JPS63157073A

JPS63157073A - スキヤンテスト装置

Info

Publication number: JPS63157073A
Application number: JP61302796A
Authority: JP
Inventors: Kazuhiro Furuya; 古谷　和弘
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1986-12-20
Filing date: 1986-12-20
Publication date: 1988-06-30
Anticipated expiration: 2010-05-17
Also published as: JPH0746121B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔概　　要〕本発明は、複数のスキャンチェーンと、該各スキャンチ
ェーン内または隣接する各スキャンチェーン間に接続配
置される組合せ回路とによって構成されるＬＳＩにおい
て、異なるスキャンチェーンの隣接する地点にスキャン
チェーン切換え手段を有することにより、あるスキャン
チェーンと他のスキャンチェーンの一部分どうしを接続
して新しいスキャンチェーンを形成し、それにより１つ
のスキャンチェーンに対するスキャンイン／スキャンア
ウトのみで、隣接するスキャンチェーン間に接続配置さ
れる組合せ回路の試験を可能にするスキャンテスト装置
である。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、複数のスキャンチェーンと組合せ回路からな
るＬＳＩのスキャンテスト方式に関する。

〔従来技術〕

ＬＳＩを構成する回路（順序回路）は、通常、フリップ
フロップ回路によって構成される遅延回路と、それに接
続される組合せ回路とによって横成されるが、その場合
、複数のフリップフロップ回路がチェーン状に縦続接続
され、各フリップフロップ回路の入出力端子が組合せ回
路に接続される構成を有するもの力鳴る。上記チェーン
をスキャンイン端子と呼ぶが、ＬＳＩのゲート数が増加
すると必然的にフリップフロップ回路の数も増大する。

そのため、１つのＬＳＩに対して１つのスキャンチェー
ンしかない場合、縦続に接続された全てのフリップフロ
ップ回路に所定値をセットするのに長時間を要し、かつ
必要のない位置のフリップフロップ回路にも値をセット
せざるを得ず、冗長があった。

そこで、スキャンチェーンを複数に分割し、１チエーン
当たりのフリップフロップ回路数を減少させることによ
り、前記のような無駄をなくす方式が提案されている。

第４図に、上記方式の一従来例を示す。即ち、ＬＳＩＩ
は、複数のフリップフロップ回路ＦＦＩ’、ＦＦ２’、
ＦＦ３’、・・・からなる複数のスキャンチェーン２〜
５を有し、各スキャンチェーン内には各スキャンチェー
ンのフリップフロップ回路の入出力端子が接続される組
合せ回路６〜９が配置され、また、隣接する各スキャン
チェーン間にも組合せ回路ｌＯ〜１４が同様に接続配置
される。そして、各スキャンイン端子１５〜１８より所
定の信号を入力することにより、上記各回路で所定の動
作が行われ、各スキャンアウト端子１９〜２２から出力
信号が出力される。

今、上記構成のＬＳｒｌを試験する場合において、各ス
キャンチェーン内の組合せ回路６〜９の試験を行いたい
場合には、対応するスキャンチェーンのスキャンイン端
子に所定のテスト信号列を入力し、スキャンアウト端子
から出力される信号列を観測することにより試験を行う
０例えば第４図において、組合せ回路６の試験を行いた
い場合には、スキャンチェーン２のスキャンイン端子１
５に所定のテスト信号列を入力し、スキャンアウト端子
１９から出力される信号列を観測すればよい。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし上記従来方式において、隣接する各スキャンチェ
ーン間に接続配置される組合せ回路（第４図の１０〜１
４）の試験を行う場合には、少なくとも２つ以上のスキ
ャンチェーンに対してスキャンイン／スキャンアウトを
行わなければならない。例えば、第４図の組合せ回路１
２などは、４つのスキャンチェーン２〜５にまたがって
接続されているため、４つのスキャンチェーン２〜５に
対して各々スキャンイン／スキャンアウトを行い、各結
果を複雑に比較しなければ試験を行えない。

このように、上記従来方式においては、全ての組合せ回
路の試験を、１つのスキャンチェーンに対するスキャン
イン／スキャンアウトのみで行うことができず、試験処
理動作が複雑になってしまうという問題点を有していた
。

本発明は上記問題点を解決するために、異なるスキャン
チェーンの隣接する地点にスキャンチェーン切換え手段
を有することにより、任意の位置の組合せ回路に対して
それを囲む新たな１つのスキャンチェーンを形成させる
ことを可能にし、それにより全ての組合せ回路の試験を
１つのスキャンチェーンに対するスキャンイン／スキャ
ンアウトのみで行うことを可能にするスキャンテスト装
置を提供することを目的とする。

ｃ問題点を解決するための手段〕本発明は上記問題点を解決するために、第１図に示す基
本構成を有する。即ち、複数のチェーン状に配置される
フリップフロップ回路ＦＦ１、ＦＦ２、ＦＦ３、・・・
からなる複数のスキャンチェーン２４〜２７と、該各ス
キャンチェーン内マたは隣接する各スキャンチェーン間
に接続配置される組合せ回路２８〜３６とによって構成
されるＬＳＩ２３において、隣接する各スキャンチェー
ン間にスキャンチェーン切換え手段３７〜４ｏを有する
。なお、各スキャンチェーン毎に各スキャンイン端子４
１〜４４、及びスキャンアウト端子４５〜４８を有する
。

〔作　　　用〕

上記各手段において、通常動作時は、各スキャンチェー
ン２４〜２７が独立して接続されるようにスキャンチェ
ーン切換え手段３７〜４０を切換えておく。これに対し
て、ＬＳＩ２３の試験を行う場合には、ＬＳＩ２３を構
成する組合せ回路２８〜３６のうち、試験を行いたい組
合せ回路に対して、それを囲む新たな１つのスキャンチ
ェーンが形成されるようにスキャンチェーン切換え手段
３７〜４０を切換え、スキャンイン端子４１〜４４のう
ち対応する端子からテスト信号列を入力し、スキャンア
ウト端子４５〜４８のうち対応するスキャンアウト端子
から出力される信号列を観測する。これにより、全ての
組合せ回路２８〜３６に対して、各回路を囲む１つのス
キャンチェーンを形成させることが可能となり、各組合
せ回路２８〜３６の試験を、それに対応する１つのスキ
ャンチェーンに対するスキャンイン／スキャンアウトの
みで行うことが可能となる。

〔実　　施　　例〕

以下、本発明の実施例につき詳細に説明を行う。

（本発明の実施例の構成（第１図〜第２図））まず、本
発明の実施例の基本構成は第１図で説明したのと同様で
ある。第２図は、第１図のスキャンチェーン切換え手段
３７〜４ｏの具体的な回路構成図である。第２図におい
て、４９が第１図の３７〜４０に対応し、第１のスキャ
ンチェーン５９及び第２のスキャンチェーン６ｏは、第
１図のスキャンチェーン切換え回路３７では各スキャン
チェーン２４及び２５に対応し、同じく３８では２４及
び２６．３９では２６及び２７．４ｏでは２５及び２７
に対応する。

第２図において、アンド回路５０．５１には切換え信号
５８の正論理が入力しており、アンド回路５２〜５５に
は切換え信号５８の負論理が入力している。そして、切
換え信号５８としてハイレベル信号を与えることにより
、アンド回路５ｏ、５１がオン、アンド回路５２〜５５
がオフとなり、第１のスキャンチェーン５９の入力側は
、アンド回路５０、オア回路５６を介して第１のスキャ
ンチェーン５９の出力側に接続され、第２のスキャンチ
ェーン６０の入力側は、アンド回路５１、オア回路５７
を介して第２のスキャンチェーン６０の出力側に接続さ
れる。逆に、切換え信号５８としてローレベル信号を与
えることにより、アンド回路５０．５１がオフ、アンド
回路５２〜５５がオンとなり、第１のスキャンチェーン
５９の入力側は、アンド回路５５．５４、オア回路５７
を介して上記とは逆に第２のスキャンチェーン６０の出
力側に切換え接続され、第２のスキャンチェーン６０の
入力側は、アンド回路５３．５２、オア回路５６を介し
て上記とは逆に第１のスキャンチェーン５９の出力側に
切換え接続される。

尚、切換え信号５８は第１図においては特には図示しな
いが、各スキャンチェーン切換え手段毎にＬＳＩ２３の
外部から入力できるとする。

（本発明の実施例の動作（第３図））次に、上記実施例の動作につき説明を行う。まず、第１
図のＬＳＩ２３の各組合せ回路２８〜３６の試験のうち
、組合せ回路２８〜３１の各試験を行う場合には、スキ
ャンチェーン切換え手段３７〜４０における切換え信号
５８　（第２図）としてハイレベル信号を入力させる。

これにより、各スキャンチェーンは第３図（ａ）の実線
に示すように接続される。そして、各組合せ回路２８．
２９．３０．３１に対応して、各スキャンイン／アウト
端子４１と４５．４２と４６．４３と４７、及び４４と
４８を用いて各試験を行えばよい。

これに対して、第１図の組合せ回路３２〜３６の各試験
を行う場合には、スキャンチェーン切換手段３７．３Ｂ
、４０における切換え信号５８（第２図）としてローレ
ベル信号を入力させ、スキャンチェーン切換え手段３９
のみの切換え信号５８をハイレベルにする。これにより
、第３図（ｂ）の実線に示す新たなスキャンチェーンが
形成される。そして、各組合せ回路３２．３３．３４（
３６）、３５に対応して、各スキャンイン／アウト端子
４１と４６．４３と４５．４４と４７、および４２と４
８を用いて各試験を行えばよい。

上記の場合、組合せ回路３４と３６が同時に試験されて
しまうので、組合せ回路３６のみの試験を行いたい場合
には、スキャンチェーン切換え手段３９における切換え
信号５８（第２図）をローレベルにすることにより、第
３図（Ｃ１の実線に示すスキャンチェーンが形成され、
スキャンイン／アウト端子４４．４７を用いて試験を行
うことができる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、スキャンチェーン切換手段を有するこ
とにより、全ての組合せ回路に対してそれを囲む新たな
１つのスキャンチェーンを形成することが可能となり、
それにより全ての組合せ回路の試験を１つのスキャンチ
ェーンに対するスキャンイン／アウトのみで行うことが
可能になる。

これにより、組合せ回路を試験するためのテスト信号列
のパターン数を大幅に削減することが可能となり、ＬＳ
Ｉの試験時間を短縮化させ省略化が実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の基本構成図、第２図は、スキャンチェーン切換え手段の回路構成図、第３図（ａ）、（ｂ）、（ｅ）は、本発明の実施例の動
作説明図、第４図は、従来例の構成図である。２３・・・大規模集積回路（ＬＳＩ）、２４〜２７・・
・スキャンチェーン、２８〜３６・・・組合せ回路、３７〜４０・・・スキャンチェーン切換え手段。特許出願人　　　　富士通株式会社本発帖の基本４真底図第１図

Claims

【特許請求の範囲】

複数のチェーン状に配置されるフリップフロップ回路（
ＦＦ１、ＦＦ２、ＦＦ３、・・・）からなる複数のスキ
ャンチェーン（２４〜２７）と、該各スキャンチェーン
内または隣接する各スキャンチェーン間に接続配置され
る組合せ回路（２８〜３６）とによって構成される大規
模集積回路（２３）内の隣接する各スキャンチェーン間
に配置され、異なるスキャンチェーンどうしを切換え接
続するスキャンチェーン切換え手段（３７〜４０）を有
することを特徴とするスキャンテスト装置。