JPS63155213A - 半導体デイスク装置の電源製御方式 - Google Patents

半導体デイスク装置の電源製御方式

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Publication number
JPS63155213A
JPS63155213A JP61300137A JP30013786A JPS63155213A JP S63155213 A JPS63155213 A JP S63155213A JP 61300137 A JP61300137 A JP 61300137A JP 30013786 A JP30013786 A JP 30013786A JP S63155213 A JPS63155213 A JP S63155213A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power
semiconductor memory
circuit
memory
battery
Prior art date
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Pending
Application number
JP61300137A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Sato
勲 佐藤
Toshiaki Naito
内藤 俊昭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS63155213A publication Critical patent/JPS63155213A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 本発明は半導体メモリを使用した半導体ディスク装置に
おいて、交流電源が停電しバフテリ電源に切り替えられ
た時、直ちに半導体メモリの内容をマイクロディスクユ
ニット等の不揮発性メモリに退避させないで、バッテリ
容量が成る値になる迄半導体メモリをスタンドバイ状態
にして記憶内容のみ保持されるようにして、短時間の停
電における無用の退避動作を省き、復電時の迅速な動作
回復とバフテリの長寿命化を図るものである。
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体メモリを使用した半導体ディスク装置の
電源制御方式に関し、特にメモリのバッテリバンクアッ
プ制御方式に関するものである。
〔従来の技術〕
半導体ディスク装置(以下SSOと略称する)は半導体
メモリと共に、マイクロディスクユニット(以下MDと
略称する)を内蔵しており、電源オフ時、または停電時
に半導体メモリ上のデータをMDへ転送し、データの不
揮発性を保っている。
SSDの使用上における問題点は、MDへ対するデータ
セーブ(データ救済)およびその逆のMDから半導体メ
モリ上へのりセーブに長い時間を要することである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前述のデータセーブまたはりセーブの時(通常各々lO
分程度必要)には、半導体メモリは通常のメモリとして
の動作はしないから稼動効率が悪いことになる。従来方
式の装置は短い停電時間の場合も例外なくセーブおよび
リセーブを行うのでこの傾向は一層増長される。また停
電の際用いられるバッテリは前述のセーブおよびリセー
ブを繰り返すと、その寿命が短縮される。本発明はこれ
らの問題点を解決しようとするものである。
従って本発明の目的は、短い停電にはデータセーブおよ
びリセーブを行わないで、半導体メモリをバフテリ電源
で待機させ、装置の稼動効率を向上させると共に、バッ
テリの充放電量を少なくし長寿命化を実現することにあ
る。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明においては、半導体メモリ、半導体メモリの内容
を退避させるための不揮発性記憶ユニット、停電検出手
段、バフテリの容量を監視する手段、半導体メモリの内
容を不揮発性記憶ユニットへ転送しかつ不揮発性記憶ユ
ニットから半導体メモリへ再転送する手段、および停電
時にバッテリから電力を供給する手段を具備する半導体
ディスク装置において、第1図に示すように、停電時に
バッテリから電力を供給するように切換え(12)、第
1の信号PFIを発信しく13)、半導体メモリをスタ
ンドバイ状態に切換え(14)、バッテリの容量が所定
の値に達した時(15)第2の信号PF2を発信しく1
6)、半導体メモリを動作状態へ戻すよう切換え(17
)、半導体メモリの内容を不揮発性記憶ユニットへ転送
しく18)、転送完了後電源をオフする(19)ように
した半導体ディスク装置の電源制御方式が提供される。
〔作 用〕
前述の電源制御方式を用いれば、半導体ディスク装置の
作動時に、停電が発生した時、直ちにその停電が停電検
出手段によって検出され、装置の電源がバッテリから供
給されるようになり、第1の信号PFIが発信され、半
導体メモリはスタンドバイ状態に切換えられる。半導体
メモリはスタンドバイ状態では通常の動作はしないが記
憶された内容は保持される。また半導体メモリはスタン
ドバイ状態では消費電力が極めて少な(ですむ。この状
態で停電が回復すると装置は直ちに動作を回復する。長
時間にわたって停電が回復しない場合は、バッテリ容量
を監視する手段により残余のバッテリ容量を求め所定値
に達した時に、第2の信号PF2を発信し、半導体メモ
リの状態を動作状態に戻し、その内容を不揮発性記憶ユ
ニットへ転送し、転送が完了した復電・源をオフする。
このようにして、短い停電の場合には、半導体メモリを
スタンドバイ状態にして記憶内容を保持し、バッテリの
負荷を軽減し、停電回復時に直ちに動作を回復するよう
にし、長時間の停電の場合は、バッテリの許容する時間
迄スタンドバイ状態を続け、それを超えた時には不揮発
性記憶ユニットへの転送を行うようにして記憶内容を保
全し、装置の稼動効率の向上とバフテリの長寿命化が実
現される。
〔実施例〕
本発明を行う一実施例としてのSSDのブロック回路図
が第2図に示される。本装置は、整流回路31、電源回
路32、停電検出回路33、電源制御回路34、直流ス
イッチ回路35、バッテリ容量監視回路36、メモリ制
御回路371.半導体メモリ38、不揮発性記憶ユニッ
トとしてのMD40、およびデータセーブ制御回路39
を具備する0図中太い線は電力供給線を示し、他は制御
信号線を示す。
交流電源は整流回路31で整流され電源回路32へ供給
される。停電時に使用されるバッテリからの直流電源は
直流スイッチ回路35を介して電源回路32へ供給され
る。交流電源が停電した時は、停電検出回路33が検出
し電源制御回路34を介して直流スイッチ回路35を導
通させてバフテリからの電源が電源回路32に供給され
るようになる。電源回路32は装置内の各回路の電源を
供給するが、電力消費量としては半導体メモリ38が大
部分を占める。
停電検出回路33からの停電検出信号を受けると電源制
御回路34は直流スイッチ回路35への出力のほかに、
メモリ制御回路37へPFI信号を送信し、半導体メモ
リ38の動作状態をスタンドバイ状態へ切換える。スタ
ンドバイ状態に切換えられた半導体メモリ38は電力消
費量が通常の動作状態に比較して、例えば1/10程度
に減少する。
停電が短時間で終わり交流電源が通電されるとスタンド
バイ状態から通常の動作状態に回復する。
停電が長く続きバフテリの残存容量(アンペアX時間)
が所定値(例えば半導体メモリからMDへのデータセー
ブが可能な値)まで減少した時は、バッテリ容量監視回
路36から信号PF2が電源制御回路34を介してメモ
リ制御回路37へ供給され、半導体メモリ38のスタン
ドバイ状態を通常の動作状態に復帰させる0次いで電源
制御回路34からデータセーブ制御回路39を介してメ
モリ制御回路37を制御し、半導体メモリ38の記憶内
容を不揮発性記憶ユニットであるMD40へ退避させる
ようデータセーブを開始する。データセーブは例えば通
常10分程度の時間を必要とする。
データセーブが終了すると電源をオフしてバッテリの放
電を停止させる。この後、交流電源が回復すれば、本装
置はMD40に退避された記憶内容を半導体メモリ3.
8へ戻すリセーブを行う。リセーブはセーブと同様に通
常10分程度の時間を必要とする。リセーブが終了する
と装置は停電前の状態に回復する。
〔発明の効果〕
本発明によれば、短い停電にはデータセーブおよびリセ
ーブを行わないで、半導体メモリをバフテリ電源で記憶
内容を保持したまま低電力消費状態で即時復旧可能な状
態で待機させ、それにより装置の稼動効率を向上し、バ
ッテリの充放電量を少なくして長寿命化を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の各段階の流れを説明する流れ図、およ
び 第2図は本発明を行う一実施例としての半導体ディスク
装置のブロック回路図である。 図において、 31・・・整流回路、 32・・・電源回路、 33・・・停電検出回路、 34・・・電源制御回路、 35・・・直流スイッチ回路、 36・・・バフテリ容量監視回路、 37・・・メモリ制御回路、 38・・・半導体メモリ、 39・・・データセーブ制御回路、 40・・・マイクロディスクユニット。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 半導体メモリ(38)、該半導体メモリ(38)の内容
    を退避させるための不揮発性記憶ユニット(40)、停
    電を検出する手段(33)、バッテリの容量を監視する
    手段(36)、該半導体メモリ(38)の内容を該不揮
    発性記憶ユニット(40)へ転送しかつ該不揮発性記憶
    ユニット(40)から該半導体メモリ(38)へ再転送
    する手段(37)、および停電時にバッテリから電力を
    供給する手段(35)を具備する半導体ディスク装置の
    電源制御方式において、 停電時(11)にバッテリから電力を供給するように切
    換え(12)、同時に第1の信号(PF1)を発信し(
    13)、該半導体メモリ(38)をスタンドバイ状態に
    切換える(14)段階、 バッテリの容量が所定の値に達した時(15)、第2の
    信号(PF2)を発信し(16)、該半導体メモリ(3
    8)を動作状態へ戻すよう切換え(17)、該半導体メ
    モリ(38)の内容を不揮発性記憶ユニット(40)へ
    転送する(18)段階、および 転送完了後電源をオフする(19)段階、を具備するこ
    とを特徴とする半導体ディスク装置の電源制御方式。
JP61300137A 1986-12-18 1986-12-18 半導体デイスク装置の電源製御方式 Pending JPS63155213A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0359800A (ja) * 1989-07-28 1991-03-14 Hochiki Corp 警報受信機
JPH05204779A (ja) * 1991-09-11 1993-08-13 Fujitsu Ltd 改良型データ保護システム及びデータ保護方法
US6760846B1 (en) 1999-04-08 2004-07-06 Denso Corporation System for determining and supplying stabilized voltage from a power supply to a data processor after a fluctuating period
US7051223B2 (en) 2003-09-30 2006-05-23 International Business Madnine Corporation System, apparatus, and method for limiting non-volatile memory

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US6760846B1 (en) 1999-04-08 2004-07-06 Denso Corporation System for determining and supplying stabilized voltage from a power supply to a data processor after a fluctuating period
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