DE10058220A1 - Verfahren zum Betreiben einer einen Datenspeicher aufweisenden Vorrichtung - Google Patents

Abstract

Bei einer einen Datenspeicher aufweisenden Vorrichtung wird üblicherweise beim Startvorgang ein Speichertest durchgeführt und erst anschließend bei fehlerfreiem Datenspeicher ein Betriebsprogramm gestartet. Als nachteilig erweist sich hierbei, daß die Vorrichtung erst nach einer bestimmten Verzögerungszeit betriebsbereit ist. Das neue Verfahren soll gewährleisten, daß die Vorrichtung nach ihrer Aktivierung innerhalb kürzester Zeit betriebsbereit ist. DOLLAR A Dies wird dadurch erreicht, daß die Ausführung des Betriebsprogramms für den Speichertest in vorgegebenen Zeitintervallen unterbrochen wird und bei jeder Unterbrechung eine Speichertestfunktion aufgerufen wird, wobei durch die Speichertestfunktion lediglich ein ausgewählter Speicherteilbereich des Datenspeichers getestet wird. Diese Schritte werden so oft wiederholt, bis der gesamte Speicherbereich des Datenspeichers mindestens einmal getestet wurde.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben einer einen Datenspeicher auf weisenden Vorrichtung.

Bei einer derartigen Vorrichtung, beispielsweise bei einem Computer, wird üblicher­ weise beim Startvorgang ein Speichertest durchgeführt und erst anschließend bei fehlerfreiem Datenspeicher ein Betriebsprogramm gestartet.

Als nachteilig erweist sich hierbei, daß der Speichertest bei großem Datenspeicher mit einem erheblichen Zeitaufwand verbunden ist, so daß die Vorrichtung erst nach einer bestimmten Verzögerungszeit betriebsbereit ist.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Betreiben einer einen Datenspeicher aufweisenden Vorrichtung anzugeben, durch das sichergestellt wird, daß die Vorrichtung nach ihrer Aktivierung innerhalb kürzester Zeit betriebsbe­ reit ist.

Die Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen ergeben sich aus dem Unteranspruch.

Erfindungsgemäß wird die Ausführung des Betriebprogramm in vorgegebenen Zeitin­ tervallen unterbrochen und bei jeder Unterbrechung ein Speicherteilbereich des Datenspeichers ausgewählt und eine Speichertestfunktion zum Testen des ausge­ wählten Speicherteilbereichs aufgerufen.

Es werden somit mehrere Zeitfenster definiert, wobei abwechselnd in einem Zeitfen­ ster ein Teil des Betriebprogramms ausgeführt wird und im darauffolgenden Zeitfen­ ster ein ausgewählter Speicherteilbereich des Datenspeichers getestet wird. Diese Schritte werden so oft wiederholt, bis der gesamte Speicherbereich des Datenspei­ chers mindestens einmal getestet wurde. Der Datenspeicher wird somit abschnitts­ weise bei laufendem Betriebsprogramm getestet.

Vorteilhafterweise werden sämtliche Speicherteilbereiche zyklisch mehrfach gete­ stet, so daß auch Speicherfehler erkannt werden, die während des Betriebs auftre­ ten, was zu einer hohen Funktionssicherheit führt. Eine hohe Funktionssicherheit ist insbesondere bei Mikroprozessor- der Mikrokontrollersystemen von Bedeutung ist, die beispielsweise in Kraftfahrzeugen sicherheitsrelevante Aufgaben erfüllen.

Aufgrund der geringen Größe der in einem Schritt zu testenden Speicherteilbereiche wird das Betriebsprogramm über einen längeren Zeitraum zwar mehrfach jedoch jeweils nur für kurze Zeit unterbrochen. Der Speichertest läuft somit im Hintergrund ab, d. h. unbemerkt vom Benutzer, und die Leistungsfähigkeit der Vorrichtung wird hierdurch nur geringfügig beeinflußt.

Das Verfahren eignet sich bestens für den Einsatz in Zugangsberechtigungssyste­ men von Kraftfahrzeugen. Ein derartiges System befindet sich bei unbenutztem Kraftfahrzeug in einem inaktiven Modus oder in einem Schlafmodus und wird durch eine Aktion eines Benutzers bei dessen Versuch, sich Zugang zum Kraftfahrzeug zu beschaffen oder das Kraftfahrzeug in Betrieb zu nehmen, aktiviert. Da vor dem Star­ ten des Betriebsprogramms, welches die Zugangsberechtigung des Benutzers über­ prüft, kein Speichertest vorgenommen wird oder nur ein Speicherteilbereich, d. h. ein geringer Teil des Datenspeichers getestet wird, ist das Zugangsberechtigungssy­ stem innerhalb kürzester Zeit betriebsbereit.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand einer Figur näher beschrieben. Die Figur zeigt ein Flußdiagramm zur Durchführung des erfindungemä­ ßen Verfahrens.

Das erfindungsgemäße Verfahren findet Anwendung in einem Mikroprozessor- oder Mikrokontrollersystem, insbesondere in einem Zugangsberechtigungssystem für ein Kraftfahrzeug mit elektronischem Zünd-/Startschalter, mit dem die Berechtigung eines Benutzers zur Benutzung des Kraftfahrzeugs überprüft wird. Ein derartiges System weist einen Datenspeicher auf, der als RAM-Speicher, d. h. als Schreib- Lese-Speicher mit wahlfreiem Zugriff, ausgeführt ist, und der im Mikrokontroller oder Mikroprozessor integriert oder als externer Speicherbaustein ausgeführt sein kann.

Gemäß der Figur wird nach dem Einschalten oder Aktivieren des Mikroprozessor- oder Mikrokontrollersystems, d. h. nach dem Starten dieses Systems, in einem er­ sten Schritt 1 eine Initialisierung vorgenommen. In diesem Schritt 1 wird der gesam­ te Speicherbereich des Datenspeichers in mehrere Speicherteilbereiche vorgegebe­ ner Größe aufgeteilt. Ein derartiger Speicherteilbereich kann beispielsweise eine Größe von 4 Byte aufweisen. Zudem werden Speichertestzeitpunkte definiert, zu denen ein Test eines Speicherteilbereichs durchgeführt werden soll. Die Definition der Speichertestzeitpunkte erfolgt dabei durch Vorgabe eines Zeitintervalls, welches dem Abstand zwischen aufeinanderfolgenden Speichertestzeitpunkten entspricht und beispielsweise 160 ms beträgt.

Im Schritt 2 wird ein Betriebprogramm des Mikroprozessor- oder Mikrokontrollersy­ stems gestartet, durch das bestimmte Aufgaben des Mikroprozessor- oder Mikro­ kontrollersystems gelöst werden. Das Betriebsprogramm wird jedoch nur bis zum nächsten Speichertestzeitpunkt ausgeführt und dann unterbrochen. Anschließend wird im Schritt 3 der erste Speicherteilbereich des Datenspeichers als zu testender Speicherbereich ausgewählt.

Im darauffolgenden Schritt 4 wird der ausgewählte Speicherteilbereich des Daten­ speichers durch Aufrufen einer Speichertestfunktion getestet. Dabei wird zunächst der Inhalt des ausgewählten Speicherteilbereichs ausgelesen und zwischengespei­ chert. Danach wird der ausgewählte Speicherteilbereich nach einem bestimmten Testalgorithmus auf fehlerhafte Speicherzellen getestet. Ein derartiger Testalgorith­ mus sieht beispielsweise vor, daß ein bestimmtes Bitmuster in den zu testenden Speicherteilbereich eingeschrieben wird und danach wieder ausgelesen wird. Stimmt das eingeschriebene Bitmuster mit dem ausgelesenen Bitmuster nicht über­ ein, so liegt ein Speicherfehler vor, und es wird ein Merker gesetzt, um den ausge­ wählten Speicherbereich als fehlerhaft zu markieren. Der Testalgorithmus kann aber auch vorsehen, daß mehrere Bitmuster nacheinander in den zu testende Speicher­ teilbereich eingeschrieben und wieder ausgelesen werden und durch einen Vergleich der einander entsprechenden Bitmuster festgestellt wird, ob ein Speicher­ fehler vorliegt.

Falls ein Speicherfehler vorliegt, wird ein Fehlerbehandlungsprogramm aufgerufen. Aufgabe des Fehlerbehandlungsprogramms ist es, zu gewährleisten, daß aus dem Speicherfehler keine Fehlfunktion oder zumindest keine schwerwiegende Fehlfunk­ tion des Mikroprozessor- oder Mikrokontrollersystems resultiert. Dies wird bei­ spielsweise durch mindestens eine der folgenden Maßnahmen erreicht:

• - Ausschluß des fehlerhaften Speicherbereichs von der weiteren Benutzung,
• - Information des Benutzers über den vorliegenden Speicherfehler, so daß der Benutzer hierdurch zu einer bestimmten Aktion veranlaßt wird,
• - Einschränkung der Funktionsfähigkeit oder gänzliche Deaktivierung des Mikro­ prozessor- oder Mikrokontrollersystems.

Nach Beendigung des Testalgorithmus wird der zwischengespeicherte Inhalt des ausgewählten Speicherteilbereichs wieder in diesen Speicherteilbereich zurückge­ schrieben. Hierdurch wird sichergestellt, daß Daten, die vor dem Testen des ausge­ wählten Speicherteilbereichs vom Betriebprogramm in diesen Speicherteilbereicht abgelegt worden sind, durch den Speichertest nicht zerstört werden.

Im darauffolgenden Schritt S wird die Abarbeitung des Betriebsprogramms bis zum nächsten Speichertestzeitpunkt fortgesetzt. Danach wird im Schritt 6 geprüft, ob bereits alle zu testenden Speicherteilbereiche des Datenspeichers getestet wurden. Wenn dies zutrifft, wird zu Schritt 3 zurückverzweigt, ansonsten wird im Schritt 7 der nächste Speicherteilbereich als zu testender Speicherbereich ausgewählt und da­ nach zu Schritt 4 zurückverzweigt. Somit wird der gesamte Speicherbereich des Datenspeichers über einen längeren Zeitraum abschnittsweise getestet und er wird, nachdem er einmal getestet wurde, zyklisch erneut getestet.

Das Verfahren kann selbstverständlich modifiziert werden. So ist es denkbar, den Schritt 2 zu überspringen. In einem derartigen Fall wird das Betriebsprogramm mit geringer Verzögerung erst im Schritt S beim erstmaligen Durchlaufen der Pro­ grammschleife 3, 4, 5, 6, 7 gestartet, also erst nach dem Testen des ersten Speicherteilbereichs. Weiterhin ist es denkbar, daß das Fehlerbehandlungsprogramm nicht bereits im Schritt 4, sondern erst im Schritt 5 durch das Betriebsprogramm aufgerufen wird. Zudem ist es auch denkbar, den gesamten Speicherbereich des Datenspeichers nur einmal zu testen und somit auf die zyklische Wiederholung des Speichertests zu verzichten. Das Betriebsprogramm wird dann nach dem ersten erfolgreich durchgeführten Test des gesamten Speicherbereichs nicht mehr für wei­ tere Speichertests unterbrochen.

Claims (2)

1. Verfahren zum Betreiben einer einen Datenspeicher aufweisenden Vorrichtung, in der ein Betriebsprogramm abläuft, dadurch gekennzeichnet, daß ein Speichertest vorgenommen wird, indem die Ausführung des Betriebprogramm in vorgegebenen Zeitintervallen unterbrochen wird und bei jeder Unterbrechung eine Speichertest­ funktion zum Testen eines ausgewählten Speicherteilbereichs des Datenspeichers aufgerufen wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß alle Speicherteilberei­ che des Datenspeichers zyklisch mehrfach getestet werden.