JPS63167262A - クロマトグラフ質量分析計 - Google Patents
クロマトグラフ質量分析計Info
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- JPS63167262A JPS63167262A JP61309941A JP30994186A JPS63167262A JP S63167262 A JPS63167262 A JP S63167262A JP 61309941 A JP61309941 A JP 61309941A JP 30994186 A JP30994186 A JP 30994186A JP S63167262 A JPS63167262 A JP S63167262A
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- spectral
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Links
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 22
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 14
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Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は、ＥＩ法、ＣＩ法を両用するようにしたＧＣ／
ＭＳ （クロマトグラフ質量分析計）のデータの検索シ
ステムに関する。
ＭＳ （クロマトグラフ質量分析計）のデータの検索シ
ステムに関する。
口、従来の技術
ＧＣ／ＭＳ装置により試料分析を行う場合、ＧＣ／ＭＳ
測定によりえられた測定データに基づいて分析試料の同
定を行う０分析試料の同定は、ＥＩ法（電子衝撃イオン
化法）によるスペクトルのパターン比較によって行う、
従来は、試料同定のための判定データとして、ＥＩ法に
よって得られるデータだけを通常用いているが、ＥＩ法
によるデータだけでは、似たようなＥＩスペクトルパタ
ーンを与える物質が多種存在するので、比較候補に挙が
ってくるＥＩスペクトルデータが多数あって同定作業が
繁雑困難となり、他種のデータがないと判定が困難であ
ると云う問題がある。
測定によりえられた測定データに基づいて分析試料の同
定を行う０分析試料の同定は、ＥＩ法（電子衝撃イオン
化法）によるスペクトルのパターン比較によって行う、
従来は、試料同定のための判定データとして、ＥＩ法に
よって得られるデータだけを通常用いているが、ＥＩ法
によるデータだけでは、似たようなＥＩスペクトルパタ
ーンを与える物質が多種存在するので、比較候補に挙が
ってくるＥＩスペクトルデータが多数あって同定作業が
繁雑困難となり、他種のデータがないと判定が困難であ
ると云う問題がある。
ハ１発明が解決しようとする問題点
本発明は、上述したような問題を解消し、簡単にしかも
より確かな判定ができるようにすることを目的とする。
より確かな判定ができるようにすることを目的とする。
二１問題点解決のための手段
ＧＣ／ＭＳ装置において、イオン化源をＥＩ。
ＣＩ（ケミカルイオン化）切換可能とし、ＣＩとＥＩの
両方の測定データを入手する手段と、ＣＩとＥＩの両方
の測定データを記憶する手段と、各種物質について、Ｅ
ＩとＣＩの両方のデータを格納したデータファイルと、
上記両種測定データのＣＩデータに基づき上記データフ
ァイルから同じＣＩスペクトルのデータな索出し、この
索出されたデータに対応する物質によるＥＩスペクトル
のデータを上記データファイルから索出し、この索出さ
れたＥＩスペクトルのデータから上記両種測定データの
ＥＩデータに類似したデータを索出し、その索出したデ
ータに対応する物質を表示するプログラムを有する制御
手段を設けた。
両方の測定データを入手する手段と、ＣＩとＥＩの両方
の測定データを記憶する手段と、各種物質について、Ｅ
ＩとＣＩの両方のデータを格納したデータファイルと、
上記両種測定データのＣＩデータに基づき上記データフ
ァイルから同じＣＩスペクトルのデータな索出し、この
索出されたデータに対応する物質によるＥＩスペクトル
のデータを上記データファイルから索出し、この索出さ
れたＥＩスペクトルのデータから上記両種測定データの
ＥＩデータに類似したデータを索出し、その索出したデ
ータに対応する物質を表示するプログラムを有する制御
手段を設けた。
ホ１作用
ＧＣ／ＭＳ分析装置において、ＣＩ法による質量スペク
トルデータは一本の項著なスペクトルと−クを示し、そ
のピークの質量は試料物質の分子量についての情報を与
える。従って、ＣＩスペクトルの比較は極めて簡単で、
測定データがら試料を同定する場合、ＣＩスペクトルの
比較を行えば、同定のため比較すべき類似ＥＩスペクト
ルパターンを与える候補物質の種類は大幅に絞り込むこ
とができる。この絞り込んだ候補物質のＥＩスペクトル
データから測定ＥＩスペクトルデータと最も類似したデ
ータを索出するこにより、試料の同定を行うのが本発明
の主旨であり、この方法により、試料の同定作業がより
迅速及び正確になる。
トルデータは一本の項著なスペクトルと−クを示し、そ
のピークの質量は試料物質の分子量についての情報を与
える。従って、ＣＩスペクトルの比較は極めて簡単で、
測定データがら試料を同定する場合、ＣＩスペクトルの
比較を行えば、同定のため比較すべき類似ＥＩスペクト
ルパターンを与える候補物質の種類は大幅に絞り込むこ
とができる。この絞り込んだ候補物質のＥＩスペクトル
データから測定ＥＩスペクトルデータと最も類似したデ
ータを索出するこにより、試料の同定を行うのが本発明
の主旨であり、この方法により、試料の同定作業がより
迅速及び正確になる。
へ、実施例
第１図に本発明の一実施例の構成図を示す。第１図にお
いて、１はガスクロマトグラフ（ＧＣ）で試料をカラム
で各成分に分離する。２はトータルイオンコレクタ（Ｔ
ＩＣ）装置でこれによってＧＣ装置１で分離された試料
成分の全イオンを測定してクロマトグラムデータを入手
する。３は質量分析計（ＭＳ）のイオン化室でＧＣ装置
１で分離された試料成分をイオン化するところで、ＥＩ
、ＣＩ切換装置４でイオン化方式をＥＩ又はＣＩに切換
えることができる。５はＭＳ装置における質量分析器で
イオン化室３で生成された試料イオンを加速して、質量
分析する。６はＴＩＣ装置がら送られてくる検出信号に
基づいてクロマトグラムの各ピーク毎にＥＩ、ＣＩ切換
装置により、イオン化室をＥＩ及びＣＩに切換え、ＭＳ
装置から得られる測定データをメモリに格納及び予め各
種物質のＥＩスペクトル、ＣＩスペクトルのデータを記
憶させたデータファイル８から測定データと類似したデ
ータを検索したり等するＣＰＵである、７はＣＰＵ６で
得られた測定データ及び検索されたデータ及び測定結果
等を表示する表示装置である。
いて、１はガスクロマトグラフ（ＧＣ）で試料をカラム
で各成分に分離する。２はトータルイオンコレクタ（Ｔ
ＩＣ）装置でこれによってＧＣ装置１で分離された試料
成分の全イオンを測定してクロマトグラムデータを入手
する。３は質量分析計（ＭＳ）のイオン化室でＧＣ装置
１で分離された試料成分をイオン化するところで、ＥＩ
、ＣＩ切換装置４でイオン化方式をＥＩ又はＣＩに切換
えることができる。５はＭＳ装置における質量分析器で
イオン化室３で生成された試料イオンを加速して、質量
分析する。６はＴＩＣ装置がら送られてくる検出信号に
基づいてクロマトグラムの各ピーク毎にＥＩ、ＣＩ切換
装置により、イオン化室をＥＩ及びＣＩに切換え、ＭＳ
装置から得られる測定データをメモリに格納及び予め各
種物質のＥＩスペクトル、ＣＩスペクトルのデータを記
憶させたデータファイル８から測定データと類似したデ
ータを検索したり等するＣＰＵである、７はＣＰＵ６で
得られた測定データ及び検索されたデータ及び測定結果
等を表示する表示装置である。
この構成において、本発明の動作説明を行う。
測定前に各種物質のＥＩ、ＣＩ両スペクトルデータをデ
ータファイル８に記憶させておく。ＧＣ装置１で分離さ
れた試料成分をＴＩＣ装置２で検出し、第２図に示すよ
うにＴＩＣ測定信号に検出ピークが発生している期間中
にＥＩ及びＣＩによるイオン化を行い、発生したイオン
の質量分析をＭＳ装置によって行い、測定データをＣＰ
Ｕ６に記憶する。ＴＩＣ測定信号に次の検出ピークが発
生すれば、上記と同じ動作によって測定を行う、上記の
測定によって得られたＣＩ及びＥＩの測定スペクトルデ
ータを基に、ＣＩ、ＥＩスペクトルデータファイル８に
格納されているデータから類似データを検索して試料の
同定を行うのであるが、この同定作業は、まずＣＩスペ
クトルデータに関し、データファイル８に格納されてい
るＣＩデータから測定ＣＩデータと同じスペクトルデー
タを与える物質番号を索出する。次に索出された物質番
号のＥＩスペクトルデータから測定ＥＩスペクトルデー
タに最も類似したデータを与える物質番号を索出する。
ータファイル８に記憶させておく。ＧＣ装置１で分離さ
れた試料成分をＴＩＣ装置２で検出し、第２図に示すよ
うにＴＩＣ測定信号に検出ピークが発生している期間中
にＥＩ及びＣＩによるイオン化を行い、発生したイオン
の質量分析をＭＳ装置によって行い、測定データをＣＰ
Ｕ６に記憶する。ＴＩＣ測定信号に次の検出ピークが発
生すれば、上記と同じ動作によって測定を行う、上記の
測定によって得られたＣＩ及びＥＩの測定スペクトルデ
ータを基に、ＣＩ、ＥＩスペクトルデータファイル８に
格納されているデータから類似データを検索して試料の
同定を行うのであるが、この同定作業は、まずＣＩスペ
クトルデータに関し、データファイル８に格納されてい
るＣＩデータから測定ＣＩデータと同じスペクトルデー
タを与える物質番号を索出する。次に索出された物質番
号のＥＩスペクトルデータから測定ＥＩスペクトルデー
タに最も類似したデータを与える物質番号を索出する。
この索出方法は任意である。例えば、最初成るレベル以
上のピークの比較を行い、測定データと同じピークを有
するデータを与える物質番号を索出し、その索出したデ
ータから更に最初比較したレベルより下の適宜レベル以
上のピークの比較を行うと云うように、比較するピーク
を徐々に低いレベルまで行うことにより、索出する物質
を絞り込む。
上のピークの比較を行い、測定データと同じピークを有
するデータを与える物質番号を索出し、その索出したデ
ータから更に最初比較したレベルより下の適宜レベル以
上のピークの比較を行うと云うように、比較するピーク
を徐々に低いレベルまで行うことにより、索出する物質
を絞り込む。
上記実施例ではＥＩとＣＩを利用して交互スキャンによ
り、ＥＩ及びＣＩの両方のスペクトルデ−夕を一度に入
手するようにしているが、２回の試料注入によって、Ｅ
ＩとＣＩによる測定分別々に行っても、効果は同じであ
る。
り、ＥＩ及びＣＩの両方のスペクトルデ−夕を一度に入
手するようにしているが、２回の試料注入によって、Ｅ
ＩとＣＩによる測定分別々に行っても、効果は同じであ
る。
ト、効果
本発明によれば、ＥＩ及びＣＩの両方のスペクトルデー
タを検討することにより、試料分析の能率及び確度が向
上した。
タを検討することにより、試料分析の能率及び確度が向
上した。
第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は上記実施
例のスキャン制御信号図である。 １・・・ＧＣ装置、２・・・ＴＩＣ装置、３・・・イオ
ン化室、４・・・ＥＩ、ＣＩ切換装置、５・・・ＭＳ装
置、６・・・ＣＰＵ、７・・・表示装置、８・・・ＥＩ
、ＣＩデータファイル。
例のスキャン制御信号図である。 １・・・ＧＣ装置、２・・・ＴＩＣ装置、３・・・イオ
ン化室、４・・・ＥＩ、ＣＩ切換装置、５・・・ＭＳ装
置、６・・・ＣＰＵ、７・・・表示装置、８・・・ＥＩ
、ＣＩデータファイル。
Claims (1)
- イオン化源をＥＩ、ＣＩ切換可能とし、ＣＩとＥＩの両
方の測定データを記憶する手段と、各種物質について、
ＥＩとＣＩの両方のデータを格納したデータファイルと
、上記両種測定データのＣＩデータに基づき上記データ
ファイルから同じＣＩスペクトルのデータを索出し、こ
の索出されたデータに対応する物質によるＥＩスペクト
ルのデータを上記データファイルから索出し、この索出
されたＥＩスペクトルのデータから上記両種測定データ
のＥＩデータに類似したデータを索出し、その索出する
制御手段を設けたことを特徴とするクロマトグラフ質量
分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61309941A JPS63167262A (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 | クロマトグラフ質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61309941A JPS63167262A (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 | クロマトグラフ質量分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63167262A true JPS63167262A (ja) | 1988-07-11 |
Family
ID=17999189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61309941A Pending JPS63167262A (ja) | 1986-12-27 | 1986-12-27 | クロマトグラフ質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63167262A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007010509A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Nec Corp | 解析支援システムおよび解析支援方法 |
| JP2007213934A (ja) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Hitachi Ltd | 質量分析装置及び質量分析方法 |
| WO2009107316A1 (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-03 | 株式会社リガク | ガス定量分析方法及びガス定量分析装置 |
-
1986
- 1986-12-27 JP JP61309941A patent/JPS63167262A/ja active Pending
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| ISRAEL JOURNAL OF CHEMISTRY 17=1978 * |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007010509A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Nec Corp | 解析支援システムおよび解析支援方法 |
| JP2007213934A (ja) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Hitachi Ltd | 質量分析装置及び質量分析方法 |
| WO2009107316A1 (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-03 | 株式会社リガク | ガス定量分析方法及びガス定量分析装置 |
| JP2009210305A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-17 | Rigaku Corp | ガス定量分析方法及びガス定量分析装置 |
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