JPS6319030A - 座標検出方法 - Google Patents
座標検出方法Info
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- JPS6319030A JPS6319030A JP61162933A JP16293386A JPS6319030A JP S6319030 A JPS6319030 A JP S6319030A JP 61162933 A JP61162933 A JP 61162933A JP 16293386 A JP16293386 A JP 16293386A JP S6319030 A JPS6319030 A JP S6319030A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/046—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by electromagnetic means
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Position Input By Displaying (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、入力平面上で指示した位置を高精度に読み
取る座標入力装置における座標検出方法に関する。
取る座標入力装置における座標検出方法に関する。
平面上に指示した位置を高精度に読み取る座標入力検知
技術の一例に、本出願人が特願昭60−117761と
して出願したものがある。この中に開示された座標入力
装置は、タブレット上に平行に埋設した複数の導体のう
ち、少なくとも2本の導体に同時に同一位相の走査信号
を送出し、該導体に送出した走査信号によって生じた信
号を座標指示具によって検出し、この検出された信号の
極性が反転したことを判別するとともに、この極性が反
転した前後における信号レベルを検出し、さらに、極性
の反転が判別された座標上の大まかな領域と、該大まか
な領域における上記信号レヘルとから座標指示具がポイ
ントした位置を演算して検出するように意図されたもの
である。
技術の一例に、本出願人が特願昭60−117761と
して出願したものがある。この中に開示された座標入力
装置は、タブレット上に平行に埋設した複数の導体のう
ち、少なくとも2本の導体に同時に同一位相の走査信号
を送出し、該導体に送出した走査信号によって生じた信
号を座標指示具によって検出し、この検出された信号の
極性が反転したことを判別するとともに、この極性が反
転した前後における信号レベルを検出し、さらに、極性
の反転が判別された座標上の大まかな領域と、該大まか
な領域における上記信号レヘルとから座標指示具がポイ
ントした位置を演算して検出するように意図されたもの
である。
この出願に提示された座標の算手方法は、2本の導体を
選択し、その中間点で磁界の極性が反転することを想定
したものであるが、各導体に走査電流を供給する共通導
線から発する磁界によつ反転位置が中間点からシフトし
てしまい、このシフトによる算出誤差が問題になること
があった。特に、1本ずつのループを順次選択して走査
するように構成されたものにあっては、該シフトが精度
上特に問題となる。これを具体的に説明する。
選択し、その中間点で磁界の極性が反転することを想定
したものであるが、各導体に走査電流を供給する共通導
線から発する磁界によつ反転位置が中間点からシフトし
てしまい、このシフトによる算出誤差が問題になること
があった。特に、1本ずつのループを順次選択して走査
するように構成されたものにあっては、該シフトが精度
上特に問題となる。これを具体的に説明する。
第11図に極性反転位置のシフトがないときの検出電圧
分布を示す。ここでは、例として1Ofl≦X≦30酊
の領域の分布を示しており、X=10゜15.20,2
5.30mmで反転する各ループの検出電圧をL+o+
LIs、 Lzo+ LZ51 L30で示
しである。ここで、各ループL 1G” L 30に対
応する磁界強度82分布は、零点の左側で正、右側で負
になり、電圧は磁界強度H2の絶対値を検出するものと
する。そして、10n≦X≦20n、15璽l≦X≦2
5mm、20m≦X≦30mmの各領域をそれぞれセグ
メント2(S2)、セグメント3(S:l ) 、セグ
メント4(S4)と称することとする。
分布を示す。ここでは、例として1Ofl≦X≦30酊
の領域の分布を示しており、X=10゜15.20,2
5.30mmで反転する各ループの検出電圧をL+o+
LIs、 Lzo+ LZ51 L30で示
しである。ここで、各ループL 1G” L 30に対
応する磁界強度82分布は、零点の左側で正、右側で負
になり、電圧は磁界強度H2の絶対値を検出するものと
する。そして、10n≦X≦20n、15璽l≦X≦2
5mm、20m≦X≦30mmの各領域をそれぞれセグ
メント2(S2)、セグメント3(S:l ) 、セグ
メント4(S4)と称することとする。
ここで、ピックアップが第11図工位置(X=21mm
)にあるときを考えると、s、、x=20mのときまで
は、H2く0であり、s5.x=25mとなったときに
、H2〉0となる。そこで、L2Sのループによる検出
電圧■2を得る。次に2つ手前のセグメント、すなわち
5s−t −S:+、 X = 255−1O=15t
のループLI5を選択し、これによる検出電圧■1を得
る。そして、この例では15n≦X≦25鶴の領域にあ
たるS3を補間のセグメントとして選択する。
)にあるときを考えると、s、、x=20mのときまで
は、H2く0であり、s5.x=25mとなったときに
、H2〉0となる。そこで、L2Sのループによる検出
電圧■2を得る。次に2つ手前のセグメント、すなわち
5s−t −S:+、 X = 255−1O=15t
のループLI5を選択し、これによる検出電圧■1を得
る。そして、この例では15n≦X≦25鶴の領域にあ
たるS3を補間のセグメントとして選択する。
次に、極性反転位置がシフトした場合の例を第12図に
示す。この例は、前述の磁界強度H2分布曲線がXの正
方向にシフトしたもので、前記ループ、セグメントと同
一のものには同一の符号を付しである。この例において
も同様にX=21mmにあたるT位置にピックアップが
位置しているものとする。
示す。この例は、前述の磁界強度H2分布曲線がXの正
方向にシフトしたもので、前記ループ、セグメントと同
一のものには同一の符号を付しである。この例において
も同様にX=21mmにあたるT位置にピックアップが
位置しているものとする。
この場合には、Sa、X=2ONで、すてにH2〉0と
なる。それ故、補間領域は、s4−、 ”S2となり、
1011≦X≦2Onの領域で補間がおこなわれること
になる。
なる。それ故、補間領域は、s4−、 ”S2となり、
1011≦X≦2Onの領域で補間がおこなわれること
になる。
すなわち、本来のセグメントの領域を外れているにもか
かわらず、その領域で補間計算がおこなわれるという誤
動作を引きおこすことがわかる。
かわらず、その領域で補間計算がおこなわれるという誤
動作を引きおこすことがわかる。
この例では、S3で補間するのが理想であるが、たとえ
セグメントの判別を誤まったとしてもS4で補間するよ
うに設定しなければ精度の向上は望めない。
セグメントの判別を誤まったとしてもS4で補間するよ
うに設定しなければ精度の向上は望めない。
この問題を解決するため、本出願人は特願昭6(]−2
90797号として、大まかな領域を検出する際に、初
めて磁界の極性の反転を該座標指示具により検出したル
ープと、走査方向に対し所定の本数手前のループとの検
出電圧の絶対値を比較して、補間する大まかな領域を決
定するように構成した発明を提案した。この発明は、補
間領域としての大まかな領域を決定するに際し、極性が
反転する前後のループの検出電圧の絶対値の比較比をと
って決定しようとするもので、その原理を以下に説明す
る。
90797号として、大まかな領域を検出する際に、初
めて磁界の極性の反転を該座標指示具により検出したル
ープと、走査方向に対し所定の本数手前のループとの検
出電圧の絶対値を比較して、補間する大まかな領域を決
定するように構成した発明を提案した。この発明は、補
間領域としての大まかな領域を決定するに際し、極性が
反転する前後のループの検出電圧の絶対値の比較比をと
って決定しようとするもので、その原理を以下に説明す
る。
第10図にピックアップによる検出電圧分布を示す。こ
の図は簡単のため直線で示しである。以下の記述では、
前述と同様に、セグメントを81(n:整数)、これに
対応するループをL5.、と表わしてあり、補間領域は
lQmmで各セグメントは5mづつオーバーラツプして
おり、ループは5fi間隔で形成しであるものとする。
の図は簡単のため直線で示しである。以下の記述では、
前述と同様に、セグメントを81(n:整数)、これに
対応するループをL5.、と表わしてあり、補間領域は
lQmmで各セグメントは5mづつオーバーラツプして
おり、ループは5fi間隔で形成しであるものとする。
第10図に示した検出電圧分布では、セグメン)sn−
zを用いた補間に際し、ループLn−2とLllの検出
電圧■、、−2,■、、を用いる。ところが、検出電圧
■7−2とV、、との交点C1のX座標をA、検出電圧
V B −1と■1との交点C2のX座標をBとすると
、X<Aの領域では■l1−2が、X>Bの領域では■
7が小さな値となる。回路上、Vn−1とVn−2の交
点C3および■7と■イー、の交点C2よりも大きな値
を用いるようにしたほうがよいため、常にA≦X≦Bの
範囲で補間することが望ましい。すなわち、第9図にお
いて、ピックアップがX=5 (n−1) vaより右
側に位置するときは、LI、のループを駆動したときに
はじめて極性反転が検出され、この状態で、上記条件を
満足するためには、ピックアップが、5 (n−1)
m<X<Bにあるときは、セグメントとしてS、、を選
択し、B<Xく5nfiにあるときは、S、、−1のセ
グメントを選択する必要がある。これにより、検出電圧
として常に上記C+、CZより大きな値を得ることがで
き、補間領域を最適な領域に規定できる。
zを用いた補間に際し、ループLn−2とLllの検出
電圧■、、−2,■、、を用いる。ところが、検出電圧
■7−2とV、、との交点C1のX座標をA、検出電圧
V B −1と■1との交点C2のX座標をBとすると
、X<Aの領域では■l1−2が、X>Bの領域では■
7が小さな値となる。回路上、Vn−1とVn−2の交
点C3および■7と■イー、の交点C2よりも大きな値
を用いるようにしたほうがよいため、常にA≦X≦Bの
範囲で補間することが望ましい。すなわち、第9図にお
いて、ピックアップがX=5 (n−1) vaより右
側に位置するときは、LI、のループを駆動したときに
はじめて極性反転が検出され、この状態で、上記条件を
満足するためには、ピックアップが、5 (n−1)
m<X<Bにあるときは、セグメントとしてS、、を選
択し、B<Xく5nfiにあるときは、S、、−1のセ
グメントを選択する必要がある。これにより、検出電圧
として常に上記C+、CZより大きな値を得ることがで
き、補間領域を最適な領域に規定できる。
したがって、A<X<Bの範囲に対し、最適なセグメン
トを求める場合のアルゴリズムは次のようになる。
トを求める場合のアルゴリズムは次のようになる。
L、、L、、・・・・・・と、ループを順次ドライブし
て、ループL9にきたとき、初めて磁界強度H2の極性
反転が検出されたとする。この条件下で、とする。そう
すれば、必ず補間に用いる検出電圧は補間領域にあり、
かつC+、Czの交点の電圧よりも高くなるため、補間
の精度を確保することができる。
て、ループL9にきたとき、初めて磁界強度H2の極性
反転が検出されたとする。この条件下で、とする。そう
すれば、必ず補間に用いる検出電圧は補間領域にあり、
かつC+、Czの交点の電圧よりも高くなるため、補間
の精度を確保することができる。
このようにしてセグメントを選択した例を第13図およ
び第14図に示す。同第13図、第14図は、Y=10
0w近傍における検出電圧分布と、この分布曲線に対す
る補間領域を示すもので、X軸下方に明示した長方形部
が前述のセグメントSで、その中の斜線部分にピックア
ップが位置したとき、そのセグメントを選択して補間す
るように意図されている。しかし、入力平面の周辺部に
おいては、磁界の反転位置のシフト量が大きくなって第
9図におけるA、Bに相当する位置もシフトし、セグメ
ント境界に近くなったり、該セグメントから若干外れる
事態も発生する。したがって、このようなときには、前
述の条件式を ■ IV、、/ Vll−1l < 2のとき 8つ一
1■ l v、/vn−+ l≧2のとき 5n−2
とすることにより適切なセグメントの選択が可能になる
。
び第14図に示す。同第13図、第14図は、Y=10
0w近傍における検出電圧分布と、この分布曲線に対す
る補間領域を示すもので、X軸下方に明示した長方形部
が前述のセグメントSで、その中の斜線部分にピックア
ップが位置したとき、そのセグメントを選択して補間す
るように意図されている。しかし、入力平面の周辺部に
おいては、磁界の反転位置のシフト量が大きくなって第
9図におけるA、Bに相当する位置もシフトし、セグメ
ント境界に近くなったり、該セグメントから若干外れる
事態も発生する。したがって、このようなときには、前
述の条件式を ■ IV、、/ Vll−1l < 2のとき 8つ一
1■ l v、/vn−+ l≧2のとき 5n−2
とすることにより適切なセグメントの選択が可能になる
。
上記の発明にあっては、電圧値の比較比をとって適切な
セグメントを選定しているが、入力平面の周辺部につい
ては、比較比の値を変える必要があり、こうすることに
より、入力平面の周辺部においても前記第10図A、B
位置付近でセグメントを使用することができた。しかし
、この方法でも、補間に用いる電圧が小さな値となるこ
とがあり、さらに高精度の検出をおこなうに際し、座標
出力が不安定となり、検出精度に対して悪影響がでる虞
れがあった。また、上記のように比較比の設定値をセグ
メントによっては変更して検出をおこなうことから、検
出のアルゴリズムが複雑になりすぎる懸念があった。
セグメントを選定しているが、入力平面の周辺部につい
ては、比較比の値を変える必要があり、こうすることに
より、入力平面の周辺部においても前記第10図A、B
位置付近でセグメントを使用することができた。しかし
、この方法でも、補間に用いる電圧が小さな値となるこ
とがあり、さらに高精度の検出をおこなうに際し、座標
出力が不安定となり、検出精度に対して悪影響がでる虞
れがあった。また、上記のように比較比の設定値をセグ
メントによっては変更して検出をおこなうことから、検
出のアルゴリズムが複雑になりすぎる懸念があった。
このような点から、本出願人は、特願昭61−1068
37号として、周辺部については、セグメントを検出磁
界の反転位置のシフト方向へ予め設定された量だけオフ
セットして、■、とV、l−。
37号として、周辺部については、セグメントを検出磁
界の反転位置のシフト方向へ予め設定された量だけオフ
セットして、■、とV、l−。
の大小関係だけでセグメントを選択する比較的単純なア
ルゴリズムで座標検出をおこなう座標検出方法を提案し
た。
ルゴリズムで座標検出をおこなう座標検出方法を提案し
た。
以下、上記出願において提示された座標入力装置につい
て説明する。
て説明する。
第9図は座標入力装置の原理的概念図で、同図において
、座標入力装置は、メインループ2a。
、座標入力装置は、メインループ2a。
補償ループ3aを備えた入力平面2b、発振器1を介し
てメインループ2aに一定振幅の電流を送出するドライ
バ2、補償ループ3aに電流を送出するドライバ3、磁
界検出コイルを備えた座標検出具としてのピックアップ
6、ピックアップ6によって検出した出力を増幅する増
幅回路7、極性判別回路8、検波回路9、サンプルホー
ルドアンプ11,12、マルチプレクサ13、A/D変
換器14、補償値を格納した第1の記憶手段としてのR
OMテーブル15、補間値の誤差の補正値を格納した第
2の記憶手段としてのROMテーブル16、および制御
回路10とから構成され、前記メインループ2aのX方
向のループにはX方向のスイッチング回路4が、また、
Y方向のループにはY方向のスイッチング回路5が、そ
れぞれ設けられている。
てメインループ2aに一定振幅の電流を送出するドライ
バ2、補償ループ3aに電流を送出するドライバ3、磁
界検出コイルを備えた座標検出具としてのピックアップ
6、ピックアップ6によって検出した出力を増幅する増
幅回路7、極性判別回路8、検波回路9、サンプルホー
ルドアンプ11,12、マルチプレクサ13、A/D変
換器14、補償値を格納した第1の記憶手段としてのR
OMテーブル15、補間値の誤差の補正値を格納した第
2の記憶手段としてのROMテーブル16、および制御
回路10とから構成され、前記メインループ2aのX方
向のループにはX方向のスイッチング回路4が、また、
Y方向のループにはY方向のスイッチング回路5が、そ
れぞれ設けられている。
メインループ2aは、入力平面2b上に平行に5N間隔
で埋設されており、各ループLの一端はスイッチング回
路4 (Y方向の場合は、スイッチング回路5)へ、他
端はソース線2Sにそれぞれ結線され、全体として、例
えば200mx200mmの入力平面を形成し、ソース
線2Sはドライバ2に結線されている。Y方向も同様に
して形成され、X方向と直交するようになっている。
で埋設されており、各ループLの一端はスイッチング回
路4 (Y方向の場合は、スイッチング回路5)へ、他
端はソース線2Sにそれぞれ結線され、全体として、例
えば200mx200mmの入力平面を形成し、ソース
線2Sはドライバ2に結線されている。Y方向も同様に
して形成され、X方向と直交するようになっている。
補償ループ3aは、該メインループ2aのソース&!2
sの近傍であって、該メインループ2a全体を囲繞する
ように、メインループ2aとは別体の導体を埋設してあ
り、一端は、この補償ループ3aに該メインループ2a
のソース線2Sに流れる電流とは逆方向の所定の振幅の
電流を送出するドライバ3に結線され、他端はアースさ
れている。
sの近傍であって、該メインループ2a全体を囲繞する
ように、メインループ2aとは別体の導体を埋設してあ
り、一端は、この補償ループ3aに該メインループ2a
のソース線2Sに流れる電流とは逆方向の所定の振幅の
電流を送出するドライバ3に結線され、他端はアースさ
れている。
補償値が格納された第1の記憶手段としてのROMテー
ブル15には、各ループLとY方向(あるいはX方向)
の領域に応じた補償値が格納されている。
ブル15には、各ループLとY方向(あるいはX方向)
の領域に応じた補償値が格納されている。
このROMテーブル15には、全てのセグメントSfi
と、そのセグメントS11に対応する各メインループ毎
の検出高さZ−15mの条件下の補償値ISCが格納さ
れ、制御回路lOの検出結果に応じて該当する補償値I
SCを制御回路10が呼び出し、制御回路IO内に備え
られた演算手段により補間値を算出するようにされてい
る。
と、そのセグメントS11に対応する各メインループ毎
の検出高さZ−15mの条件下の補償値ISCが格納さ
れ、制御回路lOの検出結果に応じて該当する補償値I
SCを制御回路10が呼び出し、制御回路IO内に備え
られた演算手段により補間値を算出するようにされてい
る。
補正値が格納された第2の記憶手段としてのR0Mテー
ブル16は、算出された補間値からその誤差を補正して
正確な座標位置を得るためのもので、例えば検出したセ
グメントに対し補間値の0.ll毎の補正値を記憶させ
である。
ブル16は、算出された補間値からその誤差を補正して
正確な座標位置を得るためのもので、例えば検出したセ
グメントに対し補間値の0.ll毎の補正値を記憶させ
である。
ピックアップ6は、先端部に磁界検出コイルを備えてお
り、磁界検出コイルによって生じた電圧を、増幅回路7
を介して検波回路9および極性判別回路8に送るように
なっている。
り、磁界検出コイルによって生じた電圧を、増幅回路7
を介して検波回路9および極性判別回路8に送るように
なっている。
引き続き、上記座標入力装置の動作について説明する。
ピックアップ6の位置検出は、ピックアップ6の概略位
置であるセグメント検出と、検出したセグメント内の詳
細位置検出たる補間と、該セグメント位置とセグメント
内の詳細位置との合成との大きく3つのステップに分け
ておこなわれる。
置であるセグメント検出と、検出したセグメント内の詳
細位置検出たる補間と、該セグメント位置とセグメント
内の詳細位置との合成との大きく3つのステップに分け
ておこなわれる。
セグメント検出時には、まず、発振器lにより生成され
た正弦波を用いてドライバ2,3が動作する。この状態
で、制御回路10により指定されたスイッチング回路4
.5のうちの特定の一本のループLにのみ順次ドライバ
2による電流が流れる。このとき、補償ループ3aには
、メインループ2aに流れる電流1/2の振幅の電流が
ドライバ3によって流れるようにされている。
た正弦波を用いてドライバ2,3が動作する。この状態
で、制御回路10により指定されたスイッチング回路4
.5のうちの特定の一本のループLにのみ順次ドライバ
2による電流が流れる。このとき、補償ループ3aには
、メインループ2aに流れる電流1/2の振幅の電流が
ドライバ3によって流れるようにされている。
今、各ループLに電流が走査されると、そのループLに
関して発生した磁界はピックアップ6により検知され、
増幅回路7により所望の振幅の信号に増幅される。この
信号は、発振器1の出力と極性判別(位相比較)回路8
において位相が比較される。言い換えれば、そこで磁界
の極性が検出できる。そして、ピックアップ6の図にお
いて左側のループLを駆動したときに極性判別回路8の
出力が#H”であったとすると、ピックアップ6の右側
のループLを駆動したときには検出磁界の極性が反転す
るため、極性判別回路の出力も“L“に反転する。
関して発生した磁界はピックアップ6により検知され、
増幅回路7により所望の振幅の信号に増幅される。この
信号は、発振器1の出力と極性判別(位相比較)回路8
において位相が比較される。言い換えれば、そこで磁界
の極性が検出できる。そして、ピックアップ6の図にお
いて左側のループLを駆動したときに極性判別回路8の
出力が#H”であったとすると、ピックアップ6の右側
のループLを駆動したときには検出磁界の極性が反転す
るため、極性判別回路の出力も“L“に反転する。
したがって、制御回路10によりX o、 X +、
X t、・・・・・・X7と順次ループLを選択して電
流を送出すると、ピックアップ6の近傍で極性判別回路
8の出力が反転するループL、が検出される。このルー
プLI、が判明すると、そのループLnでの電圧V、と
、一つ手前のループL、、−+の電圧V、、−,を検出
し、両型圧■。、V、、を比較し、所定のアルゴリズム
にしたがって補間すべき領域(セグメント)を決定する
。
X t、・・・・・・X7と順次ループLを選択して電
流を送出すると、ピックアップ6の近傍で極性判別回路
8の出力が反転するループL、が検出される。このルー
プLI、が判明すると、そのループLnでの電圧V、と
、一つ手前のループL、、−+の電圧V、、−,を検出
し、両型圧■。、V、、を比較し、所定のアルゴリズム
にしたがって補間すべき領域(セグメント)を決定する
。
セグメントが決定できたら(例えば第10図5n−2と
する)、制御回路は、まずそのセグメントs、−zの左
端に位置するループしい−2を選択する。このときピッ
クアップ6、増幅回路7を経た信号は検波回路9を通じ
て直流に変換され、サンプル−ホールドアンプ11によ
って直流電圧として保持される。
する)、制御回路は、まずそのセグメントs、−zの左
端に位置するループしい−2を選択する。このときピッ
クアップ6、増幅回路7を経た信号は検波回路9を通じ
て直流に変換され、サンプル−ホールドアンプ11によ
って直流電圧として保持される。
次に、制御回路10はセグメント5fi−2の右端に位
置するループL7を選択し、前述と同様にして検波回路
9で得られた直流電圧をサンプル−ホールドアンプ12
で保持する。そして、サンプル−ホールドアンプ11.
12に保持された電圧を、制御回路10の信号によって
マルチプレクサ13が選択してA/D変換器14により
デジタル値に変換し、ループL、、、Lゎからの電圧V
ll−2,V。
置するループL7を選択し、前述と同様にして検波回路
9で得られた直流電圧をサンプル−ホールドアンプ12
で保持する。そして、サンプル−ホールドアンプ11.
12に保持された電圧を、制御回路10の信号によって
マルチプレクサ13が選択してA/D変換器14により
デジタル値に変換し、ループL、、、Lゎからの電圧V
ll−2,V。
を得る。
次に、制御回路10はスイッチング回路4.5を全てO
FFにする。これにより補償ループ3aにのみ前記所定
の電流が流れるので、前述と同様の方法により検波出力
をA/D変換して、補償ループ3aのみからの電圧■。
FFにする。これにより補償ループ3aにのみ前記所定
の電流が流れるので、前述と同様の方法により検波出力
をA/D変換して、補償ループ3aのみからの電圧■。
を得ることができる。
次に、制御回路10はセグメント判別で得られたX方向
、Y方向のセグメントの値(同方向の距離)に応じた補
償値ISCを、ROMテーブル15から呼び出し、 という補償値を導入した式(2)に、検出した電圧■ア
ペ、■1.VCおよびISCを代入して制御回路10内
の演算手段により、補間値P′を算出する。
、Y方向のセグメントの値(同方向の距離)に応じた補
償値ISCを、ROMテーブル15から呼び出し、 という補償値を導入した式(2)に、検出した電圧■ア
ペ、■1.VCおよびISCを代入して制御回路10内
の演算手段により、補間値P′を算出する。
そして、この補間値P′が算出されると、前述の誤差を
補正する補正値Pが格納されたROMテーブル16から
該当する補正値を呼び出し、セグメント内の位置を特定
する座標値を得る。その後、X= (S、、X5.O+
α) +P (龍〕S、l :セグメントNo。
補正する補正値Pが格納されたROMテーブル16から
該当する補正値を呼び出し、セグメント内の位置を特定
する座標値を得る。その後、X= (S、、X5.O+
α) +P (龍〕S、l :セグメントNo。
P:補間値を修正した補正値
α:セグメントSのシフト量(セグメントのオフセット
の有無および方向に応じて、予め設定された例えばα−
−2,5,0,+2.5というようなシフト量をそれぞ
れソフトウェアによって適宜選択する) というように、セグメントの位置座標(S、 X5.0
+α)と、該セグメント内での座標値Pを制御回路内の
演算手段により合成して、最終的なピックアップ6のポ
イント位置のX座標を算出する。
の有無および方向に応じて、予め設定された例えばα−
−2,5,0,+2.5というようなシフト量をそれぞ
れソフトウェアによって適宜選択する) というように、セグメントの位置座標(S、 X5.0
+α)と、該セグメント内での座標値Pを制御回路内の
演算手段により合成して、最終的なピックアップ6のポ
イント位置のX座標を算出する。
Y方向にも同様のセグメントを設定しであるので、同様
の検出動作によりポイント位置のY座標を算出し、イン
タフェイス回路17を介して算出した座標値をホストコ
ンピュータ側に出力する。
の検出動作によりポイント位置のY座標を算出し、イン
タフェイス回路17を介して算出した座標値をホストコ
ンピュータ側に出力する。
ところで、上記従来列にあっては、いずれも検出磁界の
極性反転位置のシフトが原因となって座標検出誤差を招
来し、この誤差をいかに小さくするかということで、補
償値や補正値を導入してセグメント間の正確な座標位置
を補間したり、誤差の少ないセグメントを選定した。
極性反転位置のシフトが原因となって座標検出誤差を招
来し、この誤差をいかに小さくするかということで、補
償値や補正値を導入してセグメント間の正確な座標位置
を補間したり、誤差の少ないセグメントを選定した。
これらの発想は、セグメントを所定のループ間隔によっ
て規定したことから生まれたもので、シフト量に関係な
くハード的にセグメントを設定したため、算出のアルゴ
リズムが複雑になっていると考えられる。
て規定したことから生まれたもので、シフト量に関係な
くハード的にセグメントを設定したため、算出のアルゴ
リズムが複雑になっていると考えられる。
この発明は、上記の技術的背景に鑑みてなされたもので
、その目的は、シフト的にセグメントを設定して、比較
的簡単なアルゴリズムで座標検出が可能な座標検出方法
を提案することにある。
、その目的は、シフト的にセグメントを設定して、比較
的簡単なアルゴリズムで座標検出が可能な座標検出方法
を提案することにある。
上記目的を達成するため、この発明は、入力平面上の座
標位置を検出する座標検出方法において、互いに平行に
埋設された複数の導体からなるメインループを備えた入
力平面に対し、該メインループの各ループに順次走査信
号を送出した際の検出磁界の極性反転位置を基準に複数
の大まかな領域を設定し、補間すべき大まかな領域を特
定した後、大まかな領域における座標指示具の指示位置
を補間し、さらに、該大まかな領域の座標位置と、補間
によって得られた補間値とから座標指示具が指示した入
力平面上の座標位置を算出する構成にしである。
標位置を検出する座標検出方法において、互いに平行に
埋設された複数の導体からなるメインループを備えた入
力平面に対し、該メインループの各ループに順次走査信
号を送出した際の検出磁界の極性反転位置を基準に複数
の大まかな領域を設定し、補間すべき大まかな領域を特
定した後、大まかな領域における座標指示具の指示位置
を補間し、さらに、該大まかな領域の座標位置と、補間
によって得られた補間値とから座標指示具が指示した入
力平面上の座標位置を算出する構成にしである。
上記手段によれば、セグメントを検出磁界の極性反転位
置を基準に設定し、極性反転位置データをROMテーブ
ルに入れて、設定したセグメント内で座標指示具が指示
した座標を補間し、この補間値にセグメントのずれ量を
加算もしくは減算することにより比較的簡単なアルゴリ
ズムで正確な座標位置を迅速に算出できる。
置を基準に設定し、極性反転位置データをROMテーブ
ルに入れて、設定したセグメント内で座標指示具が指示
した座標を補間し、この補間値にセグメントのずれ量を
加算もしくは減算することにより比較的簡単なアルゴリ
ズムで正確な座標位置を迅速に算出できる。
すなわち、第1図の算出原理説明図に示すように1本間
をおいたループしわ、L、、+2を走査したとき、座標
指示具の位WXにおけるループLいからの検出電圧が■
イ、ループL、、。2からの検出電圧がV、、。2なら
ば、極性及転位NXつとX7.2によって設定されたセ
グメントS7における補間値X。
をおいたループしわ、L、、+2を走査したとき、座標
指示具の位WXにおけるループLいからの検出電圧が■
イ、ループL、、。2からの検出電圧がV、、。2なら
ば、極性及転位NXつとX7.2によって設定されたセ
グメントS7における補間値X。
は、
v、1
で与えられる。そして、座標指示具のループL7゜Ll
、2間のX座標は、セグメントS、、のループL、。
、2間のX座標は、セグメントS、、のループL、。
からのずれ量0□を加算することによりX=X、+O,
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(4)で求めら
れる。この場合、0、の値を予めROMテーブルに格納
しておけば、簡単にXの値が求まる。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(4)で求めら
れる。この場合、0、の値を予めROMテーブルに格納
しておけば、簡単にXの値が求まる。
〔実施例〕。
以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第2図ないし第8図はこの発明の詳細な説明するための
もので、第2図はセグメントの判別方法を示す説明図、
第3図はセグメントとシフトの方向を示す説明図、第4
図ないし第7図は誤差の実測図、第8図は検出手順を示
すフローチャートである。この実施例における座標入力
装置の構造および回路は従来例とセグメントSのずれ量
を格納したROMテーブル18を除いて同一なので同一
部分の説明は割愛する。また、従来例で示した座標入力
装置と同一もしくは同一とみなせる構成要素には同一の
符号を付しである。
もので、第2図はセグメントの判別方法を示す説明図、
第3図はセグメントとシフトの方向を示す説明図、第4
図ないし第7図は誤差の実測図、第8図は検出手順を示
すフローチャートである。この実施例における座標入力
装置の構造および回路は従来例とセグメントSのずれ量
を格納したROMテーブル18を除いて同一なので同一
部分の説明は割愛する。また、従来例で示した座標入力
装置と同一もしくは同一とみなせる構成要素には同一の
符号を付しである。
第2図にループLと当該ループLを走査したときに生じ
た磁界による電圧分布を示す。この図は、従来例と同様
に5鶴ピツチで形成されたループL7(n−0〜39)
のX方向の距離5nを横軸に、検出電圧の絶対値を縦軸
にとったものである。従来ならばセグメントS7は、ル
ープLl、位置を基準に設定したが、この実施例では検
出磁界の極性反転位置を基準にセグメントS。を設定し
である。
た磁界による電圧分布を示す。この図は、従来例と同様
に5鶴ピツチで形成されたループL7(n−0〜39)
のX方向の距離5nを横軸に、検出電圧の絶対値を縦軸
にとったものである。従来ならばセグメントS7は、ル
ープLl、位置を基準に設定したが、この実施例では検
出磁界の極性反転位置を基準にセグメントS。を設定し
である。
すなわち、n番目のセグメントS、lはn番目のループ
しわを走査したときに検出電圧■、が零の点を起点とし
、1本おいたループL□2を走査したときに検出電圧■
1゜2が零となる点を終点とする。
しわを走査したときに検出電圧■、が零の点を起点とし
、1本おいたループL□2を走査したときに検出電圧■
1゜2が零となる点を終点とする。
これにより、セグメントSは隣接するものどうしが一部
重複することとなるが、シフト量が大きくなっても常に
磁界の反転位置、すなわち、検出電圧V、、(n=o〜
39)が零の点を起点もしくは終点とするため、前述の
(1)の条件式だけで補間すべきセグメントS、、が選
択される。
重複することとなるが、シフト量が大きくなっても常に
磁界の反転位置、すなわち、検出電圧V、、(n=o〜
39)が零の点を起点もしくは終点とするため、前述の
(1)の条件式だけで補間すべきセグメントS、、が選
択される。
すなわち、例えば第2図工位置で示す位置にピツクアッ
プ6が位置したとすると、(n+2)番目のループLア
。2を走査したときに始めて磁界の極性が変化する。こ
のときのピックアップ6が検出したループL7.2から
検出電圧を■イ。2.1つ手前のループLn++からの
検出電圧を■アヤ、とすると、■9や2と■□や、の電
圧を比較し、(1)の条件式を照合する。その結果 l V、l+z / V11++ l≧1となるので
、補間すべきセグメントSはn番目のループL、、を走
査したときのセグメントSnになる。そして、検出電圧
値■7゜2と■7とから式(3)により補間値X9を得
ることができる。
プ6が位置したとすると、(n+2)番目のループLア
。2を走査したときに始めて磁界の極性が変化する。こ
のときのピックアップ6が検出したループL7.2から
検出電圧を■イ。2.1つ手前のループLn++からの
検出電圧を■アヤ、とすると、■9や2と■□や、の電
圧を比較し、(1)の条件式を照合する。その結果 l V、l+z / V11++ l≧1となるので
、補間すべきセグメントSはn番目のループL、、を走
査したときのセグメントSnになる。そして、検出電圧
値■7゜2と■7とから式(3)により補間値X9を得
ることができる。
このときの補間値と理想値との誤差を第4図に示す。こ
のグラフはX=20++nのループL、すなわちX =
22.36 m1mを起点とするセグメントS5.X−
95鶴のループL19すなわちX =95.07 tm
を起点とするセグメントs、1.x=170mのループ
L34すなわちX =168.21mを起点とするセグ
メントS3いいいかえれば、上記起点からそれぞれ10
酊の範囲における誤差を示している。
のグラフはX=20++nのループL、すなわちX =
22.36 m1mを起点とするセグメントS5.X−
95鶴のループL19すなわちX =95.07 tm
を起点とするセグメントs、1.x=170mのループ
L34すなわちX =168.21mを起点とするセグ
メントS3いいいかえれば、上記起点からそれぞれ10
酊の範囲における誤差を示している。
これによると、入力平面2bの中央Cより左側(X51
00m)の領域では前記(3)式をそのまま使用しても
誤差はQ、5mm以内にほぼ収まるが、右側(X>Lo
om)の領域では(3)式を使用すると前者よりも誤差
が増大することがわかる。
00m)の領域では前記(3)式をそのまま使用しても
誤差はQ、5mm以内にほぼ収まるが、右側(X>Lo
om)の領域では(3)式を使用すると前者よりも誤差
が増大することがわかる。
そこで、入力平面2bのループLの形状の対称性を考慮
すると、入力平面2bの中央より右側すなわちX>Lo
omの領域では、 という弐を使用し、セグメントS7の起点を端部に近接
したほうのループL7□を走査したときの磁界反転位置
を基準とすれば中央Cより左側における(3)式で算出
したものと同様の誤差内に収まることが予想される。こ
の方式を第3図に示す。
すると、入力平面2bの中央より右側すなわちX>Lo
omの領域では、 という弐を使用し、セグメントS7の起点を端部に近接
したほうのループL7□を走査したときの磁界反転位置
を基準とすれば中央Cより左側における(3)式で算出
したものと同様の誤差内に収まることが予想される。こ
の方式を第3図に示す。
すなわち、入力平面2bの中央C(X= 100m)の
位置を基準として、左側(X5100mm)の領域では
Xが増加する方向に補間値を算出し、右側(X>100
wm)の領域ではXが減少する方向に補間値を算出する
。
位置を基準として、左側(X5100mm)の領域では
Xが増加する方向に補間値を算出し、右側(X>100
wm)の領域ではXが減少する方向に補間値を算出する
。
このようにして算出した補間値と理想値との誤差を第5
図ないし第7図に示す。第5図は20mm≦X≦30m
++、第6図は95M≦X≦105鶴、第7図は170
■≦X≦180璽l(第5図とX−100mmに関して
対称な位置)におけるY=20゜40.100,140
,180 (龍〕の5点に関する誤差で、グラフの起点
は、第3図に示したそれぞれの駆動されるループL1の
位置(5n (m) )である。
図ないし第7図に示す。第5図は20mm≦X≦30m
++、第6図は95M≦X≦105鶴、第7図は170
■≦X≦180璽l(第5図とX−100mmに関して
対称な位置)におけるY=20゜40.100,140
,180 (龍〕の5点に関する誤差で、グラフの起点
は、第3図に示したそれぞれの駆動されるループL1の
位置(5n (m) )である。
これらのグラフによると、磁界の極性反転位置を越える
と、誤差は急激に大きくなるが、それ以外の部分では入
力平面2b全面にわたって±0.511以内の誤差内に
収っていることがわかる。
と、誤差は急激に大きくなるが、それ以外の部分では入
力平面2b全面にわたって±0.511以内の誤差内に
収っていることがわかる。
上記のようにして検出した補間値Xpを用いて実際の座
標を算出する場合には、磁界の極性反転位置をROMテ
ーブル18に格納する必要があるが、極性反転位置の絶
対位置をそのままROMテーブル化するとデータ量が非
常に大きくなり1バイトデータに収まりきれなくなる。
標を算出する場合には、磁界の極性反転位置をROMテ
ーブル18に格納する必要があるが、極性反転位置の絶
対位置をそのままROMテーブル化するとデータ量が非
常に大きくなり1バイトデータに収まりきれなくなる。
そこで、この実施例においては、ループL位置からのず
れ量O,。
れ量O,。
(n−0〜39)をROMテーブルに格納する。
したがって、第9図におけるROMテーブル15は不要
になる。ROMテーブル18には、具体的には、第2図
に示す5 (n−1) 、 5n、 5 (n+1
)fiにあたるループL、−,,L、、、L、。1の位
置からのずれ量0...011.0ア、1をROMテー
ブル化して該ROMテーブル18に格納する。そして、
入力平面2bの中央Cより左側部分ではセグメントN0
をn、ずれ量をO,tm (n=o〜40)補間値をX
、として、下記の式により X座標を算出し、中央Cより右側部分では、によりX座
標を算出する。
になる。ROMテーブル18には、具体的には、第2図
に示す5 (n−1) 、 5n、 5 (n+1
)fiにあたるループL、−,,L、、、L、。1の位
置からのずれ量0...011.0ア、1をROMテー
ブル化して該ROMテーブル18に格納する。そして、
入力平面2bの中央Cより左側部分ではセグメントN0
をn、ずれ量をO,tm (n=o〜40)補間値をX
、として、下記の式により X座標を算出し、中央Cより右側部分では、によりX座
標を算出する。
Y座標に関してもX座標と同様の方法で算出することか
でき、入力平面2bにおけるピックアップ6のX7両方
向の座標検出が可能になる。なお、上記(6)、 (
7)弐を用いるためには、X方向、Y方向ともに中央C
に関する対称性を十分に考慮しておく必要がある。
でき、入力平面2bにおけるピックアップ6のX7両方
向の座標検出が可能になる。なお、上記(6)、 (
7)弐を用いるためには、X方向、Y方向ともに中央C
に関する対称性を十分に考慮しておく必要がある。
また、補間の分解能、例えば10mmを256分割して
、その1分割分の長さ0.04mを1単位としておこな
う他の算出方法もある。この場合、ずれ量0□のデータ
も補間の分解能を単位とし、補間計算結果による補間値
X、、およびずれ量OイをO〜255の整数であると仮
定すると、入力平面2bの中央Cより左側では、セグメ
ントN0をn(0≦n≦20)として、 入力平面2bの中央Cより右側では、セグメントN0を
n(21≦n≦39)として (10−’m++) でそれぞれX座標値が求められる。
、その1分割分の長さ0.04mを1単位としておこな
う他の算出方法もある。この場合、ずれ量0□のデータ
も補間の分解能を単位とし、補間計算結果による補間値
X、、およびずれ量OイをO〜255の整数であると仮
定すると、入力平面2bの中央Cより左側では、セグメ
ントN0をn(0≦n≦20)として、 入力平面2bの中央Cより右側では、セグメントN0を
n(21≦n≦39)として (10−’m++) でそれぞれX座標値が求められる。
第8図に上記のようにして算出する座標検出の手順を示
す。このフローチャートに沿って、本発明を実施した座
標入力装置の動作について説明するが、この動作は、極
性反転検出まで従来例と同一なのでそれまでの説明は省
略する。
す。このフローチャートに沿って、本発明を実施した座
標入力装置の動作について説明するが、この動作は、極
性反転検出まで従来例と同一なのでそれまでの説明は省
略する。
ループLを走査して、ピックアップ6の近傍で極性判別
回路8の出力が反転するループしわが検出される。そし
て、このループL7での電圧■。
回路8の出力が反転するループしわが検出される。そし
て、このループL7での電圧■。
と一つ手前のループL1−1の電圧■アー1を比較し、
前記(1)で示したアルゴリズムに従って補間すべきセ
グメン)S−2あるいは5n−1を決定する。
前記(1)で示したアルゴリズムに従って補間すべきセ
グメン)S−2あるいは5n−1を決定する。
セグメントSが決定できたら(例えば第2図S、。
とする)、制御回路10はその起点に相当するループL
、、(X=5nのループ)を選択する。このときピック
アップ6、増幅回路7を経た信号は検波回路9を通じて
直流に変換され、サンプル−ホールドアンプ11によっ
て直流電圧として保持される。
、、(X=5nのループ)を選択する。このときピック
アップ6、増幅回路7を経た信号は検波回路9を通じて
直流に変換され、サンプル−ホールドアンプ11によっ
て直流電圧として保持される。
次に制御回路10はセグメントSnの終点に相当するル
ープLn、z (X= 5 (n + 2)のルー
プ)を選択し、同様にして得られた直流電圧をサンプル
−ホールドアンプ12で保持する。これらのサンプル−
ホールドアンプ12に保持された電圧は、マルチプレク
サ13およびA/D変換器14を介してデジタル値に変
換され、ループL。、Lイ。2からの電圧V、、V、、
。2を得る。
ープLn、z (X= 5 (n + 2)のルー
プ)を選択し、同様にして得られた直流電圧をサンプル
−ホールドアンプ12で保持する。これらのサンプル−
ホールドアンプ12に保持された電圧は、マルチプレク
サ13およびA/D変換器14を介してデジタル値に変
換され、ループL。、Lイ。2からの電圧V、、V、、
。2を得る。
そして、制御回路10内の演算回路により、前記(3)
式あるいは(5)式により補間値X、を算出する。補間
値X、、が算出されると、セグメントN、に対応するセ
グメントSのずれ量O,lが格納されたROMテーブル
18から、該当するずれ量O1を引き出して、前記(8
)式あるいは(9)式により最終的なXの座標値を得る
。Y方向についても同様の方法で座標値を得ることがで
き、X座標とY座標を合成して、ピックアップ6の入力
平面2b上の位置検出が可能になる。
式あるいは(5)式により補間値X、を算出する。補間
値X、、が算出されると、セグメントN、に対応するセ
グメントSのずれ量O,lが格納されたROMテーブル
18から、該当するずれ量O1を引き出して、前記(8
)式あるいは(9)式により最終的なXの座標値を得る
。Y方向についても同様の方法で座標値を得ることがで
き、X座標とY座標を合成して、ピックアップ6の入力
平面2b上の位置検出が可能になる。
以上のように、上記実施例によれば、
■ 補間計算に補償値を導入する必要がないので計算が
簡単になり、演算速度が向上する、■ 補間計算に際し
て補償ループ3aのみからの検出電圧■ゎを検出する必
要がないので、補償ループ3aを断接するスイッチング
手段が不要になり、コストの低減を図ることができると
ともに、スイッチング動作をする必要もないので演算速
度の向上を図ることができる、 ■ 磁界の極性反転位置のずれ量0□のデータが、座標
値と直接的に結びついているため、実験によるデータ修
正が簡単である、 ■ 入力平面2bの周辺部の極性反転位置のずれ量を加
味したセグメントの移動や、セグメント判別アルゴリズ
ムの周辺部に対する特別の配慮が不要となり、セグメン
ト判別アルゴリズムが一種類でよく、簡単になる、 ■ X方向、Y方向別々に補間計算まで進めることがで
き、座標値の合成の段階で初めてROMテーブル18を
引(ように構成できるので、演算工程が簡単になり演算
速度の向上を図ることができる、 ″ 等々の種々の効果がある。
簡単になり、演算速度が向上する、■ 補間計算に際し
て補償ループ3aのみからの検出電圧■ゎを検出する必
要がないので、補償ループ3aを断接するスイッチング
手段が不要になり、コストの低減を図ることができると
ともに、スイッチング動作をする必要もないので演算速
度の向上を図ることができる、 ■ 磁界の極性反転位置のずれ量0□のデータが、座標
値と直接的に結びついているため、実験によるデータ修
正が簡単である、 ■ 入力平面2bの周辺部の極性反転位置のずれ量を加
味したセグメントの移動や、セグメント判別アルゴリズ
ムの周辺部に対する特別の配慮が不要となり、セグメン
ト判別アルゴリズムが一種類でよく、簡単になる、 ■ X方向、Y方向別々に補間計算まで進めることがで
き、座標値の合成の段階で初めてROMテーブル18を
引(ように構成できるので、演算工程が簡単になり演算
速度の向上を図ることができる、 ″ 等々の種々の効果がある。
これまでの説明で明らかなように、入力平面における座
標指示具の位置する大まかな領域を、入力平面に埋設さ
れた導体に順次走査信号を送出した際に検出される磁界
の反転位置を基準に設定し、この反転位置を基準に設定
された大まかな領域内において補間するととに、大まか
な領域の座標位置と補間による補間値とから座標指示具
の指示位置を合成して入力平面における座標指示具の指
示位置を検出するように構成したこの発明によれば、一
種類のセグメント判別アルゴリズムで補間すべき大まか
な領域を特定できるのでプログラムが簡単になる。また
、セグメント判別に用いた検出電圧のみから補間値を算
出できるので、補間値を算出する際の補償値等の導入や
補償ループからの電圧検出が不要となる。これにより演
算速度が向上し、この種の座標入力装置の性能向上を図
ることができる。
標指示具の位置する大まかな領域を、入力平面に埋設さ
れた導体に順次走査信号を送出した際に検出される磁界
の反転位置を基準に設定し、この反転位置を基準に設定
された大まかな領域内において補間するととに、大まか
な領域の座標位置と補間による補間値とから座標指示具
の指示位置を合成して入力平面における座標指示具の指
示位置を検出するように構成したこの発明によれば、一
種類のセグメント判別アルゴリズムで補間すべき大まか
な領域を特定できるのでプログラムが簡単になる。また
、セグメント判別に用いた検出電圧のみから補間値を算
出できるので、補間値を算出する際の補償値等の導入や
補償ループからの電圧検出が不要となる。これにより演
算速度が向上し、この種の座標入力装置の性能向上を図
ることができる。
第1図ないし第8図は実施例を説明するためのもので、
第1図はこの発明の座標検出の算出原理説明図、第2図
はセグメント判別法を示す説明図、第3図はセグメント
とシフトの方向を示す説明図、第4図ないし第7図は誤
差の実測図、第8図は検出手順を示すフローチャート、
第9図は実施例および従来例に係る座標入力装置の原理
的構成図、第10図ないし第14図は従来例を説明する
ためのもので、第10図はセグメント判別法を示す説明
図、第11図および第12図はそれぞれ検出電圧とセグ
メントの関係を示す説明図、第13図および第14図は
それぞれセグメントのシフト状態を示す実測図である。 2a・・・・・・メインループ、6・・・・・・ピック
アップ、L、L、・・・・・・ループ、oll・・・・
・・ずれ量、S、 S11・・・・・・セグメント、
X、・・・・・・極性反転位置、X、・・・・・・補間
値。 第1図 区歪T n (uJLLI)* 丼算 ■ (LLILLj)i翼 (uitu )1譬 (tuw) Td 譬 手続補正書(自発) 昭和62年 2月R日
第1図はこの発明の座標検出の算出原理説明図、第2図
はセグメント判別法を示す説明図、第3図はセグメント
とシフトの方向を示す説明図、第4図ないし第7図は誤
差の実測図、第8図は検出手順を示すフローチャート、
第9図は実施例および従来例に係る座標入力装置の原理
的構成図、第10図ないし第14図は従来例を説明する
ためのもので、第10図はセグメント判別法を示す説明
図、第11図および第12図はそれぞれ検出電圧とセグ
メントの関係を示す説明図、第13図および第14図は
それぞれセグメントのシフト状態を示す実測図である。 2a・・・・・・メインループ、6・・・・・・ピック
アップ、L、L、・・・・・・ループ、oll・・・・
・・ずれ量、S、 S11・・・・・・セグメント、
X、・・・・・・極性反転位置、X、・・・・・・補間
値。 第1図 区歪T n (uJLLI)* 丼算 ■ (LLILLj)i翼 (uitu )1譬 (tuw) Td 譬 手続補正書(自発) 昭和62年 2月R日
Claims (1)
- 互いに平行に埋設された複数の導体からなるメインルー
プを備えた入力平面に対し、該メインループの各ループ
に順次走査信号を送出した際の検出磁界の極性反転位置
を基準に複数の大まかな領域を設定し、補間すべき大ま
かな領域を特定した後、大まかな領域における座標指示
具の指示位置を補間し、さらに、該大まかな領域の座標
位置と、補間によつて得られた補間値とから座標指示具
が指示した入力平面上の座標位置を算出することを特徴
とする座標検出方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61162933A JPH0654460B2 (ja) | 1986-07-12 | 1986-07-12 | 座標検出方法 |
US07/021,148 US4758690A (en) | 1986-07-12 | 1987-03-03 | Coordinate detecting method |
CA000535271A CA1276258C (en) | 1986-07-12 | 1987-04-22 | Coordinate detecting method |
DE19873717272 DE3717272A1 (de) | 1986-07-12 | 1987-05-22 | Verfahren zum feststellen von koordinaten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61162933A JPH0654460B2 (ja) | 1986-07-12 | 1986-07-12 | 座標検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6319030A true JPS6319030A (ja) | 1988-01-26 |
JPH0654460B2 JPH0654460B2 (ja) | 1994-07-20 |
Family
ID=15763996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61162933A Expired - Lifetime JPH0654460B2 (ja) | 1986-07-12 | 1986-07-12 | 座標検出方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4758690A (ja) |
JP (1) | JPH0654460B2 (ja) |
CA (1) | CA1276258C (ja) |
DE (1) | DE3717272A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011198024A (ja) * | 2010-03-19 | 2011-10-06 | Casio Computer Co Ltd | 位置検出装置、及び位置検出機能付き表示装置 |
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US4928256A (en) * | 1988-03-16 | 1990-05-22 | Ametek, Inc. | Digitizer for position sensing |
US5148600A (en) * | 1991-09-17 | 1992-09-22 | Advanced Robotics (A.R.L.) Ltd. | Precision measuring apparatus |
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EP0574213B1 (en) * | 1992-06-08 | 1999-03-24 | Synaptics, Inc. | Object position detector |
US5861583A (en) * | 1992-06-08 | 1999-01-19 | Synaptics, Incorporated | Object position detector |
US5880411A (en) | 1992-06-08 | 1999-03-09 | Synaptics, Incorporated | Object position detector with edge motion feature and gesture recognition |
US6028271A (en) * | 1992-06-08 | 2000-02-22 | Synaptics, Inc. | Object position detector with edge motion feature and gesture recognition |
US6239389B1 (en) | 1992-06-08 | 2001-05-29 | Synaptics, Inc. | Object position detection system and method |
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JP3368627B2 (ja) * | 1993-08-31 | 2003-01-20 | 双葉電子工業株式会社 | ディスプレイ一体型タブレット |
US6380929B1 (en) | 1996-09-20 | 2002-04-30 | Synaptics, Incorporated | Pen drawing computer input device |
US5854625A (en) * | 1996-11-06 | 1998-12-29 | Synaptics, Incorporated | Force sensing touchpad |
JP2001134382A (ja) | 1999-11-04 | 2001-05-18 | Sony Corp | 図形処理装置 |
US8050876B2 (en) * | 2005-07-18 | 2011-11-01 | Analog Devices, Inc. | Automatic environmental compensation of capacitance based proximity sensors |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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SE420655B (sv) * | 1975-05-23 | 1981-10-19 | Seiko Instr & Electronics | Automatisk koordinatbestemningsanordning |
US3999012A (en) * | 1975-07-07 | 1976-12-21 | Ibm Corporation | Graphic entry tablet with improved addressing |
SE406642B (sv) * | 1977-02-16 | 1979-02-19 | Aga Ab | Elektromekanisk legesgivare |
JPS5920156B2 (ja) * | 1980-07-10 | 1984-05-11 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 座標読取装置 |
JPS60181816A (ja) * | 1984-02-29 | 1985-09-17 | Pentel Kk | 図形入力装置 |
-
1986
- 1986-07-12 JP JP61162933A patent/JPH0654460B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-03-03 US US07/021,148 patent/US4758690A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-04-22 CA CA000535271A patent/CA1276258C/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-05-22 DE DE19873717272 patent/DE3717272A1/de active Granted
Patent Citations (2)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4758690A (en) | 1988-07-19 |
DE3717272C2 (ja) | 1989-06-01 |
CA1276258C (en) | 1990-11-13 |
DE3717272A1 (de) | 1988-01-21 |
JPH0654460B2 (ja) | 1994-07-20 |
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