JPS63271797A - メモリの状態を保持する回路 - Google Patents

メモリの状態を保持する回路

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JPS63271797A
JPS63271797A JP63011015A JP1101588A JPS63271797A JP S63271797 A JPS63271797 A JP S63271797A JP 63011015 A JP63011015 A JP 63011015A JP 1101588 A JP1101588 A JP 1101588A JP S63271797 A JPS63271797 A JP S63271797A
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JP
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memory
circuit
gate
coupled
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JP63011015A
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カービイ・エス・ハーレンベツク
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Intel Corp
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Intel Corp
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • GPHYSICS
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    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/20Initialising; Data preset; Chip identification
    • GPHYSICS
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    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電力を受けている間、およびリセットされてい
る状態の間にメモリの状態を保持する改良した回路に関
するものである。
〔従来の技術〕
電気的にプログラマブルである読出し専用メモIJ (
EFROM)の製造および使用は従来周知の技術である
。プログラマブルメモリおよびプログラマブル論理装置
を得るために1各種の装置およびアレイ構造においてE
PROMが用いられる。
EFROMは電荷をそれのセル内に貯え、その電荷を長
時間保持する性能を有する。セルに電荷を貯えることに
よjり EFROMがプログラムされていると、そのl
PROMはプログラムされたといわ九る。電荷を貯えて
いない時は、lPROM  はプログラムされていない
状態すなわち消去状態にある。電力が回路から断たれて
いる時にもEFROMは電荷を保持できるから、回路す
なわち装置が電力を断たれている時にも記憶状態を保持
できる。しかし、装置に電力が再び供給されると、その
装置が動作する前KEPROMの状態を決定せねばなら
ない。
与えられた装置へ電力が供給される初期設定段階の間に
、装置のI P ROMの種々の状態を決定するために
リセット動作が開始される。従来は、EPROMの状態
を決定するために1 コンデンサおよびその他の回路が
初期設定動作を起動していた。
典型的には、それら従来の回路はEFROMの状態を読
出し、その状態を処理のためにそれぞれのピッド線に保
持する。しかし、はとんどの場合には、情報をビット線
へ与えるためK EPROMは常に読出されている。典
型的にはそれらの電源投入保持回路は、EPROMの状
態がピッド線に保持された後でも電力を消費する読出し
回路を必要とする。
〔課題〕
したがって、必要なものは、KFROMの読出しが行わ
れると電力消費量が最少値に制限されるように1与えら
れ九EFROMの状態を保持し、しかもEPROM読出
し回路をターンオフする改良した回路である。
〔発明の概要〕
本発明は、lPROMセルの状態をビット線に保持する
改良した回路を提供する庵のである。NORケートの第
1の入力端子がバイアストランジスタを介してlPRO
Mセルへ結合される。そのバイアストランジスタがイネ
イブルされると、メモリセルの状態がNORゲートの第
1の入力端子へ結合される。そのNORゲートの第2の
入力端子がリセット信号へ結合される。
電源投入中のようなリセット状態の間にリセット信号が
起動される。リセット信号が低くなると、現在第1の入
力端子に存在するメモリ状態の逆がノアゲートの出力端
子へ与えられる。インバータが出力端子の状態を第1の
入力線へ帰還として結合する。メモリ状態の読出しを終
らせるためにバイアストランジスタの起動が停止される
と、ノアゲートは保持されて出力端子を定常状態にする
保持によってメモリセルとバイアストランジスタはター
ンオフされ、したがって回路によ少消費される電力は少
くなる。
この明細書においては、保持が行われた後で電力消費量
が制限されるような、電源投入中およびリセット状態中
KEPROMセルの状態を保持する回路について説明す
る0本発明を完全に理解できるようにするために、以下
の説明においては、特定のトランジスタ、EPROMセ
ル等のような特定の事項の詳細について数多く述べであ
る。しかし、そのような特定の詳細事項なしに本発明を
実施できることが当業者には明らかであろう。その他の
場合には、本発明を不必要に詳しく説明して本発明をあ
いまいにしないようにするために、周知の回路について
は説明しない。更に、EPROMセルに関連して本発明
の好適な実施例を説明するが、与えられたビット線上に
配置された複数のEPROMセルを用いるその他の装置
でも本発明を実施できることは当業者には明らかであろ
う0 〔実施例〕 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
まず、MO8浮動ゲー) EPI’LOMセルが示され
ている第1図を参照する。EPROMセル10は、ドレ
イン13と、ソース14と、制御ゲート11と、浮動ゲ
ート12とを有する装置で構成される。典型的な浮動ゲ
ー) EPROMセル10の製造は周知である。また、
EPROMセル10の動作も周知である。EPROMセ
ル10がプログラムされていない時は浮動ゲート12は
非充電状態にあるoEPROMEPROMセル10ムす
るためには、ドレイン13とソース14におけるドレイ
ン−ソース間電位よυ高い電圧を制御ゲート11に印加
する。
そうすると充電電圧電位が制御ゲート11とドレイン1
30間に加えられる。そのために電子がチャネル15か
ら浮動ゲート12へ引かれる。浮動ゲート12における
それらの電子は捕えられて、制御ゲート11から充電電
圧が除去された後でも浮動ゲート12に捕えられたt″
1となる。浮動ゲート12に捕えられた電子によって一
層高い充電電圧電位が加えられる。その一層高い充電電
圧電位はEPROMセル10がプログラム状態にある限
シ浮動ゲート12に残っているままである。制御ゲート
11に印加された充電電圧と、浮動ゲート12に残って
いる電位は、正常な動作中に遭遇する典型的なゲート々
の電圧よシはるかに高いのが普通である。
動作時には、EPROMセル10を動作させ、またはE
PROMセルの動作を停止させるためにデジタル制御信
号が制御ゲート11へ与えられる0通常は、制御ゲート
11において遭遇するそれらの電圧は0ボルトと5ボル
トである。プログラムされていない状態においては、浮
動ゲート12が充電されていないと、制御ゲート11に
おける0ボルトと5ボルトのデジタル制御信号がlPR
OM セル10のチャネル15の導通と非導通を決定す
る。
しかし、プログラムされている状態においては、浮動ゲ
ート12が充電されると、チャネル15の非導通は制御
ゲート11上の信号により制御されることはない。プロ
グラム状態において浮動ゲート12が充電されると、チ
ャネル15はどのような電流も流さない。浮動ゲート1
2が充電されない(消去される)と、EPROMセル1
0は制御信号入力にしたがって制御ゲート11に応答す
る。
次に1本発明の保持回路20が示されている第2図を参
照する。第1図に示されているEPROMセル10と同
様に機能するEPROMセル21のソースがVSSへ結
合され、ドレインメバイアストランジスタ22のソース
へ結合される。そのバイアストランジスタ22のド°レ
インが回路点25へ結合される。ノアゲート26の第1
の入力線2Tが回路点25へ結合され、第2の入力線2
8が入来FOR(電源投入リセット)信号へ結合される
。ノアゲート26の出力線29が出力をビット線30へ
与えるために結合される。その出力線29はインバータ
32の入力端子へも結合される。そのインバータ32の
出力端子が回路点25へ結合される。バイアストランジ
スタ22のゲートがバイアス信号へ結合される。そのバ
イアス信号のことを第2図においてはvBIASで示し
ている。
動作時には、■   がトランジスタ22を起IAS 動した時にEPROMセル21の状態が読出される。
トランジスタ22のゲートに存在する高いvBIAS信
号がそのトランジスタ22をターンオンしてEPROM
セル21の読出しを起動させる。電源投入中またはリセ
ット状態中にEPROMセル21のゲートへ5ボルトが
加えられるo EPROMセル21がプログラムされた
状態に充電されるとすると、それのゲートに5ボルトが
加えられても何の作用も生じない。しかし、EPROM
 セル21が消去された状態にあれば、それのゲートに
加えられた5ポルトはそのEPROMセル21を導通さ
せる。したがって、信号V   がバイアストランジス
タIAS 22を起動して、5ポルトがEPROMセル21のゲー
トへ加えられると、バイアストランジスタ22とEPR
OMセル21が導通して、EPROM セル21がプロ
グラムされていなければ回路点25における電位を下げ
る。
次に、第3図に示されているタイミング図を参照して、
回路20の動作を信号PORとV   をIAS 示すタイミング図に関連して説明することにする0初期
設定動作中は、時刻t1に信号PORが起動されて入力
線28を高レベルにする。その時刻t1の前またはその
時刻の後に、信号vBIAs は高レベルにされるから
、時刻t2においては信号PORとvBIASは共に高
レベルである。それから、時刻t3  には信号FOR
は低レベルとなる。EPROMセル21の状態を読出す
ために有限の時間が与えられるように、時刻t2とt3
の間には知覚できる長さの時間が存在しなければならな
い。入力線28にある信号FORが低レベル状態になる
時刻t3に@27の状態が回路点25の状態により決定
される。EPROMセル21がプログラムされていたと
すると、EPROMセル21は導通されず、回路点25
は高レベル状態に留まる。
時刻t3における回路点25での高レベル状態がNOR
ゲート26の出力端子における低レベル信号へ変えられ
、ビット線30へ低レベル出力として出力される。その
低レベル出力はインバータ32へ与えられ、そのインバ
ータによりAレベル信号に反転されてから回路痘25へ
出力される。信号vBIASが低レベルになってバイア
ストランジスタ22を起動する時刻t4に、回路点25
とNORゲート26の入力線27がインバータ32の帰
還により出力線29に保持される。出力線29におけ林
態をインバータ32により反転させて回路点25を保持
できるようにする有限長の時間が移行せねばならない。
時刻t4にバイアストランジスタ22は起動を止められ
、そのためにEPROMセル21の読出し動作が止めら
れる。この時刻t4において、ビット線30は更に処理
するためKEPROMEPROMセル21た状態を含む
。更に、NORゲート26とインバータ32が定常状態
保持回路を構成するように、インバータ32を介して行
われる帰還が回路点25を保持する。したがって、この
時点でEPROMセル21とバイアストランジスタ22
をターンオンでき、それによりそれら2つの装置による
消費電力は少くなる。
あるいは、時刻t 3 K EPROMセル21が消去
状態であったとすると、回路点25は低レベル状態に引
下げられて入力線2Tも低レベルにする0るからNOR
ゲート26の出力は高レベルである。
NORゲート26の出力線29における高レベル状態は
インバータ32を介して帰還されて回路点25へ低レベ
ル出力を与える。したがって、EPROMセル21がプ
ログラムされていないとすると、出力線29における高
レベル信号の反転のために回路点25は低レベル状態に
保持される。時刻t4K EPROMセル21とバイア
ストランジスタ22がターンオフされると、回路点25
は出力線29における信号が反転されたものに再び保持
される。
要約すると、回路点25はEPROMセル21の状態に
最初に保持され、インバータ32による帰還のために、
 lPROMセル21がターンオフされた後でも回路点
25はその状態を維持する。
次に1第2図に示されているNORゲート26とインバ
ータ32の回路構成が詳しく示されている第1図を参照
する。好適な実施例においては、NORゲート26とイ
ンバータ32はCMOS装置である。NORゲート26
は4個のトランジスタ41〜44で構成される。信号F
ORを含む入力線28がトランジスタ41.42のゲー
トへ結合される。
入力線27がトランジスタ43と44のゲートへ結合さ
れる。トランジスタ42のドレインはVaaへ結合され
、トランジスタ42のソースがトランジスタ43のドレ
インへ結合される。トランジスタ43のソースとトラン
ジスタ41.44のドレインが出力線29へ一緒に結合
される。トランジスタ41.44のソースがVssへ結
合される。この場合にはVssはアースである。トラン
ジスタ41.440ゲートが高レベルになるとそれらの
トランジスタは起動され、トランジスタ42.43はそ
れぞれのゲートが低レベルになった時に起動される。入
力線27が低レベル状態であるとトランジスタ44が起
動され、出力線2Bへ低電位が与えられる。信号FOR
が高レベルの時に出力線29に低レベル状態が存在して
トランジスタ41を起動する。入力線2Tと28が共に
低レベル状態にある時はトランジスタ42,43が起動
されて出力線29に高レベル信号を与える。
インバータ32はトランジスタ50と51で構成される
。トランジスタ50のドレインはVecへ結合され、ト
ランジスタ50のソースとトランジスタ51のドレイン
は回路点25へ結合される。
トランジスタ51のソースはVI+1へ結合される。
インバータ32への入力線はトランジスタ50゜51の
ゲートへ結合される。トランジスタ50のゲートが低レ
ベル状態になった時にそのトランジスタは起動され、ト
ランジスタ51のゲートが高レベル状態になった時にそ
のトランジスタは起動される。出力線29が高レベル状
態にある時はトランジスタ51は導通して、回路点25
が低レベル状態にされる。
第1図には特定の構造を示しであるが、同じ機能を果す
ために他の回路を構成できる。更に、好適な実施例の保
持回路20にはNORゲートとインバータを用いている
が、本発明で達成されるのと同じ論理真理値表を達成す
るために他のゲートも使用できる。また、ただ1つのE
PROMセル21を示したが、EPROMアレイ構造の
装置を用いる場合のように1本発明の要旨を逸脱するこ
となしに複数のEFROMセルを回路点25に並列また
は直列に結合できる。
以上、EPROy@持回路について説明した0
【図面の簡単な説明】
第1図はKPROMセルの回路図、第2図は本発明の保
持回路を示す回路図、第3図は第2図に示されているリ
セット信号とバイアス信号を示すタイミング図、第1図
はNORゲートとインバータを0MO8技術で構成した
例を示す第2図の保持回路の回路図である。 10・・―・EFROMセル、20・・・・保持回路、
22・・・・バイアストランジスタ、26・・・・No
Rゲ−ト、32・・・・インバータ。 %許出願人インテル・コーポレーション代理人 山川政
樹(1812名) 手続補正書(太〜) 1.事件の表示 昭和ら3手持  許願第1101う号 3、補正をする者 事件との関係    特    許出願人名相演氏名)
イシテ(し・コーホ1し−シ目シLz)別紙の通F) 
   (4−>図面の浄書(内容に変更なし)7、前記
以外の発明者、特許出願人または代理人発明者

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、メモリの状態を保持する回路であつて、前記メ
    モリの前記状態を読出すために前記メモリヘ結合される
    とともに、前記メモリの前記読出しを起動するイネイブ
    ル信号を受けるためにも結合される第1のゲート手段と
    、 この第1のゲート手段が起動された時に前記メモリの前
    記状態を受けるために前記第1のゲート手段へ結合され
    る入力端子と、前記メモリの前記状態により決定される
    出力端子を有する第2のゲート手段と、 前記第1のゲート手段が起動されなくなつた時に前記入
    力端子が前記メモリの前記状態に一致するために保持さ
    れるように、前記第2のゲート手段の前記出力端子と前
    記入力端子へ結合されて、前記入力端子を前記メモリの
    前記状態に保持させる帰還手段と、 を備え、それにより保持が行われることを特徴とするメ
    モリの状態を保持する回路。
  2. (2)、請求項1記載の回路において、前記メモリは電
    気的に消去可能な読出し専用メモリで構成されることを
    特徴とする回路。
  3. (3)、請求項2記載の回路において、前記第2のゲー
    ト手段はNORゲートで構成されることを特徴とする装
    置。
  4. (4)、請求項3記載の回路において、前記帰還手段は
    インバータであることを特徴とする回路。
  5. (5)、メモリセルのビット状態をビット線に保持する
    回路において、 前記メモリセルの前記状態を読出すために前記メモリセ
    ルヘ結合されるとともに、前記メモリセルの前記読出し
    を起動するイネイブル信号を受けるためにも結合される
    第1のゲート手段と、この第1のゲート手段が起動され
    た時に前記メモリセルの前記状態を受けるために前記第
    1のゲート手段へ結合される第1の入力端子と、リセッ
    ト信号を受けるために結合される第2の入力端子と、前
    記ビット線へ結合され、前記リセット信号が開始された
    時に前記メモリの前記状態により決定される出力端子と
    を有する第2のゲート手段と、前記第1のゲート手段が
    起動されなくなつた時に前記第1の入力端子が前記メモ
    リセルの前記状態に一致するために保持され、前記メモ
    リが起動されなくなつて電力を節約するように、前記第
    1の入力端子を前記メモリの状態に保持するために前記
    第1の入力端子と前記出力端子へ結合される帰還ループ
    と、 を備え、それにより電力消費量が節約されることを特徴
    とするメモリセルのビット状態をビット線に保持する回
    路。
  6. (6)、請求項5記載の回路において、前記メモリセル
    は電気的に消去可能な読出し専用メモリ(EPROM)
    で構成されることを特徴とする回路。
  7. (7)、請求項6記載の回路において、前記第2のゲー
    ト手段はNORゲートで構成されることを特徴とする回
    路。
  8. (8)、請求項7記載の回路において、前記帰還ループ
    はインバータを含むことを特徴とする回路。
JP63011015A 1987-01-22 1988-01-22 メモリの状態を保持する回路 Pending JPS63271797A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US005925 1987-01-22
US07/005,925 US4803659A (en) 1987-01-22 1987-01-22 EPROM latch circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63271797A true JPS63271797A (ja) 1988-11-09

Family

ID=21718390

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63011015A Pending JPS63271797A (ja) 1987-01-22 1988-01-22 メモリの状態を保持する回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4803659A (ja)
JP (1) JPS63271797A (ja)
KR (1) KR950004863B1 (ja)
GB (1) GB2200264B (ja)

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Also Published As

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GB2200264B (en) 1991-02-27
US4803659A (en) 1989-02-07
GB2200264A (en) 1988-07-27
KR880009378A (ko) 1988-09-15
KR950004863B1 (ko) 1995-05-15
GB8800148D0 (en) 1988-02-10

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