JPS6324060A - スパツタリング装置のタ−ゲツト - Google Patents
スパツタリング装置のタ−ゲツトInfo
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- JPS6324060A JPS6324060A JP9490686A JP9490686A JPS6324060A JP S6324060 A JPS6324060 A JP S6324060A JP 9490686 A JP9490686 A JP 9490686A JP 9490686 A JP9490686 A JP 9490686A JP S6324060 A JPS6324060 A JP S6324060A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はスパッタリング装置のターゲットの構成に関
する。より詳しくは真空容器の中に被加工物(一方の電
柵)とターゲット(他の電極)を設け、この2つの電極
の間にプラズマを発生させ、強磁性材料からなるターゲ
ットの一部を蒸発させて被加工物の表面に薄膜を形成さ
せるための多孔質ターゲットに関する。
する。より詳しくは真空容器の中に被加工物(一方の電
柵)とターゲット(他の電極)を設け、この2つの電極
の間にプラズマを発生させ、強磁性材料からなるターゲ
ットの一部を蒸発させて被加工物の表面に薄膜を形成さ
せるための多孔質ターゲットに関する。
〔従来の技術]
近年、薄膜6u気記録媒体、あるいは薄膜磁気ヘッド等
の薄膜磁性材料の製造法とて、スパッタリング法が一般
的になりつつある。その理由として挙げられるのは。
の薄膜磁性材料の製造法とて、スパッタリング法が一般
的になりつつある。その理由として挙げられるのは。
(1)、下地基板との付着力の強い8膜が得られる。
(2)、広い面積上に均一な厚さの膜が作れる。
(3)、ターゲット組成とほぼ等しい組成の薄膜が得ら
れる。
れる。
(4)、酸化物等め絶縁材料も薄膜化できる。
からである。更に、工業的な製造という観点から見ると
、高速で成膜できることが好ましく、このために、種々
のスパッタ方式の中でマグネトロンスパッタ方式が多く
使われている。
、高速で成膜できることが好ましく、このために、種々
のスパッタ方式の中でマグネトロンスパッタ方式が多く
使われている。
第1図は従来技術及びこの発明に係る装置の説明図であ
る。図において1は電源(直流あるいは高周波)、2は
内圧を1O−3Torr程度に調圧されたチャンバー、
3:ま強磁性材料からなるターゲット、4は永久磁石、
5は6n気回路を構成するためのヨーク、5aは他方の
電源1に接読され被加工物である基板6を取り付けるた
めの基板ホルダー、7は真空チャンバー2内を真空にす
るための油回転ポンプ、8(よ超高真空 (約1 x 10−’To r r)を得るためのクラ
イオソープションポンプ、9はArボンベ1o内の流出
ガスの流出を制御するマスフローコントローラ、+、−
はこの装置を直流電源によって動作させるときの極性を
示している。
る。図において1は電源(直流あるいは高周波)、2は
内圧を1O−3Torr程度に調圧されたチャンバー、
3:ま強磁性材料からなるターゲット、4は永久磁石、
5は6n気回路を構成するためのヨーク、5aは他方の
電源1に接読され被加工物である基板6を取り付けるた
めの基板ホルダー、7は真空チャンバー2内を真空にす
るための油回転ポンプ、8(よ超高真空 (約1 x 10−’To r r)を得るためのクラ
イオソープションポンプ、9はArボンベ1o内の流出
ガスの流出を制御するマスフローコントローラ、+、−
はこの装置を直流電源によって動作させるときの極性を
示している。
次にこの動作について説明する。先ず油回転ポンプ7に
よって続いてクライオソープションポンプ8によって真
空チャンバー2内の圧力を1O−7Torr<らいに吸
引する。次にマスフローコントローラー9を通じてAr
ボンベ10内のArガスを導入し、真空チャンバ2内の
圧力を1O−3Torr台に調整する。ここで電源1を
動作させればターゲット3の表面付近に高密度Arプラ
ズマを形成し、Arイオンによりターゲット3をスパッ
タするから、ターゲット3を構成している分子のイオン
が飛び出して基板6の表面に薄膜を形成する。この薄膜
の形成速度は非磁性金属で数千〜2000人/min、
磁性金属の場合では数百〜数千人、/ m i n程度
と極めて遅いものである。
よって続いてクライオソープションポンプ8によって真
空チャンバー2内の圧力を1O−7Torr<らいに吸
引する。次にマスフローコントローラー9を通じてAr
ボンベ10内のArガスを導入し、真空チャンバ2内の
圧力を1O−3Torr台に調整する。ここで電源1を
動作させればターゲット3の表面付近に高密度Arプラ
ズマを形成し、Arイオンによりターゲット3をスパッ
タするから、ターゲット3を構成している分子のイオン
が飛び出して基板6の表面に薄膜を形成する。この薄膜
の形成速度は非磁性金属で数千〜2000人/min、
磁性金属の場合では数百〜数千人、/ m i n程度
と極めて遅いものである。
すなわち、磁性金属をスパッタする場合になぜスパッタ
速度が遅くなるかというと、第1図に示すマグネトロン
スパッタの場合、ターゲット3の表面に強磁界を印加す
る必要があるのに、現在のようなターゲットの構成では
、磁界がターゲット3内に吸い込まれてしまい表面付近
に磁界が漏洩しにくいからである。ターゲット3の成分
が高j磁率になるような場合には、この影響がはなはだ
しい。従ってこのような場合にはターゲット3の厚みを
薄くし、磁界をターゲット3の表面からもれ出させる必
要がある。この結果として、−枚のターゲット3あたり
から生産される6丑性薄膜のユは減少し、ターゲット3
を交換するための作業量は増大し、更に、ターゲット3
が脆性を示す場合には、薄く加工するために多大の労力
を要し、歩留も低くなる。
速度が遅くなるかというと、第1図に示すマグネトロン
スパッタの場合、ターゲット3の表面に強磁界を印加す
る必要があるのに、現在のようなターゲットの構成では
、磁界がターゲット3内に吸い込まれてしまい表面付近
に磁界が漏洩しにくいからである。ターゲット3の成分
が高j磁率になるような場合には、この影響がはなはだ
しい。従ってこのような場合にはターゲット3の厚みを
薄くし、磁界をターゲット3の表面からもれ出させる必
要がある。この結果として、−枚のターゲット3あたり
から生産される6丑性薄膜のユは減少し、ターゲット3
を交換するための作業量は増大し、更に、ターゲット3
が脆性を示す場合には、薄く加工するために多大の労力
を要し、歩留も低くなる。
従って薄膜磁気記録媒体あるいは薄膜磁気ヘッドの製造
のように大量生産する商品に適用する場合には多大の問
題を含むものである。
のように大量生産する商品に適用する場合には多大の問
題を含むものである。
上記の様に従来のスパッタリング装置の磁性金属から成
るターゲットにおいてはターゲットの厚さが成る値を越
えるとターゲット表面外に洩れる′6ff界が減少する
ためスパッタ速度が低下する。そこでターゲットを薄く
すると、この材質は脆い性質を有するために加工性が悪
く、加工費がかさみ永久磁石への取付時あるいはスパッ
タ時に割れを生じることもあり管理上問題が多かった。
るターゲットにおいてはターゲットの厚さが成る値を越
えるとターゲット表面外に洩れる′6ff界が減少する
ためスパッタ速度が低下する。そこでターゲットを薄く
すると、この材質は脆い性質を有するために加工性が悪
く、加工費がかさみ永久磁石への取付時あるいはスパッ
タ時に割れを生じることもあり管理上問題が多かった。
(問題点を解決するための手段)
この発明に係るスパッタリング装置のターゲットにおい
ては、真空容器の中に対向する基板とターゲットを設け
、このターゲットと上記基板の間にプラズマを発生させ
、この基板の表面に上記ターゲットの薄膜を蒸着させる
装置において、上記ターゲットには多孔質材料を使用す
るようにしたものである。
ては、真空容器の中に対向する基板とターゲットを設け
、このターゲットと上記基板の間にプラズマを発生させ
、この基板の表面に上記ターゲットの薄膜を蒸着させる
装置において、上記ターゲットには多孔質材料を使用す
るようにしたものである。
(作用〕
この発明においてはターゲットの原料として強磁性体の
粉末を用いこれを空隙を有するように厚手に成形したも
のを使用する。永久磁石の磁気回路はターゲットの表面
に迄漏洩してプラズマか形成され易くなりスパッタリン
グが盛んに進行する。
粉末を用いこれを空隙を有するように厚手に成形したも
のを使用する。永久磁石の磁気回路はターゲットの表面
に迄漏洩してプラズマか形成され易くなりスパッタリン
グが盛んに進行する。
第1図は、この発明に係る装置の説明図である。図にお
いて1〜10は従来の技術とほとんど同一であるので説
明を省略する。但しターゲット3の材Xが顕著に異って
いるのてこの事について述べる。
いて1〜10は従来の技術とほとんど同一であるので説
明を省略する。但しターゲット3の材Xが顕著に異って
いるのてこの事について述べる。
第1実施例としてターゲット3に気孔率の大きい強磁性
材料であるセンダスト合金を用いたので以下に述べる。
材料であるセンダスト合金を用いたので以下に述べる。
センダスト合金粉の化学成分、平均粒径は、第1表のよ
うである。
うである。
第工表 センダスト合金製ターゲットの原料表wt%F
これを金型内で7t’/cm2の圧力で一軸圧縮により
、3インチ径の円板状に成形後、真空焼結を行う。焼結
温度は1010’C11070t:、1150℃の3水
準とした。真空度は1O−5To’rr<らいて1時間
保持した材料を追加工せずに実施した。
、3インチ径の円板状に成形後、真空焼結を行う。焼結
温度は1010’C11070t:、1150℃の3水
準とした。真空度は1O−5To’rr<らいて1時間
保持した材料を追加工せずに実施した。
第2実施例については第2表に3種の純金属を使用した
ものを示す。
ものを示す。
第2表 純金属製ターゲットの原料表
これを第1実施例と同様の焼結条件で焼成したが焼結保
持時間は5時間とした。
持時間は5時間とした。
第3の実施例とて;士第3表に示す二元合金を用い下記
の組合せ1〜3により混合し、これを焼結したものであ
る。
の組合せ1〜3により混合し、これを焼結したものであ
る。
第3表 二元合金製ターゲットの原料表組合せ例−1,
2,3は 例−1、Fe粉+Feと17%Si合金粉十Feと10
%A1合金粉 例−2、Fe粉+Feと17%Si合金粉+AI粉 例−3、Fe粉+Si粉十 Feと10%AI合金粉 以上3種類の組合せで、それぞれセンダスト合金組成と
なるよう粉の配分を調整し混合し圧粉、焼結は第1実施
例に準じた。焼結保持時間は5時間とした。
2,3は 例−1、Fe粉+Feと17%Si合金粉十Feと10
%A1合金粉 例−2、Fe粉+Feと17%Si合金粉+AI粉 例−3、Fe粉+Si粉十 Feと10%AI合金粉 以上3種類の組合せで、それぞれセンダスト合金組成と
なるよう粉の配分を調整し混合し圧粉、焼結は第1実施
例に準じた。焼結保持時間は5時間とした。
これらにより出来上がったものの、条件、板厚、空隙率
を第4表に示す。出来上がった円板状ターゲットはその
ままスパッタ用素材とした。
を第4表に示す。出来上がった円板状ターゲットはその
ままスパッタ用素材とした。
一方比較材として、溶解鋳造法により第5表に示すよう
な混合比で合金を作製し、機械加工により第4表に示す
ような板厚のものを作製した。
な混合比で合金を作製し、機械加工により第4表に示す
ような板厚のものを作製した。
第4表 ターゲツト材仕様及び比較材仕様第5表 比較
材成分表 wt% 以上のようにして作製した強磁性ターゲットを用い、第
1図の装置によるマグネトロン、スパッタリングを行な
った。スパッタリング条件は第6表に示す。
材成分表 wt% 以上のようにして作製した強磁性ターゲットを用い、第
1図の装置によるマグネトロン、スパッタリングを行な
った。スパッタリング条件は第6表に示す。
第6表 スパッタリング条件の表
第6表に示す条件下において、所定時間スパッタリング
を行ない、基板6をとり出し、触針式膜厚計により生成
膜厚を測定した。Fe−5i−AI粉末を焼結したター
ゲット3と機械加工により作製したターゲット3との同
じ板厚のものの生成膜厚の比を第2図に示す。明らかに
本発明の方が生成膜厚スピードが速いことがわかる。ま
た第3図は空隙率と膜生成速度比との関係である。
を行ない、基板6をとり出し、触針式膜厚計により生成
膜厚を測定した。Fe−5i−AI粉末を焼結したター
ゲット3と機械加工により作製したターゲット3との同
じ板厚のものの生成膜厚の比を第2図に示す。明らかに
本発明の方が生成膜厚スピードが速いことがわかる。ま
た第3図は空隙率と膜生成速度比との関係である。
又スパッタリング終了後、この薄膜を化学分析したとこ
ろ、本発明によって作製した薄膜は、初めに混合したタ
ーゲット3の合金比率と全く同一の組成を示した。
ろ、本発明によって作製した薄膜は、初めに混合したタ
ーゲット3の合金比率と全く同一の組成を示した。
しかしなから比較例として示した鋳造法ではSlが9.
2%、A1が5,0%を示し、いずれも混合比よりも低
目となった。
2%、A1が5,0%を示し、いずれも混合比よりも低
目となった。
(発明の効果)
この発明は以上説明した通りターゲットの強磁性材料と
して多孔質の粉末焼結法による合金を用いたので以下に
示すような効果がある。
して多孔質の粉末焼結法による合金を用いたので以下に
示すような効果がある。
第一に最終形状(Near Net 5hape)
が容易に達成でき加工がほとんど不要となる。これはセ
ンダストのような脆性材料の場合大幅なコスト低減につ
ながる。
が容易に達成でき加工がほとんど不要となる。これはセ
ンダストのような脆性材料の場合大幅なコスト低減につ
ながる。
第二に合金成分を厳密に管理することができるので、ス
パッタ・ターゲット内での成分偏析が絶無となり、個々
のターゲットの成分的中率も高い。
パッタ・ターゲット内での成分偏析が絶無となり、個々
のターゲットの成分的中率も高い。
第三に高真空中で製造するのでスパッタ時ターゲットの
消耗にともなうボアの開孔による7囲気の汚染を押える
ことができる。
消耗にともなうボアの開孔による7囲気の汚染を押える
ことができる。
第四に粉末性状、焼結条件を這べはボアの分布、形状大
きざを自由に調整することができる。以上の点からポー
ラスターゲット作製には粉末冶金法が極めて有効である
。
きざを自由に調整することができる。以上の点からポー
ラスターゲット作製には粉末冶金法が極めて有効である
。
更に磁性材料をマグネトロンスパッタつまり第1図の方
法で施工するとスパッタ速度を4〜15倍速くすること
ができ、薄膜作成コストを大幅に下げることができる。
法で施工するとスパッタ速度を4〜15倍速くすること
ができ、薄膜作成コストを大幅に下げることができる。
又ターゲットの作製に関し、ターゲットを機械加工する
必要がなく加工費を大幅に下げることができる。
必要がなく加工費を大幅に下げることができる。
又化学成分を粉体の混合比で決められるので、ターゲッ
トの成分管理が容易であり、成分はずれが起きないため
ターゲット製造歩留が高いことである。
トの成分管理が容易であり、成分はずれが起きないため
ターゲット製造歩留が高いことである。
第1図はこの発明及び従来の技術に係る装置の説明図、
第2図はこの発明による膜成生速度と従来の膜成生速度
の比較を板79について示す線図、第3図はこの発明に
よる膜成生速度と従来の膜成生速度の比較を空隙率につ
いて示す線図である。 図において、1は電源、2は真空チャンバー、3はター
ゲット、4は永久6u石、5はヨーク、5aは基板ホル
ダー、6は基板、7は油回転ポンプ、8はクライオソー
プションポンプ、9はマスフローコントローラ、10は
Arボンベである。 代理人 弁理士 佐 藤 正 年 5:ヨーク 50.基板ホルタ− 6:答 板 7、油回転ボンフ″ 8、タライオンーブノヨン木°ンフ“ 9:マヌフローコントローラー 10 : Arボンへ 第 3 図 (扱ツマLユ全で5mm)
第2図はこの発明による膜成生速度と従来の膜成生速度
の比較を板79について示す線図、第3図はこの発明に
よる膜成生速度と従来の膜成生速度の比較を空隙率につ
いて示す線図である。 図において、1は電源、2は真空チャンバー、3はター
ゲット、4は永久6u石、5はヨーク、5aは基板ホル
ダー、6は基板、7は油回転ポンプ、8はクライオソー
プションポンプ、9はマスフローコントローラ、10は
Arボンベである。 代理人 弁理士 佐 藤 正 年 5:ヨーク 50.基板ホルタ− 6:答 板 7、油回転ボンフ″ 8、タライオンーブノヨン木°ンフ“ 9:マヌフローコントローラー 10 : Arボンへ 第 3 図 (扱ツマLユ全で5mm)
Claims (2)
- (1).真空容器の中に対向する基板とターゲットを設
け、このターゲットと上記基板の間にプラズマを発生さ
せ、この基板の表面に上記ターゲットの薄膜を蒸着させ
る装置において、上記ターゲットには多孔質材料を使用
することを特徴とするスパッタリング装置のターゲット
。 - (2).上記多孔質材料は粉末焼結法により形成した内
部に空隙を含む強磁性体であることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のスパッタリング装置のターゲット
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9490686A JPS6324060A (ja) | 1986-04-25 | 1986-04-25 | スパツタリング装置のタ−ゲツト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9490686A JPS6324060A (ja) | 1986-04-25 | 1986-04-25 | スパツタリング装置のタ−ゲツト |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6324060A true JPS6324060A (ja) | 1988-02-01 |
Family
ID=14123059
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9490686A Pending JPS6324060A (ja) | 1986-04-25 | 1986-04-25 | スパツタリング装置のタ−ゲツト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6324060A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4941920A (en) * | 1987-11-25 | 1990-07-17 | Hitachi Metals, Ltd. | Sintered target member and method of producing same |
JPH02200778A (ja) * | 1989-01-31 | 1990-08-09 | Daido Steel Co Ltd | スパッタリング用ターゲット |
JPH03278408A (ja) * | 1989-09-12 | 1991-12-10 | Nikko Kyodo Co Ltd | Fe―Si―Al合金磁性薄膜の製造方法 |
WO2013046780A1 (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Fe-Al系合金スパッタリングターゲット |
-
1986
- 1986-04-25 JP JP9490686A patent/JPS6324060A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4941920A (en) * | 1987-11-25 | 1990-07-17 | Hitachi Metals, Ltd. | Sintered target member and method of producing same |
JPH02200778A (ja) * | 1989-01-31 | 1990-08-09 | Daido Steel Co Ltd | スパッタリング用ターゲット |
JPH03278408A (ja) * | 1989-09-12 | 1991-12-10 | Nikko Kyodo Co Ltd | Fe―Si―Al合金磁性薄膜の製造方法 |
WO2013046780A1 (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Fe-Al系合金スパッタリングターゲット |
JP5554420B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2014-07-23 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Fe−Al系合金スパッタリングターゲット |
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