JPS63120496A - セラミツク体表面への金属層形成法 - Google Patents
セラミツク体表面への金属層形成法Info
- Publication number
- JPS63120496A JPS63120496A JP26626486A JP26626486A JPS63120496A JP S63120496 A JPS63120496 A JP S63120496A JP 26626486 A JP26626486 A JP 26626486A JP 26626486 A JP26626486 A JP 26626486A JP S63120496 A JPS63120496 A JP S63120496A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal layer
- ceramic body
- roughening
- forming
- metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 36
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims description 30
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims description 30
- 238000007788 roughening Methods 0.000 claims description 22
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 150000001339 alkali metal compounds Chemical class 0.000 claims description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 6
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 6
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 4
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 4
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 18
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 14
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 12
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 11
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 10
- 235000011007 phosphoric acid Nutrition 0.000 description 8
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 5
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 229910000365 copper sulfate Inorganic materials 0.000 description 3
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UEZVMMHDMIWARA-UHFFFAOYSA-N Metaphosphoric acid Chemical compound OP(=O)=O UEZVMMHDMIWARA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical class S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010306 acid treatment Methods 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 150000008044 alkali metal hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052878 cordierite Inorganic materials 0.000 description 1
- JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N dimagnesium dioxido-bis[(1-oxido-3-oxo-2,4,6,8,9-pentaoxa-1,3-disila-5,7-dialuminabicyclo[3.3.1]nonan-7-yl)oxy]silane Chemical compound [Mg++].[Mg++].[O-][Si]([O-])(O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2)O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2 JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XPPKVPWEQAFLFU-UHFFFAOYSA-N diphosphoric acid Chemical compound OP(O)(=O)OP(O)(O)=O XPPKVPWEQAFLFU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052839 forsterite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N magnesium orthosilicate Chemical compound [Mg+2].[Mg+2].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000006259 organic additive Substances 0.000 description 1
- 229940005657 pyrophosphoric acid Drugs 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 230000008719 thickening Effects 0.000 description 1
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 1
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、セラミック体表面に金属層を形成する方法
に関する。
に関する。
一般に、大電力用として使用される配線基板は、たとえ
ば、大電流を流す必要上から、あるいは放熱性をもたせ
る必要上から、導電性回路となる導体層を厚くするよう
にしている。
ば、大電流を流す必要上から、あるいは放熱性をもたせ
る必要上から、導電性回路となる導体層を厚くするよう
にしている。
従来、このような導体層を形成する方法として、セラミ
ック基板表面に薄膜の導体層を無電解めっきにより形成
し、そののちに電解めっきにより厚付けする方法などが
行われている。ところが、電解めっきによって厚付けす
るには、非常に時間がかかるとともに、電気的なコスト
がかがるという問題があった。
ック基板表面に薄膜の導体層を無電解めっきにより形成
し、そののちに電解めっきにより厚付けする方法などが
行われている。ところが、電解めっきによって厚付けす
るには、非常に時間がかかるとともに、電気的なコスト
がかがるという問題があった。
そこで、短時間で厚付けが可能な溶射によってセラミッ
ク基板表面に導体層を形成する方法が行われつつある。
ク基板表面に導体層を形成する方法が行われつつある。
溶射によってセラミック基板表面に導体層を形成するに
は、あらかじめ、セラミック基板表面を粗化(粗面化)
しておく必要がある。すなわち、粗化せずに溶射を行う
と、セラミックと導体層との密着力が弱く導体層が剥が
れやすいものとなるのである。したがって、従来は、溶
射前に、あらかじめ、グリソトプラストなどの物理的方
法によってセラミック基板表面を粗化したのぢ、溶射し
ている。
は、あらかじめ、セラミック基板表面を粗化(粗面化)
しておく必要がある。すなわち、粗化せずに溶射を行う
と、セラミックと導体層との密着力が弱く導体層が剥が
れやすいものとなるのである。したがって、従来は、溶
射前に、あらかじめ、グリソトプラストなどの物理的方
法によってセラミック基板表面を粗化したのぢ、溶射し
ている。
しかしながら、このような物理的方法による粗化では、
セラミック基板表面に緻密な粗面を得ることができない
。そのため、溶射された金属の付着率があまりよくない
。しかも、アンカー効果も充分に得られるとは言えず、
さらに、密着力を向上させることが望まれている。
セラミック基板表面に緻密な粗面を得ることができない
。そのため、溶射された金属の付着率があまりよくない
。しかも、アンカー効果も充分に得られるとは言えず、
さらに、密着力を向上させることが望まれている。
この発明は、このような事情に鑑みて、焼結したセラミ
ック体表面に溶射によって金属層を形成するにあたり、
密着力が強固な金属層を形成することができる方法を提
供することを目的としている。
ック体表面に溶射によって金属層を形成するにあたり、
密着力が強固な金属層を形成することができる方法を提
供することを目的としている。
この発明は、このような目的を達成するために、焼結し
たセラミック体の表面に金属層を形成する方法であって
、前記表面を化学的に粗化する工程、および、この粗化
ののらに金属を溶射して金属層を形成する工程を備える
ことを特徴とするセラミック体表面への金属層形成法を
要旨としている。
たセラミック体の表面に金属層を形成する方法であって
、前記表面を化学的に粗化する工程、および、この粗化
ののらに金属を溶射して金属層を形成する工程を備える
ことを特徴とするセラミック体表面への金属層形成法を
要旨としている。
以下に、この発明を、その実施例をあられず図面を参照
しつつ詳しく説明する。
しつつ詳しく説明する。
第1図は、この発明にかかるセラミック体表面への金属
層形成法の工程をあられす。図に従って、各工程を詳し
く説明するとつぎのよ・うである。
層形成法の工程をあられす。図に従って、各工程を詳し
く説明するとつぎのよ・うである。
■ 焼結セラミック体を用意する。セラミックの材質と
しては、アルミナ、フォルステライト。
しては、アルミナ、フォルステライト。
ステアタイト、ジルコン、ムライト、コーディエライト
、ジルコニア、チタニア等の酸化物系のものが挙げられ
るが、炭化物系や窒化物系のものでも構わない。形状は
、特に限定されないが、基板として用いられることが主
であるので、一般に平板である。焼結は、通常の方法で
行われる。
、ジルコニア、チタニア等の酸化物系のものが挙げられ
るが、炭化物系や窒化物系のものでも構わない。形状は
、特に限定されないが、基板として用いられることが主
であるので、一般に平板である。焼結は、通常の方法で
行われる。
■ 脱脂を行う。脱脂は、セラミック体に付着している
油分、汚れを除去し、後の化学的粗化工程でセラミック
体表面をムラなく粗化できるようにするために行われる
。脱脂法としては、油分。
油分、汚れを除去し、後の化学的粗化工程でセラミック
体表面をムラなく粗化できるようにするために行われる
。脱脂法としては、油分。
汚れを除去できるものであれば、限定されないが、たと
えば、セラミック体をアルカリ系洗浄剤。
えば、セラミック体をアルカリ系洗浄剤。
アセトン、トリクレンなどの処理液中に浸漬し、超音波
洗浄を数分間実施するようにする。
洗浄を数分間実施するようにする。
■ 水洗および乾燥を行う。これは、脱脂工程での処理
液が後の化学的粗化工程での処理液に持ち込まれないよ
うにするために行われる。一般にはセラミック体を水洗
層に浸漬し、超音波洗浄を数分間実施したのち、乾燥器
に入れ充分に乾燥させるようになっている。
液が後の化学的粗化工程での処理液に持ち込まれないよ
うにするために行われる。一般にはセラミック体を水洗
層に浸漬し、超音波洗浄を数分間実施したのち、乾燥器
に入れ充分に乾燥させるようになっている。
■ 粗化処理剤によって化学的に表面を粗化する。これ
は、後の工程の溶射で、溶射された金属粒子が捕獲され
やすくするためと、溶射金属層とセラミック体との密着
力を強固にさせるためのものである。処理剤としては、
オルトリン酸、メタリン酸、ビロリン酸などのリン酸系
溶液、アルカリ金属の水酸化物、炭酸塩、硫化水素塩な
どアルカリ金属化合物の少なくとも一種からなるものの
溶液あるいは融液などが挙げられる。
は、後の工程の溶射で、溶射された金属粒子が捕獲され
やすくするためと、溶射金属層とセラミック体との密着
力を強固にさせるためのものである。処理剤としては、
オルトリン酸、メタリン酸、ビロリン酸などのリン酸系
溶液、アルカリ金属の水酸化物、炭酸塩、硫化水素塩な
どアルカリ金属化合物の少なくとも一種からなるものの
溶液あるいは融液などが挙げられる。
リン酸系溶液を用いる場合、つぎのようにして粗化を行
う。すなわち、オルトリン酸、メタリン酸、ピロリン酸
等からなる処理液にセラミック体を浸漬して粗化を行う
ようにする。処理温度は、250〜360℃にすること
が好ましい。これは、92%、96%、99%のアルミ
ナコンテントのアルミナ基板を、それぞれ処理液の温度
を変えて粗化処理したときの表面粗さくRmax )の
変化をあられした第2図を見ればよくわかるように、処
理液温度が、250℃を下回るとエツチング能力が低く
、360℃を越えてもリン酸が分解したり縮合したりす
るため、やはりエツチング能力が落ちるからである。浸
漬時間は、リン酸の活性度およびセラミック体の種類に
よっても異なるが、1〜30分間、好ましくは、3〜1
0分間である一方、アルカリ金属化合物を用いる場合、
アルカリ金属化合物の溶液中にセラミック体を浸漬し、
そののちに、加熱処理するというA法、あるいは、あら
かじめ所定の温度に加熱して融液状にしたものにセラミ
ック体を浸漬するというB法がある。
う。すなわち、オルトリン酸、メタリン酸、ピロリン酸
等からなる処理液にセラミック体を浸漬して粗化を行う
ようにする。処理温度は、250〜360℃にすること
が好ましい。これは、92%、96%、99%のアルミ
ナコンテントのアルミナ基板を、それぞれ処理液の温度
を変えて粗化処理したときの表面粗さくRmax )の
変化をあられした第2図を見ればよくわかるように、処
理液温度が、250℃を下回るとエツチング能力が低く
、360℃を越えてもリン酸が分解したり縮合したりす
るため、やはりエツチング能力が落ちるからである。浸
漬時間は、リン酸の活性度およびセラミック体の種類に
よっても異なるが、1〜30分間、好ましくは、3〜1
0分間である一方、アルカリ金属化合物を用いる場合、
アルカリ金属化合物の溶液中にセラミック体を浸漬し、
そののちに、加熱処理するというA法、あるいは、あら
かじめ所定の温度に加熱して融液状にしたものにセラミ
ック体を浸漬するというB法がある。
A法を用いる場合、表面粗さを制御するのには、その濃
度を調整するようにすればよい。すなわち、アルカリ化
合物として25℃の水酸化ナトリウム溶液を用い、その
濃度を変化させたときの粗化程度の変化をあられした第
3図にみるように、92%、96%、99%のアルミナ
基板のいずれの場合も濃度を上げると表面粗さも上がっ
ている。このことから、濃度の調整を必要とすることが
よくわかる。なお、表面粗さは、各濃度の処理液にアル
ミナ基板を浸漬したのち、450℃の温度に15分間こ
れを曝してから測定した。処理条件は、特に限定されな
いが、加熱温度が400〜600℃、加熱時間が5〜3
0分程度とすることが好ましい。水100gに対する水
酸化ナトリウムの溶解度は、25℃では114gである
が、液温度をあげれば、さらに多量の水酸化ナトリウム
を溶かすことができる。
度を調整するようにすればよい。すなわち、アルカリ化
合物として25℃の水酸化ナトリウム溶液を用い、その
濃度を変化させたときの粗化程度の変化をあられした第
3図にみるように、92%、96%、99%のアルミナ
基板のいずれの場合も濃度を上げると表面粗さも上がっ
ている。このことから、濃度の調整を必要とすることが
よくわかる。なお、表面粗さは、各濃度の処理液にアル
ミナ基板を浸漬したのち、450℃の温度に15分間こ
れを曝してから測定した。処理条件は、特に限定されな
いが、加熱温度が400〜600℃、加熱時間が5〜3
0分程度とすることが好ましい。水100gに対する水
酸化ナトリウムの溶解度は、25℃では114gである
が、液温度をあげれば、さらに多量の水酸化ナトリウム
を溶かすことができる。
一方、B法は、水酸化ナトリウムや水酸化カリウムなど
を加熱して融解させ、この融液中にセラミック体を浸漬
するのであるが、処理温度は、250〜500℃、処理
時間は0.5〜30分程度である。B法では、A法に比
べて反応が起こりやすいので、処理は短時間で行うこと
が好ましい。
を加熱して融解させ、この融液中にセラミック体を浸漬
するのであるが、処理温度は、250〜500℃、処理
時間は0.5〜30分程度である。B法では、A法に比
べて反応が起こりやすいので、処理は短時間で行うこと
が好ましい。
いずれにしても、このように化学的に粗化することによ
り、従来のグリッドブラストのような物理的粗化に比べ
、緻密で微細な凹凸を形成することができる。このため
、後の工程で溶射される金属粒子をむらなく捕獲できる
とともに、いわゆるアンカー効果がより有効に作用し、
溶射金属とセラミック体との間に強固な密着力を与える
ことが可能となるのである。
り、従来のグリッドブラストのような物理的粗化に比べ
、緻密で微細な凹凸を形成することができる。このため
、後の工程で溶射される金属粒子をむらなく捕獲できる
とともに、いわゆるアンカー効果がより有効に作用し、
溶射金属とセラミック体との間に強固な密着力を与える
ことが可能となるのである。
■ 水洗および乾燥を行う。これは、粗化されたセラミ
ック体の表面に残る粗化処理剤および反応生成物を除去
するためのものである。洗浄は、洗浄液槽に粗化セラミ
ック体を浸漬し超音波洗浄を3回以上くり返し行うこと
によるのが好ましい。洗浄液は、基本的には水でよいが
、第1回目の洗浄は、セラミック体へのヒートショック
の緩和、および、処理剤や反応生成物の溶解度を考慮す
ると、80〜100℃の湯を用いることが好ましい。ま
た、アルカリ金属化合物を用いた粗化を行った場合には
、セラミック体へのアルカリイオンの残留が心配される
が、この場合、洗浄工程の中に酸による中和工程を含め
るようにすることが好ましい。洗浄後乾燥器によって充
分に乾燥させる■ 金属溶射を行う。溶射は、通常行わ
れている方法により行う。
ック体の表面に残る粗化処理剤および反応生成物を除去
するためのものである。洗浄は、洗浄液槽に粗化セラミ
ック体を浸漬し超音波洗浄を3回以上くり返し行うこと
によるのが好ましい。洗浄液は、基本的には水でよいが
、第1回目の洗浄は、セラミック体へのヒートショック
の緩和、および、処理剤や反応生成物の溶解度を考慮す
ると、80〜100℃の湯を用いることが好ましい。ま
た、アルカリ金属化合物を用いた粗化を行った場合には
、セラミック体へのアルカリイオンの残留が心配される
が、この場合、洗浄工程の中に酸による中和工程を含め
るようにすることが好ましい。洗浄後乾燥器によって充
分に乾燥させる■ 金属溶射を行う。溶射は、通常行わ
れている方法により行う。
■ 必要に応じて、溶射金属層上に電解めっきを行う。
溶射によりセラミック体表面に形成された金属層の密度
は、通常、金属の理論密度の80〜90%が限度である
。しかも、表面粗さも大きい。たとえば、セラミック配
線基板をこの方法のみで得た場合、金属層は、ポーラス
で、かつ、表面粗さが大きい状態のままであり、導電性
および半田厚みの制御に問題が生じやすい。したがって
、表面を緻密かつ平滑にしておく必要がある。そのよう
な場合に、電解めっきを行うようにするのである。
は、通常、金属の理論密度の80〜90%が限度である
。しかも、表面粗さも大きい。たとえば、セラミック配
線基板をこの方法のみで得た場合、金属層は、ポーラス
で、かつ、表面粗さが大きい状態のままであり、導電性
および半田厚みの制御に問題が生じやすい。したがって
、表面を緻密かつ平滑にしておく必要がある。そのよう
な場合に、電解めっきを行うようにするのである。
つぎに、この発明の詳細な説明する。
(実施例1)
96%アルミナコンテントのアルミナ基板を用意し、上
記■〜■の工程に従って、アルミナ基板上に銅層が形成
された試料を作製した。なお、粗化工程では、リン酸を
330℃にしてアルミナ基板をこの中に5分間浸漬して
粗化処理を行った。
記■〜■の工程に従って、アルミナ基板上に銅層が形成
された試料を作製した。なお、粗化工程では、リン酸を
330℃にしてアルミナ基板をこの中に5分間浸漬して
粗化処理を行った。
溶射工程では、粒度10〜325メソシユの銅粒子をプ
ラズマ溶射ガン(商品名: PLASMADYNE
5G−1)を使用して、使用電流500A、使用電圧3
2V、作動ガスAr、作動ガス流量50 j! / m
i nの各条件で溶射を行った。得られた試料の銅層
の表面粗さは、15μmであった(実施例2) lkg/7!の水酸化ナトリウム水溶液に96%アルミ
ナ:1ンテントのアルミナ基板を浸漬したのち、マツフ
ル炉において450℃で15分間熱処理を行い粗化を行
った以外は、実施例1と同様にして、試料を作製し7た
。得られた試料の銅層の表面粗さは、14μmであった
。
ラズマ溶射ガン(商品名: PLASMADYNE
5G−1)を使用して、使用電流500A、使用電圧3
2V、作動ガスAr、作動ガス流量50 j! / m
i nの各条件で溶射を行った。得られた試料の銅層
の表面粗さは、15μmであった(実施例2) lkg/7!の水酸化ナトリウム水溶液に96%アルミ
ナ:1ンテントのアルミナ基板を浸漬したのち、マツフ
ル炉において450℃で15分間熱処理を行い粗化を行
った以外は、実施例1と同様にして、試料を作製し7た
。得られた試料の銅層の表面粗さは、14μmであった
。
(実施例3)
水酸化ナトリウムと水酸化カリウムを融解し、この融液
を300℃にし、この融液中にアルミナ基板を2分間浸
漬して粗化を行った以外は、実施例1と同様にして、試
料を作製した。
を300℃にし、この融液中にアルミナ基板を2分間浸
漬して粗化を行った以外は、実施例1と同様にして、試
料を作製した。
(比較例)
グリソトブラストによって粗化を行った以外は、実施例
1と同様にして、試料を作製した。
1と同様にして、試料を作製した。
以」二のようにして得られた実施例1〜3および比較例
の試料の溶射効率、垂直引っ張り強度および15字引っ
張り強度を測定した。その結果を第1表に示す。なお、
垂直引っ張り強度は、第4図にみるように、基板1上の
銅層4を1.5龍角として、この銅層4にすずめつき銅
線3を半田2で半田付けして測定した。17字引っ張り
強度は、第5図にみるように、銅層5を2.0龍角とし
て、この銅層5に12字のずずめっき銅線3を半田2で
半田イ」けして測定した。
の試料の溶射効率、垂直引っ張り強度および15字引っ
張り強度を測定した。その結果を第1表に示す。なお、
垂直引っ張り強度は、第4図にみるように、基板1上の
銅層4を1.5龍角として、この銅層4にすずめつき銅
線3を半田2で半田付けして測定した。17字引っ張り
強度は、第5図にみるように、銅層5を2.0龍角とし
て、この銅層5に12字のずずめっき銅線3を半田2で
半田イ」けして測定した。
第 1 表
第1表にみるように、実施例1〜3のものは、比較例に
比べて、溶射効率も引っ張り強度も優れたものとなって
いることがわかる。
比べて、溶射効率も引っ張り強度も優れたものとなって
いることがわかる。
(実施例4)
実施例1で得られた試料の銅層の上に下記条件で電解硫
酸銅めっきを行い、その表面粗さを測定したところ、2
μmであった。
酸銅めっきを行い、その表面粗さを測定したところ、2
μmであった。
硫酸銅 ・・ 0.21ldol /
l!硫酸 ・・・2.0Ln01/7! 塩素イオン ・・・・ 2 X 10−”mol /
7+有機添加剤 ・・・・ Q、4n+ol/β
浴温 ・ 30℃ 電流密度 ・・・・ 2A/da+”(実施
例5) 実施例2で得られた試料の銅層の上に実施例4と同じ条
件で電解硫酸銅めっきを行い、その表面粗さを測定した
ところ、2μmであった。
l!硫酸 ・・・2.0Ln01/7! 塩素イオン ・・・・ 2 X 10−”mol /
7+有機添加剤 ・・・・ Q、4n+ol/β
浴温 ・ 30℃ 電流密度 ・・・・ 2A/da+”(実施
例5) 実施例2で得られた試料の銅層の上に実施例4と同じ条
件で電解硫酸銅めっきを行い、その表面粗さを測定した
ところ、2μmであった。
実施例4.5で得られた試料にチップ抵抗等の回路部品
を搭載したところ、いずれも半田の厚みムラが解消され
歩留まりがよかった。
を搭載したところ、いずれも半田の厚みムラが解消され
歩留まりがよかった。
この発明にかかるセラミック体表面への金属層形成法は
、上記実施例に限定されない。たとえば、実施例では、
セラミック体は、回路用基板であったが、セラミック体
であればどのような形状でも構わないし、得られたもの
の用途も特に限定されない。
、上記実施例に限定されない。たとえば、実施例では、
セラミック体は、回路用基板であったが、セラミック体
であればどのような形状でも構わないし、得られたもの
の用途も特に限定されない。
この発明にかかるセラミック体表面への金属層形成法は
、焼結セラミック体を化学的方法により粗化し、そのの
ちに溶射により金属層を形成するようになっているので
、金属層とセラミ・ツク体との間の密着力を強固なもの
にすることができる。
、焼結セラミック体を化学的方法により粗化し、そのの
ちに溶射により金属層を形成するようになっているので
、金属層とセラミ・ツク体との間の密着力を強固なもの
にすることができる。
第1図はこの発明にかかるセラミック体表面への金属層
形成法の1実施例の工程を説明する説明図、第2図はリ
ン酸処理液温度とアルミナ基板表面粗さくRmax)と
の関係を示すグラフ、第3図は水酸化ナトリウムの濃度
と粗化処理後のアルミナ基板表面粗さくRmax)との
関係をあられずグラフ、第4図は垂直引っ張り強度試験
法を説明する断面図、第5図はL字引っ張り強度試験法
を説明する断面図である。
形成法の1実施例の工程を説明する説明図、第2図はリ
ン酸処理液温度とアルミナ基板表面粗さくRmax)と
の関係を示すグラフ、第3図は水酸化ナトリウムの濃度
と粗化処理後のアルミナ基板表面粗さくRmax)との
関係をあられずグラフ、第4図は垂直引っ張り強度試験
法を説明する断面図、第5図はL字引っ張り強度試験法
を説明する断面図である。
Claims (4)
- (1)焼結したセラミック体の表面に金属層を形成する
方法であって、前記表面を化学的に粗化する工程、およ
び、この粗化ののちに金属を溶射して金属層を形成する
工程を備えることを特徴とするセラミック体表面への金
属層形成法。 - (2)粗化が、セラミック体表面を粗化処理液に曝すこ
とにより行われる特許請求の範囲第1項記載のセラミッ
ク体表面への金属層形成法。 - (3)粗化処理液が、リン酸系溶液、アルカリ金属化合
物の溶液、および、アルカリ金属化合物の融液からなる
群より選ばれたすくなくとも1種である特許請求の範囲
第2項記載のセラミック体表面への金属層形成法。 - (4)金属を溶射したのち、その金属表面に電解めっき
を行う特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれかに
記載のセラミック体表面への金属層形成法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26626486A JPS63120496A (ja) | 1986-11-08 | 1986-11-08 | セラミツク体表面への金属層形成法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26626486A JPS63120496A (ja) | 1986-11-08 | 1986-11-08 | セラミツク体表面への金属層形成法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63120496A true JPS63120496A (ja) | 1988-05-24 |
Family
ID=17428558
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26626486A Pending JPS63120496A (ja) | 1986-11-08 | 1986-11-08 | セラミツク体表面への金属層形成法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63120496A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006130434A (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Tokyo Electron Ltd | セラミック溶射部材の洗浄方法、該方法を実行するためのプログラム、記憶媒体、及びセラミック溶射部材 |
JP2015214729A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | 矢崎総業株式会社 | 厚膜配線構造体の製造方法及び厚膜配線構造体 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5170462A (en) * | 1974-12-16 | 1976-06-18 | Asahi Purinto Kogyo Kk | Adeiteibuho nyoru insatsuhaisenbanno seizoho |
JPS5482666A (en) * | 1977-12-15 | 1979-07-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | Nonnelectrolytic plating method of insulated substrate |
JPS6182492A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-26 | 昭和電工株式会社 | 溶射基板の回路形成法 |
JPS61151081A (ja) * | 1984-12-22 | 1986-07-09 | 松下電工株式会社 | セラミツク配線基板の製法 |
-
1986
- 1986-11-08 JP JP26626486A patent/JPS63120496A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5170462A (en) * | 1974-12-16 | 1976-06-18 | Asahi Purinto Kogyo Kk | Adeiteibuho nyoru insatsuhaisenbanno seizoho |
JPS5482666A (en) * | 1977-12-15 | 1979-07-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | Nonnelectrolytic plating method of insulated substrate |
JPS6182492A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-26 | 昭和電工株式会社 | 溶射基板の回路形成法 |
JPS61151081A (ja) * | 1984-12-22 | 1986-07-09 | 松下電工株式会社 | セラミツク配線基板の製法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006130434A (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-25 | Tokyo Electron Ltd | セラミック溶射部材の洗浄方法、該方法を実行するためのプログラム、記憶媒体、及びセラミック溶射部材 |
JP4666576B2 (ja) * | 2004-11-08 | 2011-04-06 | 東京エレクトロン株式会社 | セラミック溶射部材の洗浄方法、該方法を実行するためのプログラム、記憶媒体、及びセラミック溶射部材 |
US7942975B2 (en) | 2004-11-08 | 2011-05-17 | Tokyo Electron Limited | Ceramic sprayed member-cleaning method |
JP2015214729A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | 矢崎総業株式会社 | 厚膜配線構造体の製造方法及び厚膜配線構造体 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5235139A (en) | Method for fabricating printed circuits | |
US5788830A (en) | Electroplating process | |
JPS6133077B2 (ja) | ||
KR20060114010A (ko) | 알루미늄상의 전기 도금 방법 | |
US4430154A (en) | Method of producing printed circuit boards | |
US4144118A (en) | Method of providing printed circuits | |
JP3916203B2 (ja) | アルミニウムまたはアルミニウム合金の表面粗化剤およびそれを用いる表面粗化法 | |
JPH05222540A (ja) | 置換めっき浴の寿命を延長させる方法 | |
KR20010102562A (ko) | 표면처리 동박과 그 표면처리 동박의 제조방법 및 그표면처리 동박을 사용한 동 클래드 적층판 | |
JPS63120496A (ja) | セラミツク体表面への金属層形成法 | |
JPH03170680A (ja) | 非導電性支持体を直接金属被覆する方法 | |
JPH02294486A (ja) | 無電解めっき法 | |
KR101049236B1 (ko) | 팔라듐을 이용한 무전해 도금방법 | |
CN114096070A (zh) | Pcb板电镀蚀刻液及其蚀刻工艺 | |
GB2038101A (en) | Printed circuits | |
JPH01195281A (ja) | 無電解めつき用触媒 | |
JP2005518328A (ja) | チタネートベースのセラミックスを金属化するための方法 | |
GB2274853A (en) | Process for electroplating nonconductive surface e.g through holes in print wiring board | |
KR970005444B1 (ko) | 목재의 전기도금 방법 | |
JPS62230996A (ja) | アルミニウム基板にめつきをする方法 | |
JPS61151081A (ja) | セラミツク配線基板の製法 | |
EP0254201A1 (en) | Method of metallizing ceramic substrates | |
JP2000073181A (ja) | 銅表面に対する樹脂の接着性向上方法およびこれに用いる接着性向上剤 | |
JPS62226695A (ja) | 回路ボ−ドの製造方法 | |
JPS6335482A (ja) | セラミツク表面の金属化法 |