JPS63230864A - 金属薄膜の形成方法およびその装置 - Google Patents
金属薄膜の形成方法およびその装置Info
- Publication number
- JPS63230864A JPS63230864A JP6273387A JP6273387A JPS63230864A JP S63230864 A JPS63230864 A JP S63230864A JP 6273387 A JP6273387 A JP 6273387A JP 6273387 A JP6273387 A JP 6273387A JP S63230864 A JPS63230864 A JP S63230864A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal
- vacuum chamber
- vacuum
- sorption
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 62
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 62
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims abstract description 36
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims abstract description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 17
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 claims description 4
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 23
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 abstract description 17
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 28
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 12
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 11
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 8
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 7
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 2
- FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 2-iodoquinoline Chemical compound C1=CC=CC2=NC(I)=CC=C21 FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- 206010011224 Cough Diseases 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010425 asbestos Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N beryllium oxide Inorganic materials O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000002648 laminated material Substances 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- -1 oxygen and moisture Chemical class 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005373 porous glass Substances 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 229910052895 riebeckite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は真空下で金属S躾を基材表面に形成させる方法
およびその装置に関する。
およびその装置に関する。
[従来の技術〕
真空室内で基材表面に金属薄膜を形成させる方法として
、真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリン
グ法などの物理蒸着法(PVD法)および熱CVD法、
光CVD法、プラズマCVD法などの化学蒸着法(CV
D法)が知られている。
、真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリン
グ法などの物理蒸着法(PVD法)および熱CVD法、
光CVD法、プラズマCVD法などの化学蒸着法(CV
D法)が知られている。
これらはいずれも真空下で気相の金属原子、金属分子ま
たは金属イオン等の気相金属を発生させ、基材表面に薄
膜として堆積させる方法である。
たは金属イオン等の気相金属を発生させ、基材表面に薄
膜として堆積させる方法である。
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、真空室内に酸素や水分等の金属と反応しやすい
ガス状成分が残存すると、単体金属による蒸着不良を生
じたり不良蒸着膜しか得られないので、真空室内の真空
度は通常では1XIO−4Torrまたはそれ以上に保
つ必要がある。排気によってこの真空度に到達する時間
は、湿度の高い時には著しく長くなり、冬期乾燥時と^
湿度の季節とでは、所要時間が数倍具なる。
ガス状成分が残存すると、単体金属による蒸着不良を生
じたり不良蒸着膜しか得られないので、真空室内の真空
度は通常では1XIO−4Torrまたはそれ以上に保
つ必要がある。排気によってこの真空度に到達する時間
は、湿度の高い時には著しく長くなり、冬期乾燥時と^
湿度の季節とでは、所要時間が数倍具なる。
また、気相金ff(原子、分子、イオン)を発生する際
に使用する加熱源の輻射熱により真空室内壁および基材
から水蒸気等を含むガスが発生し、これが金属と反応し
たり、金属薄膜に収着されて蒸着不良を生ずることがあ
る。これは真空室内壁には蒸着操作において蒸着した金
属膜が存在するので、この膜に大気中の水蒸気等を吸着
していたガスが放出されたり、プラスチック製基材がら
水蒸気あるいはプラスチック特有のガスが放出されるた
めである。
に使用する加熱源の輻射熱により真空室内壁および基材
から水蒸気等を含むガスが発生し、これが金属と反応し
たり、金属薄膜に収着されて蒸着不良を生ずることがあ
る。これは真空室内壁には蒸着操作において蒸着した金
属膜が存在するので、この膜に大気中の水蒸気等を吸着
していたガスが放出されたり、プラスチック製基材がら
水蒸気あるいはプラスチック特有のガスが放出されるた
めである。
従って、残存ガス及び放出ガスを真空室内から除去する
ことができれば良好な蒸着膜が得られ、少なくとも蒸着
不良もしくは不良蒸着膜の原因となる有害成分を除去で
きれば従来より真空度が低くても良好な蒸着が可能とな
ることが期待される。
ことができれば良好な蒸着膜が得られ、少なくとも蒸着
不良もしくは不良蒸着膜の原因となる有害成分を除去で
きれば従来より真空度が低くても良好な蒸着が可能とな
ることが期待される。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、上記従来技術の問題点を解決するためになさ
れたもので、真空室内の残存ガスまたは放出ガスを除去
する方法およびその装置を提供するものである。
れたもので、真空室内の残存ガスまたは放出ガスを除去
する方法およびその装置を提供するものである。
すなわち、本発明は真空室内で気相金属を発生させて基
材表面に金属薄膜を形成させる方法において、該真空室
内を排気後、咳気相金属を発生させる前に、該真空室内
を予熱してガスを発生させ、咳真空至内にこれと連通ず
る隔壁で仕切られた収着室内で金属蒸気を発生させて、
該真空室内に存在するガスを該金属により収着すること
を特徴とする金属薄膜の形成方法に関するものである。
材表面に金属薄膜を形成させる方法において、該真空室
内を排気後、咳気相金属を発生させる前に、該真空室内
を予熱してガスを発生させ、咳真空至内にこれと連通ず
る隔壁で仕切られた収着室内で金属蒸気を発生させて、
該真空室内に存在するガスを該金属により収着すること
を特徴とする金属薄膜の形成方法に関するものである。
また、本発明は、この方法に使用する装置として、前記
真空室内にこれと連通ずる隔壁で仕切られた収着室およ
び該収着室内に金属蒸気を発生する手段を設けた金ji
ff膜の形成装置に関するものである。
真空室内にこれと連通ずる隔壁で仕切られた収着室およ
び該収着室内に金属蒸気を発生する手段を設けた金ji
ff膜の形成装置に関するものである。
以下、本発明の真空蒸着方法およびその装置を図面に基
いて具体的に説明するが、本発明はこの例示に限定され
るものではなく、イオンプレーティング法、スパッタリ
ング法、プラズマCVD法等の真空下で行う各種金属1
i1111形成方法および装置に適用できるものである
。
いて具体的に説明するが、本発明はこの例示に限定され
るものではなく、イオンプレーティング法、スパッタリ
ング法、プラズマCVD法等の真空下で行う各種金属1
i1111形成方法および装置に適用できるものである
。
第1図および第2図は本発明の一実施例を示す装置であ
り、第1図は縦型、第2図は横型の装置である。第3図
は、フィラメントおよび蒸着用金属(収着用金属)の真
空蒸着前の状態を示す図である。第1図、第2図および
第3図左も同一番号は同一部材を表わす。
り、第1図は縦型、第2図は横型の装置である。第3図
は、フィラメントおよび蒸着用金属(収着用金属)の真
空蒸着前の状態を示す図である。第1図、第2図および
第3図左も同一番号は同一部材を表わす。
第1〜2図において、真空室1内には電源12から電流
調整器11を介して流れる電流により加熱されるように
置かれたフィラメント5およびそれに載せである蒸着用
金属6が配置され(第3図参照)、その回りには基材取
付治具7およびそれに取り付けた基材8が配置されてい
る。また真空室1と連通した隔壁10で仕切られた収着
ヱ9が設けられている。収着室9には、フィラメント5
゛′および収着用金属6′が配置されている。第3図の
フィラメント5′にも交流電源12から電流調整器11
を介して電流が流れるようにしである。
調整器11を介して流れる電流により加熱されるように
置かれたフィラメント5およびそれに載せである蒸着用
金属6が配置され(第3図参照)、その回りには基材取
付治具7およびそれに取り付けた基材8が配置されてい
る。また真空室1と連通した隔壁10で仕切られた収着
ヱ9が設けられている。収着室9には、フィラメント5
゛′および収着用金属6′が配置されている。第3図の
フィラメント5′にも交流電源12から電流調整器11
を介して電流が流れるようにしである。
ここで蒸着用金属6は、加熱により蒸発して長材8にW
JIllを形成し得る金属ならば特に制限はないが、A
J −M Q 、Cr s A Q 、N + 、A
u等があげられる。なお収着用金116’ は蒸着用
金属6と同じ性質をもてばよく、蒸着用金属6と同じが
または異なる金属であり、好ましくはAj、Mg、Aa
、Ti 、Zn 、Sn 、Zr 、Mo等があげら
れる。
JIllを形成し得る金属ならば特に制限はないが、A
J −M Q 、Cr s A Q 、N + 、A
u等があげられる。なお収着用金116’ は蒸着用
金属6と同じ性質をもてばよく、蒸着用金属6と同じが
または異なる金属であり、好ましくはAj、Mg、Aa
、Ti 、Zn 、Sn 、Zr 、Mo等があげら
れる。
また隔壁10では水蒸気、酸素ガスは通すが、蒸発した
金属を実質的に通さないものであればよく、たとえば多
孔性のチタン、ジルコニウム、ニッケル、タンタル等の
金属製隔壁、所定の細孔径を有する酸化ベリリウム、酸
化チタン、酸化ジルコニウム等のせラミクス製隔壁、石
綿繊維製隔壁、多孔性炭素繊維製隔壁、多孔性ガラス製
隔壁等が用いられる。
金属を実質的に通さないものであればよく、たとえば多
孔性のチタン、ジルコニウム、ニッケル、タンタル等の
金属製隔壁、所定の細孔径を有する酸化ベリリウム、酸
化チタン、酸化ジルコニウム等のせラミクス製隔壁、石
綿繊維製隔壁、多孔性炭素繊維製隔壁、多孔性ガラス製
隔壁等が用いられる。
蒸発した金属は直進するので、隔v110の孔部と基材
8との位置関係を適宜設定することが必要である。隔壁
10の材質は特に問わないが、金属製が好ましい。
8との位置関係を適宜設定することが必要である。隔壁
10の材質は特に問わないが、金属製が好ましい。
収着室9は真空室1と隔壁10で仕切られておれば、そ
の位置、形状は任意に設計できるが、第1図のように真
空室1内に設けるか、第2図のように真空室1から突出
させて設けることが好ましい。
の位置、形状は任意に設計できるが、第1図のように真
空室1内に設けるか、第2図のように真空室1から突出
させて設けることが好ましい。
また、拡散ポンプ2の吸入口を収着室9と結合すること
は、残存ガスおよび放出ガスを収着室9へ導くのに好都
合である。
は、残存ガスおよび放出ガスを収着室9へ導くのに好都
合である。
収着用金属6′によるガスの収着は、蒸発した金属とガ
ス中の成分との反応および/または蒸発した金属が収I
W内壁に堆積しこれにガス中の成分が物理的あるいは化
学的に吸着することによって達成される。
ス中の成分との反応および/または蒸発した金属が収I
W内壁に堆積しこれにガス中の成分が物理的あるいは化
学的に吸着することによって達成される。
真空蒸着を行うには、準備としてまず真空室1内をロー
タリーポンプ4でIX 10−2 T Orr稈度まで
排気し、さらにメカニカルブースターポンプ3および拡
散ポンプ2を併用して1x 1O−3T orr程度ま
で排気する。
タリーポンプ4でIX 10−2 T Orr稈度まで
排気し、さらにメカニカルブースターポンプ3および拡
散ポンプ2を併用して1x 1O−3T orr程度ま
で排気する。
次に真空v1内壁および基材8から発生する放出ガスを
収着室9内で収着させる。
収着室9内で収着させる。
収着を行うにはまず収着室9にあるフィラメント5′お
よび真空室1内にあるフィラメント5に電源12より電
流調整器11を介してそれぞれ電流を流す。これらフィ
ラメント5および5′への電流の流し方は収着が効果的
に行える方法であれば特に制限はないが、好ましくはフ
ィラメント5には加熱されたフィラメント5により真空
室1内壁および基材8から発生し得る放出ガスの大勢が
適当な時間内に発生するに十分な電流を、また同時にフ
ィラメント5′には収着用台Ji16’ が蒸発して残
存ガスおよび前記放出されたガスが十分にしかも直ちに
収着できるような量を流すのがよい。
よび真空室1内にあるフィラメント5に電源12より電
流調整器11を介してそれぞれ電流を流す。これらフィ
ラメント5および5′への電流の流し方は収着が効果的
に行える方法であれば特に制限はないが、好ましくはフ
ィラメント5には加熱されたフィラメント5により真空
室1内壁および基材8から発生し得る放出ガスの大勢が
適当な時間内に発生するに十分な電流を、また同時にフ
ィラメント5′には収着用台Ji16’ が蒸発して残
存ガスおよび前記放出されたガスが十分にしかも直ちに
収着できるような量を流すのがよい。
フィラメント5に流す電流は条件により異なるが一般的
に予熱といわれる範囲の電流、すなわち蒸着電流の量を
100とした場合に20〜80の電流を流すことにより
真空室1内壁および基材8から放出ガスが十分に発生す
る。
に予熱といわれる範囲の電流、すなわち蒸着電流の量を
100とした場合に20〜80の電流を流すことにより
真空室1内壁および基材8から放出ガスが十分に発生す
る。
真空室1内で発生し辷放出ガスおよび残存ガスは収着室
9において収着用金属6′により収着される。このよう
にして、放出ガスを除去すると同時に急速に真空室1内
の真空度が上がり1×10”4Torr程度になる。そ
こで直ちに蒸着を始めることが好ましい。
9において収着用金属6′により収着される。このよう
にして、放出ガスを除去すると同時に急速に真空室1内
の真空度が上がり1×10”4Torr程度になる。そ
こで直ちに蒸着を始めることが好ましい。
蒸着を行うには、フィラメント5へ流れる電流を上げれ
ばよい。また同時に収着を終了するため、フィラメント
5′への電流を切る。このとき、フィラメント5にはす
でに電流が流れていて予熱されているので、直ちにあら
かじめ蒸着に適するように設定されている蒸着設定電流
を流すことができる。なおこの蒸着設定電流はこの電流
により蒸着金属が蒸発して蒸着するに適する電流の値を
いい、これは蒸着の条件で決まるもので、条件としては
蒸着金属の種類、基材の量、真空室内の真空度などがあ
り、良好な蒸着を得るに重要な値の一つである。蒸着設
定電流は一概に決められないが例えば100〜1000
0 Aの範囲で適宜法められる。
ばよい。また同時に収着を終了するため、フィラメント
5′への電流を切る。このとき、フィラメント5にはす
でに電流が流れていて予熱されているので、直ちにあら
かじめ蒸着に適するように設定されている蒸着設定電流
を流すことができる。なおこの蒸着設定電流はこの電流
により蒸着金属が蒸発して蒸着するに適する電流の値を
いい、これは蒸着の条件で決まるもので、条件としては
蒸着金属の種類、基材の量、真空室内の真空度などがあ
り、良好な蒸着を得るに重要な値の一つである。蒸着設
定電流は一概に決められないが例えば100〜1000
0 Aの範囲で適宜法められる。
フィラメント5に蒸着設定電流が流れることにより、蒸
着用金属6が蒸発して、基材8の表面に金属薄膜を形成
する。
着用金属6が蒸発して、基材8の表面に金属薄膜を形成
する。
なお基材取付治具7は、蒸着の不均一性を良好にするた
めに、真空室1内にセットしてからは蒸着終了時まで常
に回転させていることが好ましい。
めに、真空室1内にセットしてからは蒸着終了時まで常
に回転させていることが好ましい。
この回転により基材8の全面がフィラメント5側に一様
に対面することが可能となり基材8の全面に均一な蒸着
ができる。
に対面することが可能となり基材8の全面に均一な蒸着
ができる。
[実施例]
以下、実施例により本発明をさらに詳しく説明する。
友tm
アクリル樹脂製の基材(501X3aR×31IIIl
、100個)を真空蒸着するにあたり、蒸着用金属とし
てアルミニウムを用い、フィラメントに撚線タングステ
ンを使ってこれを加熱することによりアルミニウムを蒸
発させて蒸着させ、金属被膜を形成させた。真空蒸着装
置は第1図に示したような装置を用いた。
、100個)を真空蒸着するにあたり、蒸着用金属とし
てアルミニウムを用い、フィラメントに撚線タングステ
ンを使ってこれを加熱することによりアルミニウムを蒸
発させて蒸着させ、金属被膜を形成させた。真空蒸着装
置は第1図に示したような装置を用いた。
蒸着の準備として、まず真空室1内をロータリーポンプ
4で1×10”2Torrまで排気して、ざらにメカニ
カルブースターポンプ3および拡散ポンプ2を併用して
、IX 10−3 T Orrまで排気した。
4で1×10”2Torrまで排気して、ざらにメカニ
カルブースターポンプ3および拡散ポンプ2を併用して
、IX 10−3 T Orrまで排気した。
次に収着室9のフィラメント5′に電流600Aを20
秒間流してフィラメント5′を予熱する。フィラメント
5′の予熱終了後、フィラメント5に電流600Aを流
し、真空室1内に放出ガスを発生させると同時に、フィ
ラメント5′に100OAの電流を約20秒間流し収着
用金属6′を蒸発させて真空v1内で発生した放出ガス
を収着させた。この収着により、直ちに真空室1内の真
空度はlX10’T orrまで上った。この時にフィ
ラメント5′の電流を切り、収着を終了した。
秒間流してフィラメント5′を予熱する。フィラメント
5′の予熱終了後、フィラメント5に電流600Aを流
し、真空室1内に放出ガスを発生させると同時に、フィ
ラメント5′に100OAの電流を約20秒間流し収着
用金属6′を蒸発させて真空v1内で発生した放出ガス
を収着させた。この収着により、直ちに真空室1内の真
空度はlX10’T orrまで上った。この時にフィ
ラメント5′の電流を切り、収着を終了した。
同時にフィラメント5の電流を100OAに上げ、フィ
ラメント5をざらに加熱してMIX用金ff6をM発さ
せ、蒸着を開始した。
ラメント5をざらに加熱してMIX用金ff6をM発さ
せ、蒸着を開始した。
蒸着を20秒間行った後、フィラメント5の電流を切り
、蒸着を終了した。
、蒸着を終了した。
真空室1内に大気を導入して、真空室1を開けて基材8
を取り出して調べた結果、基材8は100個すべて良好
な金属Ill!を形成していた。
を取り出して調べた結果、基材8は100個すべて良好
な金属Ill!を形成していた。
また蒸着の間、真空室1内の真空度の大きな低下はなく
収着室におけるゲッター反応が十分に効果があることが
確認された。
収着室におけるゲッター反応が十分に効果があることが
確認された。
[発明の効果]
本発明の効果を掲げると以下の通りである。
■真空室内の真空度を従来と比較した場合、本発明では
低真空度で金属薄膜の形成が開始可能である。
低真空度で金属薄膜の形成が開始可能である。
■従って真空に要する時間が短縮されて、fIj膜形成
が効率的に行うことができる。
が効率的に行うことができる。
■従来装置では、真空室内におけるフィラメントと基材
の位置関係により金属Illの良否があったが、本発明
による装置を使用すると真空室内の基材の位置による金
属薄膜の良否の差はなく、いずれの位置でも良好な薄膜
形成を行うことができる。
の位置関係により金属Illの良否があったが、本発明
による装置を使用すると真空室内の基材の位置による金
属薄膜の良否の差はなく、いずれの位置でも良好な薄膜
形成を行うことができる。
■その結果、真空!内の蒸着可能な有効容積が大きくな
り、一度に多くの基材が薄膜形成可能となった。
り、一度に多くの基材が薄膜形成可能となった。
第1図、第2図は本発明による一実施例を示す真空蒸着
の装置図であり、第1図は縦型、第2因は横型の装置図
、 第3図はフィラメントと蒸着用金属(収着用金Ji)の
真空蒸着前の状態図。 1・・・真空室、 2・・・拡散ポンプ、 3・・・メ
カニカルブースターポンプ、 4・・・ロータリーポン
プ、5.5′・・・フィラメント、 6・・・蒸着用金
属、6′・・・収着用金属、 7・・・基材取付治具、
8・・・基材、 9・・・収着室、 10・・・隔壁、
11・・・電流調整器、 12・・・交流電源、13・
・・受け。 I11図
の装置図であり、第1図は縦型、第2因は横型の装置図
、 第3図はフィラメントと蒸着用金属(収着用金Ji)の
真空蒸着前の状態図。 1・・・真空室、 2・・・拡散ポンプ、 3・・・メ
カニカルブースターポンプ、 4・・・ロータリーポン
プ、5.5′・・・フィラメント、 6・・・蒸着用金
属、6′・・・収着用金属、 7・・・基材取付治具、
8・・・基材、 9・・・収着室、 10・・・隔壁、
11・・・電流調整器、 12・・・交流電源、13・
・・受け。 I11図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、真空室内で気相金属を発生させて基材表面に金属薄
膜を形成させる方法において、該真空室内を排気後、該
気相金属を発生させる前に、該真空室内を予熱してガス
を発生させ、該真空室内にこれと連通する隔壁で仕切ら
れた収着室内で金属蒸気を発生させて、該真空室内に存
在するガスを該金属により収着することを特徴とする金
属薄膜の形成方法。 2、前記金属薄膜を形成する方法が、真空蒸着法、イオ
ンプレーティング法、スパッタリング法、熱CVD法、
光CVD法およびプラズマCVD法から選ばれるいずれ
か1つである特許請求の範囲第1項記載の金属薄膜の形
成方法。 3、真空室内で気相金属を発生させて基材表面に金属薄
膜を形成させる装置において、該真空室内にこれと連通
する隔壁で仕切られた収着室および該収着室内に金属蒸
気を発生する手段を設けたことを特徴とする金属薄膜の
形成装置。 4、前記金属薄膜を形成させる方法が真空蒸着法、イオ
ンプレーティング法、スパッタリング法、熱CVD法、
光CVD法およびプラズマCVD法から選ばれるいずれ
か1つである特許請求の範囲第3項記載の金属薄膜の形
成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6273387A JPS63230864A (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 | 金属薄膜の形成方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6273387A JPS63230864A (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 | 金属薄膜の形成方法およびその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63230864A true JPS63230864A (ja) | 1988-09-27 |
Family
ID=13208868
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6273387A Pending JPS63230864A (ja) | 1987-03-19 | 1987-03-19 | 金属薄膜の形成方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63230864A (ja) |
-
1987
- 1987-03-19 JP JP6273387A patent/JPS63230864A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS582022A (ja) | 薄膜形成方法 | |
JP4197204B2 (ja) | 酸化マグネシウムの作製装置 | |
Kikuchi et al. | Development of a new NEG pump using oxygen-free Pd/Ti thin film | |
JPS63230864A (ja) | 金属薄膜の形成方法およびその装置 | |
JPH02138469A (ja) | ダイアモンド表面を有する真空用材料、この真空用材料の表面処理法、ダイアモンド膜表面の作製法、真空用材料を用いた真空容器とその部品,真空内駆動機構,電子放出源,真空内ヒータおよび蒸着源容器 | |
JPH08209329A (ja) | 巻き取り式蒸着装置及びcvd装置 | |
JP3305786B2 (ja) | 耐食性のすぐれた永久磁石の製造方法 | |
JP2776807B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS6340201B2 (ja) | ||
JPH09118977A (ja) | 薄膜を堆積する方法 | |
JP3847863B2 (ja) | 真空装置及びその製造方法 | |
JPS6318053A (ja) | 有色薄膜の生成方法 | |
JP2001098358A (ja) | カーボン薄膜の成膜装置、及びカーボン薄膜製造方法 | |
JPS63230865A (ja) | 金属薄膜を形成する方法 | |
JP2623715B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP2005220445A (ja) | 巻き取り式蒸着装置及びcvd装置 | |
JPH02115359A (ja) | 化合物薄膜作成方法および装置 | |
JPS5943988B2 (ja) | 超微粒子膜の製造方法および製造装置 | |
JPS61219028A (ja) | 液晶配向膜の形成方法 | |
JPH03115561A (ja) | 膜を被覆する方法および被覆装置 | |
JPS5831078A (ja) | 被膜基体の前処理方法およびその装置 | |
JPS61256640A (ja) | プラズマ気相成長装置 | |
JPH0978225A (ja) | 薄膜の形成方法 | |
JPS6026533B2 (ja) | 義歯床の製造方法 | |
JPH0542764B2 (ja) |