JPS63161553A - 再生装置及び再生法 - Google Patents
再生装置及び再生法Info
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- JPS63161553A JPS63161553A JP30943486A JP30943486A JPS63161553A JP S63161553 A JPS63161553 A JP S63161553A JP 30943486 A JP30943486 A JP 30943486A JP 30943486 A JP30943486 A JP 30943486A JP S63161553 A JPS63161553 A JP S63161553A
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Landscapes
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は再生装置に関するものである。
更に詳しくは一方をプローブ電極とした一対の電極間に
有機化合物の層構造を有し、電圧電流のスイッチング特
性に対してメモリ効果をもつ記録媒体に記録された情報
を再生する再生装置に関する。
有機化合物の層構造を有し、電圧電流のスイッチング特
性に対してメモリ効果をもつ記録媒体に記録された情報
を再生する再生装置に関する。
近年メモリ材料の用途は、コンピュータおよびその関連
機器、ビデオディスク、ディジタルオーディオディスク
等のエレクトロニクス産業の中核をなすものであり、そ
の材料開発も極めて活発に進んでいる。メモリ材料に要
求される性能は用途により異なるが、一般的には、■高
密度で記録容量が大きい、 ■記録再生の応答速度が速い、 ■消費電力が少ない、 ■生産性が高く、価格が安い、 等が挙げられる。
機器、ビデオディスク、ディジタルオーディオディスク
等のエレクトロニクス産業の中核をなすものであり、そ
の材料開発も極めて活発に進んでいる。メモリ材料に要
求される性能は用途により異なるが、一般的には、■高
密度で記録容量が大きい、 ■記録再生の応答速度が速い、 ■消費電力が少ない、 ■生産性が高く、価格が安い、 等が挙げられる。
従来までは磁性体や半導体を素材とした半導体メモリや
磁気メモリが主であったが、近年レーザー技術の進展に
ともない有機色素、フォトポリマーなとの有機薄膜を用
いた光メモリによる安価で高密度な記録媒体が登場して
きた。
磁気メモリが主であったが、近年レーザー技術の進展に
ともない有機色素、フォトポリマーなとの有機薄膜を用
いた光メモリによる安価で高密度な記録媒体が登場して
きた。
一方、最近、導体の表面原子の電子構造を直接観察でき
る走査型トンネル顕微鏡(以後S−TMと略す)が開発
され、 (G、Binning et at、、He1ve
tica Physica Acta、55゜単結
晶、非晶質を問わず実空間像の高い分解能の測定ができ
るようになり、しかも媒体に電流による損傷を与えずに
低電力で観測できる利点をも有し、さらに大気中でも動
作し種々の材料に対して用いることができるため広範囲
な応用が期待されている。
る走査型トンネル顕微鏡(以後S−TMと略す)が開発
され、 (G、Binning et at、、He1ve
tica Physica Acta、55゜単結
晶、非晶質を問わず実空間像の高い分解能の測定ができ
るようになり、しかも媒体に電流による損傷を与えずに
低電力で観測できる利点をも有し、さらに大気中でも動
作し種々の材料に対して用いることができるため広範囲
な応用が期待されている。
STMは金属の探針と導電性物質の間に電圧を加えてl
nm程度の距離まで近づけるとトンネル電流が流れるこ
とを利用している。この電流は両者の距離変化に非常に
敏感であり、トンネル電流を一定に保つように探針を走
査することにより実空間の表面構造を描くことができる
と同時に表面原子の全電子雲に関する種々の情報をも読
み取ることができる。STMを用いた解析は導電性試料
に限られるが、導電性材料の表面に非常に薄く形成され
た単分子膜の構造解析にも応用され始めており、個々の
有機分子の状態の違いを利用した高密度記録の再生技術
としての応用も考えられる。
nm程度の距離まで近づけるとトンネル電流が流れるこ
とを利用している。この電流は両者の距離変化に非常に
敏感であり、トンネル電流を一定に保つように探針を走
査することにより実空間の表面構造を描くことができる
と同時に表面原子の全電子雲に関する種々の情報をも読
み取ることができる。STMを用いた解析は導電性試料
に限られるが、導電性材料の表面に非常に薄く形成され
た単分子膜の構造解析にも応用され始めており、個々の
有機分子の状態の違いを利用した高密度記録の再生技術
としての応用も考えられる。
一方、従来針状電極を用いて放電や通電によって潜像を
形成する方法は静電記録方法として知られており、記録
紙等への応用が数多くなされている(特開昭49−34
35号公報)。
形成する方法は静電記録方法として知られており、記録
紙等への応用が数多くなされている(特開昭49−34
35号公報)。
この静電記録媒体に用いられる膜厚はμオーダーで、該
媒体上の潜像を電気的に読み取り再生した例はまだ報告
されていない。
媒体上の潜像を電気的に読み取り再生した例はまだ報告
されていない。
また一方1個の有機分子に論理素子やメモリ素子等の機
能を持たせた分子電子デバイスの提案が発表され、分子
電子デバイスの構築技術の一つとみられるラングミュア
−・プロジェット膜(以下LB膜と略す)についての研
究も活発化している。LB膜は有機分子を規則正しく1
分子ずつ積層したもので膜厚の制御は分子長の単位で行
うことができ、一様で均質な超薄膜を形成できる。この
特徴を十分に活かしたデバイス作成としてLB膜を絶縁
膜として使う多くの試みが行われてきている。例えば金
属・絶縁体・金属(MIM)構造のトンネル接合素子(
G、L。
能を持たせた分子電子デバイスの提案が発表され、分子
電子デバイスの構築技術の一つとみられるラングミュア
−・プロジェット膜(以下LB膜と略す)についての研
究も活発化している。LB膜は有機分子を規則正しく1
分子ずつ積層したもので膜厚の制御は分子長の単位で行
うことができ、一様で均質な超薄膜を形成できる。この
特徴を十分に活かしたデバイス作成としてLB膜を絶縁
膜として使う多くの試みが行われてきている。例えば金
属・絶縁体・金属(MIM)構造のトンネル接合素子(
G、L。
Larkins et al、、Th1n S。
lid、Films 99.(1983))や金属・
絶縁体・半導体(MIS)構造の発光素子(G、G、R
oberts at al、、Electroni
cs Letters、20゜489 (1984)
)あるいはスイッチング素子(N、J、Fhomas
et al、、Electronics Let
ters、20゜838 (1984))がある。これ
ら一連の研究によって素子特性の検討がされているが、
未だ素子ごとの特性のバラツキ、経時変化など再現性と
安定性の欠如は未解決の問題として残フた。
絶縁体・半導体(MIS)構造の発光素子(G、G、R
oberts at al、、Electroni
cs Letters、20゜489 (1984)
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ters、20゜838 (1984))がある。これ
ら一連の研究によって素子特性の検討がされているが、
未だ素子ごとの特性のバラツキ、経時変化など再現性と
安定性の欠如は未解決の問題として残フた。
従来、上記の如き検討は取扱いが比較的容易な脂肪酸の
LB膜を中心に進められてきた。しかし最近これまで劣
るとされていた耐熱性1機械強度に対してもこれを克服
した有機材料が次々に生まれている。我々はこれらの材
料を用いたLB膜を絶縁体として用いて再現性と安定性
に優れたMIM素子を作製すべく鋭意研究の結果、従来
になく薄く均一な色素絶縁膜を作製できるようになった
。またその結果、全く新しいメモリ機能を有するスイッ
チング現象を発現するMIM素子をも発見するに至って
いる。
LB膜を中心に進められてきた。しかし最近これまで劣
るとされていた耐熱性1機械強度に対してもこれを克服
した有機材料が次々に生まれている。我々はこれらの材
料を用いたLB膜を絶縁体として用いて再現性と安定性
に優れたMIM素子を作製すべく鋭意研究の結果、従来
になく薄く均一な色素絶縁膜を作製できるようになった
。またその結果、全く新しいメモリ機能を有するスイッ
チング現象を発現するMIM素子をも発見するに至って
いる。
(発明の目的)
すなわち本発明の目的は、電圧・電流のスイッチング特
性に対してメモリ性を有する新規な高密度記録媒体を用
いた再生装置及び再生法を提供することにある。
性に対してメモリ性を有する新規な高密度記録媒体を用
いた再生装置及び再生法を提供することにある。
本発明はプローブ電極、電気メモリー効果をもつ記録媒
体、前記プローブ電極から記録媒体に電気メモリー効果
を生じる閾値電圧を越えていない電圧を印加する電圧印
加手段及び前記記録媒体に流れる電流量の変化を読み取
る読み取り手段とを有する再生装置並びに電気メモリー
効果をもつ記録媒体にプローブ電極から電気メモリー効
果を生じる閾値電圧を越えていない電圧を印加し、前記
記録媒体に流れる電流量の変化を読み取る再生法に特徴
を有している。
体、前記プローブ電極から記録媒体に電気メモリー効果
を生じる閾値電圧を越えていない電圧を印加する電圧印
加手段及び前記記録媒体に流れる電流量の変化を読み取
る読み取り手段とを有する再生装置並びに電気メモリー
効果をもつ記録媒体にプローブ電極から電気メモリー効
果を生じる閾値電圧を越えていない電圧を印加し、前記
記録媒体に流れる電流量の変化を読み取る再生法に特徴
を有している。
本発明で用いる記録媒体は、π電子準位をもつ群とσ電
子準位のみを有する群を併有する分子を電極上に積層し
た有機累積膜において、膜面に垂直な方向にプローブ電
極を用いて電流を流すことにより、従来とは異なる非線
型電流電圧特性を発現することができる。
子準位のみを有する群を併有する分子を電極上に積層し
た有機累積膜において、膜面に垂直な方向にプローブ電
極を用いて電流を流すことにより、従来とは異なる非線
型電流電圧特性を発現することができる。
一般に有機材料のほとんどは絶縁性若しくは半絶縁性を
示すことから係る本発明に於いて、適用可能なπ電子準
位をもつ群を有する有機材料は著しく多岐にわたる。
゛ 本発明に好適なπ電子系を有する色素の構造としては例
えば、フタロシアニン、テトラフェニルポルフィン等の
ポルフィリン骨格を有する色素、スクアリリウム基及び
クロコニックメチン基を結合鎖としてもつアズレン系色
素及びキノリン、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾー
ル等の2ケの含窒素複素環をスクアリリウム基及びクロ
コニックメチン基により結合したシアニン系類似の色素
、またはシアニン色素、アントラセン及びピレン等の縮
合多環芳香族、及び芳香環及び複素環化合物が重合した
鎖状化合物及びジアセチレン基の重合体、さらにはテト
ラキノジメタンまたはテトラチアフルバレンの誘導体お
よびその類縁体およびその電荷移動錯体また更にはフェ
ロセン、トリスビピリジンルテニウム錯体等の金属錯体
化合物が挙げられる。
示すことから係る本発明に於いて、適用可能なπ電子準
位をもつ群を有する有機材料は著しく多岐にわたる。
゛ 本発明に好適なπ電子系を有する色素の構造としては例
えば、フタロシアニン、テトラフェニルポルフィン等の
ポルフィリン骨格を有する色素、スクアリリウム基及び
クロコニックメチン基を結合鎖としてもつアズレン系色
素及びキノリン、ベンゾチアゾール、ベンゾオキサゾー
ル等の2ケの含窒素複素環をスクアリリウム基及びクロ
コニックメチン基により結合したシアニン系類似の色素
、またはシアニン色素、アントラセン及びピレン等の縮
合多環芳香族、及び芳香環及び複素環化合物が重合した
鎖状化合物及びジアセチレン基の重合体、さらにはテト
ラキノジメタンまたはテトラチアフルバレンの誘導体お
よびその類縁体およびその電荷移動錯体また更にはフェ
ロセン、トリスビピリジンルテニウム錯体等の金属錯体
化合物が挙げられる。
有機記録媒体の形成に関しては、具体的には蒸着法やク
ラスターイオンビーム法等の適用も可能であるが、制御
性、容易性そして再現性から公知の従来技術の中ではL
B法が極めて好適である。
ラスターイオンビーム法等の適用も可能であるが、制御
性、容易性そして再現性から公知の従来技術の中ではL
B法が極めて好適である。
このLB法によれば、1分子中に疎水性部位と親水性部
位とを有する有機化合物の単分子膜またはその累積膜を
基板上に容易に形成することができ、分子オーダの厚み
を有し、かつ大面積にわたって均一、均質な有機超薄膜
を安定に供給することができる。
位とを有する有機化合物の単分子膜またはその累積膜を
基板上に容易に形成することができ、分子オーダの厚み
を有し、かつ大面積にわたって均一、均質な有機超薄膜
を安定に供給することができる。
LB法は分子内に親水性部位と疎水性部位とを有する構
造の分子において、両者のバランス(両親媒性のバラン
ス)が適度に保たれている時、分子は水面上で親水性基
を下に向けて単分子の層になることを利用して単分子膜
またはその累積膜を作成する方法である。
造の分子において、両者のバランス(両親媒性のバラン
ス)が適度に保たれている時、分子は水面上で親水性基
を下に向けて単分子の層になることを利用して単分子膜
またはその累積膜を作成する方法である。
疎水性部位を構成する基としては、一般に広く知られて
いる飽和及び不飽和炭化水素基や縮合多環芳香族基及び
鎖状多環フェニル基等の各種疎水基が挙げられる。これ
らは各々単独又はその複数が組み合わされて疎水性部分
を構成する。一方、親水性部分の構成要素として最も代
表的なものは、例えばカルキホキシル基、エステル基、
酸アミド基、イミド基、ヒドロキシル基、更にはアミノ
基(1,2,3級及び4級)等の親木性基等が挙げられ
る。これらも各々単独又はその複数が組み合わされて上
記分子の親水性部分を構成する。
いる飽和及び不飽和炭化水素基や縮合多環芳香族基及び
鎖状多環フェニル基等の各種疎水基が挙げられる。これ
らは各々単独又はその複数が組み合わされて疎水性部分
を構成する。一方、親水性部分の構成要素として最も代
表的なものは、例えばカルキホキシル基、エステル基、
酸アミド基、イミド基、ヒドロキシル基、更にはアミノ
基(1,2,3級及び4級)等の親木性基等が挙げられ
る。これらも各々単独又はその複数が組み合わされて上
記分子の親水性部分を構成する。
これらの疎水性基と親水性基をバランス良く併有し、か
つ適度な大きさをもつπ電子系を有する色素分子であれ
ば、水面上で単分子膜を形成することが可能であり、本
発明に対して極めて好適な材料となる。
つ適度な大きさをもつπ電子系を有する色素分子であれ
ば、水面上で単分子膜を形成することが可能であり、本
発明に対して極めて好適な材料となる。
具体例としては、例えば下記の如ぎ分子等が挙げられる
。
。
H]クロコニックメチン色素
゛) 。θ
R+ R。
θ
、5)
0θ
+(I R16)O
7) θ−
1< l R。
R,R。
+1)
R,R。
ここでR1は前述のσ電子準位をもつ群に相当したもの
で、しかも水面上で単分子膜を形成しやすくするために
導入された長鎖アルキル基で、その炭素数nは5≦n≦
30が好適である。
で、しかも水面上で単分子膜を形成しやすくするために
導入された長鎖アルキル基で、その炭素数nは5≦n≦
30が好適である。
以上具体例として挙げた化合物は基本構造のみであり、
これら化合物の種々な置換体も本発明に於いて好適であ
ることは言うにおよばない。
これら化合物の種々な置換体も本発明に於いて好適であ
ることは言うにおよばない。
[II]スクアリリウム色素
[I]で挙げた化合物のクロコニックメチン基を下記の
構造をもつスクアリリウム基でおきかえた化合物。
構造をもつスクアリリウム基でおきかえた化合物。
[Ill ]ポリフィリン系色素化合物’)
R,、R2,R,、Iセ、 =I+
。
R,、R2,R,、Iセ、 =I+
。
p 。
M=H2+ Cu、 Ni、 Al−Cl及び希土類金
属イオン Rは単分子膜を形成しやすくするために導入されたもの
で、ここで挙げた置換基にかぎるものではない。又、R
1〜R4,Rは前述したσ電子準位をもつ群に相当して
いる。
属イオン Rは単分子膜を形成しやすくするために導入されたもの
で、ここで挙げた置換基にかぎるものではない。又、R
1〜R4,Rは前述したσ電子準位をもつ群に相当して
いる。
[IV]縮合多環芳香族化合物
R
OOH
[V]ジアセチレン化合物
CH,(−CH□矢nCBC−CEC−GCH2*m
XO≦n、m≦20 但し n十m > 10 Xは親木基で一般的には一〇〇〇)Iが用いられるが一
〇H,−CONH,等も使用できる。
XO≦n、m≦20 但し n十m > 10 Xは親木基で一般的には一〇〇〇)Iが用いられるが一
〇H,−CONH,等も使用できる。
[V* ]その他
CH3(CH2)4 0 0 0 CNf3)
R 尚、上記以外でもLB法に適している色素材料であれば
、本発明に好適なのは言うまでもない。
R 尚、上記以外でもLB法に適している色素材料であれば
、本発明に好適なのは言うまでもない。
例えば近年研究が盛んになりつつある生体材料(例えば
バタデリオロドブシンやチトクロームC)や合成ポリペ
プチド(PBLGなと)等も適用が可能である。
バタデリオロドブシンやチトクロームC)や合成ポリペ
プチド(PBLGなと)等も適用が可能である。
係る両親媒性の分子は、水面上で親木基を下に向けて単
分子の層を形成する。このとき、水面上の単分子層は二
次元系の特徴を有し、分子がまばらに散開しているとき
は、一分子当り面積Aと表面圧πとの間に二次元理想気
体の式、πA ” K T が成り立ち、”気体膜”となる。ここに、えはボルツマ
ン定板、Tは絶対温度である。Aを十分小さくすれば分
子間相互作用が強まり、二次元固体の“凝縮膜(または
固株膜)”になる。凝縮膜はガラスや樹脂の如き種々の
材質や形状を有する任意の物体の表面へ一層ずつ移すこ
とができる。この方法を用いて、単分子膜またはその累
積膜を形成し、記録層として使用することができる。
分子の層を形成する。このとき、水面上の単分子層は二
次元系の特徴を有し、分子がまばらに散開しているとき
は、一分子当り面積Aと表面圧πとの間に二次元理想気
体の式、πA ” K T が成り立ち、”気体膜”となる。ここに、えはボルツマ
ン定板、Tは絶対温度である。Aを十分小さくすれば分
子間相互作用が強まり、二次元固体の“凝縮膜(または
固株膜)”になる。凝縮膜はガラスや樹脂の如き種々の
材質や形状を有する任意の物体の表面へ一層ずつ移すこ
とができる。この方法を用いて、単分子膜またはその累
積膜を形成し、記録層として使用することができる。
具体的な製法としては、例えば以下に示す方法を挙げる
ことができる。
ことができる。
所望の有機化合物をクロロホルム、ベンゼン、アセトニ
トリル等の溶剤に溶解させる。次に添付図面の第7図に
示す如き適当な装置を用いて、係る溶液を水相81上に
展開させて有機化合物を膜状に形成させる。
トリル等の溶剤に溶解させる。次に添付図面の第7図に
示す如き適当な装置を用いて、係る溶液を水相81上に
展開させて有機化合物を膜状に形成させる。
次にこの展開層82が水相81上を自由に拡散して広が
りすぎないように仕切板(または浮子)83を設け、展
開膜82の展開面積を制限して膜物質の集合状態を制御
し、その集合状態に比例した表面圧πを得る。この仕切
板83を動かし、展開面積を縮小して膜物質の集合状態
を制御し、表面圧を除々に上昇させ、膜の製造に適する
表面圧πを設定することができる。この表面圧を維持し
ながら、静かに清浄な基板84を垂直に上昇又は下降さ
せることにより有機化合物の単分子膜が基板84上に移
し取られる。このような単分子膜91は第8a図または
第8b図に模式的に示す如く分子が秩序正しく配列した
膜である。
りすぎないように仕切板(または浮子)83を設け、展
開膜82の展開面積を制限して膜物質の集合状態を制御
し、その集合状態に比例した表面圧πを得る。この仕切
板83を動かし、展開面積を縮小して膜物質の集合状態
を制御し、表面圧を除々に上昇させ、膜の製造に適する
表面圧πを設定することができる。この表面圧を維持し
ながら、静かに清浄な基板84を垂直に上昇又は下降さ
せることにより有機化合物の単分子膜が基板84上に移
し取られる。このような単分子膜91は第8a図または
第8b図に模式的に示す如く分子が秩序正しく配列した
膜である。
単分子膜91は以上で製造されるが、前記の操作を繰り
返すことにより所望の累積数の累積膜が形成される。単
分子膜91を基板84上に移すには、上述した垂直浸漬
法の他、水平付着法、回転円筒法等の方法でも可能であ
る。尚、水平付着法は、基板を水面に水平に接触させて
単分子膜を移し取る方法であり、回転円筒法は円筒形の
基板を水面上を回転させて単分子膜を基板表面に穆し取
る方法である。
返すことにより所望の累積数の累積膜が形成される。単
分子膜91を基板84上に移すには、上述した垂直浸漬
法の他、水平付着法、回転円筒法等の方法でも可能であ
る。尚、水平付着法は、基板を水面に水平に接触させて
単分子膜を移し取る方法であり、回転円筒法は円筒形の
基板を水面上を回転させて単分子膜を基板表面に穆し取
る方法である。
前述した垂直浸漬法では、表面が親水性である基板を水
面を横切る方向に水中から引き上げると有機化合物の親
水性部位92が基板84側に向いた有機化合物の単分子
膜91が基板84上に形成される(第8b図)。前述の
ように基板84を上下させると、各行程ごとに一枚ずつ
単分子膜91が積み重なって累積膜101が形成される
。
面を横切る方向に水中から引き上げると有機化合物の親
水性部位92が基板84側に向いた有機化合物の単分子
膜91が基板84上に形成される(第8b図)。前述の
ように基板84を上下させると、各行程ごとに一枚ずつ
単分子膜91が積み重なって累積膜101が形成される
。
成膜分子の向きが引上行程と浸漬行程で逆になるので、
この方法によると単分子膜の各層間は有機化合物の疎水
性部位93aと93bが向かいあうY型膜が形成される
(第9a図)。これに対し、水平付着法は、有機化合物
の疎水性部位93が基板84側に向いた単分子膜91が
基板84上に形成される(第8a図)。この方法では、
単分子膜91を累積しても成膜分子の向きの交代はなく
全ての層において、疎水性部位93aと93bが基板8
4側に向いたX型膜が形成される(第9b図)。反対に
全ての層において親水性部位92a、92bが基板84
側に向いた累積膜101はZ型膜と呼ばれる(第9c図
)。
この方法によると単分子膜の各層間は有機化合物の疎水
性部位93aと93bが向かいあうY型膜が形成される
(第9a図)。これに対し、水平付着法は、有機化合物
の疎水性部位93が基板84側に向いた単分子膜91が
基板84上に形成される(第8a図)。この方法では、
単分子膜91を累積しても成膜分子の向きの交代はなく
全ての層において、疎水性部位93aと93bが基板8
4側に向いたX型膜が形成される(第9b図)。反対に
全ての層において親水性部位92a、92bが基板84
側に向いた累積膜101はZ型膜と呼ばれる(第9c図
)。
単分子膜91を基板84上に穆す方法は、上記方法に限
定されるわけではなく、大面積基板を用いる時にはロー
ルから水相中に基板を押し出していく方法なども採り得
る。また、前述した親水性基および疎水性基の基板への
向きは原則であり、基板の表面処理等によって変えるこ
ともできる。
定されるわけではなく、大面積基板を用いる時にはロー
ルから水相中に基板を押し出していく方法なども採り得
る。また、前述した親水性基および疎水性基の基板への
向きは原則であり、基板の表面処理等によって変えるこ
ともできる。
以上の如くして有機化合物の単分子lI!91またはそ
の累積膜101からなるポテンシャル障壁層が基板84
上に形成される。
の累積膜101からなるポテンシャル障壁層が基板84
上に形成される。
本発明において、上記の如き無材及び有機材料が積層さ
れた薄膜を支持するための基板84は、金属、ガラス、
セラミックス、プラスチック材料等いずれの材料でもよ
く、更に耐熱性の著しく低い生体材料も使用できる。
れた薄膜を支持するための基板84は、金属、ガラス、
セラミックス、プラスチック材料等いずれの材料でもよ
く、更に耐熱性の著しく低い生体材料も使用できる。
上記の如き基板84は任意の形状でよく平板状であるの
が好ましいが、平板に何ら限定されない。すなわち前記
成膜法においては、基板の表面がいかなる形状あっても
その形状通りに膜を形成し得る利点を有するからである
。
が好ましいが、平板に何ら限定されない。すなわち前記
成膜法においては、基板の表面がいかなる形状あっても
その形状通りに膜を形成し得る利点を有するからである
。
一方、本発明で用いられる電極材料も高い伝導性を有す
るものであれば良く、例えばAu。
るものであれば良く、例えばAu。
Pt、Ag、、Pd、AIL、In、Sn、Pb、Wな
どの金属やこれらの合金、さらにはグラファイトやシリ
サイド、またさらにはITOなとの導電性酸化物を始め
として数多くの材料が挙げられ、これらの本発明への適
用が考えられる。
どの金属やこれらの合金、さらにはグラファイトやシリ
サイド、またさらにはITOなとの導電性酸化物を始め
として数多くの材料が挙げられ、これらの本発明への適
用が考えられる。
係る材料を用いた電極形成法としても従来公知の薄膜技
術で充分である。但し基板上に直接形成される電極材料
は、表面がLB膜形成の際、絶縁性の酸化膜をつくらな
い導電材料、例えば貴金属やITOなどの酸化物導電体
を用いることが好ましい。
術で充分である。但し基板上に直接形成される電極材料
は、表面がLB膜形成の際、絶縁性の酸化膜をつくらな
い導電材料、例えば貴金属やITOなどの酸化物導電体
を用いることが好ましい。
なお記録媒体の金属電極は、本発明となる記録層が絶縁
性のため必要となるが、該記録層がMΩ以下の半導体的
性質を示すものであれば該金属極は不必要となる。すな
わち記録層そのものをプローブ電極の対向電極として用
いることができる。
性のため必要となるが、該記録層がMΩ以下の半導体的
性質を示すものであれば該金属極は不必要となる。すな
わち記録層そのものをプローブ電極の対向電極として用
いることができる。
またプローブ電極の先端は記録/再生/消去の分解能を
上げるため出来るだけ尖らせる必要がある。本発明では
、1φの太さの白金の先端を90°のコーンになるよう
に機械的に研磨し超高真空中で電界をかけて表面原子を
蒸発させたものを用いているが、プローブの形状や処理
方法は何らこれに限定するものではない。
上げるため出来るだけ尖らせる必要がある。本発明では
、1φの太さの白金の先端を90°のコーンになるよう
に機械的に研磨し超高真空中で電界をかけて表面原子を
蒸発させたものを用いているが、プローブの形状や処理
方法は何らこれに限定するものではない。
以上述べてきた材料および成膜方法を用いて第4図に示
したMIM構造の素子を作成したとき、第5図と第6図
に示すような電流電圧特性を示すメモリースイッチング
素子が得られ、2つの状態(ON状態とOFF状態)が
それぞれメモリ性を有することがすでに見い出されてい
る。これらのメモリースイッチング特性は数Å〜数10
00人の層厚のものに発現されているが本発明のプロー
ブ電極を用いた記録媒体としては数Å〜500人の範囲
の層厚のものが良く、最も好ましくは10Å〜200人
の層厚のものが良い。
したMIM構造の素子を作成したとき、第5図と第6図
に示すような電流電圧特性を示すメモリースイッチング
素子が得られ、2つの状態(ON状態とOFF状態)が
それぞれメモリ性を有することがすでに見い出されてい
る。これらのメモリースイッチング特性は数Å〜数10
00人の層厚のものに発現されているが本発明のプロー
ブ電極を用いた記録媒体としては数Å〜500人の範囲
の層厚のものが良く、最も好ましくは10Å〜200人
の層厚のものが良い。
第4図中、84は基板、41はAu電極、42はAu電
極、43は前述した単分子累積膜を表している。
極、43は前述した単分子累積膜を表している。
第1図は本発明の記録装置を示すブロック構成図である
。第1図(A)中、105はプローブ電流増巾器で、1
06はプローブ電流が一定になるように圧電素子を用い
た微動機構107を制御するサーボ回路である。108
はプローブ電極102と電極と電極103の間に記録/
消去用のパルス電圧を印加するための電源である。
。第1図(A)中、105はプローブ電流増巾器で、1
06はプローブ電流が一定になるように圧電素子を用い
た微動機構107を制御するサーボ回路である。108
はプローブ電極102と電極と電極103の間に記録/
消去用のパルス電圧を印加するための電源である。
パルス電圧を印加するときプローブ電流が急激に変化す
るためサーボ回路106は、その間出力電圧が一定にな
るように、)IOLD回路をONにするように制御して
いる。
るためサーボ回路106は、その間出力電圧が一定にな
るように、)IOLD回路をONにするように制御して
いる。
109はXY方向にプローブ電極102を移動制御する
ためのXY走査駆動回路である。
ためのXY走査駆動回路である。
110と111は、あらかじめ10−”A程度のプロー
ブ電流が得られるようにプローブ電極102と記録媒体
1との距離を粗動制御するものである。これらの各機器
は、すべてマイクロコンピュータ112により中央制御
されている。
ブ電流が得られるようにプローブ電極102と記録媒体
1との距離を粗動制御するものである。これらの各機器
は、すべてマイクロコンピュータ112により中央制御
されている。
また113は表示機器を表している。
また、圧電素子を用いた移動制御における機械的性能を
下記に示す。
下記に示す。
2方向徹勤制御範囲:0.1層m〜1μmZ方向粗動制
御範囲:tonm〜tommXY方向走査範囲 : 0
. 1 nm〜l μm計測、制御許容誤差:(0,1
層m 以下、本発明を実施例に従って説明する。
御範囲:tonm〜tommXY方向走査範囲 : 0
. 1 nm〜l μm計測、制御許容誤差:(0,1
層m 以下、本発明を実施例に従って説明する。
〔実施例1〕
第1図に示す記録/再生装置を用いた。プローブ電極1
02として白金製のプローブ電極を用いた。このプロー
ブ電極102は記録層101の表面との距離(Z)を制
御するためのもので、電流を一定に保つように圧電素子
により、その距1! (Z)を微動制御されている。更
に微動制御機構107は距*2を一定に保ったまま、面
内(X、Y)方向にも微動制御できるように設計されて
いる。しかし、これらはすべて従来公知の技術である。
02として白金製のプローブ電極を用いた。このプロー
ブ電極102は記録層101の表面との距離(Z)を制
御するためのもので、電流を一定に保つように圧電素子
により、その距1! (Z)を微動制御されている。更
に微動制御機構107は距*2を一定に保ったまま、面
内(X、Y)方向にも微動制御できるように設計されて
いる。しかし、これらはすべて従来公知の技術である。
またプローブ電極102は直接記録・再生・消去を行う
ために用いることができる。また、記録媒体1は高精度
のXYステージ114の上に置かれ、任意の位置に移動
させることができる。
ために用いることができる。また、記録媒体1は高精度
のXYステージ114の上に置かれ、任意の位置に移動
させることができる。
次に、Auで形成した電極103の上に形成されたスク
アリリュウムービス−6−オクチルアズレン(以下5O
AZと略す)のLB膜(8層)を用いた記録・再生・消
去の実験についてその詳細を記す。
アリリュウムービス−6−オクチルアズレン(以下5O
AZと略す)のLB膜(8層)を用いた記録・再生・消
去の実験についてその詳細を記す。
5OAZ8層を累積した記録層101をもつ記録媒体1
をXYステージ114の上に置き、まず目視によりプロ
ーブ電極102の位置を決め、しっかりと固定した。A
u電極(アース側)103とプローブ電極102に間に
−3,0■の電圧を印加し、電流をモニターしながらプ
ローブ電極102と記録層101表面との距離<z>を
調整した。その後、微動制御機構107を制御してプロ
ーブ電極102と記録層101表面までの距離を変えて
いくと、第2図に示すような電流特性が得られた。なお
、プローブ電極102と記録層101表面との距@Zを
制御するためのプローブ電流Ipが10−’A≧Ip≧
10−”A、好適には10−’A≧Ip≧10−”Aに
なるようにプローブ電圧を調整する必要がある。
をXYステージ114の上に置き、まず目視によりプロ
ーブ電極102の位置を決め、しっかりと固定した。A
u電極(アース側)103とプローブ電極102に間に
−3,0■の電圧を印加し、電流をモニターしながらプ
ローブ電極102と記録層101表面との距離<z>を
調整した。その後、微動制御機構107を制御してプロ
ーブ電極102と記録層101表面までの距離を変えて
いくと、第2図に示すような電流特性が得られた。なお
、プローブ電極102と記録層101表面との距@Zを
制御するためのプローブ電流Ipが10−’A≧Ip≧
10−”A、好適には10−’A≧Ip≧10−”Aに
なるようにプローブ電圧を調整する必要がある。
まず、第2図のa領域の電流値に制御電流を設定した(
10−’A)−(プローブ接地の条件)。
10−’A)−(プローブ接地の条件)。
プローブ電極102とAu電極103との間に電気メモ
リー効果を生じる閾値電圧を越えていない電圧である1
、5Vの読み取り用電圧を印加して電流値を測定したと
ころ、μA以下でOFF状態を示した。次にオン状態を
生じる閾値電圧Vth ON以上の電圧である第3図
に示した波形をもつ三角波パルス電圧を印加したのち、
再び1.5Vの電圧を電極間に印加して電流を測定した
ところ0.7mA程度の電流が流れON状態となってい
たことを示した。
リー効果を生じる閾値電圧を越えていない電圧である1
、5Vの読み取り用電圧を印加して電流値を測定したと
ころ、μA以下でOFF状態を示した。次にオン状態を
生じる閾値電圧Vth ON以上の電圧である第3図
に示した波形をもつ三角波パルス電圧を印加したのち、
再び1.5Vの電圧を電極間に印加して電流を測定した
ところ0.7mA程度の電流が流れON状態となってい
たことを示した。
次にオン状態からオフ状態へ変化する閾値電圧Vth
OFF以上の電圧であるピーク電圧5V、パルス巾1
μsの三角波パルス電圧を印加したのち′、再び1,5
■を印加したところ、この時の電流値はμA以下でOF
F状態に戻ることが確認された。
OFF以上の電圧であるピーク電圧5V、パルス巾1
μsの三角波パルス電圧を印加したのち′、再び1,5
■を印加したところ、この時の電流値はμA以下でOF
F状態に戻ることが確認された。
次にプローブ電流rpを1O−9A(第2図のb領域)
に設定して、プローブ電極102と記録層101表面と
の距111IiZを制御した。
に設定して、プローブ電極102と記録層101表面と
の距111IiZを制御した。
XYステージ114を一定の間隔(1μ)で移動させな
がら、第3図と同様な波形を有する閾値電圧Vth
ON以上のパルス電圧(15層max、1μs)を印加
して、ON状態を書き込んだ。その後プローブ電極10
2と対向電極103の間に読み取り用1.5■のプロー
ブ電圧を印加して、ON状態領域とOFF状態領域に流
れる電流量の変化を直接読み取るか、又はサーボ回路1
06を通して読み取ることができる。本例では、ON状
態領域を流れるプローブ電流が記録前(又はOFF状態
領域)と比較して3桁以上変化していたことを確認した
。
がら、第3図と同様な波形を有する閾値電圧Vth
ON以上のパルス電圧(15層max、1μs)を印加
して、ON状態を書き込んだ。その後プローブ電極10
2と対向電極103の間に読み取り用1.5■のプロー
ブ電圧を印加して、ON状態領域とOFF状態領域に流
れる電流量の変化を直接読み取るか、又はサーボ回路1
06を通して読み取ることができる。本例では、ON状
態領域を流れるプローブ電流が記録前(又はOFF状態
領域)と比較して3桁以上変化していたことを確認した
。
更にプローブ電圧を閾値電圧VthOFF以上のIOV
に設定し、再び記録位置をトレースした結果、全ての記
録状態が消去されOFF状態に遷移したことも確認した
。
に設定し、再び記録位置をトレースした結果、全ての記
録状態が消去されOFF状態に遷移したことも確認した
。
次に微動制御機構107を用いて、o、ootμから0
゜1μの間の種々のピッチで長さ1μのストライブを上
記の方法で書き込み分解能を測定したところ0.01μ
以下であることがわかった。
゜1μの間の種々のピッチで長さ1μのストライブを上
記の方法で書き込み分解能を測定したところ0.01μ
以下であることがわかった。
以上の実験に用いた5OAZ−LB膜は下記のごとく作
成した。
成した。
光学研磨したガラス基板(基板104)を中性洗剤およ
びトリクレンを用いて洗浄した後下引き層としてCrを
真空蒸着法により厚さ50人堆積させ、更にAuを同法
により400人蒸着した下地電極(Au電極103)を
形成した。
びトリクレンを用いて洗浄した後下引き層としてCrを
真空蒸着法により厚さ50人堆積させ、更にAuを同法
により400人蒸着した下地電極(Au電極103)を
形成した。
次に5OAZを濃度0.2mg/mj2で溶かしたクロ
ロホルム溶液を20℃の水相上に展開し、水面上に単分
子膜を形成した。溶媒の蒸発を待ち係る単分子膜の表面
圧を20 m N / mまで高め、更にこれを一定に
保ちながら前記電極基板を水面を横切るように速度5m
m/分で静かに浸漬し、さらに引上げ2層のY形単分子
膜の累積を行った。この操作を適当回数繰返すことによ
って前記基板上に2.4,8,12,20.30層の6
種類の累積膜を形成し、記録再生実験を行った。その評
価結果を表1に示す。
ロホルム溶液を20℃の水相上に展開し、水面上に単分
子膜を形成した。溶媒の蒸発を待ち係る単分子膜の表面
圧を20 m N / mまで高め、更にこれを一定に
保ちながら前記電極基板を水面を横切るように速度5m
m/分で静かに浸漬し、さらに引上げ2層のY形単分子
膜の累積を行った。この操作を適当回数繰返すことによ
って前記基板上に2.4,8,12,20.30層の6
種類の累積膜を形成し、記録再生実験を行った。その評
価結果を表1に示す。
評価は記録書き込みパルスおよび消去電圧を印加した後
の記録性および消去性の良否、更に記録状態と消去状態
での電流値の比(ONloFF)および分解能より総合
的に判定し、特に良好なものを◎、良好なものを0.他
のものと比較していくぶん評価の低いものをΔとした。
の記録性および消去性の良否、更に記録状態と消去状態
での電流値の比(ONloFF)および分解能より総合
的に判定し、特に良好なものを◎、良好なものを0.他
のものと比較していくぶん評価の低いものをΔとした。
(実施例2)
実施例1で用いた5OAZ記録媒体の代わりにルテチク
ムジフタロシアニン[LuH(PC)2]のt−ブチル
誘導体を用いた以外は実施例1と同様にして実験を行っ
た。結果は表1にまとめて示した。5OAZと同様に充
分なS/N比で記録の書き込みと読み取りが出来ること
がわかった。
ムジフタロシアニン[LuH(PC)2]のt−ブチル
誘導体を用いた以外は実施例1と同様にして実験を行っ
た。結果は表1にまとめて示した。5OAZと同様に充
分なS/N比で記録の書き込みと読み取りが出来ること
がわかった。
なお、LuH(Pc)2のt−ブチル誘導体の累積条件
は下記の通りである。
は下記の通りである。
溶 媒:クロロホルム/トリメチルベンゼン/アセトン
(1/1/2) 濃 度:0.5mg/mIL 水 相:純水、水温20℃ 表面圧:20mN/m、基板上下速度3mmZ分 〔実施例3〜9〕 表2に示した基板電極材料および色素化合物を用いて記
録媒体を作成し、プローブ電流の制御電流値を1層M’
Aとして実施例1と2と同様の実験を行フなところ、表
2に示す結果を得た。
(1/1/2) 濃 度:0.5mg/mIL 水 相:純水、水温20℃ 表面圧:20mN/m、基板上下速度3mmZ分 〔実施例3〜9〕 表2に示した基板電極材料および色素化合物を用いて記
録媒体を作成し、プローブ電流の制御電流値を1層M’
Aとして実施例1と2と同様の実験を行フなところ、表
2に示す結果を得た。
表中O印で示した様にすべての試料に関し、十分な分解
能とON10 F F比で記録再生できた。
能とON10 F F比で記録再生できた。
なお、色素LB膜の累積数はすべて2層である。またp
t電極はEB法を用い、ITOは(CH2)2 OOH *** 公知の方法により高度好塩菌を培養し、抽
出した紫膜 以上述べてきた実施例中では色素記録層の形成にLB法
を使用してきたが、極めて薄く均一な膜が作成できる成
膜法であればLB法に限らず使用可能であり、具体的に
はMBEやCVD法等の真空蒸着法が挙げられる。
t電極はEB法を用い、ITOは(CH2)2 OOH *** 公知の方法により高度好塩菌を培養し、抽
出した紫膜 以上述べてきた実施例中では色素記録層の形成にLB法
を使用してきたが、極めて薄く均一な膜が作成できる成
膜法であればLB法に限らず使用可能であり、具体的に
はMBEやCVD法等の真空蒸着法が挙げられる。
使用可能な材料も他の有機化合物のみならず、無機材料
、例えばカルコゲン化合物等にも応用できる。
、例えばカルコゲン化合物等にも応用できる。
更には半導体を記録媒体側電極として、電極と記録層を
一体化して用いることも可能である。
一体化して用いることも可能である。
なお、本発明は基板材料やその形状および表面構造につ
いて何ら限定するものではない。
いて何ら限定するものではない。
■光記録に較べても、はるかに高密度な記録が可能な全
く新しい記録再生方法を開示した。
く新しい記録再生方法を開示した。
■上記の新規記録再生方法を用いた新規な記録媒体を開
示した。
示した。
■単分子膜の累積によって記録層を形成するため、分子
オーダー(数Å〜数十人)による膜厚制御が容易に実現
できた。また制御性が優れているため記録層を形成する
とき再現性が高い。
オーダー(数Å〜数十人)による膜厚制御が容易に実現
できた。また制御性が優れているため記録層を形成する
とき再現性が高い。
■記録層が薄くて良いため、生産性に富み安価な記録媒
体を提供できる。
体を提供できる。
■再生に必要なエネルギーは小さく、消費電力は少ない
。
。
第1図は本発明の通電記録再生装置を図解的に示す説明
図である。第2図はプローブ電極と試料(記録層)表面
との距離を変化したときのプローブ電極に1vを印加し
たときに流れる電流を図示した特性図で、第3図は記録
用のパルス電圧波形図を示した。第4図はMIM素子の
構成略図で、第5図と第6図は第4図の素子に於いて得
られる電気的特性を示す特性図である。 第7図は累積膜の成膜装置の模式図である。 第8a図と第8b図は単分子膜の模式図であり、第9a
図、第9b図と第9c図は累積膜の模式図である。 表面とのブ巨f1#z 時間 411Au機 第5図 第7図 q?胤水・1生岩均ガ
図である。第2図はプローブ電極と試料(記録層)表面
との距離を変化したときのプローブ電極に1vを印加し
たときに流れる電流を図示した特性図で、第3図は記録
用のパルス電圧波形図を示した。第4図はMIM素子の
構成略図で、第5図と第6図は第4図の素子に於いて得
られる電気的特性を示す特性図である。 第7図は累積膜の成膜装置の模式図である。 第8a図と第8b図は単分子膜の模式図であり、第9a
図、第9b図と第9c図は累積膜の模式図である。 表面とのブ巨f1#z 時間 411Au機 第5図 第7図 q?胤水・1生岩均ガ
Claims (15)
- (1)プローブ電極、電気メモリー効果をもつ記録媒体
、前記プローブ電極から記録媒体に電気メモリー効果を
生じる閾値電圧を越えていない電圧を印加する電圧印加
手段及び前記記録媒体に流れる電流量の変化を読み取る
読み取り手段とを有することを特徴とする再生装置。 - (2)前記記録媒体が前記プローブ電極と、該プローブ
電極に対向配置した対向電極との間に配置されている特
許請求の範囲第1項記載の再生装置。 - (3)前記記録媒体が有機化合物の単分子膜又は該単分
子層を累積した累積膜を有している特許請求の範囲第1
項記載の再生装置。 - (4)前記単分子膜又は累積膜の膜厚が数Å〜数100
0Åの範囲である特許請求の範囲第3項記載の再生装置
。 - (5)前記単分子膜又は累積膜の膜厚が数Å〜500Å
の範囲である特許請求の範囲第3項記載の再生装置。 - (6)前記単分子膜又は累積膜の膜厚が10Å〜200
Åの範囲である特許請求の範囲第3項記載の再生装置。 - (7)前記単分子膜又は累積膜がLB法によって成膜し
た膜である特許請求の範囲第3項記載の再生装置。 - (8)前記有機化合物が分子中にπ電子準位をもつ群と
σ電子準位をもつ群とを有する特許請求の範囲第3項記
載の再生装置。 - (9)前記有機化合物が有機色素化合物である特許請求
の範囲第1項記載の再生装置。 - (10)前記有機化合物がポルフィリン骨格を有する色
素、アズレン系色素、シアニン系色素、スクアリリウム
基をもつ色素、クロコニックメチン基をもつ色素、縮合
多環芳香族化合物、縮合複素環化合物、ジアセチレン重
合体、テトラキノジメタン、テトラチアフルバレン及び
金属錯体化合物からなる群より選択された少なくとも1
種の化合物である特許請求の範囲第3項記載の再生装置
。 - (11)前記プローブ電極のXY走査駆動装置を有して
いる特許請求の範囲第1項記載の再生装置。 - (12)前記プローブ電極と記録媒体の相対位置を3次
元的に微動制御する手段を有している特許請求の範囲第
1項記載の再生装置。 - (13)前記読み取り手段がサーボ回路を有している特
許請求の範囲第1項記載の再生装置。 - (14)電気メモリー効果をもつ記録媒体に、プローブ
電極から電気メモリー効果を生じる閾値電圧を越えてい
ない電圧を印加し、前記記録媒体に流れる電流量の変化
を読み取ることを特徴とする再生法。 - (15)前記記録媒体にプローブ電極と対向電極から電
気メモリー効果を生じる閾値電圧を越えていない電圧を
印加する特許請求の範囲第14項記載の再生法。
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61309434A JP2556492B2 (ja) | 1986-12-24 | 1986-12-24 | 再生装置及び再生法 |
EP93200792A EP0555941B1 (en) | 1986-12-24 | 1987-12-23 | Recording device and reproducing device |
EP93200797A EP0551966B1 (en) | 1986-12-24 | 1987-12-23 | Recording device and reproducing device |
EP87311397A EP0272935B1 (en) | 1986-12-24 | 1987-12-23 | Recording device and reproducing device |
DE3752099T DE3752099T2 (de) | 1986-12-24 | 1987-12-23 | Aufzeichnungsgerät und Wiedergabegerät |
DE3752180T DE3752180T2 (de) | 1986-12-24 | 1987-12-23 | Aufzeichnungs- und Wiedergabegerät |
EP93200793A EP0551964B1 (en) | 1986-12-24 | 1987-12-23 | Recording and reproducing device |
DE3789373T DE3789373T2 (de) | 1986-12-24 | 1987-12-23 | Aufnahmegerät und Wiedergabegerät. |
DE3752269T DE3752269T2 (de) | 1986-12-24 | 1987-12-23 | Aufzeichnungsgerät und Wiedergabegerät |
US08/482,789 US5623476A (en) | 1986-12-24 | 1995-06-07 | Recording device and reproduction device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61309434A JP2556492B2 (ja) | 1986-12-24 | 1986-12-24 | 再生装置及び再生法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63161553A true JPS63161553A (ja) | 1988-07-05 |
JP2556492B2 JP2556492B2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=17992958
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61309434A Expired - Fee Related JP2556492B2 (ja) | 1986-12-24 | 1986-12-24 | 再生装置及び再生法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2556492B2 (ja) |
Cited By (72)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0449409A2 (en) * | 1990-02-08 | 1991-10-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe unit, information processing device using same and methods of use and manufacture |
EP0523676A2 (en) | 1991-07-17 | 1993-01-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing method for recording and/or reproducing information on information recording carrier by use of probe electrode, information recording/reproducing apparatus executing the method, and information recording carrier suitable for the method |
US5182724A (en) * | 1989-09-07 | 1993-01-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing method and information processing device |
US5187367A (en) * | 1990-08-14 | 1993-02-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Cantilever type probe, scanning tunneling microscope and information processing device equipped with said probe |
US5202879A (en) * | 1990-11-13 | 1993-04-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording medium, and information recording and/or reproducing method and apparatus |
US5204851A (en) * | 1990-08-01 | 1993-04-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus for reading and/or inputting information |
US5206665A (en) * | 1989-08-10 | 1993-04-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium, method for preparing the same, recording and reproducing device, and recording, reproducing and erasing method by use of such recording medium |
US5222060A (en) * | 1989-09-07 | 1993-06-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Accessing method, and information processing method and information processing device utilizing the same |
US5241527A (en) * | 1989-03-16 | 1993-08-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording and reproducing apparatus and method using a recording layer having a positioning region |
US5274475A (en) * | 1990-04-03 | 1993-12-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Information transfer method, information transfer apparatus, and its driving method |
US5278704A (en) * | 1990-09-05 | 1994-01-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus including magnetic material having a predetermined magnetization pattern with respect to a recording medium |
US5282191A (en) * | 1991-06-11 | 1994-01-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Information reproducing method and information reproducing apparatus which uses the method |
US5289455A (en) * | 1990-07-25 | 1994-02-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording and/or reproducing apparatus |
US5299184A (en) * | 1991-05-15 | 1994-03-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus with held distance control on track edge detection |
US5317152A (en) * | 1991-04-22 | 1994-05-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Cantilever type probe, and scanning tunnel microscope and information processing apparatus employing the same |
US5323003A (en) * | 1991-09-03 | 1994-06-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Scanning probe microscope and method of observing sample by using such a microscope |
US5329514A (en) * | 1991-07-31 | 1994-07-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus, and electrode substrate and information recording medium used in the apparatus |
US5329515A (en) * | 1991-03-08 | 1994-07-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Information carrier, information recording and/or reproducing apparatus, and information detecting apparatus |
US5329122A (en) * | 1991-08-29 | 1994-07-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus and scanning tunnel microscope |
US5334835A (en) * | 1991-10-03 | 1994-08-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe drive mechanism and electronic device which uses the same |
US5343460A (en) * | 1990-08-03 | 1994-08-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing device and information processing method |
US5371728A (en) * | 1992-03-07 | 1994-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus using probe |
US5371727A (en) * | 1991-10-15 | 1994-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Scanning tunnel microscopy information processing system with noise detection to correct the tracking mechanism |
US5375114A (en) * | 1991-04-24 | 1994-12-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording and reading space control between a read/write probe and a recording medium |
US5390161A (en) * | 1990-01-11 | 1995-02-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Microprobe, method for producing the same, and information input and/or output apparatus utilizing the same |
US5392275A (en) * | 1990-10-19 | 1995-02-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording unit and method for information recording/reproduction |
US5394388A (en) * | 1991-06-05 | 1995-02-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Multiple microprobe arrays for recording and reproducing encoded information |
US5396453A (en) * | 1990-10-19 | 1995-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording/reproducing apparatus such as a memory apparatus |
US5396483A (en) * | 1989-08-10 | 1995-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium having a track and electrode layer provided and recording and reproducing device and system using same |
US5396066A (en) * | 1992-07-06 | 1995-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Displacement element, cantilever probe and information processing apparatus using cantilever probe |
US5412597A (en) * | 1990-11-20 | 1995-05-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Slope detection method, and information detection/writing apparatus using the method |
US5412641A (en) * | 1992-05-07 | 1995-05-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus for recording/reproducing information with probes |
US5414690A (en) * | 1991-01-29 | 1995-05-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Moving apparatus, a moving method and an information detection and/or input apparatus using the same |
US5418771A (en) * | 1993-02-25 | 1995-05-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus provided with surface aligning mechanism between probe head substrate and recording medium substrate |
US5432771A (en) * | 1992-05-13 | 1995-07-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus for performing recording/reproduction of information by using probe |
US5432379A (en) * | 1991-10-01 | 1995-07-11 | Canon Kabushiki Kaisha | MIM-type electric device production thereof, and electronic apparatus employing the device |
US5446720A (en) * | 1990-03-09 | 1995-08-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording method and apparatus recording two or more changes in topographical and electrical states |
US5481527A (en) * | 1992-03-31 | 1996-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus with ferroelectric rewritable recording medium |
US5481528A (en) * | 1992-09-25 | 1996-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processor and method using the information processor |
US5481522A (en) * | 1993-08-26 | 1996-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording/reproducing method and apparatus using probe |
US5488602A (en) * | 1989-04-25 | 1996-01-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Information record/reproducing apparatus and information recording medium |
EP0703429A2 (en) | 1994-09-21 | 1996-03-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe with torsion lever structure, and scanning probe microscope and record/reproducing apparatus utilizing the same |
US5510858A (en) * | 1992-12-25 | 1996-04-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Television receiver having an STM memory |
US5517482A (en) * | 1992-05-20 | 1996-05-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus having fuzzy operating unit |
US5526334A (en) * | 1992-12-24 | 1996-06-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus with multiple probes and method therefor |
US5546374A (en) * | 1993-09-29 | 1996-08-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording and/or reproducing apparatus using probe |
US5581364A (en) * | 1991-03-06 | 1996-12-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for recording and/or reproducing image signals and an apparatus therefor utilizing two dimensional scanning of a recording medium by a probe |
US5623295A (en) * | 1993-03-01 | 1997-04-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording reproducing apparatus using probe |
US5717680A (en) * | 1994-03-18 | 1998-02-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus with mechanism for adjusting interval between substrate for supporting a plurality of probes and recording medium |
US5732053A (en) * | 1993-03-09 | 1998-03-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording method information recording apparatus |
US5751686A (en) * | 1995-06-19 | 1998-05-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Scanning probe tip covered with an electrical resistance to limit recording/reproducing current |
US5751684A (en) * | 1995-07-10 | 1998-05-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording/reproducing apparatus and method for recording/reproducing information using probe |
US5753911A (en) * | 1996-01-19 | 1998-05-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrostatic actuator, probe using the actuator, scanning probe microscope, processing apparatus, and recording/reproducing apparatus |
US5757760A (en) * | 1996-01-18 | 1998-05-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording and/or reproducing apparatus and method for performing recording and/or reproduction of information by using probe |
US5793040A (en) * | 1995-01-13 | 1998-08-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing aparatus effecting probe position control with electrostatic force |
US5805541A (en) * | 1995-02-13 | 1998-09-08 | Cannon Kabushiki Kaisha | Circumferential data recording/reproducing with a microvibration scanning probe |
US5805560A (en) * | 1995-10-16 | 1998-09-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording/reproducing apparatus and recording/reproducing method using probe |
US5978326A (en) * | 1994-12-05 | 1999-11-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus using an offset signal to control the position of a probe |
US5995704A (en) * | 1996-02-15 | 1999-11-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus capable of readily changing resolution |
US6040848A (en) * | 1996-10-07 | 2000-03-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording apparatus and method of recording information by applying voltage between probe and recording medium |
US6072764A (en) * | 1997-05-13 | 2000-06-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus having face regulating system |
US6110579A (en) * | 1996-12-17 | 2000-08-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium used in information processing apparatus using probe |
US6147958A (en) * | 1997-02-12 | 2000-11-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus and method using probe |
US6166386A (en) * | 1997-06-02 | 2000-12-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Micro-processing method using a probe |
US6195313B1 (en) | 1997-08-29 | 2001-02-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Tracking mechanism and method using probes for information recording/reproducing apparatus |
US6252238B1 (en) | 1997-09-11 | 2001-06-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Micro-processing method using a probe |
US6308405B1 (en) | 1990-02-07 | 2001-10-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for preparing an electrode substrate |
US6423967B1 (en) | 1999-05-13 | 2002-07-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Detection apparatus and detection method to be used for scanning probe and observation apparatus and observation method |
US6459088B1 (en) | 1998-01-16 | 2002-10-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Drive stage and scanning probe microscope and information recording/reproducing apparatus using the same |
US6477132B1 (en) | 1998-08-19 | 2002-11-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe and information recording/reproduction apparatus using the same |
US6640433B1 (en) * | 1997-05-13 | 2003-11-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for forming a micro-pattern |
KR100704102B1 (ko) * | 2002-08-07 | 2007-04-05 | 가부시키가이샤 데루타 쓰링구 | 박형 시트 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6180536A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-24 | ゼロツクス コーポレーシヨン | 原子規模密度情報記緑および読出し装置並びに方法 |
JPS62281138A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-07 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 記憶装置 |
JPS6396756A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 記憶装置 |
-
1986
- 1986-12-24 JP JP61309434A patent/JP2556492B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6180536A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-24 | ゼロツクス コーポレーシヨン | 原子規模密度情報記緑および読出し装置並びに方法 |
JPS62281138A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-07 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 記憶装置 |
JPS6396756A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 記憶装置 |
Cited By (83)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5241527A (en) * | 1989-03-16 | 1993-08-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording and reproducing apparatus and method using a recording layer having a positioning region |
US5488602A (en) * | 1989-04-25 | 1996-01-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Information record/reproducing apparatus and information recording medium |
US5581537A (en) * | 1989-04-25 | 1996-12-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Information record/reproducing apparatus and information recording medium |
US5396483A (en) * | 1989-08-10 | 1995-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium having a track and electrode layer provided and recording and reproducing device and system using same |
US5206665A (en) * | 1989-08-10 | 1993-04-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium, method for preparing the same, recording and reproducing device, and recording, reproducing and erasing method by use of such recording medium |
EP0412829B1 (en) * | 1989-08-10 | 1996-10-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium, method for preparing the same, recording and reproducing device, and recording, reproducing and erasing method by use of such a recording medium |
US5182724A (en) * | 1989-09-07 | 1993-01-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing method and information processing device |
US5222060A (en) * | 1989-09-07 | 1993-06-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Accessing method, and information processing method and information processing device utilizing the same |
US5390161A (en) * | 1990-01-11 | 1995-02-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Microprobe, method for producing the same, and information input and/or output apparatus utilizing the same |
US6308405B1 (en) | 1990-02-07 | 2001-10-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for preparing an electrode substrate |
EP0449409A2 (en) * | 1990-02-08 | 1991-10-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe unit, information processing device using same and methods of use and manufacture |
US5446720A (en) * | 1990-03-09 | 1995-08-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording method and apparatus recording two or more changes in topographical and electrical states |
US5274475A (en) * | 1990-04-03 | 1993-12-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Information transfer method, information transfer apparatus, and its driving method |
US5289455A (en) * | 1990-07-25 | 1994-02-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording and/or reproducing apparatus |
US5204851A (en) * | 1990-08-01 | 1993-04-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus for reading and/or inputting information |
EP0676749A2 (en) | 1990-08-03 | 1995-10-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information reproducing device and method |
US5343460A (en) * | 1990-08-03 | 1994-08-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing device and information processing method |
US5187367A (en) * | 1990-08-14 | 1993-02-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Cantilever type probe, scanning tunneling microscope and information processing device equipped with said probe |
US5278704A (en) * | 1990-09-05 | 1994-01-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus including magnetic material having a predetermined magnetization pattern with respect to a recording medium |
US5448421A (en) * | 1990-09-05 | 1995-09-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for positioning an information processing head by detecting a magnetization pattern on a magnetic material positioned relative to a recording medium and a process for forming a recording and/or reproducing cantilever type probe |
US5392275A (en) * | 1990-10-19 | 1995-02-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording unit and method for information recording/reproduction |
US5396453A (en) * | 1990-10-19 | 1995-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording/reproducing apparatus such as a memory apparatus |
US5202879A (en) * | 1990-11-13 | 1993-04-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording medium, and information recording and/or reproducing method and apparatus |
US5412597A (en) * | 1990-11-20 | 1995-05-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Slope detection method, and information detection/writing apparatus using the method |
US5414690A (en) * | 1991-01-29 | 1995-05-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Moving apparatus, a moving method and an information detection and/or input apparatus using the same |
US5581364A (en) * | 1991-03-06 | 1996-12-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for recording and/or reproducing image signals and an apparatus therefor utilizing two dimensional scanning of a recording medium by a probe |
US5381400A (en) * | 1991-03-08 | 1995-01-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Information carrier, information recording and/or reproducing apparatus, and information detecting apparatus |
US5329515A (en) * | 1991-03-08 | 1994-07-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Information carrier, information recording and/or reproducing apparatus, and information detecting apparatus |
US5317152A (en) * | 1991-04-22 | 1994-05-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Cantilever type probe, and scanning tunnel microscope and information processing apparatus employing the same |
US5375114A (en) * | 1991-04-24 | 1994-12-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording and reading space control between a read/write probe and a recording medium |
US5299184A (en) * | 1991-05-15 | 1994-03-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus with held distance control on track edge detection |
US5394388A (en) * | 1991-06-05 | 1995-02-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Multiple microprobe arrays for recording and reproducing encoded information |
US5282191A (en) * | 1991-06-11 | 1994-01-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Information reproducing method and information reproducing apparatus which uses the method |
US5461605A (en) * | 1991-07-17 | 1995-10-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing method, recording carrier and apparatus for recording and/or reproducing information on information recording carrier by use of probe electrode |
US5610898A (en) * | 1991-07-17 | 1997-03-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing method for recording and/or reproducing information on information recording carrier by use of probe electrode |
EP0523676A2 (en) | 1991-07-17 | 1993-01-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing method for recording and/or reproducing information on information recording carrier by use of probe electrode, information recording/reproducing apparatus executing the method, and information recording carrier suitable for the method |
US5329514A (en) * | 1991-07-31 | 1994-07-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus, and electrode substrate and information recording medium used in the apparatus |
US5329122A (en) * | 1991-08-29 | 1994-07-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus and scanning tunnel microscope |
US5323003A (en) * | 1991-09-03 | 1994-06-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Scanning probe microscope and method of observing sample by using such a microscope |
US5432379A (en) * | 1991-10-01 | 1995-07-11 | Canon Kabushiki Kaisha | MIM-type electric device production thereof, and electronic apparatus employing the device |
US5334835A (en) * | 1991-10-03 | 1994-08-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe drive mechanism and electronic device which uses the same |
US5398229A (en) * | 1991-10-03 | 1995-03-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of manufacturing cantilever drive mechanism, method of manufacturing probe drive mechanism, cantilever drive mechanism, probe drive mechanism and electronic device which uses the same |
US5648300A (en) * | 1991-10-03 | 1997-07-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of manufacturing cantilever drive mechanism and probe drive mechanism |
US5371727A (en) * | 1991-10-15 | 1994-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Scanning tunnel microscopy information processing system with noise detection to correct the tracking mechanism |
US5371728A (en) * | 1992-03-07 | 1994-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus using probe |
US5481527A (en) * | 1992-03-31 | 1996-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus with ferroelectric rewritable recording medium |
US5412641A (en) * | 1992-05-07 | 1995-05-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus for recording/reproducing information with probes |
US5432771A (en) * | 1992-05-13 | 1995-07-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus for performing recording/reproduction of information by using probe |
US5517482A (en) * | 1992-05-20 | 1996-05-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus having fuzzy operating unit |
US5396066A (en) * | 1992-07-06 | 1995-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Displacement element, cantilever probe and information processing apparatus using cantilever probe |
US5481528A (en) * | 1992-09-25 | 1996-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processor and method using the information processor |
US5526334A (en) * | 1992-12-24 | 1996-06-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus with multiple probes and method therefor |
US5510858A (en) * | 1992-12-25 | 1996-04-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Television receiver having an STM memory |
US5418771A (en) * | 1993-02-25 | 1995-05-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus provided with surface aligning mechanism between probe head substrate and recording medium substrate |
US5623295A (en) * | 1993-03-01 | 1997-04-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording reproducing apparatus using probe |
US5732053A (en) * | 1993-03-09 | 1998-03-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording method information recording apparatus |
US5481522A (en) * | 1993-08-26 | 1996-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording/reproducing method and apparatus using probe |
US5546374A (en) * | 1993-09-29 | 1996-08-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording and/or reproducing apparatus using probe |
US5717680A (en) * | 1994-03-18 | 1998-02-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus with mechanism for adjusting interval between substrate for supporting a plurality of probes and recording medium |
US5574279A (en) * | 1994-09-21 | 1996-11-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe with torsion lever structure, and scanning probe microscope and record/reproducing apparatus utilizing the same |
EP0703429A2 (en) | 1994-09-21 | 1996-03-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe with torsion lever structure, and scanning probe microscope and record/reproducing apparatus utilizing the same |
US5978326A (en) * | 1994-12-05 | 1999-11-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus using an offset signal to control the position of a probe |
US5793040A (en) * | 1995-01-13 | 1998-08-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing aparatus effecting probe position control with electrostatic force |
US5805541A (en) * | 1995-02-13 | 1998-09-08 | Cannon Kabushiki Kaisha | Circumferential data recording/reproducing with a microvibration scanning probe |
US5751686A (en) * | 1995-06-19 | 1998-05-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Scanning probe tip covered with an electrical resistance to limit recording/reproducing current |
US5751684A (en) * | 1995-07-10 | 1998-05-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording/reproducing apparatus and method for recording/reproducing information using probe |
US5805560A (en) * | 1995-10-16 | 1998-09-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording/reproducing apparatus and recording/reproducing method using probe |
US5757760A (en) * | 1996-01-18 | 1998-05-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording and/or reproducing apparatus and method for performing recording and/or reproduction of information by using probe |
US5753911A (en) * | 1996-01-19 | 1998-05-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrostatic actuator, probe using the actuator, scanning probe microscope, processing apparatus, and recording/reproducing apparatus |
US5995704A (en) * | 1996-02-15 | 1999-11-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus capable of readily changing resolution |
US6040848A (en) * | 1996-10-07 | 2000-03-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording apparatus and method of recording information by applying voltage between probe and recording medium |
US6110579A (en) * | 1996-12-17 | 2000-08-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording medium used in information processing apparatus using probe |
US6147958A (en) * | 1997-02-12 | 2000-11-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Information recording/reproducing apparatus and method using probe |
US6072764A (en) * | 1997-05-13 | 2000-06-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus having face regulating system |
US6640433B1 (en) * | 1997-05-13 | 2003-11-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for forming a micro-pattern |
US6166386A (en) * | 1997-06-02 | 2000-12-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Micro-processing method using a probe |
US6195313B1 (en) | 1997-08-29 | 2001-02-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Tracking mechanism and method using probes for information recording/reproducing apparatus |
US6252238B1 (en) | 1997-09-11 | 2001-06-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Micro-processing method using a probe |
US6459088B1 (en) | 1998-01-16 | 2002-10-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Drive stage and scanning probe microscope and information recording/reproducing apparatus using the same |
US6477132B1 (en) | 1998-08-19 | 2002-11-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Probe and information recording/reproduction apparatus using the same |
US6423967B1 (en) | 1999-05-13 | 2002-07-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Detection apparatus and detection method to be used for scanning probe and observation apparatus and observation method |
KR100704102B1 (ko) * | 2002-08-07 | 2007-04-05 | 가부시키가이샤 데루타 쓰링구 | 박형 시트 |
US7455366B2 (en) | 2002-08-07 | 2008-11-25 | Delta Tooling Co., Ltd. | Thin sheet |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2556492B2 (ja) | 1996-11-20 |
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---|---|---|
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JPH0395739A (ja) | 記録・再生装置および記録・再生方法 |
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