JPS63122036A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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- JPS63122036A JPS63122036A JP26751786A JP26751786A JPS63122036A JP S63122036 A JPS63122036 A JP S63122036A JP 26751786 A JP26751786 A JP 26751786A JP 26751786 A JP26751786 A JP 26751786A JP S63122036 A JPS63122036 A JP S63122036A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザー用を用いて情報の記録・再生・消去
を行なう光磁気ディスクにおいて、特に高耐食性及び高
再生出力を得るのに好適な光磁気記録媒体に関する。
を行なう光磁気ディスクにおいて、特に高耐食性及び高
再生出力を得るのに好適な光磁気記録媒体に関する。
近年、情報化社会の進展により、高密度、大容量でラン
ダムアクセス及び書き換えが可能な光磁気ディスクが注
目されている。このうち、光磁気ディスクの記録材料と
して、希土類−鉄族元素が注目されており、中でも比較
的大きなうカー回転角及び保磁力を有するTbFsCo
系が研究開発の中心にある。しかしながら、これらの材
料は環境中の酸素や水分と反応して、容易に酸化物や水
酸化物を形成する。その結果、光磁気ディスクの光磁気
特性が低下していた。現在、この問題を解決するのに大
きく分けて3つの手法が考えられている。1つ目は、光
磁気記録膜を保護膜で覆うこと、2つ目は、光磁気記録
膜自身の耐食性を向上させること、そして3つ目は、希
土類−鉄族を主体とした合金系以外の材料系を見出すこ
と、の3つである。
ダムアクセス及び書き換えが可能な光磁気ディスクが注
目されている。このうち、光磁気ディスクの記録材料と
して、希土類−鉄族元素が注目されており、中でも比較
的大きなうカー回転角及び保磁力を有するTbFsCo
系が研究開発の中心にある。しかしながら、これらの材
料は環境中の酸素や水分と反応して、容易に酸化物や水
酸化物を形成する。その結果、光磁気ディスクの光磁気
特性が低下していた。現在、この問題を解決するのに大
きく分けて3つの手法が考えられている。1つ目は、光
磁気記録膜を保護膜で覆うこと、2つ目は、光磁気記録
膜自身の耐食性を向上させること、そして3つ目は、希
土類−鉄族を主体とした合金系以外の材料系を見出すこ
と、の3つである。
この3つの手法のうち、3番目の新材料系の検討より酸
化物系が、希土類−鉄族元素系合金の置換わる材料とし
て注目されている。その代表的な例として、特開昭60
−231303 、特開昭60−231304をあげる
ことができる。
化物系が、希土類−鉄族元素系合金の置換わる材料とし
て注目されている。その代表的な例として、特開昭60
−231303 、特開昭60−231304をあげる
ことができる。
上記従来技術により得られている酸化物光磁気記録媒体
の多くは、カー回転角は大きいが、保磁力が1 、5
K Oe 以下で、その大半が特に1.0KOe以下の
材料が多く実用上問題があった。
の多くは、カー回転角は大きいが、保磁力が1 、5
K Oe 以下で、その大半が特に1.0KOe以下の
材料が多く実用上問題があった。
そこで本発明の目的は、カー回転角が大きく、かつ保磁
力の大きい酸化物光磁気記録材料を提供することにある
。
力の大きい酸化物光磁気記録材料を提供することにある
。
上記目的は、スピネル型遷移金属酸化物を基体とし、こ
の化合物の結晶構造中に存在する空格子のサイトに金属
元素及び希土類元素或いはどちらか一元素を配置するこ
とで達成される。
の化合物の結晶構造中に存在する空格子のサイトに金属
元素及び希土類元素或いはどちらか一元素を配置するこ
とで達成される。
スピネル構造は、立方最密にならんだ酸素イオンの格子
の格子間位置に金属イオンが入ったものである。この構
造においては、結晶構造中に原子やイオンが配位できる
空格子が数多く存在する。
の格子間位置に金属イオンが入ったものである。この構
造においては、結晶構造中に原子やイオンが配位できる
空格子が数多く存在する。
結晶構造中の空格子サイトに希土類元素やFe。
Co g Cr g N iHCu + M n HM
g等の金属元素を配置し、製造方法を制御することで
、垂直磁気異方性を強く誘起することができ、良好な特
性を有する光磁気記録膜を得ることができる。また。
g等の金属元素を配置し、製造方法を制御することで
、垂直磁気異方性を強く誘起することができ、良好な特
性を有する光磁気記録膜を得ることができる。また。
光磁気特性の制御は、配置する元素の種類やそう入量を
変化させることで可能となる。酸化物の磁性は、金属単
体の場合と異なり強磁性金属イオンのもつスピン磁気能
率がそのまま表われるのではなく、内部的にさらに複雑
なスピンの構造が存在本 した結晶が表われてくる。これは、スピネル構造の単位
胞周囲の空格子サイトに配置する元素の種類や配vl量
を変えると、このスピン状態が変わることに基づく。
変化させることで可能となる。酸化物の磁性は、金属単
体の場合と異なり強磁性金属イオンのもつスピン磁気能
率がそのまま表われるのではなく、内部的にさらに複雑
なスピンの構造が存在本 した結晶が表われてくる。これは、スピネル構造の単位
胞周囲の空格子サイトに配置する元素の種類や配vl量
を変えると、このスピン状態が変わることに基づく。
このように、スピネル構造を有する酸化物の空格子サイ
トに各種元素を添加し、スピン状態を変えることで、光
磁気特性を制御することができる。
トに各種元素を添加し、スピン状態を変えることで、光
磁気特性を制御することができる。
以下、本発明の詳細を実施例1〜3を用いて説明する。
実施例1
作成したディスクの断面を表わす模式図を第1図に示す
、基板1として、ガラスまたは耐熱性樹脂製の5インチ
円板を用いた。光磁気ディスクの作成は次の手順により
行なった。まず最初に、光磁気記録膜2をマグネトロン
スパッタ法により作成した。ターゲットにはF”egO
a焼結体ターゲットを用い、その表面にCo及びTb、
Mn及びGdl5oDyso合金、或いはCr及びG
d soHo 6゜合金の各チップを均一になるように
配置した。放電ガスには、Ar−Hz標準混合ガス(A
r/Hz=90%710%)を使用した。スパッタ条件
は、投入RF出力I W / cm” 、放電ガス圧;
5 Xl0−”(Torr) 、スパッタ時間ニア分
である8このようにして作成した薄膜の膜厚は600人
であったにの薄膜は顕微鏡観察の結果微結晶から成って
いた。つづいて、記録膜上に反射膜3として2AΩを真
空蒸着法で0.5μm膜厚に形成し、最後に保護膜とし
て、5iaNaをスパッタ法で形成した。
、基板1として、ガラスまたは耐熱性樹脂製の5インチ
円板を用いた。光磁気ディスクの作成は次の手順により
行なった。まず最初に、光磁気記録膜2をマグネトロン
スパッタ法により作成した。ターゲットにはF”egO
a焼結体ターゲットを用い、その表面にCo及びTb、
Mn及びGdl5oDyso合金、或いはCr及びG
d soHo 6゜合金の各チップを均一になるように
配置した。放電ガスには、Ar−Hz標準混合ガス(A
r/Hz=90%710%)を使用した。スパッタ条件
は、投入RF出力I W / cm” 、放電ガス圧;
5 Xl0−”(Torr) 、スパッタ時間ニア分
である8このようにして作成した薄膜の膜厚は600人
であったにの薄膜は顕微鏡観察の結果微結晶から成って
いた。つづいて、記録膜上に反射膜3として2AΩを真
空蒸着法で0.5μm膜厚に形成し、最後に保護膜とし
て、5iaNaをスパッタ法で形成した。
その時の条件は、ターゲットは5isNa焼結体ターゲ
ットを用い、放電ガスとしてA r / Nx (=
60%740%)を使用した。また、スパッタ条件は、
投入RF[力I W/crtr!L、放電ガス圧;5X
10−21(Torr) 、スパッタ時間:15分で
ある。
ットを用い、放電ガスとしてA r / Nx (=
60%740%)を使用した。また、スパッタ条件は、
投入RF[力I W/crtr!L、放電ガス圧;5X
10−21(Torr) 、スパッタ時間:15分で
ある。
このようにして作成したI膜のFr!A厚は1500人
であった。 X、@回折の結果、得られた膜はFeaO
4を基体とした膜であることがわかった。
であった。 X、@回折の結果、得られた膜はFeaO
4を基体とした膜であることがわかった。
上述のようにして作成した光磁気ディスクの磁気・磁気
光学特性を測定した。その結果を第1表にまとめる。ま
ず、出発組成のFetrO4膜は、Kerr回転角θに
=0.53 、保磁カニHc=0.4KOe 、キュ
リー温度Tc=320℃であった。
光学特性を測定した。その結果を第1表にまとめる。ま
ず、出発組成のFetrO4膜は、Kerr回転角θに
=0.53 、保磁カニHc=0.4KOe 、キュ
リー温度Tc=320℃であった。
FeaO4にCOt T aを空格子サイトに配置する
と、カー回転角はやや上昇し、保磁力は1桁大きくなり
、キュリー温度は逆に110(deg)低下した。そし
て、この材料を用いたディスクのC/N比(キャリア対
ノイズ比)は47dBであった。
と、カー回転角はやや上昇し、保磁力は1桁大きくなり
、キュリー温度は逆に110(deg)低下した。そし
て、この材料を用いたディスクのC/N比(キャリア対
ノイズ比)は47dBであった。
また、結晶構造に歪みを加えるとノイズレベルの低下が
みられた。このTaとGoの他に、Gd−DyとMn、
Gd−HoとCrを配置した場合も、はぼ同様の効果が
得られた。このように、面内磁化膜(磁化容易軸が基板
と平行方向)のFe2O2にTaとGo、Gd−Dyと
Mn、Gd−HoとCrをスピネルの空格子サイトに配
置することで、垂直磁化膜を得ることができ、かつ保磁
力も大幅に増大させることができた。また、X線回折法
により格子定数を測定したところ、添加金属元素はスピ
ネルの空格子位置に存在していた。
みられた。このTaとGoの他に、Gd−DyとMn、
Gd−HoとCrを配置した場合も、はぼ同様の効果が
得られた。このように、面内磁化膜(磁化容易軸が基板
と平行方向)のFe2O2にTaとGo、Gd−Dyと
Mn、Gd−HoとCrをスピネルの空格子サイトに配
置することで、垂直磁化膜を得ることができ、かつ保磁
力も大幅に増大させることができた。また、X線回折法
により格子定数を測定したところ、添加金属元素はスピ
ネルの空格子位置に存在していた。
この試料を高温高湿度Q境(80℃−95℃RH)中に
500時間保存したが、磁気特性の変化はみられず、耐
食性に関する問題は存在しなかった。
500時間保存したが、磁気特性の変化はみられず、耐
食性に関する問題は存在しなかった。
実施例2
作成した光磁気ディスクの断面の構造は、実施例1と同
様で、その模式図を第1図に示す。光磁気ディスクの作
成は、まず基板1としてガラスまたは耐熱性樹脂の5イ
ンチ円板を用い、この上に光磁気記録膜2をスパッタ法
により形成した。ターゲットにはFe80番焼結体ター
ゲットを用い。
様で、その模式図を第1図に示す。光磁気ディスクの作
成は、まず基板1としてガラスまたは耐熱性樹脂の5イ
ンチ円板を用い、この上に光磁気記録膜2をスパッタ法
により形成した。ターゲットにはFe80番焼結体ター
ゲットを用い。
その表面にN i soCo so金合金Nd、或いは
MnとPrの各チップを均一になるように配置した。
MnとPrの各チップを均一になるように配置した。
放電ガスには、A r / Ha標準混合ガス(Ar/
He = 50%150%)を使用した。そして、スパ
ッタの条件は、投入RF比出力 W / c+a” 、
放電ガス圧5 X 10−8Torr、スパッタ時間は
17分である。このようにして作成した薄膜は、膜厚が
600人、X線回折の結果よりγ−Fezesを基体と
していた。つづいて、この記録膜上に反射膜3としてA
Ωを真空蒸着法で膜厚0.5μmに形成し、最後に保護
膜4として、テフロン膜(4)をスパッタ法で形成し光
磁気ディスクを得た。スパッタは、ターゲットに0.2
mmtのテフロンフィルムを、そして放電ガスにArを
それぞれ用い、投入RFffi力0.lW/Cm”、放
電ガス圧5X10−”(Torr) tスパン5時間1
0分で、得られた膜は。
He = 50%150%)を使用した。そして、スパ
ッタの条件は、投入RF比出力 W / c+a” 、
放電ガス圧5 X 10−8Torr、スパッタ時間は
17分である。このようにして作成した薄膜は、膜厚が
600人、X線回折の結果よりγ−Fezesを基体と
していた。つづいて、この記録膜上に反射膜3としてA
Ωを真空蒸着法で膜厚0.5μmに形成し、最後に保護
膜4として、テフロン膜(4)をスパッタ法で形成し光
磁気ディスクを得た。スパッタは、ターゲットに0.2
mmtのテフロンフィルムを、そして放電ガスにArを
それぞれ用い、投入RFffi力0.lW/Cm”、放
電ガス圧5X10−”(Torr) tスパン5時間1
0分で、得られた膜は。
膜厚ば2000人であった。テフロン膜の作成に際しタ
ーゲットの冷却には十分注意しなければならない。
ーゲットの冷却には十分注意しなければならない。
上述のようにして作成した光磁気ディスクの磁気・磁気
光学特性を測定した。その結果を第2表にまとめる。ま
ず、出発組成のγ−Fezesは。
光学特性を測定した。その結果を第2表にまとめる。ま
ず、出発組成のγ−Fezesは。
Karr回転角θc =0.50’ 、保磁カニHc
=:0.6KOe、キュリー温度:Tc=330℃であ
った。γ−FezOaにN1−GoとNd、MnとPr
を空格子サイトに配置すると、カー回転角は0.51”
〜0.52” と大きな変化はみられないが、保磁力は
6.0〜6.2KOsと1桁以上大きくなり、またキュ
リー温度は220℃とγ−FszOaより130℃低か
った。そして、この材料を用いたディスクのC/Nは4
3〜44dBとTdFeCo系を記録材料として用いた
場合よりやや小さかった8このように、面内磁化膜のγ
−FezOaにNdとN i Co或いはMnとPrを
添加すると垂直磁気異方性を誘起することができ、かつ
保磁力を大幅に向上させることができた。
=:0.6KOe、キュリー温度:Tc=330℃であ
った。γ−FezOaにN1−GoとNd、MnとPr
を空格子サイトに配置すると、カー回転角は0.51”
〜0.52” と大きな変化はみられないが、保磁力は
6.0〜6.2KOsと1桁以上大きくなり、またキュ
リー温度は220℃とγ−FszOaより130℃低か
った。そして、この材料を用いたディスクのC/Nは4
3〜44dBとTdFeCo系を記録材料として用いた
場合よりやや小さかった8このように、面内磁化膜のγ
−FezOaにNdとN i Co或いはMnとPrを
添加すると垂直磁気異方性を誘起することができ、かつ
保磁力を大幅に向上させることができた。
そして最後に、この光磁気記録膜の耐食性について検討
した。評価法は、実施例1と同様、80”C95%RH
中に500時間保存したときのKerr回転角及び飽和
磁化の経時変化を測定した。その結果、 Kerr回転
角及び飽和磁化とも変化はみられず、耐食性には、問題
はなかった。
した。評価法は、実施例1と同様、80”C95%RH
中に500時間保存したときのKerr回転角及び飽和
磁化の経時変化を測定した。その結果、 Kerr回転
角及び飽和磁化とも変化はみられず、耐食性には、問題
はなかった。
作成した光磁気記録膜の格子定数をX線回折法により測
定したところ、結晶形に多少歪みがあるものの、はぼス
ピネルの空格子サイトにインタカレートした元素が存在
していることがわかる。
定したところ、結晶形に多少歪みがあるものの、はぼス
ピネルの空格子サイトにインタカレートした元素が存在
していることがわかる。
実施例3
作成した光磁気ディスクの断面構造は、実施例1と同様
で、その模式図を第1図に示す、光磁気ディスクの作成
は、まず基板1としてガラスまたは耐熱性樹脂の5イン
チ円板上に光磁気記録膜2をスパッタ法により形成した
。ターゲットにはCo5oa焼結体ターゲットを用い、
その表面にFeとGdroSmso合金、Mg5oFθ
yoとG d aoE rxo、或いはTbとFeをそ
れぞれ均一になるよう配置した。放電ガスには、A r
/ Hz(=80%/20%)を使用した。そして、
スパッタの条件は、投入RF出力I W/am” 、放
電ガス圧5X10″″aTorr 、スパッタ時間は7
分である。
で、その模式図を第1図に示す、光磁気ディスクの作成
は、まず基板1としてガラスまたは耐熱性樹脂の5イン
チ円板上に光磁気記録膜2をスパッタ法により形成した
。ターゲットにはCo5oa焼結体ターゲットを用い、
その表面にFeとGdroSmso合金、Mg5oFθ
yoとG d aoE rxo、或いはTbとFeをそ
れぞれ均一になるよう配置した。放電ガスには、A r
/ Hz(=80%/20%)を使用した。そして、
スパッタの条件は、投入RF出力I W/am” 、放
電ガス圧5X10″″aTorr 、スパッタ時間は7
分である。
このようにして作成した薄鵬は、膜厚が600人、X線
回折結果よりCo5O4を基体としているが、ピーク形
状及び強度より非晶質に近かった0次に、この記録膜作
成後、反射膜3としてAμを真空蒸着法で膜厚0.5μ
mに形成し、最後に保ff膜4として、5iaN4をス
パッタ法で作成し、光磁気ディスクを得た。その時のス
パッタ条件は、実施例1と同様である。
回折結果よりCo5O4を基体としているが、ピーク形
状及び強度より非晶質に近かった0次に、この記録膜作
成後、反射膜3としてAμを真空蒸着法で膜厚0.5μ
mに形成し、最後に保ff膜4として、5iaN4をス
パッタ法で作成し、光磁気ディスクを得た。その時のス
パッタ条件は、実施例1と同様である。
このようにして作成した光磁気ディスクの磁気及び磁気
光学特性を測定した。その結果を第3表に示す。まず、
出発組成のCo aO番は、Kerr回転角:θc=0
.55’ 、保磁カニHc=0.3KOe。
光学特性を測定した。その結果を第3表に示す。まず、
出発組成のCo aO番は、Kerr回転角:θc=0
.55’ 、保磁カニHc=0.3KOe。
キュリー温度: Tc=370℃であった。GO110
4にFeと(Gd−8m)、(Mg−Fe)と(Gd・
Er)、或いはTbとFeをスピネル中に!i!置(イ
ンタカレート)すると、垂直磁気異方性を誘起すること
ができ、かつ保磁力を3.5〜3.8KOaと大幅に向
させることができた。また、キュリー温度は200〜2
10℃と実用上問題なかった。また、C/N比も42〜
44dBとTbFaCo系を記録材料に用いた場合とほ
ぼ同様であった。
4にFeと(Gd−8m)、(Mg−Fe)と(Gd・
Er)、或いはTbとFeをスピネル中に!i!置(イ
ンタカレート)すると、垂直磁気異方性を誘起すること
ができ、かつ保磁力を3.5〜3.8KOaと大幅に向
させることができた。また、キュリー温度は200〜2
10℃と実用上問題なかった。また、C/N比も42〜
44dBとTbFaCo系を記録材料に用いた場合とほ
ぼ同様であった。
また、この各種金属元素をインタカレートした酸化物光
磁気材料の耐食性について検討した。評価法は、実施例
1と同様、80℃−95%RH中に500時間保存した
ときのKprr回転角及び飽和磁化の経時変化を測定し
た。その結果、 Kprr回転角及び飽和磁化とも変化
はみられず、耐食性には問題はない。
磁気材料の耐食性について検討した。評価法は、実施例
1と同様、80℃−95%RH中に500時間保存した
ときのKprr回転角及び飽和磁化の経時変化を測定し
た。その結果、 Kprr回転角及び飽和磁化とも変化
はみられず、耐食性には問題はない。
Co3O4を基体として、これに各種金属をインタカレ
ートするとそれらの金属はスピネルの空格子サイトに存
在していることをXItQ的に確認した。
ートするとそれらの金属はスピネルの空格子サイトに存
在していることをXItQ的に確認した。
以上の各実施例の如く記録膜が微結晶、あるいはスピネ
ル構造が歪んだ構造となっている場合には、媒体ノイズ
が低減できるという効果がある。
ル構造が歪んだ構造となっている場合には、媒体ノイズ
が低減できるという効果がある。
本発明によれば、スピネル構造を有する金属酸化物を基
体として、この化合物の結晶構造中に存在する空格子サ
イトに各種原子を配置することで垂直磁気異方性を誘起
する効果を有する。また。
体として、この化合物の結晶構造中に存在する空格子サ
イトに各種原子を配置することで垂直磁気異方性を誘起
する効果を有する。また。
キュリー温度は、実用上問題のない値の200℃であり
、かつ保磁力も3KOe以上と大きくなる。
、かつ保磁力も3KOe以上と大きくなる。
このことにより、高耐食性を有する光磁気記録膜を得る
ことができるという効果がある。さらに、この光磁気材
料を用いると1表面保護膜を形成する必要がなく、プロ
セスの簡略化につながるという効果がある。
ことができるという効果がある。さらに、この光磁気材
料を用いると1表面保護膜を形成する必要がなく、プロ
セスの簡略化につながるという効果がある。
第1図は光磁気ディスクの断面構造を示す模式%式%
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、垂直磁気異方性を有する材料を記録媒体として用い
た光磁気記録媒体において、スピネル型構造を有するF
e_3O_4、Fe_2O_3、Co_3O_4のうち
から選ばれる少なくとも1種類の遷移金属酸化物を基体
とし、結晶構造中に存在する空格子位置或いはその近傍
に、Fe、Co、Cr、Ni、Cu、Mn、Mgのうち
から選ばれる少なくとも1種類の元素とNd、Pr、G
d、Tb、Dy、Ho、Er、Smのうちから選ばれる
少なくとも1種類の元素の両方あるいはいずれか一方を
配置し、層間化合物を形成したことを特徴とする光磁気
記録媒体。 2、特許請求の範囲第1項記載の光磁気記録媒体におい
て、記録膜が微結晶さらに優位には基体のスピネル構造
が歪んだ構造であることを特徴とする光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61267517A JP2539398B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61267517A JP2539398B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 光磁気記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63122036A true JPS63122036A (ja) | 1988-05-26 |
JP2539398B2 JP2539398B2 (ja) | 1996-10-02 |
Family
ID=17445938
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61267517A Expired - Lifetime JP2539398B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2539398B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5095350A (en) * | 1989-04-07 | 1992-03-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Magneto-optic memory medium |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60263357A (ja) * | 1984-06-11 | 1985-12-26 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS62204505A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-09 | Sony Corp | 酸化物磁性薄膜 |
-
1986
- 1986-11-12 JP JP61267517A patent/JP2539398B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60263357A (ja) * | 1984-06-11 | 1985-12-26 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS62204505A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-09 | Sony Corp | 酸化物磁性薄膜 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5095350A (en) * | 1989-04-07 | 1992-03-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Magneto-optic memory medium |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2539398B2 (ja) | 1996-10-02 |
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