JPS63140077A - 誘電体薄膜の製造方法とその装置 - Google Patents
誘電体薄膜の製造方法とその装置Info
- Publication number
- JPS63140077A JPS63140077A JP28826386A JP28826386A JPS63140077A JP S63140077 A JPS63140077 A JP S63140077A JP 28826386 A JP28826386 A JP 28826386A JP 28826386 A JP28826386 A JP 28826386A JP S63140077 A JPS63140077 A JP S63140077A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power
- power supply
- thin dielectric
- magnetron type
- frequency power
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 8
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 10
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 abstract 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 11
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- AYTAKQFHWFYBMA-UHFFFAOYSA-N chromium dioxide Chemical compound O=[Cr]=O AYTAKQFHWFYBMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はスパッタリングによりA1203 、 S l
02 +5isN4等の誘電体薄膜を製造する方法、
及びその製造方法の実施に使用する装置に関する。
02 +5isN4等の誘電体薄膜を製造する方法、
及びその製造方法の実施に使用する装置に関する。
〈従来の技術〉
一般に、マグネトロン型ターゲットは低温度にて高速度
にスパッタリングできるという利点があるため工業的に
最も広く用いられている。
にスパッタリングできるという利点があるため工業的に
最も広く用いられている。
このマグネトロン型ターゲットを駆動する方式として、
従来より、高周波(RF)スパッタと直流(DC)スパ
ッタが知られている。
従来より、高周波(RF)スパッタと直流(DC)スパ
ッタが知られている。
〈発明が解決しようとする問題点〉
マグネトロン型ターゲットの高周波駆動方式は、透電体
をターゲットとしてスパッタリングによる・製膜を工業
的に能率よく生産するためには、析出スピードを向上さ
せなければならず、その結果、電源装置が非常に大型化
し高価になる欠点がある。
をターゲットとしてスパッタリングによる・製膜を工業
的に能率よく生産するためには、析出スピードを向上さ
せなければならず、その結果、電源装置が非常に大型化
し高価になる欠点がある。
また直流駆動方式は、誘電体が直流を通さないかも、本
質的に誘電体をターゲットとする場合にはこれを使用す
ることが不可能であり、誘電体をターゲットとせずに、
金属ターゲットを使用し、反応性スパッターにより製膜
を行う場合であっても、製造すべき薄膜が誘電体である
場合は、マグネトロン型ターゲットのプラズマ領域の周
辺であるN極及びS極にスパンターされた誘電体物質が
付着して異常放電を起こし、スパッタリングが安定に持
続できないという問題がある。この問題は、非常に小さ
なパワーで実験的に行うときは異常放電現象が発生する
迄の時間が比較的長いが、パワーを高くするほどその時
間は短くなり、例えばAlターゲットを用いた場合、D
C電源出力を0.5A。
質的に誘電体をターゲットとする場合にはこれを使用す
ることが不可能であり、誘電体をターゲットとせずに、
金属ターゲットを使用し、反応性スパッターにより製膜
を行う場合であっても、製造すべき薄膜が誘電体である
場合は、マグネトロン型ターゲットのプラズマ領域の周
辺であるN極及びS極にスパンターされた誘電体物質が
付着して異常放電を起こし、スパッタリングが安定に持
続できないという問題がある。この問題は、非常に小さ
なパワーで実験的に行うときは異常放電現象が発生する
迄の時間が比較的長いが、パワーを高くするほどその時
間は短くなり、例えばAlターゲットを用いた場合、D
C電源出力を0.5A。
300vと非常に低く抑えたときでも、当初から異常放
電が生じ、全(実用性がなかった。
電が生じ、全(実用性がなかった。
本発明の目的は、大電流のもとでも安定した反応性スパ
ンクリングを行うことができ、生産性が高い誘電体薄膜
の製造方法と、その方法の実施に用いる装置を提供する
ことである。
ンクリングを行うことができ、生産性が高い誘電体薄膜
の製造方法と、その方法の実施に用いる装置を提供する
ことである。
〈問題点を解決するための手段〉
本発明の誘電体薄膜の製造方法は、反応性スパッタリン
グにおいてマグネトロン型ターゲットに直流電力と高周
波電力を重畳して印加することを特徴としている。
グにおいてマグネトロン型ターゲットに直流電力と高周
波電力を重畳して印加することを特徴としている。
本発明の装置はマグネトロン型ターゲットに上記した直
流電力と高周波電力を重畳して印加するための電源装置
であって、直流電源と、その直流電源の出力端子とター
ゲット接続端子の間に直列接続されたフィルタ回路と、
高周波電源と、その高周波電源の出力端子とターゲット
接続端子の間に直列接続されたインピーダンスマツチン
グ回路を備えたことを特徴としている。
流電力と高周波電力を重畳して印加するための電源装置
であって、直流電源と、その直流電源の出力端子とター
ゲット接続端子の間に直列接続されたフィルタ回路と、
高周波電源と、その高周波電源の出力端子とターゲット
接続端子の間に直列接続されたインピーダンスマツチン
グ回路を備えたことを特徴としている。
本発明により製造される誘電体薄膜のうち実用的なもの
を列挙すると次の通りである。すなわち、酸化膜トシテ
はS i Oz 、AlzO3,T t 02 。
を列挙すると次の通りである。すなわち、酸化膜トシテ
はS i Oz 、AlzO3,T t 02 。
ZrO,、ZnO,CrO2,Tag’s 、BaTi
O3、窒化膜としてS i :lN4 、 A I
N、炭化膜としてSiCを挙げることができる。
O3、窒化膜としてS i :lN4 、 A I
N、炭化膜としてSiCを挙げることができる。
〈実施例〉
第1図に本発明の製造装置の全体構成を示し、第2図に
第1図の電源装置12の回路例を示す。
第1図の電源装置12の回路例を示す。
真空チャンバー1は円柱形であって、外周側壁2にター
ゲット4・−4が適宜配設されている。真空チャンバー
1内には回転盤5が設けられ、その外周に沿って直立し
た円筒形の基板ホルダー6の両面に薄膜を形成すべき基
板7−7が固定され、チャンバー内を回転する。真空チ
ャンバー1は排気管8により真空排気系に連通している
。一方、真空チャンバー1内にはArガス、N2ガス又
は0□ガスを所定混合比率、所定圧力で導入するため、
圧力制御弁9を介してA r、 N2 、 Ox等
のガスボンベ10が接続されている。
ゲット4・−4が適宜配設されている。真空チャンバー
1内には回転盤5が設けられ、その外周に沿って直立し
た円筒形の基板ホルダー6の両面に薄膜を形成すべき基
板7−7が固定され、チャンバー内を回転する。真空チ
ャンバー1は排気管8により真空排気系に連通している
。一方、真空チャンバー1内にはArガス、N2ガス又
は0□ガスを所定混合比率、所定圧力で導入するため、
圧力制御弁9を介してA r、 N2 、 Ox等
のガスボンベ10が接続されている。
ターゲット4に接続される電源装置12は、直流電源1
3と、その直流電源13と接続端子14の間に直列接続
されたフィルタ回路15と、高周波電源16と、その高
周波電源16の出力端子とターゲット接続端子140間
に直列接続されたインピーダンスマツチング回路17を
備えている。
3と、その直流電源13と接続端子14の間に直列接続
されたフィルタ回路15と、高周波電源16と、その高
周波電源16の出力端子とターゲット接続端子140間
に直列接続されたインピーダンスマツチング回路17を
備えている。
゛高周波電源16の周波数は20KHzから100MH
zの範囲から任意のものを選ぶことができる。第2図に
電源装置12の一回路例を示す。フィルタ回路13は通
常はローパスフィルタ回路により構成される。
zの範囲から任意のものを選ぶことができる。第2図に
電源装置12の一回路例を示す。フィルタ回路13は通
常はローパスフィルタ回路により構成される。
インピーダンスマツチング回路17は第2図の場合2個
の可変コンデンサC,,C2と1個のインダクタンスし
により構成されている。通常は可変コンデンサ、可変抵
抗、可変インダクタンス、可変減衰器又はインピーダン
ス切換回路を含んでいる。これらの回路15.17は種
々に変形して実施することができる。
の可変コンデンサC,,C2と1個のインダクタンスし
により構成されている。通常は可変コンデンサ、可変抵
抗、可変インダクタンス、可変減衰器又はインピーダン
ス切換回路を含んでいる。これらの回路15.17は種
々に変形して実施することができる。
次に、本発明の装置を用いて誘電体薄膜を製造した実施
例を説明する。
例を説明する。
実隻尉エ
ターゲット材料にSi金属板を用い、Arと0□の混合
ガス(混合比0□:25〜35%)をlXl0−’To
rrに維持しながら導入した。電源装置は、直流電源の
電圧300 V 、電流2A、電力600W、 高WJ
波電源の周波数13.56M)Iz、電圧(P−P値)
200v。
ガス(混合比0□:25〜35%)をlXl0−’To
rrに維持しながら導入した。電源装置は、直流電源の
電圧300 V 、電流2A、電力600W、 高WJ
波電源の周波数13.56M)Iz、電圧(P−P値)
200v。
電力80Wを重畳して用いた。板ガラスより成る基板上
に毎分125人の速度で5iOzi膜が形成された。ス
パッタリングは安定しており異常放電現象は観察されな
かった。
に毎分125人の速度で5iOzi膜が形成された。ス
パッタリングは安定しており異常放電現象は観察されな
かった。
尖庭皿叉
ターゲット材料に、l金属板を用い、Arと02の混合
ガス(混合比0□ ニア%)をI X 10−”Tor
rに維持しながら導入した。電源装置は、直流電源の電
圧350 V 、電流2A、電カフ00W、高周波電源
の周波数13.56MHz、電圧(P −P値)200
V。
ガス(混合比0□ ニア%)をI X 10−”Tor
rに維持しながら導入した。電源装置は、直流電源の電
圧350 V 、電流2A、電カフ00W、高周波電源
の周波数13.56MHz、電圧(P −P値)200
V。
電力80Wを重畳して用いた。板ガラスより成る基板上
に毎分80人の速度でA42zO3薄膜が形成された。
に毎分80人の速度でA42zO3薄膜が形成された。
スパッタリングは安定しており異常放電現象は観察され
なかった。
なかった。
〈発明の効果〉
本発明によれば、直流電源から簡単に大きな電力を供給
し、高周波電源により交互に極性を反転させることによ
りマグネットにターゲット材料が付着しても、チャージ
アップが発生せず、高エネルギのスパッタリングを安定
に維持することが可能になった。しかも高周波電力が比
較的小さくて済むため従来の高周波型に比べて電源装置
が小型かつ安価になった。そして何よりも重要なことは
、スパンターレイトが大幅に伸長したことである。
し、高周波電源により交互に極性を反転させることによ
りマグネットにターゲット材料が付着しても、チャージ
アップが発生せず、高エネルギのスパッタリングを安定
に維持することが可能になった。しかも高周波電力が比
較的小さくて済むため従来の高周波型に比べて電源装置
が小型かつ安価になった。そして何よりも重要なことは
、スパンターレイトが大幅に伸長したことである。
例えば5iozFjf膜を形成する場合、同じマグネト
ロン型ターゲットを用いて、直流スパッターを行ったと
き、150Wの電力(これ以上にすると異常放電して不
安定になる)により毎分30人で薄膜が形成され、また
、高周波スパッターを行ったとき、600Wの電力によ
り毎分55人で薄膜が形成されたのに対し、本発明によ
れば前述した通り680Wの電力により毎分125人で
薄膜が形成された。このようなスパッターレイトは直流
スパッターのみのスパッターレイト、及び、高周波スパ
ッターのみのスパッターレイトから予測できない大きな
値である。
ロン型ターゲットを用いて、直流スパッターを行ったと
き、150Wの電力(これ以上にすると異常放電して不
安定になる)により毎分30人で薄膜が形成され、また
、高周波スパッターを行ったとき、600Wの電力によ
り毎分55人で薄膜が形成されたのに対し、本発明によ
れば前述した通り680Wの電力により毎分125人で
薄膜が形成された。このようなスパッターレイトは直流
スパッターのみのスパッターレイト、及び、高周波スパ
ッターのみのスパッターレイトから予測できない大きな
値である。
第1図は本発明の製造装置の実施例を示す構成図、
第2図は第1図の電源装置12の一例を示す回路図であ
る。 1−真空チャンバー 4−マグネトロン型ターゲット
る。 1−真空チャンバー 4−マグネトロン型ターゲット
Claims (2)
- (1)真空チャンバー内に基板とマグネトロン型ターゲ
ットを対向させ、上記基板上に反応性スパッタリングに
より誘電体薄膜を形成する方法において、上記マグネト
ロン型ターゲットに直流電力と高周波電力を重畳して印
加することを特徴とする誘電体薄膜の製造方法。 - (2)直流電源と、その直流電源の出力端子とターゲッ
ト接続端子の間に直列接続されたフィルタ回路と、高周
波電源と、その高周波電源の出力端子とターゲット接続
端子の間に直列接続されたインピーダンスマッチング回
路を備えた、誘電体薄膜の製造に使用する装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28826386A JPS63140077A (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 誘電体薄膜の製造方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28826386A JPS63140077A (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 誘電体薄膜の製造方法とその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63140077A true JPS63140077A (ja) | 1988-06-11 |
Family
ID=17727921
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28826386A Pending JPS63140077A (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 誘電体薄膜の製造方法とその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63140077A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01279753A (ja) * | 1988-05-06 | 1989-11-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スパッタリング方法 |
JPH0254764A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-02-23 | Leybold Ag | 基板を絶縁体で被覆する装置 |
JPH0313573A (ja) * | 1989-06-10 | 1991-01-22 | Ulvac Corp | 誘電体膜の反応性スパッタ成膜法 |
JPH0925571A (ja) * | 1995-07-06 | 1997-01-28 | Canon Inc | 酸化物薄膜の成膜方法 |
JP2005097672A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Anelva Corp | マルチカソードイオン化物理的気相成膜装置 |
JP2009030175A (ja) * | 2008-10-10 | 2009-02-12 | Canon Anelva Corp | スパッタリング方法 |
JP4949584B2 (ja) * | 1999-10-13 | 2012-06-13 | エリコン・ドイチュラント・ホールディング・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 給電ユニット、スパッタプラント、スパッタプロセスにおける火花形成の低減方法および部材製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6326361A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-03 | Hitachi Ltd | 薄膜形成方法および装置 |
JPS63109164A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-13 | Seiko Epson Corp | マグネトロンスパツタ装置 |
-
1986
- 1986-12-03 JP JP28826386A patent/JPS63140077A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6326361A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-03 | Hitachi Ltd | 薄膜形成方法および装置 |
JPS63109164A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-13 | Seiko Epson Corp | マグネトロンスパツタ装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01279753A (ja) * | 1988-05-06 | 1989-11-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スパッタリング方法 |
JPH0254764A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-02-23 | Leybold Ag | 基板を絶縁体で被覆する装置 |
JPH0313573A (ja) * | 1989-06-10 | 1991-01-22 | Ulvac Corp | 誘電体膜の反応性スパッタ成膜法 |
JPH0925571A (ja) * | 1995-07-06 | 1997-01-28 | Canon Inc | 酸化物薄膜の成膜方法 |
JP4949584B2 (ja) * | 1999-10-13 | 2012-06-13 | エリコン・ドイチュラント・ホールディング・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 給電ユニット、スパッタプラント、スパッタプロセスにおける火花形成の低減方法および部材製造方法 |
JP2005097672A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Anelva Corp | マルチカソードイオン化物理的気相成膜装置 |
JP2009030175A (ja) * | 2008-10-10 | 2009-02-12 | Canon Anelva Corp | スパッタリング方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4309266A (en) | Magnetron sputtering apparatus | |
US3767551A (en) | Radio frequency sputter apparatus and method | |
JPS63140077A (ja) | 誘電体薄膜の製造方法とその装置 | |
JPH10251849A (ja) | スパッタリング装置 | |
US4802968A (en) | RF plasma processing apparatus | |
KR101087514B1 (ko) | 드라이 에칭 방법 | |
JPS5825475A (ja) | スパツタ装置 | |
JPH11269643A (ja) | 成膜装置およびそれを用いた成膜方法 | |
JPS62188777A (ja) | バイアススパツタリング装置 | |
JPH1192968A (ja) | ドライエッチング装置とプラズマ化学的気相堆積装置 | |
US3438885A (en) | Method of making ferrimagnetic films by cathodic sputtering | |
JPH05263225A (ja) | スパッタリング方法 | |
JP2549894B2 (ja) | 高温超伝導セラミック薄膜の形成方法 | |
JPS5938307B2 (ja) | 金属化合物被膜の形成方法 | |
JPH01255668A (ja) | 同軸型マグネトロンスパッタ装置による成膜方法 | |
JPS6324060A (ja) | スパツタリング装置のタ−ゲツト | |
JP3127836B2 (ja) | スパッタリング方法 | |
RU1840832C (ru) | Способ получения твердого электролита в виде тонких газоплотных пленок для электрохимических устройств | |
JPS61127862A (ja) | 薄膜形成方法及びその形成装置 | |
JPH07126845A (ja) | 誘電体膜の成膜方法 | |
JP3295958B2 (ja) | 圧電薄膜の製造方法 | |
JPH01279753A (ja) | スパッタリング方法 | |
JP2501615B2 (ja) | 超電導薄膜の作製方法 | |
JPS619570A (ja) | 薄膜製造方法 | |
JPS6197838A (ja) | 薄膜形成方法 |