JPS63254548A - プログラムメモリのメモリセル内容の検査方法 - Google Patents
プログラムメモリのメモリセル内容の検査方法Info
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- JPS63254548A JPS63254548A JP63065957A JP6595788A JPS63254548A JP S63254548 A JPS63254548 A JP S63254548A JP 63065957 A JP63065957 A JP 63065957A JP 6595788 A JP6595788 A JP 6595788A JP S63254548 A JPS63254548 A JP S63254548A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
-
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- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
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- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1004—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's to protect a block of data words, e.g. CRC or checksum
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/52—Protection of memory contents; Detection of errors in memory contents
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、コンピュータにおけるプログラムメモリのメ
モリセル内容の検査方法に関する。
モリセル内容の検査方法に関する。
従来の技術
データを検査するため水平方向（横方向）のチェックサ
ムと特別なチェックビットを検出して、そのデータの適
否を検査することが一般に公知である。しかしこの種の
検査方法の欠点は、高い検査信頼度が比較的多くの記憶
場所を費やさなければ得られないことである。従ってこ
の種の検査方法は通常データ伝送の際にのみ使用される
。
ムと特別なチェックビットを検出して、そのデータの適
否を検査することが一般に公知である。しかしこの種の
検査方法の欠点は、高い検査信頼度が比較的多くの記憶
場所を費やさなければ得られないことである。従ってこ
の種の検査方法は通常データ伝送の際にのみ使用される
。
発明の目的
本発明の課題は従来技術の欠点を克服したプログラムメ
モリのメモリセル内容の検査方法を提供することである
。
モリのメモリセル内容の検査方法を提供することである
。
問題点を解決するための手段
本発明によれば上述の課題は、プログラムメモリにメモ
リセル内容の和をチェックサムとしてファイルし、コン
ピュータ動作の開始時及び／又は動作中に、チェックル
ーチン内部でメモリセル内容を順次走査読出して加算し
て終値を形成し、次いでチェックサムと終値とを比較し
て偏差を検出した場合、エラー検出信号を送出すること
により解決される。
リセル内容の和をチェックサムとしてファイルし、コン
ピュータ動作の開始時及び／又は動作中に、チェックル
ーチン内部でメモリセル内容を順次走査読出して加算し
て終値を形成し、次いでチェックサムと終値とを比較し
て偏差を検出した場合、エラー検出信号を送出すること
により解決される。
特許請求の範囲第１項の特徴部分に記載の、コンピュー
タにおけるプログラムメモリのメモリセル内容の検査方
法は従来技術に対し次のような利点を有する。即ち、記
憶されたプログラムのデータが、記憶されたチェックサ
ムと簡単に比較され、この比較から比較結果、場合によ
ってはエラー検出信号またはエラー指示信号がトリガさ
れるという利点を有する。そのために必要なチェックル
ーチンはプログラム経過の開始の都度、またはプログラ
ムの経過中に必要な頻度回数実行することができる。そ
の場合チェックルーチンは、相応の高い優先順位を有す
るコンピュータ要求（割込み）により中断することがで
きる。本発明による方法は特に次のようなマイクロプロ
セッサと関連して用いると有利である。即ち、電子制御
装置の一部とすることができ、そのメモリセル内容がチ
ェックサムと同様にそのプログラムメモリに固定的に７
アイルされているようなマイクロプロセッサと関連して
用いると有利である。メモリセル内容の検査方法に相応
して、制御装置内もしくはマイクロプロセッサ内でチェ
ックルーチンを自動的に実行させることができ、そのチ
ェックルーチンによりメモリセル内容に元からあるエラ
ーおよび動作時に初めて発生するエラーも検出される。
タにおけるプログラムメモリのメモリセル内容の検査方
法は従来技術に対し次のような利点を有する。即ち、記
憶されたプログラムのデータが、記憶されたチェックサ
ムと簡単に比較され、この比較から比較結果、場合によ
ってはエラー検出信号またはエラー指示信号がトリガさ
れるという利点を有する。そのために必要なチェックル
ーチンはプログラム経過の開始の都度、またはプログラ
ムの経過中に必要な頻度回数実行することができる。そ
の場合チェックルーチンは、相応の高い優先順位を有す
るコンピュータ要求（割込み）により中断することがで
きる。本発明による方法は特に次のようなマイクロプロ
セッサと関連して用いると有利である。即ち、電子制御
装置の一部とすることができ、そのメモリセル内容がチ
ェックサムと同様にそのプログラムメモリに固定的に７
アイルされているようなマイクロプロセッサと関連して
用いると有利である。メモリセル内容の検査方法に相応
して、制御装置内もしくはマイクロプロセッサ内でチェ
ックルーチンを自動的に実行させることができ、そのチ
ェックルーチンによりメモリセル内容に元からあるエラ
ーおよび動作時に初めて発生するエラーも検出される。
実施例
本発明を図面に基づいて詳細に説明する。
第１図はプログラムメモリの構成を示す。チェックルー
チンの開始時にまず、プログラムメモＩＪ Ｐ Ｍ （
第１図）の第１メモリセルＡＯの内容Ｄｏが、コンピュ
ータに付加的に備えられたサムレジスタＧ（第２図）に
ロードされる。続いてプログラムメモリＰＭにファイル
されているチェックサムＰも含めた別のメモリセル内容
ＤＩ、Ｄ２．・・・Ｄｎのすべてが、加算されてサムレ
ジスタＧの内容が形成される。メモリセル内容Ｄｏ−Ｄ
ｎはプログラムメモリ領域Ｐ Ｍ ｌ。
チンの開始時にまず、プログラムメモＩＪ Ｐ Ｍ （
第１図）の第１メモリセルＡＯの内容Ｄｏが、コンピュ
ータに付加的に備えられたサムレジスタＧ（第２図）に
ロードされる。続いてプログラムメモリＰＭにファイル
されているチェックサムＰも含めた別のメモリセル内容
ＤＩ、Ｄ２．・・・Ｄｎのすべてが、加算されてサムレ
ジスタＧの内容が形成される。メモリセル内容Ｄｏ−Ｄ
ｎはプログラムメモリ領域Ｐ Ｍ ｌ。
ＰＭ２ 、ＰＭ３にファイルされる。その際、プログラ
ムメモリーセグメントＰＭＩ 、ＰＭ３はプログラム及
び／又はデータを有する。プログラムメモリーセグメン
トＰＭ２にはチェックサムＰがファイルされており、こ
のチェックサムは内容ＤＸ、Ｄ×＋１．・・・、Ｄ×十
□から合成される。
ムメモリーセグメントＰＭＩ 、ＰＭ３はプログラム及
び／又はデータを有する。プログラムメモリーセグメン
トＰＭ２にはチェックサムＰがファイルされており、こ
のチェックサムは内容ＤＸ、Ｄ×＋１．・・・、Ｄ×十
□から合成される。
７）”Ｌ’スＡｎを有する最後のメモリセルの内容Ｄｎ
を加算した後、総和ＧＳが得られる。この総和は、チェ
ックサムＰに相当するメモリセル内容Ｄｘ、Ｄｘ−ｚ、
−９Ｄｘ＋ｍだけ減ｊｉＪｌさ、ｈ、そこから終値Ｓが
得られる。
を加算した後、総和ＧＳが得られる。この総和は、チェ
ックサムＰに相当するメモリセル内容Ｄｘ、Ｄｘ−ｚ、
−９Ｄｘ＋ｍだけ減ｊｉＪｌさ、ｈ、そこから終値Ｓが
得られる。
比較によ、ｐｓ＝ｐか否かが検出され得る。Ｓ＝Ｐの場
合、サムレジスタＧは消去される。所望の時点でチェッ
クルーチンを新たにアドレスＡＱからスタートさせるこ
とができる。
合、サムレジスタＧは消去される。所望の時点でチェッ
クルーチンを新たにアドレスＡＱからスタートさせるこ
とができる。
しかしながら終値ＳとチェックサムＰとの比較の際に差
のあることが検出されると、エラールーチンＦがエラ一
応答のためスタートされる。
のあることが検出されると、エラールーチンＦがエラ一
応答のためスタートされる。
即ち、エラービットがセットされ及び／又はエラー指示
がトリガされる。
がトリガされる。
チェックサムＰと総和ＧＳにおいてパイトフオーマット
は任意に設定される。従って例えばｎ×８ビツトメモリ
のチェックサムは２バイトフオーマツトに設定した場合
、ＤＸとＤｘ＋、の成分から合成される。サムレジスタ
Ｇはオーバフローｔｌｔ−しない１６ビツトワードレジ
スタである。
は任意に設定される。従って例えばｎ×８ビツトメモリ
のチェックサムは２バイトフオーマツトに設定した場合
、ＤＸとＤｘ＋、の成分から合成される。サムレジスタ
Ｇはオーバフローｔｌｔ−しない１６ビツトワードレジ
スタである。
発明の効果
本発明により、記憶されたプログラムのデータが記憶さ
れたチェックサムと簡単に比較され、この比較から比較
結果、場合によってはエラー検出信号またはエラー指示
信号のトリガされるメモリセル内容の検査方法が得られ
る。
れたチェックサムと簡単に比較され、この比較から比較
結果、場合によってはエラー検出信号またはエラー指示
信号のトリガされるメモリセル内容の検査方法が得られ
る。
第１図はプログラムメモリの構成を説明する図、第２図
は第１図に示したプログラムメモリのメモリセル内容の
検査方法のフローチャートである。 ＦＩＧ、 １
は第１図に示したプログラムメモリのメモリセル内容の
検査方法のフローチャートである。 ＦＩＧ、 １
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、コンピュータにおけるプログラムメモリのメモリセ
ル内容の検査方法において、プログラムメモリにメモリ
セル内容（Ｄ０、Ｄ１・・・）の和をチェックサム（Ｐ
）としてファイルし、コンピュータ動作の開始時及び／
又は動作中にチェックルーチン内部でメモリセル内容（
Ｄ０、Ｄ１・・・）を順次走査読出して加算して終値（
Ｓ）を形成し、次いでチェックサム（Ｐ）と終値（Ｓ）
とを比較して偏差を検出した場合エラー検出信号（Ｆ）
を送出することを特徴とするプログラムメモリのメモリ
セル内容の検査方法。 ２、チェックルーチンですべてのメモリセル内容（Ｄ０
、Ｄ１・・・）を加算してチェックサム（Ｐ）の値を形
成し、そこから得られた総和値（ＧＳ）から前記チェッ
クサム（Ｐ）を減算し、そうして検出された終値（Ｓ）
とチェックサム（Ｐ）とを一致の存否に関して比較する
特許請求の範囲第１項記載のプログラムメモリのメモリ
セル内容の検査方法。 ３、チェックサム（Ｐ）はプログラムメモリ（ＰＭ）と
は独立のメモリにファイルされる特許請求の範囲第１項
または第２項記載のプログラムメモリのメモリセル内容
の検査方法。 ４、チェックサム（Ｐ）を複数のメモリセルに配分して
記憶するか、または、プログラムメモリ（ＰＭ）の種々
異なるアドレス及びデータ領域にチェックサムとして配
属された複数のチェックサムを記憶する特許請求の範囲
第１項乃至第３項いずれか１項に記載のプログラムメモ
リのメモリセル内容の検査方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3709524A DE3709524C2 (de) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | Verfahren zur Überprüfung der Speicherzelleninhalte eines Programmspeichers |
| DE3709524.2 | 1987-03-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63254548A true JPS63254548A (ja) | 1988-10-21 |
| JP3124278B2 JP3124278B2 (ja) | 2001-01-15 |
Family
ID=6323799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63065957A Expired - Lifetime JP3124278B2 (ja) | 1987-03-23 | 1988-03-22 | プログラムメモリのメモリセル内容の検査方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3124278B2 (ja) |
| KR (1) | KR0121284B1 (ja) |
| DE (1) | DE3709524C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007513422A (ja) * | 2003-12-04 | 2007-05-24 | アクサルト・エス・アー | 放射またはそれ以外による攻撃に対抗したプログラムの実行を保証するための方法 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2647924B1 (fr) * | 1989-06-06 | 1994-06-17 | Bull Cp8 | Procede pour verifier l'integrite d'un logiciel ou de donnees, et systeme pour la mise en oeuvre de ce procede |
| US5023813A (en) * | 1989-08-03 | 1991-06-11 | International Business Machines Corporation | Non-volatile memory usage |
| JP2701591B2 (ja) * | 1991-05-31 | 1998-01-21 | 日本電気株式会社 | 自動車電話装置の自己診断方法 |
| DE4308464A1 (de) * | 1993-03-17 | 1994-09-22 | Vdo Schindling | Verfahren zur Erkennung von Hardwarefehlern auf den Leitungen eines Adressbusses in Mikroprozessoren |
| JP2000305859A (ja) * | 1999-04-22 | 2000-11-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プロセッサ |
| DE10058220A1 (de) * | 2000-11-23 | 2002-05-29 | Daimler Chrysler Ag | Verfahren zum Betreiben einer einen Datenspeicher aufweisenden Vorrichtung |
| DE102004006645A1 (de) * | 2004-02-11 | 2005-09-22 | Giesecke & Devrient Gmbh | Verfahren zum sicheren Berechnen einer Prüfsumme |
| DE102016104012A1 (de) * | 2016-03-04 | 2017-09-07 | Infineon Technologies Ag | Verarbeitung eines Datenworts |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5378127A (en) * | 1976-12-22 | 1978-07-11 | Sharp Corp | Self diagnosis system of fixed program memory unit |
| JPS5888899A (ja) * | 1981-11-19 | 1983-05-27 | Mitsubishi Electric Corp | Ｒａｍ制御回路 |
| JPS59178695A (ja) * | 1983-03-30 | 1984-10-09 | Nittan Co Ltd | 読出し専用メモリチエツク装置 |
| JPS60254258A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-14 | Mitsubishi Electric Corp | 読み出し専用メモリデ−タの破壊検知方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4488300A (en) * | 1982-12-01 | 1984-12-11 | The Singer Company | Method of checking the integrity of a source of additional memory for use in an electronically controlled sewing machine |
-
1987
- 1987-03-23 DE DE3709524A patent/DE3709524C2/de not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-03-22 JP JP63065957A patent/JP3124278B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1988-03-23 KR KR1019880003089A patent/KR0121284B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5378127A (en) * | 1976-12-22 | 1978-07-11 | Sharp Corp | Self diagnosis system of fixed program memory unit |
| JPS5888899A (ja) * | 1981-11-19 | 1983-05-27 | Mitsubishi Electric Corp | Ｒａｍ制御回路 |
| JPS59178695A (ja) * | 1983-03-30 | 1984-10-09 | Nittan Co Ltd | 読出し専用メモリチエツク装置 |
| JPS60254258A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-14 | Mitsubishi Electric Corp | 読み出し専用メモリデ−タの破壊検知方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007513422A (ja) * | 2003-12-04 | 2007-05-24 | アクサルト・エス・アー | 放射またはそれ以外による攻撃に対抗したプログラムの実行を保証するための方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR880011662A (ko) | 1988-10-29 |
| DE3709524C2 (de) | 1996-08-14 |
| KR0121284B1 (ko) | 1997-11-22 |
| DE3709524A1 (de) | 1988-10-06 |
| JP3124278B2 (ja) | 2001-01-15 |
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