の論理和ゲート106
が信号を出力した時、即ち、検出されたアドレスが範囲
外である時は、重心座標演算回路11の中のメモIJ 
115及びメモリ119には選択回路(図示せず)によ
って、特定の値が記憶されるようになっており、OP 
unがこの値を検知すると重心座標と三次元座標の計算
は行なわない。
以上のような構成と動作をもってして、従来例と同様に
、第8図(a)に示すようなレーザスリット光の重心座
標を計算すると、第6図に示すように誤差が大幅に縮小
され、はぼ連続した直線61として得られる。得られた
重心座標値と、スリット像の真の中心位置を示す直線6
2との誤差の分散は、0.077画素あり、従来例の場
合の021画素に比べて1/3に誤差を小さくすること
ができる。従って、この重心座標値をもとに対象物体の
三次元座標を計算しているため、三次元座標の測定値も
、従来例に比べて非常に高精度に計算することができ、
誤差の分散を約1/3に小さくすることができる。
また、本実施例では、集束レンズでレーザスリット光を
絞っているため、重心計算に用いた画素数は最大輝度の
画素を中心に±3画素、計7画素あれば充分で、−水平
走査上の全ての画素を用いる必要がなく計算時間を短縮
することができる。
なお、A / Dコンバータ8は8ビツトのものを用い
、多項式変換回路112内の4つのレジスタに設定した
第(7)式の係数B0からB、の値は、それぞれ、Be
 −0,Bt−5,Bt=  2.  Bs=+ 0.
1である。これらの係数は、対象物体及び測定環境にあ
わせて最適なものを設定すれば良い。
発明の効果 以上述べてきたように本発明によれば、アドレス検出回
路と重心演算回路と、多項式変換回路という比較的簡易
な回路を設けることで、レーザスリット光が対象物体の
どこに当っているかをすばやく、かつ高精度に計算し、
従って高精度に三次元座標を測定することができ、測定
誤差の分散を従来の約1/3に低減することができると
いう極めて大きな効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における立体物測定装置のブ
ロック結線図、第2図は同装置の要部である画像メモリ
の記憶状況を示すを表わした概念図、第3図は同装置の
要部であるアドレス検出回路のブロック図、第4図は同
装置の要部である重心座標演算回路のブロック図、第5
図は同装置の要部である多項式変換回路のブロック図、
第6図は同装置におけるスリット像の重心計算結果を示
す特性図、第7図は従来の立体物測定装置のブロック結
線図、第8図はCCD素子受光模型図で、同図(a)は
概観図、同図(b)は走査線での断面図、第9図は同装
置におけるスリット像の重心計算結果を示す特性図であ
る。 1・・・レーザ発振器、3・・・集束レンズ、4・・・
スキャナ、5・・・スリット光、6・・・対象物体、7
・・・CCDカメラ、8・・・A/Dコンバータ、9・
・・画像メモリ、10・・・アドレス検出回路、11・
・・重心演算回路、12・・・CPU、112・・・多
項式変換回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男ほか1名第1図 ノ 第2図 り 第3図 10  アドレスW:工回路 区         1す?騨 第6図 水千画素値直 第7図 第9図 7に+画素位置 ′!JJ8図 (a) CCD父九郁 (b)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発光手段から発射された光を集光しかつスリット
    状に変換する光変換手段と、前記スリット光を対象物体
    に照射させ、かつ前記スリット光を偏向させる偏向手段
    と、前記対象物体からの前記スリット光の反射光を撮影
    する撮像手段と、前記撮像手段より出力される輝度信号
    を量子化するA/D変換器と、前記A/D変換器により
    変換された画像情報を記憶する記憶手段と、前記画像情
    報の中から、前記撮像手段の一水平走査ごとに最大値を
    検出するとともに、前記最大値を示す前記記憶手段のア
    ドレス情報を検出するアドレス検出手段と、前記アドレ
    ス検出手段により検出されたアドレス情報が示す画素を
    中心に±n画素の画像情報を用いて重心座標を計算する
    重心座標演算手段と、前記重心座標演算手段によって計
    算されたスリット光画像の重心から対象物体上のスリッ
    ト光が投射されている部位の三次元空間座標を計算する
    三次元空間座標算出手段とを具備し、前記重心座標演算
    手段は入力された(2n+1)個の前記画像情報を、そ
    れぞれに前記画像情報を変数とした多項式に変換し、前
    記多項式の値を前記画像情報に対応する(2n+1)個
    の画素の代表値とし、前記各画素のアドレス情報と前記
    代表値とから重心計算を行なう立体物測定装置。
  2. (2)撮像手段は、二次元のCCDカメラであることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の立体物測定装置
  3. (3)発光手段は、レーザ発振器であることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の立体物測定装置。
JP25418587A 1987-10-08 1987-10-08 立体物測定装置 Pending JPH0196504A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03186706A (ja) * 1989-12-15 1991-08-14 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 3次元形状寸法計測装置
KR100240985B1 (ko) * 1995-12-05 2000-03-02 이구택 강판 코일의 텔레스코프 측정장치 및 이를 이용한 측정방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03186706A (ja) * 1989-12-15 1991-08-14 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 3次元形状寸法計測装置
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