JPS63100640A - 光磁気再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ａ気再生装置に係り、特に光磁気記録媒体
に複屈折が生じた場合にもこれを禰正し、良好な信号が
得られるようにした光磁気再生装置に関するものである
。

〔従来の技術〕

従来の光磁気再生装置は、第４６回応用物理学会学術講
演会、講演予稿果２Ｐ−ＺＦ−３（昭６０−１０）に記
載のように、光磁気記録媒体からの反射レーザ光中の、
ビームスプリッタと検光子のあいだに、位相制御手段が
設けられていた。この位相制御手段によって、ビームス
プリッタおよび光磁気記録媒体等の位相差を補正し、検
光子へ直線偏光のレーザ光を入射させること忙より、Ｑ
１比の向上をはかるものであった。

また、光学ヘッドに位相板を設げたものの例として、他
に特開昭５９−１２９９５０号があるが、これには位相
板として１／４波長板が用いられ、レーザ光の往復によ
って、偏光方向’ｋ　９０’回転させるために用いてい
る。さらに同発明では、この位相板を光軸に対して一定
角度傾けて配置することにより、位相板端面の反射光が
、光源（レーザ）へ戻るのを防止する構成をとっている
。

さらにこの１／４波長板に関しては、特公昭５２−４９
４８号にて、波長板の構成と位相差の関係が述べられて
いる。同発明には、１７４波長板の厚み、光学軸の頑き
等を変えた場合の位相変化について記載されているが、
この波長板の具体的な応用については触れていない。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記した従来技術のうち、第４６回応用物理学会学術講
演会、講演予稿集２Ｐ−ＺＰ−５（昭６Ｏ−１０）では
、位相制御手段が光磁気記録媒体の反射光路の中和のみ
設けられているため、該記録媒体（レーザ光が入射する
際に生ずる位相差については配慮がされておらず、さら
に該記録媒体で位相差を生じ、楕円偏光となったレーザ
光が、ビームスプリッタへ入射することにより生ずる、
ビームスプリッタの偏光特性の変化についても配慮され
ていなかった。

また、上記従来技術の他の２件においては、光磁気記録
媒体の位相差を補正するような配慮はなされておらず、
また光学ヘッドに位相板を用いたものでも、その目的と
する用途は、本発明とは異なるものでありた。

本発明の目的は、光ａ気記録媒体にレーザ光が入射およ
び反射する際に生じる位相差等の複屈折を、光学ヘッド
に複屈折補正機能をもたせることによって補正し、再生
信号部幅が最大に得られるようにして、Ｃ／Ｎ比を向上
させることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

この目的を達成するために、本発明では、波長板、また
はパビネ補正器およびツレイエ補正器等を用いた複屈折
補正手段を、レーザ光が光磁気記録媒体に入射および反
射する平行光路中に設け、また、この光磁気記録媒体を
反射または透過したレーザ光の少なくとも一部ｔ！−２
分割し、それぞれを電気信号に変換する差動形の光電変
換系を設け、この差動出力により上記補正手段を制御す
る。

〔作用〕

本発明では、レーザ光中の複屈折を補正して、再生信号
部幅を最大に得るため、差動配置した光電変換系の差動
出力から、バンドパスフィルタを通してＤＣＣ光量成分
検出し、これを制御信号として、このＤＣ光量成分の絶
対値が最小となるよう忙、複屈折補正手段を動作させる
ことにより、複屈折補正を行なう。

ここで、複屈折による位相差を補正するには、補正手段
が波長板の場合には、光軸に対する波長板の結晶軸の角
度を変えたり、あるいは補正手段がパビネ補正器または
ツレイエ補正器のときは、複屈折結晶の光軸上の厚みを
変えることによって、光磁気記録媒体の複屈折を補正す
る。

これにより、光磁気記録媒体にレーザ光が入射する際、
複屈折としてレーザ光へ加わるＰ偏光と８偏光の位相差
がδ。であったとき、補正手段によって、ＪＤという位
相差を与えることによって、総合的忙位相差を１８０°
の整数倍として補正する。

すなわち先出気記録媒体の記録膜へ入射するレーザ光中
の位相差δＩＮを、 δＩＮ−δｐ　十ａ　ｎ■ｎ＠１　ｓｏ　　（ｎ””Ｑ
　＊１　±２．　・・−）＋１＞とする。また反射光で
は、入射と同じく記録媒体からレーザ光へは、同符号の
ＪＤの位相差が加わるため、再び補正手段により、δ凰
の位相差を与えることによって、検出系へ入射するレー
ザ光中の位相差δ。ｕ’ｒ δＯＵＴ　　””　　ＪＤ十δＢｍｎ＊１８０　　　（
ｎｍＱ、±ｔ±２．・）　　１２１として補正する。

一方、複屈折による方位角、すなわち光ａ気記録媒体の
結晶軸と、レーザ光の偏光光学軸（直線偏光であるレー
ザ光の偏光方向）とのなす角度を補正するには、補正手
段が波長板の場合には、波長板の結晶軸を、レーザ光の
光軸まわりに回転することにより旋光な発生させる。こ
れによりレーザ光の偏光光学軸を旋光させ、方位角を零
に補正する。

これらの位相差または方位角による複屈折補正の結果、
光磁気記録媒体および検出系へは、常に直線偏光が入射
し、再生信号振幅を最大に得ることができ、Ｃ／Ｎ比を
向上することができる。

〔実施例〕

以下、図面を参照して本発明の実施例につき説明する。

第１図は、本発明の第１の実施例である光磁気再生装置
を示したものである。本実施例は、検出した再生信号振
幅が最大になるように補正手段を制御し、複屈折（ここ
では位相差を例にとる）を補正するものである。この図
において、１は光反射性の磁気記録膜２、およびカバー
ガラス３を有する光磁気ディスクであり、モータ４によ
って回転する。記録信号の再生は、直線偏光光源である
半導体レーザ５から出るレーザ光が、コリメートレンズ
６により平行光とされ、ビーム整形プリズム７でほぼ円
形の光強反分布に整形されたのち、ビームスプリッタで
ある第１の偏光子８で、一部を反射し、残りを透過する
。このうちの透過レーザ光は、さらに補正手段９（ここ
では位相板）およびミラー１０を介して、対物レンズ１
１により集光され、カバーガラス５を透過して記録膜２
上に照射される。このとき、記録膜２に照射されたレー
ザ光は、カー効果によつ【、記ｆ［２の記録部および未
記録部の磁気モーメントの配向状態により偏光面が変化
する。（すなわちカー回転を生じる。）また、この第１
図において、位相板９かも光磁気ディスク１側（紙面の
左側）の部分は、レーザ光の光軸まわりに９０°回転し
た状態を示している。

さらにこの記録膜２からの反射光は、再たびカバーガラ
ス３を透過したのち、対物レンズ１１で平行光に戻り、
ミラー１０および位相板９を介して、第１の偏光子８で
、カー効果による信号成分を含む偏光方向のレーザ光（
本実施例では８偏光）がほぼ全て反射され、これと９０
°の位相差のある偏光成分（本実施例ではＰ偏光）は、
一部反射し残り乞透過される。このＳ偏光およびＰ偏光
の反射レーザ光は、さらにビームスプリッタである第２
の偏光子１２により、偏光子８と同様にＳ偏光はほぼ全
てを反射、Ｐ偏光は一部を反射、残りを透過する。ここ
で透過したレーザ光は、凸レンズ１３で集光され、円柱
レンズ１４を介してサーボ用光検出器１５に入射する。

このサーボ用光検出器１５は、その検出方法に応じて覆
数に分割されており、それらの出力信号を処理して、フ
ォーカス誤差信号およびトラック誤差信号（検出法は省
略）を得て、ディスクＬ上にレーザ光が正確に位置決め
されるように、対物レンズを制御する。

一方、第２の偏光子１２で反射したカー効果による信号
成分を含むレーザ光は、凸レンズ１６で集光され、偏光
ビームスプリンタ１７に入射して二分岐される。二分岐
されたレーザ光のうち、一方は、第１の光検出器１８ａ
に入射し、また他方は、第２の光検出器１８ｂＫ入射し
、それぞれ電気信号へ変換される。本実施例では、この
レーザ光を二分岐する手段として偏光ビームスプリッタ
を用いたので、これらの二分岐されたレーザ光のそれぞ
れが、検光子を通過したことくなる。したがって、検光
子１７と第１の光検出器１８ａは、第１の光電変換系１
９を構成し、また検光子１７と第２の光検出器１８ｂは
、第２の光電変換系２０を構成することになる。

さらにこれらの光検出器１８ａ、１８ｂで検出された信
号は、プリアンプ２１および２２で増幅され、差動回路
２３に入力される。差動回路２３では、プリアンプ２１
または２２により入力された各信号の同位相の成分が差
し引かれ、同時に逆位相の成分が加算されることから、
再生信号のＳ福は２倍となって出力２４される。

次に、この光磁気ディスク１の記録膜２上と第１および
第２の光１変換系１９．２０にて倹カされる１ｇ号九つ
いて、第２図および第５図を用いて説明する。

第２図は、光伍気ディスク１の記録膜２、および検光子
１７に入射するレーザ光が直線偏光である、すなわち複
屈折が零である場合の再生信号を示−したものである。

この図において、１０１および１０２は、レーザ光のＰ
偏光およびＳ偏光方向、１０３および１０４は、第１図
の検光子１７＆Ｃおける透過軸を示している。図に示す
よ５に、レーザ光が記録膜２に照射されると、その反射
レーザ光は、記録部と未配置部にて、角度θにおよび−
θ工の偏光面の回転を生ずる。この現象がカー効果であ
り、この回転角θにはカー回転角と呼ばれる。さらに本
実施例では、第１図に示すように差動検出の構成をとっ
ているため、同一振幅の再生信号が得られるように、検
光子１７の透過軸１０３および１０４は、レーザ光の偏
光方向１０１および１０２に対して、約４５゜に傾けで
ある。この第２図においては、入射レーザ光がＰ偏光の
直線偏光であり、これにカー回転が生じ、ｒ！！Ｌｍ偏
光１０５および１０６となることから。

再生信号は振幅ｄ、およびｄ、に【検出される。

これらの信号振幅ｄ、およびｄ、は、第１図における光
検出器１８ａおよび１８ｂに入射するＡＣ光量成分であ
り、ＧＮＤレベルから、ＤＣ光量成分Ｃ３およびＣ３だ
けもち上がったレベルで検出される。一方このＤＣ光量
成分は、ディスクとの表面雑音等に起因するノイズ成分
と、レーザ５の発生するノイズなどを含んでいる。しか
し、第２図のように、レーザ光中の複屈折が零の場合に
は、ＤＣ光量成分Ｃ１およびＣ！は互いに同じレベルで
あり、且つ同相成分である。よって差動をとることによ
りこれらは差し引かれて相殺されるため、差動出力中に
はこのＤＣ光量成分は含まれず、ノイズレベルも低（お
さえることができる。

次に第５図は、光迅気ディスクとの複屈折が零でなく、
記録膜２および検光子１７に入射するレーザ光に、この
複屈折が加わって楕円偏光となった場合の再生信号を示
したものである。この図において、第２図と同一番号を
付したものは、同一部分である。図のように、再生信号
が楕円偏光１０７および１０８０Ｊ４合は、レーザ光中
の複屈折が零の場合にはＰ偏の直線偏光であったものが
、位相差により楕円偏光となるために、Ｐ偏光成分が減
り、その分、新た［８偏光成分が生じ、また方位角によ
り、信号１０７および１０８の中心軸１０１°がずれる
。

このため、検出される信号振幅ｄＩおよびｄ；が、第２
図の直線偏光のときに検出されるＡＣ光量成成分、およ
びｄ、に比べて小さくなり、キャリアレベルが低下する
。さらにＤＣ光量成分ＣＢ’ｅ　Ｃ＠″にレベル差が生
じて、差動後もＤＣ光量成分が残り、これに起因するノ
イズレベルが増加し、Ｃ／Ｎ比が劣化する。

ここで第２図、第５図に示した、各党電変換系にて検出
されるＡＣ光量ＰムＣは、次の（５１式に【与えられる
。

ＰＡＣ（θａ）−ムＣ（θａ＋９０°）−ｓ　ｉｎ　２
　＃ｘ　ａ　ｓ　ｉｎ２１９ａ　ｅ　ｎ　＠　＄　ｅｃ
ｏｓＪ＠ｙ＊Ｐ、、　１３１ 但し、 θａ＝　検光子透過軸とレーザ光偏光面との角度（通常
は４５°） ＆、・Ｒｓ、　：偏光子＆１２の８偏光反射率Ｒｐ、・
Ｒｐ、：＃　　　　　　Ｐ＃ δ：カバーガラス５０位相差（ｄｅｇ　）η：駆Ｒを除
く、レーザ５より光検出器１８ａまたは１８ｂまでの光
利用率 Ｐ、：レーザ出力（ｍＷ　） ここで角度は、第２図、第３図において、時計回りを正
とする。

またＤＣ光量Ｐｎｃは、次の１４）、　＋５）式にて与
えられる。

ＰＤＣ（＃ＪＯｗ（（ｃｏｓ１９１ｃ＠ｓｉｎ＃ａ　す
４１７届ｉ１１　ｃ　ｏ　ｓδ）冨十（ｓｉｎ１９ｘ＠
ｃｏｓθａ”　ＪＩＩ＝−一；］１＝、）１十（ｃｏｓ
０ｘ＊５ｔｎａ（ｃｏａθａ＠Ｊルζ丁Ｒｅ、＊５ｉｎ
２ｃｔ−ｓ　ｉｎ＃ａ　、Ｉｒ扇＠　ＣＯ３２（り））
・ダ・Ｐ・　　　　　　　　　　　　　（４）ＰＤＣ（
θａ＋９０°）（（ｃｏｓθに＠５ｉｎｆｌａ４「ｉ−
Ｅ電１ａｃｏｓδ戸＋（ｓｉｎθに＠Ｃｏｇθａ　ＩＩ
ｊＲ＝７７］石ｔ°）”＋（ｃｏｓ＃ｘ＠ｓｉｎδ（−
ｃｏｓａａユ司］；＠　ｓ　ｉｎ２α−５ｉｎθ３＊セ
フ翳＠　ＣＯ３２（り　））・り・Ｐ、　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　＋５）但し、α：方位角（
ｄｅｇ　） これらの各式より、差動後の各光量を求めると、ＡＣＣ
光量Ａｃ（θａ）とＰＡＣ（θａ＋９０°）は逆相であ
るため、差動出力はこれらの和となり（６）式にて与え
られる。

ＰＡＣ（θａ）＋ＰＡｃ（θａ＋９０°）ｍ２＊５ｉｎ
２θＫ　＠　ｓ　ｉ　ｎ　２　＃ａ　＊　ｆ　＊　！　
ａ　ｃ　ｏ　ｓδ”Ｊ７”Ｐ＋５（６）ＤＣ光量ＰＤＣ
（＃１）とＰＤＣ（θ１＋９０°）は同相であるため、
差動出力はこれらの差となり、（７）式にて与えられる
。

ＰＤＣ（θａ）−ＰＤＣ（θａ＋９０°）＆−ｓ　ｉ　
ｎ　２　＃ａ　＠　ＣＯ８＃Ｋ　＊　ｑ、−５Ｕ翫＠　
ｓｉｎδ＊５ｉｎ４Ｃ１・り・Ｐ＊１７） したかつ【ディスク１に複屈折がある場合、当然、 δ≠Ｏ，α≠０ であるから、（６１式よりＡＣ光量が減少し、（７）式
よりＤＣ光量が増加することが証明され、縞３図のよう
な現象を生ずることがわρする。また同時にこれらの式
から、複屈折を補正するには、位相差δまたは方位角α
を、 δｍｎ　ｅ　ｔｏｏ　ｄｅｇ　　（ｎｍｏｅ±ｔ　±Ｚ
　・＞α　■　１　書　１８０ｄｅｇ（＃　　　　　　
　　　　　　）とすればよいことがわかる。これが本発
明の基本概念である。

この複屈折は、光磁気ディスク１０カバーガラス３に、
レーザ光が入射および反射する際に生ずる位相差と方位
角によるものが主であり、カッく−ガラス３の材料とし
て、ポリカーボネート等のプラスチックを用いた場合、
尋に大きな位相差を生じる。

また上記したように、光磁気ディスクＬで複屈折が与え
られたことにより、レーザ光が偏光子８へ入射する際に
、すでに項内偏光１０７および１０Ｂになりており、複
屈折が零の直、縁偏光１０５および１０６＆Ｃ比べて、
Ｐ偏光光量が減少し、Ｓ偏光光量が増加している。した
かつ【、複屈折を零と仮定して、光検出器１５および１
８・、１８ｂで得られるべきＰ偏光およびＳ偏光光量か
ら、偏光子８と１２０Ｐ偏光透過率および反射率、Ｓ偏
光透＠率および反射率を設計すると、結果的に複屈折が
加わった場合には、偏光子８へ入射するレーザ光のＰ、
８偏光光量が変わるため、上記各光検出器では設計値と
は異なる光量の信号が噴出され、見かけ上、偏光子８お
よび１２の偏光特性が変化してしまうごとくなる。

本実施例は、このよう忙光出気再生ｆ装置において多（
の整置をもたらすレーザ光中の位相差を、位相板９によ
り補正することにより、常に第２図に示すような直線偏
光とし、良好な再生信号を得ようとするものである。

そこで、この位相板９につき、より具体的に説明する。

第４図〜第６図は、−例として、結晶軸１０９が光軸４
１と平行な波長板９を、また８ｇ７図〜、Ｊ９図は結晶
軸１１０が光軸４１に斜交する波長板９を、位相板とし
て用いた場合の偏光特性を示したものである。これらの
図において、第１図〜第５図と同一番号を付したものは
、同一部分である。

萬４図に示す波長板９は、光軸４１に垂直、才なわち第
５図におい′ｃｅ　−ｏ’のとき、第６図における位相
差δ−０９であるが、Ｐ偏光方向１０１またはＳ偏光方
向１０２に角度０傾けると、第６図の４２または４３の
ごとく、位相差δが変化する。また第７図に示す波長板
９は、第８図のように、頌きθをθ１〜０．のよ５に変
えることにより、第９図の４２または４３のごとく、位
相差δが変化する。したがって第１図に示すように、こ
れらの位相板９馨、光磁気ディスク１ヘレーザ光が入射
および反射する光路中に設置し、光磁気ディスク上で生
ずるＰ偏光およびＳ偏光の位相差にさらに別の位相差乞
与えることにより、総合的な位相差を１８０°の整数倍
として位相補正がなされ、記録ｌｘ２および倹光子１７
への入射光を直線偏光とし、良好な再生信号が得られる
ものである。

ここで、第４図〜第９図に示した波長板９は、第６図お
よび第９図に示す位相差δの正負の中心値を、１８０°
の整数倍に選ぶことが望ましい。またここでは位相板と
して波長板を例に示したが、これ以外の位相制御手段、
例えばパビネ補正器お上びソレイユ補正器、または単に
光弾性効果等を用いた音響光学素子等の位相板を用いて
も、同様な効果を得ることができる。

さらに、補正後の総合的な位相差が１８００の奇数倍の
ときには、再生信号の１と０との関係を、電気的または
光学的に反転してもよ（、または１と００定義を反転し
てもよい。

次に、位相、ＷＩＪ御方法につき説明する。

第１図において、３２は、位相板９を動作させることに
より位相差を生じせしめるアクチュエータ。

２５はバンドパスフィルタ、２６は位相板駆動回路であ
り、アクチエエータ３−２を駆動すること和より、第４
図〜第９図に示したように、位相板９を傾けて位相補正
を行なう。

これらの動作につき、さらに図面を用いて説明する。第
１０図の１１３は、光電変換系１９．２０の各出力信号
１１１°、１１２°を表わしたもので、それぞれのＡＣ
光量成成分、Ｉとｄ、°、およびＤＣ光量成成分、　、
　Ｃ，を示している。カバーガラスに複屈折がある場合
は。

第３図および式１４１．１５１．１７りに示したように
、ＤＣ光量成成分、７とＣＩとの間にレベル差を生ずる
。図の（■）はこのときの差動アンプ２３の出力１１３
であり、光電変換系１９と２０のＤＣ光量差の上に、増
幅されたＡＣ光量成分があられれている。（ホ）はさら
にバンドパスフィルタ２５を通したあとの信号１１３°
であり、高周波であるＡＣ光景成分と、フォーカシング
、トラッキング等の低周波成分（１享せず）をカットし
、（７）式に示した複屈折により生ずるＤＣ光量成分の
みが抜きとられている。さらにこのＤＣ光量信号１１３
゛は、カバーガラス３の各部において位相差δ、方位角
αが一様ではないため、ディスク１０回転により、時間
とともに変動する。

そこでこの変動に追従して位相差を補正するに４次のよ
うにし【行なわれる。

第１１図は、位相差δを変動させたときの、（７）式よ
り求まるＤＣ光量成分Ｃ°の差動出力信号１１３°を示
したものである。図のように、ＤＣ光量の差動出力信号
１１３゛は、レーザ光中の位相差δ−０で差動出力Ｏを
よぎり、且つ位相差が正または負の場合には極性が異な
り、位相差量に応じて出力が増加することから、この信
号１１３°を用いて位相補正を行なうことができる。す
なわち、この位相制御信号である差動出力中のＤＣ光量
成分１１３°が、０になるように位相板駆動回路２６に
よりアクチュエータリを制御すれば、レーザ光中の位相
差δを１８０°の！Ｉａ倍に補正することができる。

このように本発明によれば、光磁気ディスク１の記録膜
２、および検光子１７へ入射するレーザ光を直線偏光に
補正するため、再生信号部幅ｄを最大に得ることができ
、Ｃ／Ｎ比を向上することができる。さらに偏光子８に
もほぼ直線偏光に補正したレーザ光が入射するため、偏
光子８および１２において、所定の偏光特性を得ること
ができる。

また、補正する複屈折の変動周波数が低い場合には、バ
ンドパスフィルタ２５を０１−　ハスフィルタとすれば
よい。

次に、位相板９を駆動させるアクチエエータ３２につい
て説明する。

第１２図は、このアクチュエータ５−２の一具体例を示
したものであり、また第１５図は、編１２図のＡＡ断面
である。各図くおいて同一番号を付したものは同一部分
であり、５１はプラスチック等の非磁性材料からできて
いるアクチエエータ３２全ジング、５２および５３は、
共に鉄等の磁性材料からできている鉄心であり、５２が
内部に永久ａ石５７を含む固定鉄心、５３は支持部材５
５により、矢印１１６方向へ回転する可動鉄心である。

また５４は、可動鉄心５３の周囲に巻かれたコイル、５
６は、位相板９を可動鉄心５３へ固定するための部材で
ある。

このように構成．したことから、固定鉄心５２および可
動鉄心５３には、図中の破線矢印１１７に示すような磁
界が発生しており、さらにコイル５４には、加部−路２
６および位相板駆動回路２９より、谷制御信号に応じた
電流が流されるため、可動鉄心５５は矢印１１６方向へ
回転する。したがって位相板９は、その信号電流によつ
【０方向に傾斜制御され、その結果、位相板９を透過す
るレーザ光に位相差を与えてこれを補正することができ
る。

また、これまでに述べた位相差は、光磁気ディスク１以
外の光学素子、例えば対物レンズ１１、ミジ−１０，偏
光子＆１２などにおいても発生する。そこでこの場合も
上述したのと同じ方法で、光磁気ディスク１およびその
他の光学素子の位相差を合わせて、位相板９で位相補正
を行なえば、レーザ光を直−偏光とすることができ、Ｃ
／Ｎ比を一層向上することができる。

また上記した谷実施例中の補正手段９は、第４図〜第９
図にて説明した波長板であるが、これを荷に８ｇ７図〜
４９図に示したような結晶軸１１０が光軸４１に斜交す
る１／２波長板、または光軸４１＆Ｃ直交する１／２彼
長板とし、光軸４１に垂直な平面内において、且つ光軸
４１まわりに角度φだけ回転して上述した制御を行えば
、ディスク１等の位相差だけでな（、方位角の変動も合
わせて補正することができ、総合的な複屈折補正が可能
となる。この場合、方位角αは（７）式から、 α讃−＠１ａｏ　　（ｄｅｇ）　　（ｎ＝Ｑ　　出先　
±２．　・＞とすれば、制御信号、　Ｉ制御方法とも、
上記した位相補正と同様にして、複屈折の補正を行なう
ことができる。

さらに本発明の複屈折補正方法では、（７）式に示すよ
うにθＫＭＯでもよく、したがってレーザ光が記録部以
外の部分（ヘッダ信号、ギャップ、ミラ一部など）を照
射しているときに行なえ、また記録時および消去時にも
、必要に応じて行なうことができる。

なお、本発明は再生信号の改善に関するものであること
から、サーボ検出系は本実施例に限らず、他の方式を用
いてもよい。

〔発明の効果〕

以上、詳細に説明したように、本発明によれば光ａ気記
録媒体にレーザ光が入射および反射する際に生ずる、Ｐ
偏光と８偏光との複屈折を補正することにより、光磁気
記録媒体および検光子に入射するレーザ光をほぼ直線偏
光とし、再生信号振幅が最大忙得られるため、Ｃ／Ｎ比
を向上することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例としての光磁気再生装置を示
すブロック図、第２図はレーザ光中の複屈折が零で円偏
光をなす場合の再生信号を示した説明図、第３図はレー
ザ光に複屈折が加わって楕円偏光をなす場合の再生信号
を示した説明図、第４図は結晶軸が光軸と平行な波長板
を示す説明図、第５図は第４図の波長板の傾き状況を示
す説明図。 第６図は第４図の波長板の偏光特性を示した特性図、第
７図は結晶軸が光軸に斜交する波長板を示す説明図、第
８図はｗＸｚ図の波長板の傾き状況を示す説明図、第９
図は第７図の波長板の偏光特性を示した特性図、第１０
図は第１図における光電変換系の出力信号の波形説明図
、第１１図は位相差δに対するＤＣ光量成分の差動出力
を示した特性図、第１２図はアクチ為二一タの具体例を
示した正面図、第１５図は第１２図におけるＡ−Ａ断面
図、である。 符号の説明 １・・・光磁気ディスク、２・・・記録膜、３・−カバ
ーガラス、５・・・半導体レーザ、９・・・複屈折補正
手段、２３・・・差動アンプ、２５・・・バンドパスフ
ィルタ、２６・・・ｍｆ＆［１ｊＤｏ“・　　　、１ヤ
ヤよ７１１１１ゎヵ第　ｌ　図 躬　２　図 第５図 第４図　　祐５図 ａ 躬　９（２１ 第　ｔｏ　　ｍ 第　１２　　図 第ｎ図 １／ＥＪ！３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光源からの光を或る光路を介して光磁気記録媒体に
   投射し、その同じ光路を介して該媒体から反射してくる
   反射光を検光することにより、その中の雑音成分は同相
   に、信号成分は互いに逆相になるように、二つの光に分
   け、その二つの光をそれぞれ電気信号に変換した後、差
   動増幅器に入力し、その出力として、雑音は互いに打ち
   消し合つて減衰し、信号は和となつて増大した出力を得
   るようにした光磁気再生装置において、 前記光路に配置された複屈折補正手段と、前記差動増幅
   器の出力から雑音を検出する手段と、前記複屈折補正手
   段を駆動、制御し、検出された該雑音出力の値を小さく
   する制御手段と、を具備して成ることを特徴とする光磁
   気再生装置。 ２、特許請求の範囲第１項記載の光磁気再生装置におい
   て、前記差動増幅器の出力から雑音を検出する手段が、
   バンドパスフィルタ又はローパスフィルタから成り、雑
   音出力として差動ＤＣ出力を取り出すようにしたことを
   特徴とする光磁気再生装置。 ３、特許請求の範囲第１項又は第２項記載の光磁気再生
   装置において、前記複屈折補正手段は、前記媒体におい
   て発生する複屈折を補正するだけでなく、前記光路を構
   成する諸光学素子において発生する複屈折をも補正する
   ようにしたことを特徴とする光磁気再生装置。