JPS6320554A - メモリエラ−検出訂正回路 - Google Patents

メモリエラ−検出訂正回路

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Publication number
JPS6320554A
JPS6320554A JP61166482A JP16648286A JPS6320554A JP S6320554 A JPS6320554 A JP S6320554A JP 61166482 A JP61166482 A JP 61166482A JP 16648286 A JP16648286 A JP 16648286A JP S6320554 A JPS6320554 A JP S6320554A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
error
memory
circuit
period
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61166482A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideki Katagiri
秀樹 片桐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP61166482A priority Critical patent/JPS6320554A/ja
Publication of JPS6320554A publication Critical patent/JPS6320554A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、周期的に読出されるデータのデータ損傷によ
るメモリのビット誤りの有無を読出し時に検出し、エラ
ー検出時にはデータを訂正し出力するとともに、訂正デ
ータをメモリへ再書込みするメモリエラー検出訂正回路
に関し、特に長い読出し周期のデータについてエラー検
出能力を高めたメモリエラー検出訂正回路に関する。
[従来の技術] 従来のメモリエラー検出訂正回路としては、第2図のよ
うに構成されたものがある。すなわち、第2図において
、メモリ回路7には、符号化回路4にてエラー検出訂正
符号が付加されたデータが書込まれている。メモリ制御
回路2は、入力データバス1のデータにしたがいメモリ
回路7へのデータの書込み、読出しのタイミング制御信
号を制御信号線6へ出力するようになっている。符号化
回路4は、メモリ回路7ヘデータを書込むとき、メモリ
データ入力バス3から入力されたデータを、エラー検出
訂正符号付データに符号化し、メモリデータ入出力バス
5へ出力するようになっテイル、メモリ回路7は、メモ
リデータ入出力バス5より入力したデータを順次書込み
蓄積するようになっている。そして、メモリ回路7に蓄
積されたデータは、ごく短い周期T、と長い周期T2と
でそれぞれ繰返して出力され続けられる。
エラー検出復号化回路8は、正常時はメモリデータ入出
力バス5より入力したデータをエラー検出訂正符号のな
いデータに復号化し、メモリデータ出力バス9に出力す
る。エラー訂正回路10は、メモリデータ出力バス9よ
り入力されたデータが、エラー検出されたことを示す信
号がないときに出力データバス11へ、入力されたデー
タをそのまま出力するようになっている。
上記のような構成にあっては、次のようにしてエラー検
出訂正を行なう、すなわち、偶発的故障や、放射線等に
よりメモリ回路7のデータに。
データ損傷が発生すると、そのデータを読出す際にエラ
ー検出復号化回路8がエラーを検出し、エラー内容と復
号化後のデータをメモリデータ出力バス9へ出力する。
エラー訂正回路10は、エラー検出復号化回路8のエラ
ー検出信号によりエラーの有無を判定し、エラー検出時
はエラーを訂正し、エラーが無いときは復号後のデータ
をそのまま出力データバス11へ出力する。
一方、訂正後データをメモリデータ入力バス3へ出力し
、符号化回路4で符号化され、メモリデータ入出力バス
5が空いているときに、メモリ回路7へ再書込みする。
以上のように、メモリ回路7に蓄積されるデータは、周
期的に出力されるごとに、ビット誤りがあれば検出訂正
され、再書込みされることになる。したがって、ビット
誤りのない書込み時と同じデータが保たれることになる
[解決すべき問題点コ 上述した従来のメモリエラー検出訂正回路にあっては、
次のような問題点があった。すなわち、第3図はメモリ
回路7の繰返し周期データの出力シーケンスの一例を示
す図であるが、この図において、データ送信同期用デー
タ14および送信用データ15は、短い周期TIで繰返
し読出されて出力され、回線制御用データ13は長い周
期T2 に−度だけ読出し送出さるようになっている。
ここで、データ送信同期用データ14および送信用デー
タ15はごく短い周期T、で繰返し送出されるため、デ
ータ損傷によるとットエラーが発生しても、エラー訂正
回路で周期T1ごとにエラー検出されて再書込みされる
。つまり、データ損傷発生後、ただちにエラー訂正され
、正常データを維持することができる。
一方、回線制御用データ13は、データ送信同期用デー
タ14および送信用データ15の周期T1に比較して十
分に長い周期T2で一度しか読出されないため、データ
損傷後放置時間が長くなり、さらに、データ損傷で複数
のビット誤りが発生しやすくなる。これが同一ワードの
複数ビット誤りの場合、エラー訂正回路の機能によって
はエラー訂正不走となり、正常データを再書込みするこ
とができない。
このように、メモリ回路7のデータ読出し周期T2が著
しく長いデータがある場合、データ読出し時のみのエラ
ー検出訂正では読出し周期の異なるデータ間に、データ
に信頼性の差異が生じ、通信全体の信頼性を損なわせる
ことになる。
また、長い読出し周期Tzのデータが回線制御信号のよ
うに、その通信においてきわめて重要なデータである場
合、回線の周期がとれなくなり、ネットワークが構成さ
れなくなる問題があった。
本発明は上述した問題点にかんがみてなされたもので、
長い読出し周期のデータのエラー検出能力を高め、デー
タの信頼性を高めるメモリエラー検出訂正回路を提供す
ることを目的とする。
[問題点の解・決手段] 上記目的を達成するために本発明は、周期T1で読み出
されるデータと、周期T2(Tl >TI )で読み出
されるデータとを記憶しているメモリ回路から読み出さ
れるデータのビット誤りを検出し訂正するメモリエラー
検出訂正回路において、前記周期T1で読み出されるデ
ータについて周期TI でエラー検出訂正をする手段と
、前記周期T2で読み出されるデータについて周期T3
(Tl <72 )でエラー検出訂正する手段とを具備
した構成にしである。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は第2図と同一部分には同一符号を付した本実施
例のブロック図であり、本実施例では、メモリデータ入
出力バス5が開放されているときに長い読出し周期T2
のデータを72 より短い周期T1 (TI<TコくT
l)で読出し、エラー検出および訂正し、エラー検出訂
正符号付データとしてメモリ回路7に再書込みするエラ
ー検出訂正回路12を、メモリデータ入出力バス5に接
続した構成にしである。
上述した構成にあって、メモリ制御回路2は入力データ
バス1のデータにもとづきメモリ回路7を訓御し、制御
信号線6ヘメモリ制御信号を出力する。また、入力デー
タバス1のデータがメモリ書込みデータのときは、メモ
リデータ入力バス3へそのデータを出力する。符号化回
路4は、メモリデータ入出力バス3より入力したデータ
をエラー検出訂正符号付きデータに符号化し、メモリデ
ータ入出力バス5へ符号化後データを出力する。メモリ
回路7は、制′a@号線6の制御信号にもとづき符号付
きデータの書込み、読出しを行なう。
エラー検出復号化回路8は、メモリデータ入出力バス5
より入力した符号付データからエラー検出訂正符号デー
タのないデータへ復号化し、メモリデータ出力バス9ヘ
エラー検出信号と復号後データを出力する。エラー訂正
回路10は、エラー検出信号をもとに復号後データにエ
ラーがあれば、これを検出し、訂正データを出力する。
本実施例の特徴とするエラー検出訂正回路12では、メ
モリデータ入出力バス5が開放されているときには、長
い読出し周期T2のデータを、この周期T2より短い周
期T3(Tl <Tl <Tl )で読出し、エラー検
出および訂正し、エラー検出訂正符号付データとしてメ
モリ回路7に再書込みされることになる。
よって、このニラ−検出訂正回路12により。
長い読出し周期T2のデータにエラーが発生しても、長
い周期T2の間装置されないため、同一ワードにさらに
ビット誤りが発生する確立がきわめて低くなり、他の短
い読出し周期τiのデータとエラー検出訂正壱カがほぼ
均等化され、データの信頼性が高くなる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、長い読出周期T2
のデータを従来の読出シーケンスとは別に、エラー検出
訂正のために読出し、メモリのビット誤り検出時にエラ
ー訂正し、エラー検出訂正符号付で再書込みするエラー
検出訂正回路を有することにより、長い読出し周期T2
のデータのエラー検出能力を高め、データの信頼性を高
める。特に、長い読出し周期T2のデータが回線制御デ
ータのように、その通信においてきわめて重要なデータ
である場合でも、データ損傷により回線の同期がとれな
くなり、ネットワークの構成ができなくなるようなこと
がほとんどなくなるため、通信の信頼性を一段と向上さ
せる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるメモリエラー検出訂正回路の一実
施例の構成を示すブロック図、第2図は従来例の構成を
示すブロック図、第3図はメモリ回路の繰返し周期デー
タの出力シーケンスの一例を示す図である。 l:入力データバス    2:メモリ制御回路3:メ
モリデータ入力バス  4:符号化回路5:メモリデー
タ入出力バス 6:制御信号線7:メモリ回路  8:
エラー検出復号化回路9:メモリデータ出力バス lO:エラー訂正回路 11:出力データバス 12:ニラ−検出訂正回路 13:回線制御用データ 14:データ送信同期用データ 15:送信用データ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 周期T_1で読み出されるデータと、周期T_2(T_
    2>T_1)で読み出されるデータとを記憶しているメ
    モリ回路から読み出されるデータのビット誤りを検出し
    訂正するメモリエラー検出訂正回路において、前記周期
    T_1で読み出されるデータについて周期T_1でエラ
    ー検出訂正をする手段と、前記周期T_2で読み出され
    るデータについて周期T_3(T_3<T_2)でエラ
    ー検出訂正する手段とを具備したことを特徴とするメモ
    リエラー検出訂正回路。
JP61166482A 1986-07-14 1986-07-14 メモリエラ−検出訂正回路 Pending JPS6320554A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61166482A JPS6320554A (ja) 1986-07-14 1986-07-14 メモリエラ−検出訂正回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61166482A JPS6320554A (ja) 1986-07-14 1986-07-14 メモリエラ−検出訂正回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6320554A true JPS6320554A (ja) 1988-01-28

Family

ID=15832217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61166482A Pending JPS6320554A (ja) 1986-07-14 1986-07-14 メモリエラ−検出訂正回路

Country Status (1)

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JP (1) JPS6320554A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08243092A (ja) * 1989-03-17 1996-09-24 Baxter Internatl Inc 注射部位及びカニューレ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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