JPS63264715A - 焦点検出装置 - Google Patents

焦点検出装置

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JPS63264715A
JPS63264715A JP4723087A JP4723087A JPS63264715A JP S63264715 A JPS63264715 A JP S63264715A JP 4723087 A JP4723087 A JP 4723087A JP 4723087 A JP4723087 A JP 4723087A JP S63264715 A JPS63264715 A JP S63264715A
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focus
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light
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Hisashi Tanii
谷井 久志
Yoshiaki Horikawa
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、焦点検出装置に関する。
〔従来の技術〕
位相ずれ量を検出する事によって焦点ずれ量を求める焦
点検出方式は、異なる二つの光路を夫々通過する二光束
による二像の光強度分布を比較演算する方式や、同一光
学系の異なった二つの領域を夫々通過した二光束による
光強度分布パターンを比較演算する方式が知られている
。このような焦点検出方式として前者としては、第23
図のように措影レンズ1)による像をコンデンサーレン
ズ12と一対のセパレータレンズ(再結像レンズ)13
から成る再結像光学系を用いて再形成した二像の光強度
分布を比較演算する方式が、後者としては第24図のよ
うな特公昭57−49841号公報に記載されたハネウ
ェル社の方式、即ち1影レンズ21の射出瞳の異なる領
域を通過する二光束による光強度分布パターンを比較演
算してその位相ずれ量から焦点検出を行なう方式がある
第23図の方式においては、コンデンサーレンズ12は
↑扇形レンズ1)の射出瞳をセパレータレンズ13上に
投影し、セパレータレンズ13は撮影レンズ1)による
一次像10を二次像1+、Igとしてセンサー14上に
再形成している。撮影レンズ1)が前ピンの場合二次像
1+、Igは互いに近づき、後ピンの場合は二次像It
、Ig は互いに離れる。即ち、二次像It、1tの相
関演算を行い、それらの相互の間隔が合焦時の間隔に対
しどのように逸脱しているか判定する事によって焦点検
出を行なう事ができる。
第24図の方式においては、投影レンズ21の射出瞳の
上側からきた光束と下側からきた光束を上下に分割する
ために、フィールドレンズアレイ23を用いている。レ
ンズ22は撮影レンズ21の瞳面から発した光束を平行
光にするためのいわゆるコンデンサーレンズである。フ
ィールドレンズアレイ23の各レンズレットに対し上側
光束24を受けるセンサーを1)is下側光束25を受
けるセンサーをal とし、a列における光強度分布パ
ターンとb列における光強度分布パターンを比較演算し
てずれ量を求めている。
又、他の焦点検出方式としは、二重像合成式により、被
写体までの距離を直接求める方式もある。
即ち、それは特公昭57−49884号公報などに開示
されている三角測距方式であり、その具体的な構成例を
第25図に示す、この場合、光路1゜光路2を通過して
形成された二像の相対的位置ずれ量を比較演算により求
める。ミラー31.32゜結像レンズ33.34は、光
軸30に対し対称に配置されている。又、一方のミラー
32を可動ミラーとし、無限から至近まで連続的に走査
しながら連続的に相関出力を求め、相関出力が極値をと
った位置でのミラー角から被写体距離を演算し、撮影レ
ンズを所望の位置に繰り出す方式もある。
尚、第3図において、被写体からの光は結像レンズ33
.34を通過した後三角プリズム35によって光路が仰
げられ、ラインセンサー36上に並列に二像が形成され
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、従来の位相差検出による焦点位置検出装置に
おいては、規則的な周期パターンを有する被写体に対し
ては合焦検出が困難であるという問題がある。これは被
写体が周期物体である為にその周期と同じたけ像がデフ
ォーカスにより横ずれした場合、相関演算値が再び金魚
信号を出力するような極値となるためである。
例えば、第26図は非周期物体の二つの再結像された像
とその相関演算値を示している。二つのセンサー列をa
列、b列とし、その1番目の画素出力をal 、b(と
すると、相関演算式は例えばk。
wkl であり、Sを変えて相関演算を繰り返すとF(3)のカ
ー・ブが得られるのである。又、二つの像の位相がδだ
けずれていると、F (s+のカーブの極値をもつ位置
もδとなり、像がδだけずれていることがわかり、これ
からデフォーカス量が計算できる。
しかるに、周期物体であると、第27図のように相関値
の極値をもつ位置が複数になりどこが合焦位置なのか判
断できなくなる。
又、−列のセンサー列を用いて合焦検出を行なう場合、
測距範囲の大きさと合焦精度は通常相反する関係にある
。センサー列においては各画素が通常等間隔に配列され
ており、その各間隔を1ピツチとすると、合焦精度は通
常1ピツチに対する相対量として表わされる0合焦精度
を1/M0ピッチとして1ピツチ当たりの憑影レンズの
像面におけるデフォーカス量をαとすると、像面での合
焦精度ΔはΔ=±−αである。又、全画素数をe N、(Noは一定)とすると、像面での測距可能なデフ
ォーカス範囲はΣ=±N0αである。αを大きくすると
、測距範囲Σは大きくなり好ましいが、合焦精度Δも大
きくなるため精度は劣化する。
又、αを小さくすると合焦精度Δは良くなるが、測距範
囲Σは小さくなる。即ち、単一の合焦焦点検出系におい
ては合焦精度と測距範囲とは両立しない。
又、三角測距法は無限遠から至近までの広い範囲を確実
に測距できる反面、合焦精度が低いという問題があった
本発明は、上記問題点に鑑み、測距範囲が広く、合焦精
度が良いのみならず、周期的物体にも合焦可能な焦点検
出装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕周期的物体に
対する正確な合焦位置を求めるためには、従来のように
単一の位相差検出による相関演算のみでは困難である。
そこで、もう一つの位相差検出若しくは二重像合成式に
よる相関演算値をも参考にする事によって正しい極値の
位置がわかる0周期的物体に対しては、双方共周期的に
極値をとるが、同一デフォーカス量に対する像のずれ量
の関係を違えておけば、双方の相関演算値を比較するこ
とによって正確な合焦位置を求めることができる。第1
図はその様子を表わしている。
但し、横軸は像のずれ量から換算したデフォーカス量を
、縦軸は相関演算値を示している。即ち焦点検出系Iに
よるものと焦点検出系Hによるものとは相関演算値のグ
ラフの周期が異なっており、両者共に極値をとる点から
ピントずれ量が求められる0例えば、第1図においては
点Aが極値であると考えられる。第1図において、焦点
検出系Iの周期をPI、焦点検出系■の周期をPIとじ
、PI とP2の比を素数m、fiを用いP+/Pg=
m / nと表わすことができる。すると、デフォーカ
ス量nPl−mP!の位置が検出範囲に含まれる場合は
相関演算値が共に極値をとるため誤信号が出る。そこで
、m、nは共に大きな数であること即ち少なくともmn
>10が望ましい、理想的にはPl とP3の比は無理
数であることが望ましい。
又、°単一の焦点検出系においては合焦精度と測距範囲
とは両立しないため、合焦精度は若干劣るものの測距デ
フォーカス範囲の広い焦点検出系Iと、測距デフォーカ
ス範囲は挾いながらも合焦精度の優れた焦点検出系■と
の両方を構成する。デフォーカス量が非常に大きい場合
には焦点検出系Iで方向性を含めた測距を行い、合焦に
近づいてきた時若しくは初めから合焦に近い場合は焦点
検出系■で正確な合焦検出を行なうようにすることが可
能になる。こうして、二系統の焦点検出系からの出力信
号を同時に演算処理する事により、より広いデフォーカ
ス範囲でありながら、より精度の良い合焦能力を実現す
ることが可能になる。
第2図は本発明焦点検出装置における信号処理のフロー
の一例を示したものである。焦点検出系■は合焦精度は
若干劣るものの測距可能領域の広い検出系であり、焦点
検出系■は測距可能領域は狭いながら合焦精度の優れた
検出系である。測距は焦点検出系■と焦点検出系■とで
共に行なう。
ここで焦点検出系■の信頼性を計算して、信頼性の高い
場合にはその信号に従って合焦を行なう動作に入る。信
頼性の計算についてはすでに種々提案されているので、
ここでは特に述べない、像位相差法をはじめ位相差検出
によって焦点検出を行なう場合、被写体が周期物体であ
る場合には誤った金魚信号を出す場合のあることが知ら
れている。
これは被写体が周期物体であるために、その周期と同じ
たけ像がデフォーカスに従って横ずれした場合、金魚信
号にピークを生じるがらである。即ち、相関演算値が複
数の極値をもつのである。そこで、デフォーカス量と像
のずれ量の関係が全く異なる焦点検出系1と焦点検出系
■の両方の相関値を比較することで正しい合焦位置が求
まる。即ち、両焦点検出系の合焦位置を比較してほぼ等
しい場合は合焦と判定し、等しくなければ更に隣の極値
を比較5していくことにより正しい極値位置が求まる。
次に、焦点検出系■の信号信頼性の低い場合には、焦点
検出系■の測距信号により駆動を開始する。その後連続
的に焦点検出系lと焦点検出系■の測距信号を検出し、
焦点検出系■の測距信号の1δ転性の高まってくるのを
待って、レンズ駆動を修正して合焦を行なう、このよう
に、二つの合焦i構を有機的に結びつけることによって
、高速且つ高精度の焦点検出装置を実現することができ
る。
〔実施例〕
以下、図示した各実施例に基づき本発明の詳細な説明す
る。
第3図は本発明の第一実施例を示したものである。即ち
、焦点検出系■として三角測距装置をペンタプリズム部
に、焦点検出系■としてTTL式像位相差検出方式の合
焦装置をボディ底部に夫々配した一眼レフレックスカメ
ラであって、41゜42は三角測距の測距窓である。第
4図は該カメラの断面を示しており、リターンミラーの
一部をハーフミラ−とし、そこを通過した光束をサブミ
ラーでボディ底部の合焦装置49に導いている。
49は原理的には第23図で示したTLL像位相差検出
方弐合焦装置であり、本実施例においてはコンデンサー
レンズの一部とセパレータレンズが一体化されている。
第5図は三角測距装置の構成を示しており、43.44
は結像レンズ、45゜46はミラー、47は三角プリズ
ム、48はセンサーであって、小型化のためにセンサー
48を三角プリズム47の前方に配している。また結像
レンズ43.44は夫々ミラー45.46よりも物体側
にある。
第6図は本発明装置に適用される電気回路のブロック図
である。第2図の焦点検出系Iに相当する三角測距装置
Xと焦点検出系Hに相当するTT)5像位相差式台焦装
置Yとが設けられており、両者共基本的には二像の相関
演算を行ないずれ量を検出する機構を持っている。又、
それらのずれ量に応じて撮影レンズを駆動するレンズ駆
動装置Zも有している。
再装置1.■とも、CCD上に形成された二像が二つの
受光′素子列P+、Pgにより光電変換される。各受光
素子列の画素数はN=64とする。
各画素出力A (N) 、 B (N)はCCDドライ
バにより順次A/D変換器に送られてA/D変換され、
メモリーに格納される。メモリーに一旦格納された画素
出力は相関演算回路に入力される。各相関演算回路では
、第1の受光素子列P1を形成している画素列AM  
(N=1〜64)と第2の受光素子列ptを形成してい
る画素列B、(N−1〜64)の画素データに基づいて
相関演算を行なう。
但し、K、、  Kz は例えばに+  −21,Kt
 −43であり、Sは−20〜+20である。この相関
演算回路で演算されたF (slが最小値検出回路に入
力されると、この最小値検出回路では、F (slが最
小になるときのずれ量が検出される0次に、F (s)
の最小値を与えるずれff1s、がレンズ駆動装置Zの
補間演算回路に入ノJされると、この補間演算回路では
、ずれff1s、に基づき補間値ΔSが求められる。
この補間値ΔSは、 Δ S−F  (So) /  (F  (So)  
+F  (So+  1)  1又は ΔS ” F (So) / (F (So)→−F(
S、−1)1となるので、次のずれ量計算回路では、こ
の補間値ΔSを考慮したずれits’が計算される。
即ち、s’=s、 +ΔSであるから、S ′=So 
+F (So) / iF (So) 十F (SO+
 1)1 又は、 S ’−+3o +F (SO) / (F (so)
 +F(S、−1)) がずれ量計算回路で求められる。
又、焦点検出系■ (三角測距装置X)においても、上
記と同様の相関演算を行ない、ずれls”を導出してい
る。焦点検出系■(TTL式像位相差式台焦装置1!!
Y)については各画素出力によるコントラスト演算と相
関演算計算から信顧性判定を行っており、その結果から
ずれ量S゛とS“を選択し、レンズ駆動装置Zに伝達す
る。尚、レンズ駆動中も連続的に焦点検出を行っており
、最終的には焦点検出系Hの信号信頼性が高い時点で、
そのずれls″から合焦を行なう。又、初めから信頼性
の高い場合は、ずれ量S゛を用いる。
尚、像位相差法における信頼性の判定には、三角側距離
の値を参考にする方法もある。即ら、三角測距も二像合
致式であるから周期的に極値をとるが、デフォーカス量
と像のずれ量の関係が像位相差法を全く異なる値をもつ
から二つの結果を比較すれば正しい値がわかる。第7図
にその様子を表わしている。第7図において、上は三角
測距の二像合致によるものであり周期物体だと周期的に
極値をもつが、その周期は下の像位相差法によるものと
全く異なっている。従って、A、B、Cの極値位置のう
ちAが合焦位置に対応する極値位置と判断できる。即ち
、三角測距信号の夫々の合焦位置を比較してほぼ等しけ
れば正しいと考えられ、等しくなければ隣りの極値位置
を更に比較すれば正しい極値位置が求まる。
第6図のレンズ鏡筒内に設けたROMには逼影゛レンズ
のFナンバー、像のずれ量から撮影レンズのデフォーカ
ス量を求めるための変換係数等焦点検出に必要なデータ
が予め記憶されている。そのデータがデフォーカス変換
回路に逐次入力され、そこで演算されたデフォーカス量
に基づきレンズ駆動量制御回路が動作し、撮影レンズを
合焦位置に移動させる。そして、エンコーダによりレン
ズ移動量が検出され、所定のデフォーカス量を移動させ
た時にレンズ停止の判定が出る。そこで合焦駆動の動作
が終了する6表示装置は、合焦駆動の終了等の情報信号
を受けて表示を行なう。
第8図は本発明の第2実施例を示したものである。即ち
、レンズシャッターカメラに三角測距機構とTTL式像
位相差検出機構とを組み込んだものである。51.52
は三角測距の測距窓であって、その内部構造は第25図
に示したものである。
53.54は後述の再結像レンズの撮影レンズの瞳上の
像であり、実質的測距窓である。第9図(A)に示した
ように、撮影レンズ57中にハーフプリズム57aを用
いることによりTTL式像位相差法による焦点検出装置
50(第9図(B))を組み込むことが出来る。55は
コンデンサーレンズ、56は一対の再結像レンズ、58
は補正用レンズであり、補正用レンズ58はコンデンサ
ーレンズ55付近に被写体像を形成して、フィルム等偏
量59としている。また、焦点検出装置50として、第
24図で示した位相差検出装置50′を適用することも
できる。
第10図は本発明の第3実施例を示したものである。即
ち、これは三角測距機構とTTL式像位相差検出機構と
を組み込んだ一眼レフレックスカメラであるが、三角測
距機構が第1実施例と異なっている。
第1)図にその三角測距機構を示す、基本的には既に公
知の三角測距装置の構成をとって′いる。
61及び62は測距窓を兼ねた結像レンズ、63乃至6
6は結像レンズ61.62による像をフォトダイオード
アレイ67に導くミラーである。68は結像レンズ62
によって得られる基準像を得るフォトダイオードエレメ
ントである。69は結像レンズ61によって得られる被
写体の距離によって横ずれする像を得るフォトダイオー
ドエレメントである。そして、これらのエレメント68
゜69で得られた像を比較することによって被写体まで
の距離を測定される。70は発光素子1)からの光を被
写体に投影する光投影レンズである。
光を被写体に投影することにより、近距離であれば暗闇
でも或いは被写体にコントラストが無い場合でも測距す
ることができる。投影はパターン状でもスポット状でも
良く、或はそのような特定のパターンを形成せず、単に
被写体に光を照射するだけでも良い。
第12図にTTL式の像位相差法の検出機構を示す、7
2は影像レンズ、73はクイックリターンミラー、74
はミラー73上に設けられたビームスプリ・7り、75
はビームスプリッタ74の後方に位置する副ミラー、7
6はti像レしズ72の瞳を副ミラー75.ミラー77
を介して二つの再結像レンズ78.79に投影する瞳投
影レンズ、80は再結像レンズ78.79によって得ら
れる二つの像を検知するイメージセンサ−である。尚、
三角測距に用いた光投影レンズ70からの投射光は像位
珀差法用としても有効であり、暗闇や被写体のコントラ
スト不足にも拘らず高精度の焦点検出が可能となる。又
、第1O図における68′。
69′はTTLTTL像位相差法結像レンズ78゜79
のti像レしズ72の瞳上の像であって、実質的測距窓
である。
尚、カメラに三角測距機構と像位相差検出機構を組み込
む場合、種々の変形が考えられる。
第13図は第3実施例における像位相差検出機横の他の
例を示している。ここでは第12図における各部材72
,73,74,75.77は省略しである。81は三角
プリズムを利用した全反射ミラーであって、普通のミラ
ーでも良い、82はレンズ、83は像面と共役な位置に
配置された赤外LEDである。この場合、赤外L’ED
83からの投射光はレンズ82を通してTTL式に被写
体に投射される。
第14図は望遠レンズの先端に三角機構を設けた例を示
している。これは、広角レンズや標準レンズではTTL
TTL像位相差法のみでもかなり高性能の焦点検出装置
を実現できるため、ボディーに三角測距!!!&横を設
けずに必要な望遠レンズのみに設けておいても良く、そ
の結果ボディに対する負担が軽くなるという利点がある
。この場合、三角測距窓をレンズの前玉84の外に設け
ても良いが、前玉84の中に設ける方が外見は良い、尚
、85はレンズの後玉である。
第15図は三角測距機構をストロボ86に組み込んだ例
を示している。この場合、ストロボに(長点を設けて測
距情報等のやりとりができるようになっている。
第16図は本発明の第9実施例を示したものであり、こ
れはTTL像位相差法による焦点検出系を二つ併設した
合焦装置をボディ底部に配した一眼レフレックスカメラ
である。その合焦装置90の構成を第17図に示した。
これは、コンデンサーレンズ91.92とハーフミラ−
93,再結像レンズ95で構成される焦点検出系■と、
コンデンサーレンズ91とハーフミラ−93とミラー9
4と再結像レンズ97で構成される焦点検出系■とから
成る。第18図の95’、95“は、再結像レンズ95
上の絞りがコンデンサーレンズ91゜92によって撮影
レンズの瞳上に投影された像であって、実質的測距窓で
ある。又、第18図の9?’、97’は再結像レンズ9
7上の絞りの投影レンズの瞳上の像である。又、設計条
件を変えれば、レンズ92を用いることなくコンデンサ
ーレンズ91を再検出系で共有することもできる。
ここで、開口95’、95“の重心光束(再結像レンズ
の中心を通る光線により規定される光束)のFナンバー
FW、と関口97’、97’の重心光束のFナンバーF
w、は、Fwl #FWtの関係にあることが望ましい
、以下にこのことを説明する。
センサー98上での像位相差量をP1検出する重心光束
のFナンバーをFw、焦点検出光学系の投影倍率をβと
すると、検出デフォーカス量はFw D−□・Pとなる。従って、焦点検出系!、■β に対する検出デフォーカス量は次のようになる。
ここで、第1結像面において周期Sの物体が形成される
と、夫々β1S、β2Sの周期的物体として再結像され
て 毎に周期的に合焦信頼が得られる。即ち、第1図でP 
+ −F W + S 、  P x =F W z 
Sとした場合に相当し、Pl ≠P8であるためにはF
W、≠Fw。
でなければならない、従って、Fwl ≠Fwtの場合
については相関演算値が両方とも極値となる位置を検出
することによって周期物体に対する合焦検出が可能にな
る。
又、この実施例では、焦点検出系lと焦点検出系■で検
出する画面上の位置が一致している。ハ−フミラー93
によって光束が画然点検出系I。
■に二°分されるので、光量が1/2になっている。
尚、f? Wl f−F w、の値が非常に小さいと撮
像レンズのFナンバーが非常に小さい即ち逼影レンズが
明るい場合しか焦点検出ができなくなるので、掻端に小
さくない方が望ましい。一方、F wI +FW2が大
きいと合焦精度即ち検出デフォーカスβ い方が望ましい。よって、F W 1 < F W @
 <2 F w I(F w H≠Fw、)が適当と言
える。
第19図は本発明の第5実施例を示しており、これもT
TL式像位相差法による焦点検出系を二つ一眼レフレッ
クスカメラのボディ内に併設したものである。RMは中
心がハーフミラ−となっているリターンミラー、SMは
サブミラー、C1゜Czはコンデンサーレンズ、H+、
Ht は再結像レンズ、S、は光電変換素子である。下
記表1゜2に第5実施例のレンズデータを示す、Rは曲
率半径、Dはレンズ肉厚又は空気間隔、ndはd線の屈
折率、νdはアラへ数、β1はコンデンサーレンズC1
,再結像レンズH4より構成される光学系lの像倍率、
β2はコンデンサーレンズCt、再結像レンズH2より
構成される光学系Hの像倍率、Fw、 は光学系Iの検
出重心光束のFナンバー、Fwg は光学系■の検出重
心光束のFナンバーである。
表 1 (光学系I) 表 2 (光学系■) β+ =0.160 、  FWz −12,0887
、FWg /βt −75,554F w + / F
 wz =0.8770にの第5実施例の場合、光学系
!と光学系■で検出する画面上の位置が少し異なってい
る。ここで、光学系lの方がFw/βが小さいため合焦
に近い場合に使われる。そこで、測距枠には光学系■を
合わせておく、光学系■はボケの大きい場合に特に必要
になって(るため、像面上での像の広がりも大きく画面
上の位置が若干ズしてぃたとしても大きな影響はないと
考えられる。
FWI/Fwx −0,87705874となり、m1
敗1/4丁3−0.87705802ニ非常に近く、そ
の誤差は8.216X10−’%である。Fw。
/ F W ! は基本的には無理数が望ましいが、設
計上Fw1.Fw、とも数値を決める必要があり、有理
数とせざるを得ない、尚、Fw+ /Fw1に最も近く
簡単な有理数は?/8−0.875(誤差0、235%
)となり、7x8=56>10を満足している。
又、第5実施例の光学系においては、焦点検出に有効な
光束の通過するコンデンサーレンズ上の領域は、光電変
換素子の配列方向に長く伸びた形状をしている。そこで
第20図のように、その領域に合わせてコンデンサーレ
ンズを矩形状レンズを並列に配して成るものとすること
が出来る。そのため、特に第5実施例では、光学系lと
光学系■の測距対象の違いを小さくすることが可能にな
る。又、コンデンサーレンズの直前に配置される視野絞
りMも図のように二つの長方形の開口を有する形となる
が、Fw/βが大きい光学系(本実施例では光学系■)
の方がデフォーカスの検出範囲が広いため開口が長くな
る。
第21−は本発明の第6実施例の一眼レフレックスカメ
ラを示したものであり、第4実施例の如くボディ断面図
は第16図と、合焦装置概略図は第17図と夫々同じで
あるが、ミラー93は反射率が波長依存性をもつダイク
ロイックミラーであり、その反射特性を第22図で示し
た0本実施例においては700n−以上の赤外光を反射
して焦点検出系Iで用いると共に、波長7(lQn+s
以下の通常光は焦点検出系■で用いる。従って、ハーフ
ミラ−の場合は光量が1/2となるが、ダイクロイック
ミラーを用いるとそのような光量損失もなく有利である
。焦点検出系■では赤外光を用いたTTL像位検値方弐
を採用しており、被写体が赤外に分光特性をもたない場
合若しくは低輝度の場合は、第21図に示した如くボデ
ィに設けられた赤外光の投光窓99から赤外光パターン
を照射して焦点検出を行なう。また焦点検出系■では通
常光によるTTL式像位相差方式を用いている。
本実施例における信号処理の流れは、通常光については
第2図と同じであるが、低輝度即ち補助光を使用した場
合は焦点検出系lの信号のみ用いることになる。
〔発明の効果〕
上述の如く、本発明による焦点検出装置は、測距範囲が
広く、合焦精度が良いのみならず、周期的物体にも合焦
可能であるという実用上重要な利点を有してい、る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明焦点検出装置の周期的物体に対する合焦
原理を示す図、第2図は本発明焦点検出装置における信
号処理のフローの一例を示す図、第3図及び第4図は夫
々第1実施例を含むカメラの正面図及び断面図、第5図
は第1実施例の三角測距装置の構成を示す図、第6図は
第1実施例の電気回路のブロック図、第7図は第1実施
例の周期的物体に対する合焦原理の他例を示す図、第8
図は第2実施例を含むカメラの正面図、第9図(A)及
びCB)は第2実施例の検値相差検出機構の構成を示す
図、第1θ図は第3実施例を含むカメラの正面図、第1
)図及び第12図は夫々第3実施例の三角測距機構特許
請求の範囲像位相差検出機構の構成を示す図、第13図
は検値相差検出機構の他例を示す図、第14図及び第1
5図は夫々三角測距機構の他例を示す図、第16図は第
4実施例を含むカメラの断面図、第17図及び第18図
は夫々第4実施例の構成を示す図及び第4実施例を含む
カメラの正面図、第19図は第5実施例の構成を示す図
、第20図は第5実施例のコンデンサーレンズ及び視野
絞りの形状を示す斜視図、第21図は第6実施例を含む
カメラの正面図、第22図は第6実施例のダイクロイン
クミラーの反射特性を示す図、第23図及び第24図は
夫々像位相差検出方式を示す図、第25図は三角測距方
式を示す図、第26図及び第27図は夫々非周期物体及
び周期物体の再結像された像とその相関演算値を示す図
である。 41.42・・・・測距窓、43,44.61.62・
・・・結像レンズ、45.46,63,65,66.7
7.94・・・・ミラー、47・・・・三角プリズム、
48.98・・・・センサー、49・・・・合焦装置、
50・・・・焦点検出装置、53.54・・・・像、5
5゜91.92.C+ 、Cz・・・・コンデンサーレ
ンズ、56.7B、7.9,95.97.Hl 、Hl
・・・・再結像レンズ、57・・・・逼影レンズ、58
・・・・補正用レンズ、59・・・・フィルム等偏部、
67・・・・フォトダイオードアレイ、68.69・・
・・エレメ7)、70.82・・・・レンズ、72・・
・・投影レンズ、73.RM・==クイソクリター二/
ミラー、74・・・・ビームスブリック−175・・・
・副ミラー、76・・・・瞳投影レンズ、80・・・・
イメージセンサ−、81・・・・全反射ミラー、83・
・・・赤外LED。 84・・・・°前玉、85・・・・後玉、86・・・・
ストロボ、93・・・・ハーフミラ−299・・・・投
光窓、SM・・・・サブミラー、So・・・・光電変換
素子、X・・・・三角測距装置、Y・・・・TTL像位
相位相差式合焦装置・・・・レンズ駆動装置。 1F3図 第4図    1−5図 19図 第10図 IP1)図 才13図 1−16図      第17図 lPt5図 97   ソ7 1F19図 e 第20図 第22図 浪&(nm) 才23図 第24図 第25図 IP26図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)異なる二つの光路を夫々通過する二光束により形
    成された二像の光強度分布若しくは同一光学系内の異な
    る領域を夫々通過した二光束による光強度分布を光電変
    換手段で受け、該光電変換手段から得られる前記光強度
    分布を表わす出力信号の位相差を検出する事により焦点
    検出を行なう焦点検出系を複数個有し、前記複数の焦点
    検出系の被写体の同一移動量にする夫々の光電変換手段
    上の二つの光強度分布の相対位置移動量が互いに異なる
    事を特徴とする焦点検出装置。
  2. (2)複数の焦点検出系の各々から検出される位相差を
    比較して各焦点検出系の位相差が一致する状態を導出し
    、その位相差から焦点検出を行なう事を特徴とする特許
    請求の範囲(1)に記載の焦点検出装置。
  3. (3)前記複数の焦点検出系のうちの任意の二つの焦点
    検出系における前記光電変換手段上の相対位置移動量の
    比がm、nを素数として有理数m/nで近似される場合
    、nm>10である事を特徴とする特許請求の範囲(1
    )又は(2)に記載の焦点検出装置。
  4. (4)前記相対位置移動量の比が無理数である事を特徴
    とする特許請求の範囲(1)又は(2)に記載の焦点検
    出装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5321461A (en) * 1991-08-22 1994-06-14 Olympus Optical Co., Ltd. Focus detecting device
US5424528A (en) * 1992-10-30 1995-06-13 Olympus Optical Co., Ltd. Focus detecting device having at least three reimaging lenses
JP2006003098A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Topcon Corp 光波距離測定方法及び光波距離測定装置
EP2146500A2 (en) 2008-07-17 2010-01-20 Canon Kabushiki Kaisha Phase difference detection device, imaging apparatus, phase difference detection method
CN107525653A (zh) * 2017-08-10 2017-12-29 福鼎市雄光学仪器有限公司 双光路高质量检测装置及检测方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60144712A (ja) * 1984-01-06 1985-07-31 Olympus Optical Co Ltd 合焦検出装置
JPS6360417A (ja) * 1986-09-01 1988-03-16 Fuji Electric Co Ltd 合焦状態検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60144712A (ja) * 1984-01-06 1985-07-31 Olympus Optical Co Ltd 合焦検出装置
JPS6360417A (ja) * 1986-09-01 1988-03-16 Fuji Electric Co Ltd 合焦状態検出装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5321461A (en) * 1991-08-22 1994-06-14 Olympus Optical Co., Ltd. Focus detecting device
US5424528A (en) * 1992-10-30 1995-06-13 Olympus Optical Co., Ltd. Focus detecting device having at least three reimaging lenses
JP2006003098A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Topcon Corp 光波距離測定方法及び光波距離測定装置
EP2146500A2 (en) 2008-07-17 2010-01-20 Canon Kabushiki Kaisha Phase difference detection device, imaging apparatus, phase difference detection method
US8149324B2 (en) 2008-07-17 2012-04-03 Canon Kabushiki Kaisha Phase difference detection device, imaging apparatus, phase difference detection method
CN107525653A (zh) * 2017-08-10 2017-12-29 福鼎市雄光学仪器有限公司 双光路高质量检测装置及检测方法
CN107525653B (zh) * 2017-08-10 2023-09-19 福鼎市一雄光学仪器有限公司 双光路高质量检测装置及检测方法

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