JPS63148623A - 基板温度測定装置 - Google Patents
基板温度測定装置Info
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- JPS63148623A JPS63148623A JP61296131A JP29613186A JPS63148623A JP S63148623 A JPS63148623 A JP S63148623A JP 61296131 A JP61296131 A JP 61296131A JP 29613186 A JP29613186 A JP 29613186A JP S63148623 A JPS63148623 A JP S63148623A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B17/00—Furnaces of a kind not covered by any preceding group
- F27B17/0016—Chamber type furnaces
- F27B17/0025—Especially adapted for treating semiconductor wafers
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、半導体ウェハや、磁気記録用フコ;ライト
基板等の各種基板(以下「ウェハ」という)を加熱手段
によって熱処理する熱処理装置等に装備される温度測定
装置に関し、特に熱処理装置にて加熱中のウェハの温度
をウェハに取付けられた熱電対の出力信号に基づき測定
するようにした温度測定装置に関する。
基板等の各種基板(以下「ウェハ」という)を加熱手段
によって熱処理する熱処理装置等に装備される温度測定
装置に関し、特に熱処理装置にて加熱中のウェハの温度
をウェハに取付けられた熱電対の出力信号に基づき測定
するようにした温度測定装置に関する。
(従来の技術とその問題点)
ウェハを加熱手段によって熱処理する装置においては、
加熱手段駆動用の制御データ(以下「プロファイルデー
タ」という)を予めメモ−りにストアしておき、実際の
ウェハを熱処理する際には、上記プロファイルデータに
基づぎ加熱手段をコンピュータで制御して、実ウェハに
対し所要の温度プログラムで熱処理が実行されるように
構成している。このような熱処理装置におけるプロファ
イルデータの作成にあたっては、実ウェハと同材質の測
温用ウェハを別途準備し、この測温用ウェハに熱電対を
取付け、加熱炉内に収容して適当に加熱しながら、その
ときのウェハ表面温度を熱電対の出力信号に基づき測定
して、プロファイル作成に必要なデータを得るようにし
ている。
加熱手段駆動用の制御データ(以下「プロファイルデー
タ」という)を予めメモ−りにストアしておき、実際の
ウェハを熱処理する際には、上記プロファイルデータに
基づぎ加熱手段をコンピュータで制御して、実ウェハに
対し所要の温度プログラムで熱処理が実行されるように
構成している。このような熱処理装置におけるプロファ
イルデータの作成にあたっては、実ウェハと同材質の測
温用ウェハを別途準備し、この測温用ウェハに熱電対を
取付け、加熱炉内に収容して適当に加熱しながら、その
ときのウェハ表面温度を熱電対の出力信号に基づき測定
して、プロファイル作成に必要なデータを得るようにし
ている。
ところで、熱処理装置による実ウェハの熱処理は、通常
、加熱炉の扉を閉じて炉内を気密状態にしてから、その
炉内を真空あるいは所要のガス雰凹気に保って加熱処理
が実行される。したがって、高精度のプロファイルデー
タを作成するために、加熱炉内に収容した測温用ウェハ
の温度測定を行うにあたっても、加熱炉内を気密状態に
して炉内を実ウェハの熱処理の場合と同一条件に保つ必
要がある。ところが、上記のように′Isi用ウェハの
温度測定をそのウェハに取付けた熱電対により行なう場
合には、熱電対の出力信号を取出すために熱電対を構成
する2種の金属線を炉外へ引き出す必要があり、従来は
加熱炉の扉をわずかに閉成して生じた隙間から金属線を
引き出していたために、炉内の気密が損われて正確なデ
ータが得られないという問題を有していた。
、加熱炉の扉を閉じて炉内を気密状態にしてから、その
炉内を真空あるいは所要のガス雰凹気に保って加熱処理
が実行される。したがって、高精度のプロファイルデー
タを作成するために、加熱炉内に収容した測温用ウェハ
の温度測定を行うにあたっても、加熱炉内を気密状態に
して炉内を実ウェハの熱処理の場合と同一条件に保つ必
要がある。ところが、上記のように′Isi用ウェハの
温度測定をそのウェハに取付けた熱電対により行なう場
合には、熱電対の出力信号を取出すために熱電対を構成
する2種の金属線を炉外へ引き出す必要があり、従来は
加熱炉の扉をわずかに閉成して生じた隙間から金属線を
引き出していたために、炉内の気密が損われて正確なデ
ータが得られないという問題を有していた。
炉内の気密を確保しながら、熱電対を構成する2種の金
属線を炉外へ引出す方法として、炉壁部に金属線引出孔
を設けてその引出孔に金属線を通す方法が考えられる。
属線を炉外へ引出す方法として、炉壁部に金属線引出孔
を設けてその引出孔に金属線を通す方法が考えられる。
ところがこの方法では、測温用ウェハを炉内に搬入する
にあたり、予め引出孔に通しておいた2秤金属線の炉内
側端部を加熱炉入口から一度炉外へ引出して測温用ウェ
ハに接続し、そのあとその金属線をウェハと共に再び炉
内へ収容する必要があるため、ウェハ搬入時にこれらの
金属線にたるみが生じて相71にからみつくおそれがあ
った。このような金属線のからみつきは、ウェハを炉外
へ搬出する時にも生じるおそれがある。特に、ウェハの
表面温炭分布を測定する目的で複数組の熱電対をウェハ
に取付けた場合には、金属線のからみつく危険性が極め
て高くなる。
にあたり、予め引出孔に通しておいた2秤金属線の炉内
側端部を加熱炉入口から一度炉外へ引出して測温用ウェ
ハに接続し、そのあとその金属線をウェハと共に再び炉
内へ収容する必要があるため、ウェハ搬入時にこれらの
金属線にたるみが生じて相71にからみつくおそれがあ
った。このような金属線のからみつきは、ウェハを炉外
へ搬出する時にも生じるおそれがある。特に、ウェハの
表面温炭分布を測定する目的で複数組の熱電対をウェハ
に取付けた場合には、金属線のからみつく危険性が極め
て高くなる。
(発明の目的)
この発明は、上記問題を解決するためになされたもので
、加熱炉に収容されたウェハの温度を、炉内の気密を確
保しながら、被加熱体に取付けられた熱電対により測定
でき、しかも熱電対を構成する金属線が、ウェハの加熱
炉への搬入・搬出時においてもからみつくことのない基
板温度測定装置を提供することを目的とする。
、加熱炉に収容されたウェハの温度を、炉内の気密を確
保しながら、被加熱体に取付けられた熱電対により測定
でき、しかも熱電対を構成する金属線が、ウェハの加熱
炉への搬入・搬出時においてもからみつくことのない基
板温度測定装置を提供することを目的とする。
(目的を達成するための手段)
この発明は、加熱炉内に収容されたウェハの温度を、ウ
ェハに取付けられた熱電対の出力信号に基づき測定する
温度測定装置であって、上記目的を達成するために、熱
電対を構成する2種の金属線の接合された共通接点側の
端をウェハに固着するとともに、他端を端子取付台に設
けられた一体の固定端子にイれぞれ接続する。そして、
ウェハと端子取付台を前記加熱炉内の所定位置に搬入・
搬出可能とする。一方、この搬入状態において、上記熱
電対の出力信号を取出すための一対の可動端子を、加熱
炉炉壁部に配設された端子駆動機構により加熱炉内に向
け進退自在に保持して加熱炉内に収容された固定端子に
接離自在とする。
ェハに取付けられた熱電対の出力信号に基づき測定する
温度測定装置であって、上記目的を達成するために、熱
電対を構成する2種の金属線の接合された共通接点側の
端をウェハに固着するとともに、他端を端子取付台に設
けられた一体の固定端子にイれぞれ接続する。そして、
ウェハと端子取付台を前記加熱炉内の所定位置に搬入・
搬出可能とする。一方、この搬入状態において、上記熱
電対の出力信号を取出すための一対の可動端子を、加熱
炉炉壁部に配設された端子駆動機構により加熱炉内に向
け進退自在に保持して加熱炉内に収容された固定端子に
接離自在とする。
(作用)
この温度測定装置では、熱電対は、その共通接点側の端
がウェハに固着され、他端が端子取付台の固定端子と接
続された状態でそして、固定端子と可vJfa子とが分
離した状態で、ウェハの加熱炉への搬入・搬出作業が行
なわれる。そして、温度測定時には端子駆動機構により
可動端子を固定端子に接触させて、熱電対の出力信号の
取出しが行なわれる。
がウェハに固着され、他端が端子取付台の固定端子と接
続された状態でそして、固定端子と可vJfa子とが分
離した状態で、ウェハの加熱炉への搬入・搬出作業が行
なわれる。そして、温度測定時には端子駆動機構により
可動端子を固定端子に接触させて、熱電対の出力信号の
取出しが行なわれる。
(実施例)
第1図は、この発明の一実施例である温度測定装置が装
備された熱処理装置の所面図を示し、第2図はその要部
の斜視図を示す。
備された熱処理装置の所面図を示し、第2図はその要部
の斜視図を示す。
この熱処理装置は、熱処理室を構成する石英製のブヤン
バ1と、前室を構成するヂャンバ2とで加熱炉3が構成
され、この加熱炉3が本体ケース4内に取付けられる。
バ1と、前室を構成するヂャンバ2とで加熱炉3が構成
され、この加熱炉3が本体ケース4内に取付けられる。
加熱炉3の入口には、扉5が取付けられ、この扉5を閉
成することにより、加熱炉3の炉内3aが外部に対し気
密状態に保たれるように構成される。加熱炉3の後端炉
壁部には、炉内3aを減圧するための真空ポンプに連通
したエア吸引路6と、炉内3aに所要ガスを供給するた
めのガス供給路7が設けられる。チャンバ1の上下両面
には互いに対向してハロゲンランプ等の加熱用光源8が
列設され、各加熱用光源8の背後には、反射板9が設G
fられる。チャンバ1の床面炉壁部には、ウェハ10を
支持するためのサセプタ11が立設され、チャンバ2の
床面炉壁部には、端子取付台12を支持するために上面
に受凹部13aを有する支持台13が設けられる。これ
らサセプタ11と支持台13は、それぞれ第1図の紙面
垂直方向に一定間隔をあけて一対配設され、これにより
両支持台13.13問および両サセプタ11.11fi
にそれぞれ搬送アーム14(その詳細は後述する)の進
入を許容するだめの空間を形成している。
成することにより、加熱炉3の炉内3aが外部に対し気
密状態に保たれるように構成される。加熱炉3の後端炉
壁部には、炉内3aを減圧するための真空ポンプに連通
したエア吸引路6と、炉内3aに所要ガスを供給するた
めのガス供給路7が設けられる。チャンバ1の上下両面
には互いに対向してハロゲンランプ等の加熱用光源8が
列設され、各加熱用光源8の背後には、反射板9が設G
fられる。チャンバ1の床面炉壁部には、ウェハ10を
支持するためのサセプタ11が立設され、チャンバ2の
床面炉壁部には、端子取付台12を支持するために上面
に受凹部13aを有する支持台13が設けられる。これ
らサセプタ11と支持台13は、それぞれ第1図の紙面
垂直方向に一定間隔をあけて一対配設され、これにより
両支持台13.13問および両サセプタ11.11fi
にそれぞれ搬送アーム14(その詳細は後述する)の進
入を許容するだめの空間を形成している。
測温用ウェハ10は実ウェハと同材質で構成され、熱電
対15が取付けられる。熱電対15は、第2図に示すよ
うにクロメル−アルメル等の2種の金属線16.17で
構成されており、両金属線16.17の一端側の共通接
点18がウェハ表面の所望の温度測定点に固着される。
対15が取付けられる。熱電対15は、第2図に示すよ
うにクロメル−アルメル等の2種の金属線16.17で
構成されており、両金属線16.17の一端側の共通接
点18がウェハ表面の所望の温度測定点に固着される。
この実施例では、つIハコ0の表面温度分布を測定しつ
るように、3組の熱電対15・・・が設けられ、それぞ
れの共通接点18・・・がウェハ表面の異なる位置に固
着されている。もっとも、熱電対15の数は特に限定さ
れず、少なくとも1組設けてあればよい。各熱電対15
の金属線16.17は、相互間の接触を防止するように
して中間部の適当な位置でウェハ10の周縁部に固定さ
れるとともに、他端が端子取付台12に設けられた固定
端子19に接続される。固定端子19は、熱電対15の
金属線16゜17の数に相当する数だけ設けられ、溝形
形状を有する端子取付°台12の溝部を横切るようにし
て、端子取付台12の長手方向に等間隔をあけて配置さ
れる。固定端子19の材質は、その固定端子19に接続
される金属線16または17と同一の材質とするのが望
ましい。
るように、3組の熱電対15・・・が設けられ、それぞ
れの共通接点18・・・がウェハ表面の異なる位置に固
着されている。もっとも、熱電対15の数は特に限定さ
れず、少なくとも1組設けてあればよい。各熱電対15
の金属線16.17は、相互間の接触を防止するように
して中間部の適当な位置でウェハ10の周縁部に固定さ
れるとともに、他端が端子取付台12に設けられた固定
端子19に接続される。固定端子19は、熱電対15の
金属線16゜17の数に相当する数だけ設けられ、溝形
形状を有する端子取付°台12の溝部を横切るようにし
て、端子取付台12の長手方向に等間隔をあけて配置さ
れる。固定端子19の材質は、その固定端子19に接続
される金属線16または17と同一の材質とするのが望
ましい。
端子取付台12を支持するための支持台13(第1図)
の上方位置には、可8端子20を炉内3aに向けて進退
駆動するための端子駆動機構21が、チャンバ2の天井
面炉壁部に取付けられる。
の上方位置には、可8端子20を炉内3aに向けて進退
駆動するための端子駆動機構21が、チャンバ2の天井
面炉壁部に取付けられる。
端子駆動機構21は、第2図に示すようにチャンバ2の
天井面炉壁部に固定した取付基板22の上方位置に一対
めガイド棒23を介してシリンダ取付板24を固設配置
し1、シリンダ取付板24の中央位置にシリンダ25を
取付けるとともに、そのピストンロッド25aをガイド
棒23に案内されて昇降する昇降板26に連結して、シ
リンダ25にて昇降板26を昇降さVるように構成して
いる。取付基板22には、固定端子19に対応して6個
のロッド挿通穴27が形成され、下端を閉塞した金属ベ
ローズ28の上端が、第3図に示すようにロッド挿通穴
27を取囲むようにして取付基板22の下面側に連結さ
れるとともに、金属ベローズ28の下端閉塞板28aに
固定端子20が取付けられる。また、ロッド挿通穴27
を貫通するようにしてパイプ状の昇降ロッド29が配設
され。
天井面炉壁部に固定した取付基板22の上方位置に一対
めガイド棒23を介してシリンダ取付板24を固設配置
し1、シリンダ取付板24の中央位置にシリンダ25を
取付けるとともに、そのピストンロッド25aをガイド
棒23に案内されて昇降する昇降板26に連結して、シ
リンダ25にて昇降板26を昇降さVるように構成して
いる。取付基板22には、固定端子19に対応して6個
のロッド挿通穴27が形成され、下端を閉塞した金属ベ
ローズ28の上端が、第3図に示すようにロッド挿通穴
27を取囲むようにして取付基板22の下面側に連結さ
れるとともに、金属ベローズ28の下端閉塞板28aに
固定端子20が取付けられる。また、ロッド挿通穴27
を貫通するようにしてパイプ状の昇降ロッド29が配設
され。
その上端が昇降板26に貫通固定されるとともに。
下端のつば部29aが第3図に示すように金属ベローズ
28の下部に固定される。そして、つば部29aと閉塞
板28a間に、可動端子20と固定端子19聞に接点圧
を付与するための圧縮ばねとして機能する金属べ1コー
ズ30が取付けられる。
28の下部に固定される。そして、つば部29aと閉塞
板28a間に、可動端子20と固定端子19聞に接点圧
を付与するための圧縮ばねとして機能する金属べ1コー
ズ30が取付けられる。
また、第3図に示すように、可動端子20には金属線3
1が接続され、この金属F231が昇降ロッド29内の
配線挿通穴29bを通り昇降ロッド29の上端開口から
引き出されて、本体ケース4の外部に設けられた熱電対
温度計測部(図示省略)に導かれる。この端子駆動機構
21のシリンダ25を昇降駆動づれば、昇降板26を介
し4降ロツド29が昇降41作し、金属ベローズ28が
伸縮動作して固定端子20が昇降駆動するように構成さ
れている。この端子駆動機構21の取付けは、第1図に
示すようにチャンバ2の天井面炉壁部に開口2aを形成
し、この間口2aに金属ベローズ28を収容するように
配置して、取付基板22の周縁部をチャンバ21面の間
口縁部に固定づる。この場合、端子駆動機構21は、シ
リンダ25により可#lJ端子20を昇降駆動したとき
に、各可動端子20が対応する固定端子19と接触しつ
る位置に配置する。なお、可動端子20とそれに接続し
た金属線31の材質は、対応する同定端子19のt4質
と等しく設定するのが望ましい。
1が接続され、この金属F231が昇降ロッド29内の
配線挿通穴29bを通り昇降ロッド29の上端開口から
引き出されて、本体ケース4の外部に設けられた熱電対
温度計測部(図示省略)に導かれる。この端子駆動機構
21のシリンダ25を昇降駆動づれば、昇降板26を介
し4降ロツド29が昇降41作し、金属ベローズ28が
伸縮動作して固定端子20が昇降駆動するように構成さ
れている。この端子駆動機構21の取付けは、第1図に
示すようにチャンバ2の天井面炉壁部に開口2aを形成
し、この間口2aに金属ベローズ28を収容するように
配置して、取付基板22の周縁部をチャンバ21面の間
口縁部に固定づる。この場合、端子駆動機構21は、シ
リンダ25により可#lJ端子20を昇降駆動したとき
に、各可動端子20が対応する固定端子19と接触しつ
る位置に配置する。なお、可動端子20とそれに接続し
た金属線31の材質は、対応する同定端子19のt4質
と等しく設定するのが望ましい。
一方、測温用ウェハ10と端子取付台12を加熱炉3に
搬入・搬出するための搬送手段としての搬送アーム14
は、測温用ウェハ10と端子取付台12を支持するため
の支持部14a、14bを有し、これら支持部14a、
14b間の距離を、サセプタ11と支持台13間の距離
に等しく設定している。
搬入・搬出するための搬送手段としての搬送アーム14
は、測温用ウェハ10と端子取付台12を支持するため
の支持部14a、14bを有し、これら支持部14a、
14b間の距離を、サセプタ11と支持台13間の距離
に等しく設定している。
プロファイルデータを作成する目的で、上記熱処理装置
により測温用ウェハ10の温度測定を行なう場合は次の
ようにして行なわれる。まず、熱電対15により相互に
接続された測温用ウェハ10と端子取付台12を、第1
1i21想像線で示すように加熱炉3の外部において搬
送アーム14の支持部14a、14bにそれぞれ載置し
、これら測温用ウェハ10と端子取付台12を搬送アー
ム14により加熱炉3内に搬入して、サセプタ11と支
持台13上に移載する。次に、端子部vJ機構21のシ
リンダ25を突出作動して可動端子20を下降させ、各
可動端子20を対応づる固定端子19に対接させる。こ
れにより、測温用1クエハ10に取付けられた熱電対1
5が、固定端子19→可1.II端了20→金属線31
を介して熱電対温度み1測部(図示省略)に接続されて
、ウェハ10の温度測定が可能となる。このあと、扉5
を閉じて炉内3aを気密状態にし、必要に応じ炉内3a
を真空にし、あるいは所要のガスを供給しながら光源8
を点灯してウェハ10を加熱し、そのときのウェハ10
の温度を熱電対15からの出力信号を用いて熱電対温度
計測部により測定する。温度測定終了後にウェハ10と
端子取付台12を搬出するには、上記の搬入作業と逆の
手順で行ない、すなわち端子駆動機#lI21のシリン
ダ25により可動端子20を上昇させて固定端子19か
ら離し、扉5を開成して搬送アーム14によりウェハ1
0と端子取付台12を加熱炉3外に搬出する。
により測温用ウェハ10の温度測定を行なう場合は次の
ようにして行なわれる。まず、熱電対15により相互に
接続された測温用ウェハ10と端子取付台12を、第1
1i21想像線で示すように加熱炉3の外部において搬
送アーム14の支持部14a、14bにそれぞれ載置し
、これら測温用ウェハ10と端子取付台12を搬送アー
ム14により加熱炉3内に搬入して、サセプタ11と支
持台13上に移載する。次に、端子部vJ機構21のシ
リンダ25を突出作動して可動端子20を下降させ、各
可動端子20を対応づる固定端子19に対接させる。こ
れにより、測温用1クエハ10に取付けられた熱電対1
5が、固定端子19→可1.II端了20→金属線31
を介して熱電対温度み1測部(図示省略)に接続されて
、ウェハ10の温度測定が可能となる。このあと、扉5
を閉じて炉内3aを気密状態にし、必要に応じ炉内3a
を真空にし、あるいは所要のガスを供給しながら光源8
を点灯してウェハ10を加熱し、そのときのウェハ10
の温度を熱電対15からの出力信号を用いて熱電対温度
計測部により測定する。温度測定終了後にウェハ10と
端子取付台12を搬出するには、上記の搬入作業と逆の
手順で行ない、すなわち端子駆動機#lI21のシリン
ダ25により可動端子20を上昇させて固定端子19か
ら離し、扉5を開成して搬送アーム14によりウェハ1
0と端子取付台12を加熱炉3外に搬出する。
このように、ウェハ10に取付けた熱電対15の金属線
16.17を端子取付台12の固定端子19に接続する
一方、端子駆動n構21の可動端子20を固定端子19
に接触させて熱電対15の出力信号を外部へ取出すよう
に構成したため、扉5を開成して炉内3aの気密を充分
に確保しながら、熱電対15によるウェハ10の温度測
定が可能となる。また、熱電対15の取付けられたウェ
ハ10を端子取付台12と共に、搬送アーム14により
加熱炉3内へ搬入・搬出するように構成したため、搬入
・搬出時において熱電対15の金属線16.17が相互
にからみつくこともない。
16.17を端子取付台12の固定端子19に接続する
一方、端子駆動n構21の可動端子20を固定端子19
に接触させて熱電対15の出力信号を外部へ取出すよう
に構成したため、扉5を開成して炉内3aの気密を充分
に確保しながら、熱電対15によるウェハ10の温度測
定が可能となる。また、熱電対15の取付けられたウェ
ハ10を端子取付台12と共に、搬送アーム14により
加熱炉3内へ搬入・搬出するように構成したため、搬入
・搬出時において熱電対15の金属線16.17が相互
にからみつくこともない。
なお、上記実施例においては、端子駆動機構21をチャ
ンバ2の天井面炉壁部に取付けているが、ヂ17ンバ2
の床面炉壁部に取付けるように構成してもよい。この場
合、端子数イ1台12は、可動端子20に対面りるよう
に固定端子19を下方に向1ノで支持台13に載せ掛け
るようにずればよい。
ンバ2の天井面炉壁部に取付けているが、ヂ17ンバ2
の床面炉壁部に取付けるように構成してもよい。この場
合、端子数イ1台12は、可動端子20に対面りるよう
に固定端子19を下方に向1ノで支持台13に載せ掛け
るようにずればよい。
また、上記実施例においては、熱電対15にJ:リウェ
ハ10の温度測定を行なっているが、熱電対15の温度
測定対象はウェハ以外の各種基板であってもよい。
ハ10の温度測定を行なっているが、熱電対15の温度
測定対象はウェハ以外の各種基板であってもよい。
(発明の効果)
以上のように、この発明の基板湿度測定装置によれば、
端子駆動機構の可動端子を端子取付台の固定端子に接触
させて熱電対の出力信号を外部へ取出ずように構成して
いるため、加熱炉に収容した基板の温度を、炉内の気密
を確保しながら、基板に取付けた熱電対により測定でき
、しかも基板を端子取付台とともに熱電対で接続した状
態で搬送手段により加熱炉へ搬入・搬出するように構成
しているため、搬入・搬出作業時において熱電対の金属
線が相互にからみつ(のち防止できるという効果が得ら
れる。
端子駆動機構の可動端子を端子取付台の固定端子に接触
させて熱電対の出力信号を外部へ取出ずように構成して
いるため、加熱炉に収容した基板の温度を、炉内の気密
を確保しながら、基板に取付けた熱電対により測定でき
、しかも基板を端子取付台とともに熱電対で接続した状
態で搬送手段により加熱炉へ搬入・搬出するように構成
しているため、搬入・搬出作業時において熱電対の金属
線が相互にからみつ(のち防止できるという効果が得ら
れる。
第1図はこの発明の一実施例である温度測定装置を装備
した熱処理装置の概略断面図、第2図は熱電対の接続さ
れた端子取付台と端子駆動11横の斜視図、第3図は端
子駆動機構の要部断面図である。
した熱処理装置の概略断面図、第2図は熱電対の接続さ
れた端子取付台と端子駆動11横の斜視図、第3図は端
子駆動機構の要部断面図である。
Claims (2)
- (1)光照射により加熱する加熱炉内に収容された基板
の温度を、熱電対の出力信号に基づき測定する温度測定
装置において、 前記熱電対を構成する2種の金属線におけるそれぞれの
片端が接合された共通接点側の端を基板に固着するとと
もに、前記熱電対の他端を端子取付台に設けられた固定
端子にそれぞれ接続して、前記熱電対を固着したまま基
板とともに端子取付台を前記加熱炉内の所定位置に搬入
・搬出可能とし、かつ、前記熱電対の出力信号を取出す
ための一対の可動端子を、加熱炉炉壁部に配設された端
子駆動機構により加熱炉内に向け進退自在に保持して加
熱炉内に収容された前記固定端子に接離自在としたこと
を特徴とする基板温度測定装置。 - (2)可動端子の進退駆動がシリンダにより行なわれる
特許請求の範囲第1項記載の基板温度測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61296131A JPH0693438B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 基板温度測定装置 |
KR1019870013714A KR920000677B1 (ko) | 1986-12-11 | 1987-12-02 | 열처리 장치 |
DE19873741436 DE3741436A1 (de) | 1986-12-11 | 1987-12-08 | Waermebehandlungsofen |
US07/131,634 US4820907A (en) | 1986-12-11 | 1987-12-11 | Controlled furnace heat treatment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61296131A JPH0693438B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 基板温度測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63148623A true JPS63148623A (ja) | 1988-06-21 |
JPH0693438B2 JPH0693438B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=17829543
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61296131A Expired - Lifetime JPH0693438B2 (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 基板温度測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
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JP (1) | JPH0693438B2 (ja) |
KR (1) | KR920000677B1 (ja) |
DE (1) | DE3741436A1 (ja) |
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JP2013058760A (ja) * | 2004-07-10 | 2013-03-28 | Kla-Encor Corp | パラメータ測定の歪みを小さくする方法 |
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1986
- 1986-12-11 JP JP61296131A patent/JPH0693438B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-12-02 KR KR1019870013714A patent/KR920000677B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1987-12-08 DE DE19873741436 patent/DE3741436A1/de active Granted
- 1987-12-11 US US07/131,634 patent/US4820907A/en not_active Expired - Fee Related
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DE3741436A1 (de) | 1988-06-23 |
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US4820907A (en) | 1989-04-11 |
KR920000677B1 (ko) | 1992-01-20 |
JPH0693438B2 (ja) | 1994-11-16 |
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