JP2001338890A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JP2001338890A
JP2001338890A JP2000156478A JP2000156478A JP2001338890A JP 2001338890 A JP2001338890 A JP 2001338890A JP 2000156478 A JP2000156478 A JP 2000156478A JP 2000156478 A JP2000156478 A JP 2000156478A JP 2001338890 A JP2001338890 A JP 2001338890A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 処理済みボートのクリーンエアによる強制冷
却時間を短縮する。 【解決手段】 筐体2の内部における熱処理ステージ4
の前後両脇には、これから処理するボート21Aを待機
させる待機ステージ5と、処理済みボート21Bを仮置
きして冷却させる冷却ステージ6とが設定されており、
両ステージ5、6にはクリーンユニット3のクリーンエ
ア35の吹出口39が対向されている。クリーンエア3
5を吸い込んで筐体2の外に排出する排出用ファン40
は冷却ステージ5寄りに配置されている。 【効果】 高速のクリーンエアを冷却ステージの処理済
みボートに吹き付けることができるため、処理済みボー
トの冷却時間を短縮できる。また、処理済みボートに接
触したクリーンエアが熱処理ステージ、待機ステージに
流れるのを防止されるため、これらステージのウエハが
汚染されるのを防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板処理装置に関
し、特に、処理が施される基板の酸化や汚染防止技術に
係り、例えば、半導体装置の製造工程において半導体ウ
エハにアニール処理や酸化膜形成処理、拡散処理および
成膜処理等の熱処理を施すのに利用して有効なものに関
する。
【0002】一般に、半導体装置の製造工程において半
導体ウエハ(以下、ウエハという。)にアニール処理や
酸化膜形成処理、拡散処理および成膜処理等の熱処理を
施すのにバッチ式縦形ホットウオール形熱処理装置 (fu
rnace 。以下、熱処理装置という。)が、広く使用され
ている。
【0003】従来のこの種の熱処理装置として、特許第
2681055号公報に記載されているものがある。こ
の熱処理装置においては、ウエハ移載装置とプロセスチ
ューブの真下空間との間にボート交換装置が配置されて
おり、ボート交換装置の回転テーブルの上に一対(二
台)のボートが載置され、回転テーブルを中心として一
対のボートが180度ずつ回転することにより、未処理
のボートと処理済みのボートとが交換されるようになっ
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】熱処理装置における熱
処理条件によっても異なるが、プロセスチューブの処理
室から搬出されて来る処理済みボートおよびこれに保持
されたウエハ群(以下、処理済みボートという。)の温
度は、300℃〜500℃になっているのが一般的であ
る。このような高温状態のままでボートからウエハをウ
エハ移載装置によってディスチャージすることは困難で
ある。そこで、この高温になった処理済みボートにクリ
ーンエアを吹き付けて強制的に冷却させた後に、ボート
からウエハをウエハ移載装置によってディスチャージす
ることが、考えられる。
【0005】前記した熱処理装置において、高温となっ
た処理済みのボートを冷却するためのクリーンエアを処
理済みのボートに吹き付けるクリーンユニットを設置す
る場合には、回転テーブルとの干渉を避ける必要上、ク
リーンユニットは回転テーブルの回転半径の外側に配置
する必要があるため、ボートへのウエハの移載位置とク
リーンユニットのエア吹出口とは、少なくともウエハの
外径以上の距離だけは離間してしまう。このようにクリ
ーンユニットの吹出口がボートから離間すると、離間し
た分だけ、ボートに保持されたウエハに吹き付けるクリ
ーンエアの流速が低下してしまうため、冷却時間が長く
なってしまう。
【0006】本発明の目的は、処理済みボートの強制冷
却時間を短縮することができる基板処理装置を提供する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る基板処理装
置は、処理室を形成したプロセスチューブと、前記処理
室に出入りして複数枚の基板を搬入搬出するボートと、
前記複数枚の基板を前記ボートに対して前記処理室の外
部において授受する基板移載装置とを備えており、前記
ボートが複数台使用される基板処理装置において、前記
処理室から搬出された前記ボートを仮置きするステージ
に向けてクリーンエアを吹き出す吹出口と、前記ステー
ジを通過したクリーンエアを吸い込む吸込口とを備えて
いることを特徴とする。
【0008】前記した手段によれば、処理室から搬出さ
れたボートにクリーンエアを吹き付けて冷却する冷却ス
テージが設定されているため、処理室から搬出されたボ
ートにクリーンユニットの吹出口を接近させることがで
きる。クリーンユニットの吹出口をボートに接近させる
ことにより、ボートに保持された基板に吹き付けるクリ
ーンエアの流速は低下しないため、冷却時間を短縮させ
ることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面に即して説明する。
【0010】本実施の形態において、本発明に係る基板
処理装置は、バッチ式縦形ホットウオール形拡散,CV
D装置(以下、拡散CVD装置という。)として構成さ
れており、基板としてのウエハにアニール処理や酸化膜
形成処理、拡散処理および成膜処理等の熱処理を施すの
に使用される。
【0011】図1に示されているように、拡散CVD装
置1は平面視が長方形の直方体の箱形状に形成された筐
体2を備えている。筐体2の左側側壁の後部(左右前後
は図1を基準とする。)にはクリーンユニット3が設置
されており、クリーンユニット3は筐体2の内部にクリ
ーンエアを供給するようになっている。筐体2の内部に
おける後部の略中央には熱処理ステージ4が設定され、
熱処理ステージ4の左脇の前後には空のボートを仮置き
して待機させる待機ステージ(以下、待機ステージとい
う。)5および処理済みボートを仮置きして冷却するス
テージ(以下、冷却ステージという。)6が設定されて
いる。筐体2の内部における前部の略中央にはウエハロ
ーディングステージ7が設定されており、その手前には
ポッドステージ8が設定されている。ウエハローディン
グステージ7の左脇にはノッチ合わせ装置9が設置され
ている。以下、各ステージの構成を順に説明する。
【0012】図5および図6に示されているように、熱
処理ステージ4の上部には石英ガラスが使用されて下端
が開口した円筒形状に一体成形されたプロセスチューブ
11が、中心線が垂直になるように縦に配されている。
プロセスチューブ11の筒中空部はボートによって同心
的に整列した状態に保持された複数枚のウエハが搬入さ
れる処理室12を形成しており、プロセスチューブ11
の下端開口は被処理基板としてのウエハを出し入れする
ための炉口13を構成している。したがって、プロセス
チューブ11の内径は取り扱うウエハの最大外径よりも
大きくなるように設定されている。
【0013】プロセスチューブ11の下端面はマニホー
ルド14の上端面にシールリング15を挟んで当接され
ており、マニホールド14が筐体2に支持されることに
より、プロセスチューブ11は垂直に支持された状態に
なっている。マニホールド14の側壁の一部には排気管
16が処理室12に連通するように接続されており、排
気管16の他端は処理室12を所定の真空度に真空排気
するための真空排気装置(図示せず)に接続されてい
る。マニホールド14の側壁の他の部分にはガス導入管
17が処理室12に連通するように接続されており、ガ
ス導入管17の他端は原料ガスや窒素ガス等のガスを供
給するためのガス供給装置(図示せず)に接続されてい
る。
【0014】プロセスチューブ11の外部にはヒータユ
ニット18がプロセスチューブ11を包囲するように同
心円に設備されており、ヒータユニット18は筐体2に
支持されることにより垂直に据え付けられた状態になっ
ている。ヒータユニット18は処理室12内を全体にわ
たって均一に加熱するように構成されている。
【0015】熱処理ステージ4におけるプロセスチュー
ブ11の真下にはプロセスチューブ11の外径と略等し
い円盤形状に形成されたキャップ19が同心的に配置さ
れており、キャップ19は送りねじ機構によって構成さ
れたエレベータ20によって垂直方向に昇降されるよう
になっている。キャップ19は中心線上にボート21を
垂直に立脚して支持するようになっている。本実施の形
態において、ボート21は二台が使用される。
【0016】図5および図6に示されているように、二
台のボート21、21はいずれも、上下で一対の端板2
2、23と、両端板22、23間に架設されて垂直に配
設された複数本(本実施の形態では三本)の保持部材2
4とを備えており、各保持部材24に長手方向に等間隔
に配されて互いに同一平面内において開口するようにそ
れぞれ刻設された複数条の保持溝25間にウエハWを挿
入されることにより、複数枚のウエハWを水平にかつ互
いに中心を揃えた状態に整列させて保持するように構成
されている。
【0017】ボート21の下側端板23の下には断熱キ
ャップ部26が形成されており、断熱キャップ部26の
下面には断熱キャップ部26の外径よりも小径の円柱形
状に形成された支柱27が垂直方向下向きに突設されて
いる。断熱キャップ部26の下面における支柱27の下
面には後記するボート移送装置のアームが挿入されるス
ペースが形成されており、支柱27の下面における外周
辺部によってアームを係合するための係合部28が構成
されている。支柱27の下面にはベース29が水平に設
けられている。
【0018】図1に示されているように、待機ステージ
5と冷却ステージ6との間にはボート21を熱処理ステ
ージ4と待機ステージ5および冷却ステージ6との間で
移送するボート移送装置30が設備されている。図7に
示されているように、ボート移送装置30はスカラ形ロ
ボット(selective compliance assembly robot arm S
CARA)によって構成されており、水平面内で約90
度ずつ往復回動する一対の第一アーム31および第二ア
ーム32を備えている。第一アーム31および第二アー
ム32はいずれも円弧形状に形成されており、ボート2
1の支柱27の外側に挿入された状態で断熱キャップ部
26の係合部28に下から係合することにより、ボート
21全体を垂直に支持するようになっている。
【0019】図1および図7に示されているように、待
機ステージ5にはボート21を垂直に支持する待機台3
3が設置されており、第一アーム31はボート21を待
機台33と熱処理ステージ4のキャップ19との間で移
送するように構成されている。冷却ステージ6には冷却
台34が設置されており、第二アーム32はボート21
を冷却台34と熱処理ステージ4のキャップ19との間
で移送するように構成されている。
【0020】図1に示されているように、筐体2内にク
リーンエア35を供給するクリーンユニット3はクリー
ンエア35を待機ステージ5および冷却ステージ6に向
けて吹き出すように構成されている。すなわち、図8に
示されているように、クリーンユニット3はクリーンエ
ア35を吸い込む吸込ダクト36を備えており、吸込ダ
クト36の下端部には吸込ファン37が設置されてい
る。吸込ファン37の吐出口側には吹出ダクト38が前
後方向に延在するように長く敷設されており、吹出ダク
ト38の筐体2の内側面における吸込ダクト36の前後
の両脇にはクリーンエア35を待機ステージ5および冷
却ステージ6にそれぞれ向けて吹き出す吹出口39、3
9が大きく開設されている。
【0021】他方、図1に示されているように、筐体2
の内部における後側の右隅には排気用ファン40が設置
されており、排気用ファン40はクリーンユニット3の
吹出口39、39から吹き出されたクリーンエア35を
吸い込んで筐体2内の外部に排出するようになってい
る。
【0022】図1〜図4に示されているように、ウエハ
ローディングステージ7にはスカラ形ロボットによって
構成されたウエハ移載装置41が設置されており、ウエ
ハ移載装置41はウエハWをポッドステージ8と待機ス
テージ5との間で移送してポッドとボート21との間で
移載するように構成されている。
【0023】すなわち、図9に示されているように、ウ
エハ移載装置41はベース42を備えており、ベース4
2の上面にはベース42に対して旋回するターンテーブ
ル43が設置されている。ターンテーブル43の上には
リニアガイド44が設置されており、リニアガイド44
はその上に設置された移動台45を水平移動させるよう
に構成されている。移動台45の上には取付台46が移
動台45によって水平移動されるように設置されてお
り、取付台46にはウエハWを下から支持するツィーザ
47が複数枚(本実施の形態においては五枚)、等間隔
に配置されて水平に取り付けられている。図1〜図4に
示されているように、ウエハ移載装置41は送りねじ機
構によって構成されたエレベータ48によって昇降され
るようになっている。
【0024】ポッドステージ8にはウエハWを搬送する
ためのキャリア(収納容器)としてのFOUP(front
opning unified pod。以下、ポッドという。)50が一
台ずつ載置されるようになっている。ポッド50は一つ
の面が開口した略立方体の箱形状に形成されており、開
口部にはドア51が着脱自在に装着されている。ウエハ
のキャリアとしてポッドが使用される場合には、ウエハ
が密閉された状態で搬送されることになるため、周囲の
雰囲気にパーティクル等が存在していたとしてもウエハ
の清浄度は維持することができる。したがって、拡散C
VD装置が設置されるクリーンルーム内の清浄度をあま
り高く設定する必要がなくなるため、クリーンルームに
要するコストを低減することができる。そこで、本実施
の形態に係る拡散CVD装置においては、ウエハのキャ
リアとしてポッド50が使用されている。なお、ポッド
ステージ8にはポッド50のドア51を開閉するための
ドア開閉装置(図示せず)が設置されている。
【0025】次に、前記構成に係る拡散CVD装置の作
用を説明する。
【0026】図1に示されているように、複数枚のウエ
ハWが収納されたポッド50はポッドステージ8に供給
される。図2に示されているように、ポッドステージ8
に供給されたポッド50はドア51をドア開閉装置によ
って開放される。
【0027】ポッド50に収納されたウエハWは、図1
および図2に示されているように待機ステージ5の待機
台33に置かれた空のボート(以下、第一ボート21A
という。)にウエハ移載装置41によって移載される。
【0028】すなわち、図9において、(a)に示され
た状態から(b)に示されているように、移動台45お
よび取付台46がポッド50の方向に移動されてツィー
ザ47がポッド50内に挿入され、ツィーザ47によっ
てポッド50内のウエハWを受け取った後に、(a)に
示された位置に後退する。この状態で、ターンテーブル
43が反転し、続いて、移動台45および取付台46が
待機ステージ5の方向に移動されて、ツィーザ47が保
持したウエハWを第一ボート21Aの保持溝25に受け
渡す。ウエハWを第一ボート21Aに移載したウエハ移
載装置41は移動台45および取付台46を一度後退さ
せた後に再び反転して、ツィーザ47をポッド50側に
向けた図9(a)の状態になる。
【0029】この際、ウエハ移載装置41は五枚のツィ
ーザ47を備えているため、一回の移載作動で五枚のウ
エハWをポッド50の五段の保持溝から第一ボート21
Aの五段の保持溝25に移載することができる。ここ
で、第一ボート21Aがバッチ処理するウエハWの枚数
は一台のポッド50に収納されたウエハWの枚数よりも
多いため、ウエハ移載装置41は複数台のポッド50か
ら所定枚数のウエハWを第一ボート21Aにエレベータ
48によって昇降されて移載することになる。
【0030】他方、図2に示されているように、熱処理
ステージ4においては、所定枚数のウエハWを保持した
第二のボート21がキャップ19に垂直に支持された状
態でエレベータ20によってプロセスチューブ11の処
理室12に搬入されて所定の処理を施されている。
【0031】すなわち、図5に示されているように、キ
ャップ19に垂直に支持されたボート21はエレベータ
20によって上昇されてプロセスチューブ11の処理室
12に搬入(ローディング)される。ボート21が上限
に達すると、キャップ19の上面の外周辺部がマニホー
ルド14の下面にシールリング15を挟んで着座した状
態になってマニホールド14の下端開口をシール状態に
閉塞するため、処理室12は気密に閉じられた状態にな
る。
【0032】処理室12がキャップ19によって気密に
閉じられた状態で、処理室12が所定の真空度に排気管
16によって真空排気され、ヒータユニット18によっ
て所定の処理温度(例えば、800〜1000℃)をも
って全体にわたって均一に加熱され、処理ガスが処理室
12にガス導入管17によって所定の流量供給される。
これにより、所定の熱処理が施される。
【0033】この熱処理の間に、待機ステージ5におい
ては第一ボート21AにウエハWがウエハ移載装置41
によって移載(ローディング)されていることになる。
【0034】予め設定された処理時間が経過すると、図
6に示されているように、ボート21を支持したキャッ
プ19がエレベータ20によって下降されることによ
り、ボート21がプロセスチューブ11の処理室12か
ら搬出(アンローディング)される。ボート21が搬出
されたプロセスチューブ11の処理室12の炉口13は
シャッタ(図示せず)によって閉鎖され、処理室12の
高温雰囲気が逃げるのを防止される。処理室12から搬
出されたボート21およびこれに保持されたウエハW群
(以下、処理済みボート21Bという。)は高温の状態
になっている。
【0035】図3に示されているように、処理室12か
ら搬出された高温状態の処理済みボート21Bはプロセ
スチューブ11の軸線上の熱処理ステージ4から冷却ス
テージ6へ、ボート移送装置30の第二アーム32によ
って直ちに移送されて仮置きされる。すなわち、第二ア
ーム32は処理済みボート21Bの支柱27の外側に挿
入して断熱キャップ部26の係合部28に下から係合す
ることによって処理済みボート21Bを垂直に支持した
状態で、約90度回動することにより、処理済みボート
21Bを熱処理ステージ4のキャップ19の上から冷却
ステージ6の冷却台34の上へ移送し載置する。
【0036】次いで、待機ステージ5において指定の枚
数のウエハWを移載された第一ボート21Aは、図4に
示されているように、待機ステージ5から熱処理ステー
ジ4へボート移送装置30の第一アーム31によって移
送され、キャップ19の上に移載される。すなわち、第
一アーム31は第一ボート21Aの支柱27の外側に挿
入して断熱キャップ部26の係合部28に下から係合す
ることによって第一ボート21Aを垂直に支持した状態
で、約90度回動することによって、第一ボート21A
を待機ステージ5から熱処理ステージ4へ移送し、キャ
ップ19の上に受け渡す。
【0037】ここで、図4に示されているように、冷却
ステージ6はクリーンユニット3のクリーンエア35の
吹出口39に近傍に設定されているため、冷却ステージ
6の冷却台34に移載された高温状態の処理済みボート
21Bはクリーンユニット3の吹出口39から吹き出す
クリーンエア35によってきわめて効果的に冷却される
状態になる。
【0038】この際、図4に示されているように、クリ
ーンユニット3の吹出口39から吹き出したクリーンエ
ア35の流れは、吹出口39から見ると待機ステージ5
とは反対方向である筐体2の後部右隅に配置された排気
用ファン40に向かうため、熱処理ステージ4および待
機ステージ5の方向には向かわない。したがって、処理
済みボート21Bに接触したクリーンエア35が熱処理
ステージ4および待機ステージ5に流れることにより、
熱処理ステージ4および待機ステージ5の第一ボート2
1Aに保持されたウエハW群を汚染する現象の発生は、
未然に防止することができる。
【0039】待機ステージ5から熱処理ステージ4に移
送されてキャップ19に移載された第一ボート21Aは
エレベータ20によって上昇され、プロセスチューブ1
1の処理室12に搬入されて所定の処理を施される。
【0040】この第一ボート21Aに対する熱処理の間
に、熱処理ステージ4におけるプロセスチューブ11の
下方空間においては、先に熱処理されて冷却ステージ6
の冷却台34に置かれた処理済みボート21Bが、ボー
ト移送装置30によって冷却ステージ6から熱処理ステ
ージ4を経て待機ステージ5に移送されて待機台33に
載置される。すなわち、ボート移送装置30の第二アー
ム32は処理済みボート21Bの支柱27の外側に挿入
して断熱キャップ部26の係合部28に下から係合する
ことによって処理済みボート21Bを垂直に支持した状
態で、約90度回動することにより、処理済みボート2
1Bを冷却ステージ6から熱処理ステージ4へ移送す
る。
【0041】処理済みボート21Bが熱処理ステージ4
に移送されると、ボート移送装置30の第一アーム31
が約90度回転されて熱処理ステージ4に移動され、熱
処理ステージ4の処理済みボート21Bを受け取る。処
理済みボート21Bを受け取ると、第一アーム31は元
の方向に約90度逆回転して処理済みボート21Bを熱
処理ステージ4から待機ステージ5に移送して、待機台
33に移載する。この際、処理済みボート21Bは充分
に冷却されているため、処理済みボート21Bの温度
は、例えば、150℃以下になっている。また、待機台
33に移載された状態において、処理済みボート21B
の三本の保持部材24はウエハ移載装置41側が開放し
た状態になっている。
【0042】処理済みボート21Bがボート移送装置3
0の第一アーム31によって待機ステージ5の待機台3
3に移載されると、ウエハ移載装置41は図7について
前述した作動に準じて、待機ステージ5の処理済みボー
ト21BからウエハWを受け取ってポッドステージ8の
ポッド50に移載して行く。この際、処理済みボート2
1Bがバッチ処理したウエハWの枚数は一台のポッド5
0に収納されるウエハWの枚数よりも多いため、ウエハ
移載装置41はエレベータ48によって昇降されなが
ら、ポッドステージ8に入れ換えられる複数台のポッド
50にウエハWを所定枚数(例えば、二十五枚)ずつ収
納して行くことになる。
【0043】全てのウエハWがポッド50に戻される
と、図7について前述した作動により、待機台33上の
ボート21には次に処理すべき新規のウエハWがウエハ
移載装置41によって移載されて行く。そして、指定さ
れた枚数のウエハWが移載されると、ボート21は待機
ステージ5の待機台33の上で次の作動に待機する状態
になる。
【0044】以降、前述した作用が繰り返されてウエハ
Wが拡散CVD装置1によってバッチ処理されて行く。
【0045】前記実施の形態によれば、次の効果が得ら
れる。
【0046】1) プロセスチューブ11の処理室12か
ら搬出されて高温状態になった処理済みボート21Bを
クリーンユニット3のクリーンエア35の吹出口39に
臨ませた冷却ステージ6にボート移送装置30の第二ア
ーム32によって直ちに移送することにより、高温状態
の処理済みボート21Bをきわめて効果的に冷却させる
ことができるため、冷却時間を短縮することができる。
【0047】2) 処理済みボート21Bを冷却させるク
リーンユニット3の吹出口39を冷却ステージ6に近接
させることにより、高速のクリーンエア35の流れを処
理済みボート21Bに吹き付けることができるため、処
理済みボート21Bの冷却時間をより一層短縮すること
ができ、また、処理済みボート21Bに付着したパーテ
ィクルを吹き飛ばすことによってパーティクルを低減す
ることができ、拡散CVD装置ひいてはICの品質およ
び信頼性並びに歩留りを高めることができる。
【0048】3) クリーンユニット3の吹出口39から
吹き出したクリーンエア35を筐体2の外部に排出する
ための排気用ファン40をクリーンユニット3の吹出口
39から見ると待機ステージ5とは反対方向に配置する
ことにより、クリーンユニット3の吹出口39から吹き
出したクリーンエア35の流れが待機ステージ5の方向
に向かうのを防止することができるため、処理済みボー
ト21Bに接触したクリーンエア35が熱処理ステージ
4および待機ステージ5のボート21に保持されたウエ
ハW群を汚染するのを防止することができる。
【0049】4) プロセスチューブ11の処理室12か
ら搬出されて高温状態になった処理済みボート21Bを
冷却ステージ6にボート移送装置30の第二アーム32
によって直ちに移送して退避させることにより、高温状
態の処理済みボート21Bの熱影響が熱処理ステージ4
および待機ステージ5のボート21のウエハWに及ぶの
を防止することができるため、これから処理される新規
のウエハWにおける処理済みボート21Bの熱影響によ
る処理精度の低下を未然に防止することができる。
【0050】5) これから処理される新規のウエハWに
おける処理済みボート21Bの熱影響を回避することに
より、待機中の処理室12の温度を低下させなくて済む
ため、待機中の処理室12の温度を低下させることによ
ってスループットが低下するのを未然に回避することが
できる。
【0051】6) ウエハWに熱影響が及ぶのを回避する
ことにより、拡散CVD装置の熱処理の精度を高めるこ
とができるとともに、ウエハによって製造される半導体
装置の品質および信頼性を高めることができる。
【0052】7) 待機ステージ5および冷却ステージ6
と熱処理ステージ4との間で第一ボート21Aおよび処
理済みボート21Bの入替え移送を実行することによ
り、ボート移送装置30の第一アーム31および第二ア
ーム32の回転半径を小さく設定することができるた
め、拡散CVD装置の筐体2の左右(間口)および前後
(奥行)の寸法を小さく設定することができる。
【0053】8) 筐体2の容積を小さく抑制することに
より、クリーンユニット3のクリーンエア35の供給量
等を小さく設定することができるため、拡散CVD装置
のイニシャルコストおよびランニングコストを抑制する
ことができる。
【0054】9) 待機ステージ5で先の処理済みボート
のウエハWのウエハ移載装置41による排出(アンロー
ディング)作業およびそのボートへのウエハ移載作業を
処理室12における熱処理中に実施することにより、ウ
エハアンローディング作業およびローディング作業と熱
処理とを同時進行させることができるため、スループッ
トを向上させることができる。
【0055】なお、本発明は前記実施の形態に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変
更が可能であることはいうまでもない。
【0056】例えば、拡散CVD装置はアニール処理や
酸化膜形成処理、拡散処理および成膜処理等の熱処理全
般に使用することができる。
【0057】本実施の形態ではバッチ式縦形ホットウオ
ール形拡散CVD装置の場合について説明したが、本発
明はこれに限らず、バッチ式横形ホットウオール形拡散
CVD装置等の基板処理装置全般に適用することができ
る。
【0058】前記実施の形態ではウエハに熱処理が施さ
れる場合について説明したが、被処理基板はホトマスク
やプリント配線基板、液晶パネル、コンパクトディスク
および磁気ディスク等であってもよい。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
処理済みボートの強制冷却時間を短縮することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態である拡散CVD装置を
示す平面断面図である。
【図2】その斜視図である。
【図3】処理済みボートの冷却中を示す斜視図である。
【図4】同じく平面断面図である。
【図5】熱処理ステージの処理中を示す縦断面図であ
る。
【図6】同じくボート搬出後を示す縦断面図である。
【図7】ボート移送装置を示す斜視図である。
【図8】クリーンユニットを示す斜視図である。
【図9】ウエハ移載装置を示す各側面図であり、(a)
は短縮時を示し、(b)は伸長時を示している。
【符号の説明】
W…ウエハ(基板)、1…拡散CVD装置(基板処理装
置)、2…筐体、3…クリーンユニット、4…熱処理ス
テージ、5…待機ステージ、6…冷却ステージ、7…ウ
エハローディングステージ、8…ポッドステージ、9…
ノッチ合わせ装置、11…プロセスチューブ、12…処
理室、13…炉口、14…マニホールド、15…シール
リング、16…排気管、17…ガス導入管、18…ヒー
タユニット、19…キャップ、20…エレベータ、21
…ボート、21A…第一ボート、21B…第二ボート
(処理済みボート)、22…上側端板、23…下側端
板、24…保持部材、25…保持溝、26…断熱キャッ
プ部、27…支柱、28…係合部、29…ベース、30
…ボート移送装置、31…第一アーム、32…第二アー
ム、33…待機台、34…冷却台、35…クリーンエ
ア、36…吸込ダクト、37…吸込ファン、38…吹出
ダクト、39…吹出口、40…排気用ファン、41…ウ
エハ移載装置、42…ベース、43…ターンテーブル、
44…リニアガイド、45…移動台、46…取付台、4
7…ツィーザ、48…エレベータ、50…ポッド、51
…ドア。
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/68 H01L 21/68 A (72)発明者 松永 建久 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 Fターム(参考) 5F031 CA02 DA08 FA01 FA05 FA07 FA09 FA11 FA12 GA02 GA03 GA47 GA48 GA49 GA50 HA67 LA12 MA28 NA03 NA16 5F045 AA06 AA08 AA20 DP19 EB08 EB11 EN05

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理室を形成したプロセスチューブと、
    前記処理室に出入りして複数枚の基板を搬入搬出するボ
    ートと、前記複数枚の基板を前記ボートに対して前記処
    理室の外部において授受する基板移載装置とを備えてお
    り、前記ボートが複数台使用される基板処理装置におい
    て、前記処理室から搬出された前記ボートを仮置きする
    ステージに向けてクリーンエアを吹き出す吹出口と、前
    記ステージを通過したクリーンエアを吸い込む吸込口と
    を備えていることを特徴とする基板処理装置。
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KR20160144310A (ko) * 2015-06-08 2016-12-16 주식회사 고영테크놀러지 기판 검사 장치

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