JPS63211509A - 半導体磁器組成物 - Google Patents
半導体磁器組成物Info
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- JPS63211509A JPS63211509A JP62040430A JP4043087A JPS63211509A JP S63211509 A JPS63211509 A JP S63211509A JP 62040430 A JP62040430 A JP 62040430A JP 4043087 A JP4043087 A JP 4043087A JP S63211509 A JPS63211509 A JP S63211509A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子機械や機器中の受動電子部品として半導体
磁器コンデンサ、特に還元再酸化形半導体磁器コンデン
サに適した磁器組成物に関する。
磁器コンデンサ、特に還元再酸化形半導体磁器コンデン
サに適した磁器組成物に関する。
受動電子部品としての半導体磁器コンデンサは粒界層形
として粒界絶縁形があり、表面層形として基層容量形と
還元再酸化形に大別される。
として粒界絶縁形があり、表面層形として基層容量形と
還元再酸化形に大別される。
そして、−Cに粒界絶縁形は基層容量形に比べて容量が
小さく、還元再酸化形に比べて耐電圧が小さい。基層容
量形は周波数特性が悪く、誘電体を置火tanδが大き
く耐電圧が小さい。還元再酸化形は単位面積当りの容量
(μF /cd)を大きくしようとすれば破壊電圧値が
小さくなり、誘電体損失が大きくなるか、または容量の
温度特性が大きくなるという問題点が夫々あった。
小さく、還元再酸化形に比べて耐電圧が小さい。基層容
量形は周波数特性が悪く、誘電体を置火tanδが大き
く耐電圧が小さい。還元再酸化形は単位面積当りの容量
(μF /cd)を大きくしようとすれば破壊電圧値が
小さくなり、誘電体損失が大きくなるか、または容量の
温度特性が大きくなるという問題点が夫々あった。
本発明は還元再酸化形半導体磁器コンデンサにおいて、
前記の欠点を除去して単位面積当りの容lc μF /
ctAが大きく、耐電圧も高く、しかも温度特性が良
好な半導体磁器組成物を得ようとするものである。
前記の欠点を除去して単位面積当りの容lc μF /
ctAが大きく、耐電圧も高く、しかも温度特性が良
好な半導体磁器組成物を得ようとするものである。
前記の目的を達成するために本発明は半導体磁器組成物
として、BaTi0:lを主成分とし、副成分としてニ
オブをNb2O5に換算して0.2〜3.0モル%。
として、BaTi0:lを主成分とし、副成分としてニ
オブをNb2O5に換算して0.2〜3.0モル%。
セリウムをCeO□に換算して0.2〜3.0モル%含
有した成分に対してコバルトをco304に換算して0
.8重量%以下、マンガンをMnC0,に換算して0.
25重量%以下、酸化シリコン5iO7を0.25重量
%以下、及びCaTi0.を0.2〜15.0重量%夫
々添加したことを特徴とする(100− x Y)B
aTiO3+x −Nb2O5 + Y −CeO□系
半導体磁器組成物を用いる。
有した成分に対してコバルトをco304に換算して0
.8重量%以下、マンガンをMnC0,に換算して0.
25重量%以下、酸化シリコン5iO7を0.25重量
%以下、及びCaTi0.を0.2〜15.0重量%夫
々添加したことを特徴とする(100− x Y)B
aTiO3+x −Nb2O5 + Y −CeO□系
半導体磁器組成物を用いる。
ただし、x、 yはそれぞれ
0.2≦x≦3.0,0.2≦y≦3.0mo1%であ
る。
る。
また、本発明は上記組成物にさらに、イットリウムをY
2O3に換算して0.1〜3.0重世%添加した半導体
磁器組成物を用いることができる。
2O3に換算して0.1〜3.0重世%添加した半導体
磁器組成物を用いることができる。
出発原料として工業用原料のBaCO3,TiO2,N
1g05゜Ce0z、CO50m、MnC0*、5iO
z、CaC0ff+YzOzを用い、第1表に示した配
合比になるように秤量し、これら原料配合物を合成樹脂
ボールミルで2O時時間式混合撹拌した後、脱水乾燥し
、12O0℃で2時間仮焼成し、これを合成樹脂ボール
ミルで2O時間回転粉砕する。これを脱水乾燥して2重
量%の有機結合剤ポリビニルアルコール(PVA)を加
え、造粒整粒を行なって顆粒粉末としこの粉末を約3t
on/catの成形圧力で直径10fl、厚さ0.51
の円板状成形物を作成する。この成形物を800℃で1
時間脱バインダ処理を行ない、その後1300℃で2時
間本焼成する。これを還元雰囲気(H,ガス雰囲気)中
で800℃で約2時間遠元して還元形半導体磁器を作り
、これを酸化性雰囲気中(大気中)で800℃で2時間
熱処理して半導体磁器表面のみを再酸化し、その後この
磁器素子の両面にagペーストを印刷塗布して800℃
で焼付けて電橋を形成して還元再酸化形半導体磁器コン
デンサを得た。
1g05゜Ce0z、CO50m、MnC0*、5iO
z、CaC0ff+YzOzを用い、第1表に示した配
合比になるように秤量し、これら原料配合物を合成樹脂
ボールミルで2O時時間式混合撹拌した後、脱水乾燥し
、12O0℃で2時間仮焼成し、これを合成樹脂ボール
ミルで2O時間回転粉砕する。これを脱水乾燥して2重
量%の有機結合剤ポリビニルアルコール(PVA)を加
え、造粒整粒を行なって顆粒粉末としこの粉末を約3t
on/catの成形圧力で直径10fl、厚さ0.51
の円板状成形物を作成する。この成形物を800℃で1
時間脱バインダ処理を行ない、その後1300℃で2時
間本焼成する。これを還元雰囲気(H,ガス雰囲気)中
で800℃で約2時間遠元して還元形半導体磁器を作り
、これを酸化性雰囲気中(大気中)で800℃で2時間
熱処理して半導体磁器表面のみを再酸化し、その後この
磁器素子の両面にagペーストを印刷塗布して800℃
で焼付けて電橋を形成して還元再酸化形半導体磁器コン
デンサを得た。
このようにして得た試料について、それぞれ電気特性を
測定した結果を第1表に示す。
測定した結果を第1表に示す。
ここで、容量Cおよび誘電体損失tanδは周波数1k
Hz、IVで測定した。絶縁抵抗[Rは直流25Vを印
加して室温2O℃で測定した。
Hz、IVで測定した。絶縁抵抗[Rは直流25Vを印
加して室温2O℃で測定した。
以下、余白
第1表において、本発明に係るものは容量C1直流破壊
電圧■1.絶縁抵抗IRが大きく、温度特性が良好な素
子が得られた。
電圧■1.絶縁抵抗IRが大きく、温度特性が良好な素
子が得られた。
次に本発明における組成比の限定理由を述べると、
NbJsが0.2mo1%未満であるか又は3.0mo
1%を超えた場合は単位面積当り容量C〔μF /cd
)が小さく、誘電体損失tanδが大きい。またJR。
1%を超えた場合は単位面積当り容量C〔μF /cd
)が小さく、誘電体損失tanδが大きい。またJR。
■、も低くなる(試料階1,2,3,17,18゜19
)。
)。
CeO2が0.2mo1%未満ではCが小さく、かつt
anδが大きくなり、3.0mo1%を超えるとtan
δが大きい。また温度特性T、C,がD特性規格から外
れる(試料隘1.3,8.13.17.19)。
anδが大きくなり、3.0mo1%を超えるとtan
δが大きい。また温度特性T、C,がD特性規格から外
れる(試料隘1.3,8.13.17.19)。
CQ3flLが0.8wt%を超えるとCが小さくなる
(試料IIk124)。
(試料IIk124)。
MnC0*が0.25wt%を超えると■、が低くなる
(試料−27)。
(試料−27)。
SiO□が0.25wt%を超えるとCが小さくIR。
■、が低くなる(試料隘30)。
CaTi03がQ、2wt%未満ではC及びV、のアッ
プが顕著でない。また、15.0wt%を越えるとCが
低下し、tanδ、 T、C,が大きくなる(試料阻3
1゜36.42.46)。
プが顕著でない。また、15.0wt%を越えるとCが
低下し、tanδ、 T、C,が大きくなる(試料阻3
1゜36.42.46)。
Y2O3が0.1wt%未満では■ものアンプが顕著で
ない。また3、04%を越えるとCが低下する(試料階
31,37,38,39,43.47.48)。
ない。また3、04%を越えるとCが低下する(試料階
31,37,38,39,43.47.48)。
本発明はBaTi0z + Nb2O5 + Ce0z
系半導体磁器組成物において、BaTiOsを主成分と
し1it)2O5.Ce0z+C0Jt、MnC0*、
5iOz及びCaTi0.を副成分として含有させるこ
とにより、これを還元再酸化形半導体磁器コンデンサに
使用した場合容量Cが大きく、耐電圧も高く、しかも温
度特性が良好なものが得られたものである。これにさら
にY2O,を添加することによって、絶縁抵抗、直流破
壊電圧が向上し、温度特性も良好なものが得られ、従来
の還元再酸化形半導体磁器コンデンサの性能を向上させ
ることができたものである。
系半導体磁器組成物において、BaTiOsを主成分と
し1it)2O5.Ce0z+C0Jt、MnC0*、
5iOz及びCaTi0.を副成分として含有させるこ
とにより、これを還元再酸化形半導体磁器コンデンサに
使用した場合容量Cが大きく、耐電圧も高く、しかも温
度特性が良好なものが得られたものである。これにさら
にY2O,を添加することによって、絶縁抵抗、直流破
壊電圧が向上し、温度特性も良好なものが得られ、従来
の還元再酸化形半導体磁器コンデンサの性能を向上させ
ることができたものである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)BaTiO_3を主成分とし、副成分としてニオ
ブをNb_2O_5に換算して0.2〜3.0モル%、
セリウムをCeO_2に換算して0.2〜3.0モル%
含有した成分に対してコバルトをCo_3O_4に換算
して0.8重量%以下、マンガンをMnCo_3に換算
して0.25重量%以下、酸化シリコンSiO_2を0
.25重量%以下、およびCaTiO_2を0.2〜1
5.0重量%夫々添加したことを特徴とする(100−
x−y)BaTiO_3+x・Nb_2O_5+y・C
eO_2系半導体磁器組成物。 ただし、x、yはそれぞれ 0.2≦x≦3.0、0.2≦y≦3.0モル%である
。 (2)前記成分からなる組成物を成形焼結してなる半導
体磁器の表面層が絶縁化していることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の (100−x−y)BaTiO_3+x・Nb_2O_
5+y・CeO_2系半導体磁器組成物。 (3)BaTiO_3を主成分とし、副成分としてニオ
ブをNb_2O_5に換算して0.2〜3.0モル%、
セリウムをCeO_2に換算して0.2〜3.0モル%
含有した成分に対してコバルトをCo_3O_4に換算
して0.8重量%以下、マンガンをMnCO_3に換算
して0.25重量%以下、酸化シリコンSiO_2を0
.25重量%以下、CaTiO_3を0.2〜15.0
重量%、及びイットリウムをY_2O_3に換算して0
.1〜3.0重量%夫々添加したことを特徴とする(1
00−x−y)BaTiO_3+x・Nb_2O_5+
y・CeO_2系半導体磁器組成物。 ただし、x、yはそれぞれ 0.2≦x≦3.0、0.2≦y≦3.0モル%である
。 (4)前記成分からなる組成物を成形焼結してなる半導
体磁器の表面層が絶縁化していることを特徴とする特許
請求の範囲第3項記載の (100−x−y)BaTiO_3+x・Nb_2O_
5+y・CeO_2系半導体磁器組成物。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62040430A JPS63211509A (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | 半導体磁器組成物 |
EP87111158A EP0256405B1 (en) | 1986-08-11 | 1987-08-01 | Semiconductive ceramic composition |
DE8787111158T DE3775855D1 (de) | 1986-08-11 | 1987-08-01 | Keramische halbleiterzusammensetzung. |
US07/082,688 US4861736A (en) | 1986-08-11 | 1987-08-04 | Semiconductive ceramic composition |
KR1019870008754A KR940001654B1 (ko) | 1986-08-11 | 1987-08-10 | 반도전성 세라믹 조성물 |
CN87105843A CN1009873B (zh) | 1986-08-11 | 1987-08-11 | 半导体陶瓷组合物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62040430A JPS63211509A (ja) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | 半導体磁器組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63211509A true JPS63211509A (ja) | 1988-09-02 |
Family
ID=12580431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62040430A Pending JPS63211509A (ja) | 1986-08-11 | 1987-02-25 | 半導体磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63211509A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5110814A (ja) * | 1974-07-11 | 1976-01-28 | Tdk Electronics Co Ltd | |
JPS5292399A (en) * | 1976-01-29 | 1977-08-03 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Porcelain dielectric material |
JPS61193419A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-27 | 株式会社村田製作所 | 還元再酸化型半導体コンデンサ磁器組成物 |
-
1987
- 1987-02-25 JP JP62040430A patent/JPS63211509A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5110814A (ja) * | 1974-07-11 | 1976-01-28 | Tdk Electronics Co Ltd | |
JPS5292399A (en) * | 1976-01-29 | 1977-08-03 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Porcelain dielectric material |
JPS61193419A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-27 | 株式会社村田製作所 | 還元再酸化型半導体コンデンサ磁器組成物 |
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