JPS63104306A - 電子部品の半田付け方法 - Google Patents
電子部品の半田付け方法Info
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- JPS63104306A JPS63104306A JP24834686A JP24834686A JPS63104306A JP S63104306 A JPS63104306 A JP S63104306A JP 24834686 A JP24834686 A JP 24834686A JP 24834686 A JP24834686 A JP 24834686A JP S63104306 A JPS63104306 A JP S63104306A
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Landscapes
- Details Of Resistors (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、フレキシブル配線基板に接続するための微細
ピッチ抵抗ネットワークの半田付は方法に関するもので
ある。
ピッチ抵抗ネットワークの半田付は方法に関するもので
ある。
(従来の技術)
近年、電子機器を軽薄短小化する有力な手段として、フ
レキシブル配線基板を用いた空間実装あるいは立体実装
の動きが活発となり、カメラ、液晶応用製品、プラズマ
・ディスプレイ等に利用されている。一方、直流放電形
プラズマ・ディスプレイやLEDディスプレイ等は、各
表示画素数又はライン数に対応した電流制限抵抗素子を
必要とする。このような電子機器の小形化に対応するた
め、端子ピッチが1.0mm以下という微細ピッチで且
つ多素子を内蔵する微細ピッチ抵抗ネットワークが開発
され、フレキシブル配線基板上に搭載することによって
、電子機器の小形化、薄形化が実現している。
レキシブル配線基板を用いた空間実装あるいは立体実装
の動きが活発となり、カメラ、液晶応用製品、プラズマ
・ディスプレイ等に利用されている。一方、直流放電形
プラズマ・ディスプレイやLEDディスプレイ等は、各
表示画素数又はライン数に対応した電流制限抵抗素子を
必要とする。このような電子機器の小形化に対応するた
め、端子ピッチが1.0mm以下という微細ピッチで且
つ多素子を内蔵する微細ピッチ抵抗ネットワークが開発
され、フレキシブル配線基板上に搭載することによって
、電子機器の小形化、薄形化が実現している。
フレキシブル配線基板に接続する従来の微細ピッチ抵抗
ネットワークの半田付は方法について、第3図および第
4図により説明する。
ネットワークの半田付は方法について、第3図および第
4図により説明する。
第3図において、微細ピッチ抵抗ネットワークは、一般
にAQ20.等の無機絶縁材料からなる絶縁基板1の表
面に、所望の回路網に応じた複数の抵抗素子2を、メタ
ルグレーズ系厚膜材料をスクリーン印刷とした厚膜で、
あるいは蒸着又はスパッタリング等による薄膜で形成し
、その両端にそれぞれ外部回路と電気的に接続される端
子3を形成したものである。
にAQ20.等の無機絶縁材料からなる絶縁基板1の表
面に、所望の回路網に応じた複数の抵抗素子2を、メタ
ルグレーズ系厚膜材料をスクリーン印刷とした厚膜で、
あるいは蒸着又はスパッタリング等による薄膜で形成し
、その両端にそれぞれ外部回路と電気的に接続される端
子3を形成したものである。
第4図は、従来の半田付は方法によってフレキシブル配
線基板4と上記の微細ピッチ抵抗ネットワークとを接続
した接続部の断面図である。
線基板4と上記の微細ピッチ抵抗ネットワークとを接続
した接続部の断面図である。
フレキシブル配線基板4は、ポリイミド、ポリエステル
に代表される絶縁フィルム5の表面に形成した金属導体
箔をエツチングによって金属導体パターン6を形成し、
電子部品を取り付けるための導体ランド7を残すように
、トップコ−1へ材で覆ったものである。
に代表される絶縁フィルム5の表面に形成した金属導体
箔をエツチングによって金属導体パターン6を形成し、
電子部品を取り付けるための導体ランド7を残すように
、トップコ−1へ材で覆ったものである。
フレキシブル配線基板4および微細ピッチ抵抗ネットワ
ークは、それぞれに形成された導体ランド7および端子
3とを半田層9で電気的に接続されている。
ークは、それぞれに形成された導体ランド7および端子
3とを半田層9で電気的に接続されている。
このような構成の従来の半田付は方法について説明する
。まず、フレキシブル配線基板4の導体ランド7に印刷
又はディスペンサ等によってクリーム半田を塗布する。
。まず、フレキシブル配線基板4の導体ランド7に印刷
又はディスペンサ等によってクリーム半田を塗布する。
次に、微細ピッチ抵抗ネットワークの端子3が、フレキ
シブル配線基板4の導体ランド7と一致するように位置
決めして搭載する。次に、フレキシブル配線基板4の導
体ランド7の下面又は微細ピッチ抵抗ネットワークの」
二面から加熱棒(図示せず)を用いて熱圧着し、クリー
ム半田を溶融して半田層9で接着する。
シブル配線基板4の導体ランド7と一致するように位置
決めして搭載する。次に、フレキシブル配線基板4の導
体ランド7の下面又は微細ピッチ抵抗ネットワークの」
二面から加熱棒(図示せず)を用いて熱圧着し、クリー
ム半田を溶融して半田層9で接着する。
なお、クリーム半田の代わりに導体ランド7又は端子3
のいずれか一方に、あるいは双方に半田バンプをあらか
じめ形成する方法もある。また、加熱棒による熱圧着の
代わりに、リフロー炉により半田を溶融する方法もある
。
のいずれか一方に、あるいは双方に半田バンプをあらか
じめ形成する方法もある。また、加熱棒による熱圧着の
代わりに、リフロー炉により半田を溶融する方法もある
。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、上記の構成では、微細ピッチ抵抗ネット
ワークは、材料が/IQ20.等な゛のでその線膨張係
数は10−87℃ないし10−7/’Cの単位の数値で
あり、フレキシブル配線基板4は、材料がポリイミド、
ポリエステル等なのでその線膨張係数は、] 0− ’
/ ℃ないし10−’/℃の単位の数値でその差が大
きいばかりでなく、微細ピッチ抵抗体ネットワークは、
多素子内蔵形のため長さが長く、0.7+++mピッチ
807I4子内蔵の場合には、58mm程度となる。従
って、ピー1−ショックテスト等の耐候性試験において
、線膨張係数の違いによる膨張収縮の差によって断線す
る確率が高く、接続箇所の信頼性が低いという問題があ
った。
ワークは、材料が/IQ20.等な゛のでその線膨張係
数は10−87℃ないし10−7/’Cの単位の数値で
あり、フレキシブル配線基板4は、材料がポリイミド、
ポリエステル等なのでその線膨張係数は、] 0− ’
/ ℃ないし10−’/℃の単位の数値でその差が大
きいばかりでなく、微細ピッチ抵抗体ネットワークは、
多素子内蔵形のため長さが長く、0.7+++mピッチ
807I4子内蔵の場合には、58mm程度となる。従
って、ピー1−ショックテスト等の耐候性試験において
、線膨張係数の違いによる膨張収縮の差によって断線す
る確率が高く、接続箇所の信頼性が低いという問題があ
った。
また、導体ランド7と端子3を接続する半田層9が工法
」−薄<なり、厚さが50μm以下であることも−に述
の線膨張係数の違いを吸収することができず、断線の原
因を増長しているという問題もあった。
」−薄<なり、厚さが50μm以下であることも−に述
の線膨張係数の違いを吸収することができず、断線の原
因を増長しているという問題もあった。
さらに、微細ピッチ抵抗ネットワークを表面を下向きに
して実装しているため、接続不良が発生しても手直しが
不可能で、そのため世産工程での歩留りが悪く、コスト
アップの要因となっているという間層もあった。
して実装しているため、接続不良が発生しても手直しが
不可能で、そのため世産工程での歩留りが悪く、コスト
アップの要因となっているという間層もあった。
本発明は上記の問題点を解決するもので、両虎板材料の
線膨張係数に関係なく、信頼性の高い且つ半田手直しの
簡単な微細ピッチ抵抗ネットワークの半田付は方法を提
供するものである。
線膨張係数に関係なく、信頼性の高い且つ半田手直しの
簡単な微細ピッチ抵抗ネットワークの半田付は方法を提
供するものである。
(問題点を解決するための手段)
上記の問題点を解決するために、本発明は、フレキシブ
ル配線基板用の絶縁フィルムの微細ピッチ抵抗ネットワ
ークの端子接続位置にプレス加工等で開口部を設け、銅
箔等の金属導体を形成した後、エツチングして金属導体
パターンを形成し、トップコート材で覆って導体ランド
を設ける。
ル配線基板用の絶縁フィルムの微細ピッチ抵抗ネットワ
ークの端子接続位置にプレス加工等で開口部を設け、銅
箔等の金属導体を形成した後、エツチングして金属導体
パターンを形成し、トップコート材で覆って導体ランド
を設ける。
微細ピッチ抵抗ネットワークの端子上に、クリーム半田
を塗布又は半田バンプを形成した後、フレキシブル配線
基板の下面に、その導体ランドと上記の端子の位置が一
致するように置き、導体ランド側から熱圧着あるいはレ
ーザ加熱等で半田を溶融し、導体ランドと端子の間を半
田で接続する。
を塗布又は半田バンプを形成した後、フレキシブル配線
基板の下面に、その導体ランドと上記の端子の位置が一
致するように置き、導体ランド側から熱圧着あるいはレ
ーザ加熱等で半田を溶融し、導体ランドと端子の間を半
田で接続する。
(作 用)
上記の半田付は方法によれば、微細ピッチ抵抗ネットワ
ークを取り付ける導体ランド部分の絶縁フィルムが除去
されているため、絶縁フィルムの膨張収縮の差の影響が
大幅に少なくなる。また。
ークを取り付ける導体ランド部分の絶縁フィルムが除去
されているため、絶縁フィルムの膨張収縮の差の影響が
大幅に少なくなる。また。
半日1層の厚さが絶縁フィルムの厚さとほぼ等しくなる
ため、絶縁フィルムの厚さを加減することで2半lB層
の厚さを制御することができる。従って半111層は5
0pm以上に厚くでき、線膨張係数の違いを吸収する緩
衝効果が大幅に向上する。
ため、絶縁フィルムの厚さを加減することで2半lB層
の厚さを制御することができる。従って半111層は5
0pm以上に厚くでき、線膨張係数の違いを吸収する緩
衝効果が大幅に向上する。
従って、ピー1〜シヨツクテスト等の耐候性加速試験で
断線しない信頼性の高い接続ができる。
断線しない信頼性の高い接続ができる。
さらに、導体ランドの1一部から加熱できるため。
接続不良が発生した場合、半i(1ごて等による再加熱
により部分的な手直し作業が可能となる。
により部分的な手直し作業が可能となる。
(実施例)
本発明の一実施例を第1図ないし第3図により説明する
。
。
第3図において、微細ピッチ抵抗ネットワークは、 A
Q20,96%の絶縁基板1の表面にスクリーン印刷に
よって複数個の抵抗素子2が形成され、その両端に膜厚
10μmのPdAg電極によって複数個の端子3か細い
ピッチで形成されている。
Q20,96%の絶縁基板1の表面にスクリーン印刷に
よって複数個の抵抗素子2が形成され、その両端に膜厚
10μmのPdAg電極によって複数個の端子3か細い
ピッチで形成されている。
第2図において、フレキシブル配線基板4は、厚さ10
0μ市の絶縁フィルム5を用い、上記の微細ピッチ抵抗
ネッ1−ワークの端子3が接続される位置にプレス加工
によって2箇所の開口部10を設けた後、厚さ35μm
の銅箔を接着剤によって貼り付け、これをエツチングに
よって金属導体パターン6を形成し、さらに導体ランド
7を残してトップコート材8をラミネート又はスクリー
ン印刷により覆って得られる。
0μ市の絶縁フィルム5を用い、上記の微細ピッチ抵抗
ネッ1−ワークの端子3が接続される位置にプレス加工
によって2箇所の開口部10を設けた後、厚さ35μm
の銅箔を接着剤によって貼り付け、これをエツチングに
よって金属導体パターン6を形成し、さらに導体ランド
7を残してトップコート材8をラミネート又はスクリー
ン印刷により覆って得られる。
このように構成したフレキシブル配線基板4に接続する
微細ピッチ抵抗ネットワー・り半田付は方法について説
明する。
微細ピッチ抵抗ネットワー・り半田付は方法について説
明する。
まず、第3図に示した微細ピッチ抵抗ネットワークの端
子3の上に、クリーム半田を塗布するかあるいは半田バ
ンプを形成する。次に、第2図に示したフレキシブル配
線基板4の開口部の下に−[1記の微細ピッチ抵抗ネッ
トワークを置き、導体ランド7と端子3の位置を合わせ
る。次に、導体ランド7に上面から熱圧着又はレーザ加
熱により半田を溶融する。第1図は半田付けが終了した
接続部の拡大断面図で、図に示すように、溶融した半田
は、導体ランド7と端子3の間に半田層9を形成し、電
気的に両者を接続する。
子3の上に、クリーム半田を塗布するかあるいは半田バ
ンプを形成する。次に、第2図に示したフレキシブル配
線基板4の開口部の下に−[1記の微細ピッチ抵抗ネッ
トワークを置き、導体ランド7と端子3の位置を合わせ
る。次に、導体ランド7に上面から熱圧着又はレーザ加
熱により半田を溶融する。第1図は半田付けが終了した
接続部の拡大断面図で、図に示すように、溶融した半田
は、導体ランド7と端子3の間に半田層9を形成し、電
気的に両者を接続する。
このようにして形成された半田層9は、絶縁フィルム5
の厚さ100μmから端子3の厚さ10μmを減じた約
90μmの厚さとなる。
の厚さ100μmから端子3の厚さ10μmを減じた約
90μmの厚さとなる。
第1図に示すように、フレキシブル配線基板4は、導体
ランド70部分が開口部10しこ形成されているため、
絶縁フィルム5の温度変化による膨張収縮の差が半田接
続部に及ぼす影響が小さく、また、半IB層9が90μ
mの厚さを有するため、膨張収縮の差による応力を吸収
する緩衝効果が大きい。
ランド70部分が開口部10しこ形成されているため、
絶縁フィルム5の温度変化による膨張収縮の差が半田接
続部に及ぼす影響が小さく、また、半IB層9が90μ
mの厚さを有するため、膨張収縮の差による応力を吸収
する緩衝効果が大きい。
さらに、接続不良を導体ランド7の上面から半[■ごて
等を用い容易に手直しができる。
等を用い容易に手直しができる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、微細ピッチ抵抗
ネットワークの端子が半田接続されているフレキシブル
配線基板は、その接続部の導体ランドが絶縁フィルムの
開口部に形成されているため、熱膨張係数の差と温度変
化による膨張収縮の差の影響が大幅に減少される。また
、絶縁フィルムの厚さを加減することにより半田層の厚
さを制御することが可能となり、厚い半田層が膨張収縮
の差を吸収するため、緩衝効果が得られる。従って、ヒ
ートショックテスト等の耐候性試験において、高い接続
信頼性が得られる。
ネットワークの端子が半田接続されているフレキシブル
配線基板は、その接続部の導体ランドが絶縁フィルムの
開口部に形成されているため、熱膨張係数の差と温度変
化による膨張収縮の差の影響が大幅に減少される。また
、絶縁フィルムの厚さを加減することにより半田層の厚
さを制御することが可能となり、厚い半田層が膨張収縮
の差を吸収するため、緩衝効果が得られる。従って、ヒ
ートショックテスト等の耐候性試験において、高い接続
信頼性が得られる。
また、導体ランドの上面から半田ごて等で再加熱するこ
とができるため、工程中の接続不良の手直しが容易とな
り、大幅に歩留りを向上できる。
とができるため、工程中の接続不良の手直しが容易とな
り、大幅に歩留りを向上できる。
第1図は本発明の半田付は方法によって接続されたフレ
キシブル配線基板と微細ピッチ抵抗ネットワークの半田
付は接続部の拡大断面図、第2図は本発明の半田付は方
法を適用するフレキシブル配線基板の要部平面図、第3
図は微細ピッチ抵抗ネットワークの平面図、第4図は従
来の半田付は方法による接続部の拡大断面図である。 1・・・絶縁基板、 2・・・抵抗素子、 3・・・端
子、 4・・・フレキシブル配線基板、 5・・絶縁フ
ィルム、 6・・・金属導体パターン、7・・・導体
ランド、 8・・・1−ツブコート材、9・・・半田
層、 10・・・開口部。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第1図 1−2紀様基脹 3、一端子 41.フレキシフ゛ル西υ束基オ反 588.超球フィルム 6− 金凰違イ本パター゛/ 7−.4イ本“フ し ド 88.2ト・、ブコー トオオ 9、−1十田1 第2図 4、−フレヘシブルai1.縁基脹 5、−1紐林フイルム 6 、金属4体ペクーン 7 。、−邊不寸(′)ノ ド 81.ト・・7ブコートノオ 10−開口部 第3図 1・−虻縁基脹 2−捲机主乎 3−撫子 第4図 41.フレ+8ノプル配線基核 511、絶縁フレーム
キシブル配線基板と微細ピッチ抵抗ネットワークの半田
付は接続部の拡大断面図、第2図は本発明の半田付は方
法を適用するフレキシブル配線基板の要部平面図、第3
図は微細ピッチ抵抗ネットワークの平面図、第4図は従
来の半田付は方法による接続部の拡大断面図である。 1・・・絶縁基板、 2・・・抵抗素子、 3・・・端
子、 4・・・フレキシブル配線基板、 5・・絶縁フ
ィルム、 6・・・金属導体パターン、7・・・導体
ランド、 8・・・1−ツブコート材、9・・・半田
層、 10・・・開口部。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第1図 1−2紀様基脹 3、一端子 41.フレキシフ゛ル西υ束基オ反 588.超球フィルム 6− 金凰違イ本パター゛/ 7−.4イ本“フ し ド 88.2ト・、ブコー トオオ 9、−1十田1 第2図 4、−フレヘシブルai1.縁基脹 5、−1紐林フイルム 6 、金属4体ペクーン 7 。、−邊不寸(′)ノ ド 81.ト・・7ブコートノオ 10−開口部 第3図 1・−虻縁基脹 2−捲机主乎 3−撫子 第4図 41.フレ+8ノプル配線基核 511、絶縁フレーム
Claims (2)
- (1)絶縁フィルムに設けた1箇所又は複数箇所の開口
部に形成した、金属導体パターンの導体ランドを有する
フレキシブル配線基板の上記導体ランドに、微細ピッチ
抵抗ネットワークの端子を半田により接続する微細ピッ
チ抵抗ネットワークの半田付け方法。 - (2)微細ピッチ抵抗ネットワークの端子上にクリーム
半田を塗布又は半田バンプを形成した後、フレキシブル
配線基板の導体ランドと上記端子との位置を合わせ、導
体ランド側から加熱して半田を溶融して導体ランドと端
子の間に半田層を形成して電気的に接続する特許請求の
範囲第(1)項記載の微細ピッチ抵抗ネットワークの半
田付け方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61248346A JPH0719683B2 (ja) | 1986-10-21 | 1986-10-21 | 電子部品の半田付け方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61248346A JPH0719683B2 (ja) | 1986-10-21 | 1986-10-21 | 電子部品の半田付け方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63104306A true JPS63104306A (ja) | 1988-05-09 |
JPH0719683B2 JPH0719683B2 (ja) | 1995-03-06 |
Family
ID=17176723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61248346A Expired - Fee Related JPH0719683B2 (ja) | 1986-10-21 | 1986-10-21 | 電子部品の半田付け方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0719683B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008085228A (ja) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Fujitsu Ltd | プリント配線板、プリント配線板を有する電子装置、およびプリント配線板の製造方法 |
JP2013165248A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Nippon Avionics Co Ltd | 太陽電池モジュール製造方法および製造装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS59218796A (ja) * | 1984-05-09 | 1984-12-10 | 松下電器産業株式会社 | フレキシブルプリント基板への電子部品の取付装置 |
JPS60100495A (ja) * | 1983-11-07 | 1985-06-04 | キヤノン株式会社 | 電子部品の実装方法 |
-
1986
- 1986-10-21 JP JP61248346A patent/JPH0719683B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60100495A (ja) * | 1983-11-07 | 1985-06-04 | キヤノン株式会社 | 電子部品の実装方法 |
JPS59218796A (ja) * | 1984-05-09 | 1984-12-10 | 松下電器産業株式会社 | フレキシブルプリント基板への電子部品の取付装置 |
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JP2008085228A (ja) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Fujitsu Ltd | プリント配線板、プリント配線板を有する電子装置、およびプリント配線板の製造方法 |
JP2013165248A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Nippon Avionics Co Ltd | 太陽電池モジュール製造方法および製造装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0719683B2 (ja) | 1995-03-06 |
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