JPS6276223A - 真空バルブ用接点材料 - Google Patents

真空バルブ用接点材料

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JPS6276223A
JPS6276223A JP21685285A JP21685285A JPS6276223A JP S6276223 A JPS6276223 A JP S6276223A JP 21685285 A JP21685285 A JP 21685285A JP 21685285 A JP21685285 A JP 21685285A JP S6276223 A JPS6276223 A JP S6276223A
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JP
Japan
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melting point
contact material
vacuum
vacuum valve
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Application number
JP21685285A
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Inventor
一秀 松本
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、真空バルブの接点材料に関し、より詳細には
低酸断性を有づる真空バルブ用接点材料に関する。
〔発明の技術的青用とその問題点〕
真空バルブ用接点材料として要求される性能は1) 耐
溶着性に優れること 2) 耐電圧特性が大きいこと 3) 遮断性能が人さいこと 4) 餞19i iii流が小さいこと5) ガス含有
量が小さいこと などがあげられる。
従来の接点材料の主成分は、高導電性のCUが用いられ
る。これに上記性能を満足するように種々の添加元素を
加えた銅合金が用いられる。
接点材料として、第一に満足づべさ性能として耐溶着性
があげられる。
これを満足するには、例えば特公昭41−12131に
知られているように、Cuマトリックスに固溶しない低
融点元素[3i、pbなどを微−6添1j0シた合金が
ある。
一方、13i、Pbの添加は甲に耐溶着性のみでイτく
、緘ffl1市流を小さくJる効果もある。これに【1
↓、例えば特公昭53−22263に知られているよう
に、多量のBi、Pbを含有させることが必廿である。
一般に接点材料は、遮断時、電流の自然零点を)す1え
る前に突如として電流が零になる電流威断現象があり、
武断電流が高いとD向側に責常雷L[をを発生し、機器
の絶縁を破壊する。
この異常電圧はり−ジインピーダンスに比例した値とな
るので、武断電流は小さい程好ましい。
この電流截断現象は、遮断時に発生ザるアークの安定性
に関係し、接点間に介在する金属原子の吊が少ないとア
ークが不安定となり、突如として電流が零になる。した
がって、武断電流を小にするためには、接点間に容易に
蒸発する元素、例えばB i 、Pb、Te、Seなど
を添加すればよい。
しかしBi、Pb等の添加量は、接点間に金属原子を熟
光さけるに光分41吊でないと効果はなく、一般に多品
を必要とづる。
13 i −P b間を添加物とした技術も知られてい
るが、添加されたB1−Pb合金は構成元素の融点より
低い融点を有している。これら低融点元素また1、L合
金を多量に含ませる結果、接点と′市極軸のロウイ・」
、さらに脱ガス処理といった真空バルブ製造工程のざい
、3i、pbあるいはB1−Pb合金等の添加がしみ出
し、あるいは蒸発する現象がある。
そのためロウ付不良や、蒸発金属が真空バルブの壁に付
着し耐圧劣化を生じる等の問題があった。
また、初期の耐電圧特性は良好であるが、電流′a断を
くり返すと、遮断回数の増加にともなって耐電圧特性が
劣化するという問題があった。
これは母材のCりが柔らかいため、電流を遮断するたび
に表面荒れが茗しくなり、局部的な電界集中をおこし真
空絶縁破壊を発生させるからである。
(発明の目的) 本発明の目的は、低融点元素の多機添加によるしみ出し
や蒸発を31止し、さらに耐電圧特性の良!11N≧真
空バルブ用接点材料を提供するにある。
〔発明の概要〕
従来知られているCu−3i、Cu−pb、CIJ−B
i −p t)接点材料に低賎断特性をもたせるには、
低融点の元素である[3 i 、 P b等を多1nに
添加している。
F3 i −P b合金を添加物とした場合も、B1あ
るいはpb元素の融点より低い融点をもつB1−1) 
b合金を多量に添加している。
真空バルブのロウ付温度は一般に約800℃、脱ガス温
度は400℃以上であり、Biの融点271℃、pbの
融点327℃、Bi−pbの共晶点温度125℃に比べ
ると相当高い温度である。
真空バルブの脱ガスは、真空機密封着前に行う工PI’
であり、真空雰囲気中で長時間加熱する。
13 iヤ)Pb等の添加元糸は金属71−リックス中
には固溶ぜず、結晶粒界や粒内に中独に存在しているの
で、脱ガスの温度まで加熱り−ると液体状態となる。
液体状(ぎとなった添加元素は、添加元素の融点と加熱
温度との差が大きいほど粘性が低下し、凝集しやすい。
したがって、金属マトリックス中の低融点元素は、結晶
の粒界や結晶の欠陥部を通って表面にしみ出してくる。
表面にしみ出したきた低融点元素は、真空雰囲気で長時
間加熱されるため蒸発し、真空バルブ内部に付着して耐
電圧特性の劣化や、真空不良低下の原因となる。
本発明者は、B1のような高蒸気圧元素を構成要素とし
ながらも、その存在形態を金属間化合物とすれば、添加
物を高融点化し、添加元素のしみ出し・蒸発を阻1トツ
ることを見出した。
木発明者は更にFe、Ni、Or、Co、Mo、W、−
[iの1種または2種以上を主成分とすることにより、
高温での硬さを高くすることかできることを見出し、こ
の発明を完成するに到った。
すなわち、この発明の真空バルブ用接点月利は、Fe、
N i 、 Cr、Co、Mo、WおよびT1からなる
群より選ばれ7j少なくとも1種の金属を主成分として
含有し、B i、Se、Te、MnおよびMgからなる
群より選ばれた少なくとも2種の添加金属を金属間化合
物として含むことを特徴とするものである。
この発明の好ましい態様として金属間化合物の含有量を
50重徂%以下とすることができる。
この発明の接点材料において用いられる添加金属は金属
間化合物として接点材料中に含められ、3 i、3e、
Te、MnおよびMgからなる群より選ばれた少なくと
も2種の金属である。金属間化合物は、通常、その構成
元素の少なくとも1種の金属の融点より高い融点を有し
ている。例えばB12503の融点は約700℃、Bi
2Te3の融点は約580℃、MnB iの融点は約1
050℃、Mg3Bi2の融点は約800℃であるよう
に、高融点化された金属間化合物を添加物として用いる
金属間化合物の含有量は、例えば60重量%以下、好ま
しくは50ffiffi%以下である。これは、上限含
有量を超えると遮断性能などが劣化するがらである。真
空バルブの脱ガス温麿は一般に1100°Cから600
℃の範囲である。したがって[3i  3e   13
i  7e   MnB1.2  3゛2  3・ Mg313 i 2等の金属間化合物は、脱ガス工程中
に溶融することかないので、しみ出しがなく、また窯元
づることもない。
この発明の接点材料に43いて、主成分の金属は。
Fe、N i 、Cr、Co、Mo、WおよびT1から
なる群より選ばれた少なくとも1種の金属であり、好ま
しくはマトリックスとして含まれる。
主成分がCuである従来の低rJj、l!Ii接点H料
は、電流遮断をくり返すと、遮断回数の増加にともなっ
て耐電圧特性が劣化するという問題がある。これは電流
遮断時に接点表面が高温になり、その結果、材料が溶融
あるいは軟化することにより表面荒れが著しくなり、局
部的な電界集中をおこして真空絶縁破壊を発生させるか
らである。
しかしながら、本発明において主成分金属としてOr、
Co等の金属を用いるので高温硬さを改善し、電流遮断
後の表面荒れを少なくすることができる。
上述のように本発明において、高蒸気圧元素を用いなが
らも、その存在形態を金属間化合物として高融点化し、
さらに金属マトリックスに高温硬さの優れた元素を用い
るので、高耐圧でしがも脱ガス工程やロウ付工程時にお
ける添加元素のしみ上り、蒸発を抑止することができる
。さらに、B i 、 PbマタハB i −Pb合金
にみられるような異常消耗現粂を防ぐこともできる。
〔発明の実施例〕
この発明を実施例によって具体的に説明する。
Bi2Se3を形成するに必要な重ffi″C−B i
およびSeを秤りし、カーボ、ンルッポに入れて、1気
圧のAr雰囲気中で溶解加熱し金属間化合物B i 2
 S e 3 ヲ調!!l Ttル。
この金属間化合物を細かく粉砕して粉末を得る。
Bi2503粉末とCr粉末を所定重量に秤量して混合
し、8ton / ciの圧力で成型した後、真空中に
おいて約1000℃で焼結して円板状のインゴットを作
製する。
この焼結合金は、Cr粉末を仮焼結して1rIられたス
プル1−ンに、312 Se 3を溶浸することによっ
てら得られる。このインゴットから直径30順、厚さ5
JIIll+の接点を加工し、電極とのロウ付を共晶銀
ロウで800℃、10分間の水素中ロウ付を行なう。そ
の結果、接点表面へのB i 2 S e 3のしみ出
しは認め得なかった。
次に真空バルブに上記電極を組込み、400’Cl2O
時間の脱ガス処理を行なった結果、真空バルブ内壁への
Bi2Se3蒸着および接点表面へのしみ出しも認め得
なかった。こうして製作した真空バルブは、AC20O
Aの電流開閉前に、1×/10μSeCのインパルス電
圧を3回印加し、5にステップで背圧したとぎ、3回と
も絶縁破壊したときを耐電圧の限界値として、耐圧特性
の測定を行なった。この耐圧限界値は、比較例のCLJ
−15%Biのそれを100%としたときの比較値で示
す。
上記の結果を下記第1表に示す。
同様に、本発明による接点材料を作製し、試験した。そ
の結末を下記第1表に示づ。
この表において、脱ガス処理後の添加元素の蒸発につい
ては、接点表面のB1ff1をX線で分析した結果を示
ず。
この表から明らかなように、比較例で示したCu−15
%Bi、CU−20%B1Pbの耐電圧特性は、AC2
0OAを1000回開閉した後は10%ら低下している
。また、しみ出し、蒸発もみられる。
しかしながら、本実施例に示す接点材料は、耐電圧特性
の劣化がほとんど認められず、安定した性能を示してい
る。また、しみ出し、蒸発もみられない。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の接点材料はBiのような
高蒸気圧元素を添加物の構成要素としながらも、その存
在形態を金属間化合物とすることにより添加物を高融点
化し、さらにマトリックス高温硬度の高い金属を用いた
ものである。
その結果、次のような効果をもたらせることができた。
(1) 多数回の電流遮断後においても、耐電圧特性は
変化けず、安定した特性を示す。
(2) 真空バルブのロウ(=I工程および脱ガス工程
における添加元素のしみ出し、蒸発をなくすことができ
、真空バルブの初期の耐電圧特性向上、真空不良の発生
を防止することができる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、Fe、Ni、Cr、Co、Mo、WおよびTiから
    なる群より選ばれた少なくとも1種の金属を主成分とし
    て含有し、Bi、Se、Te、MnおよびMgからなる
    群より選ばれた少なくとも2種の添加金属を金属間化合
    物として含むことを特徴とする真空バルブ用接点材料。 2、金属間化合物の含有量が50重量%以下である、特
    許請求の範囲第1項記載の真空バルブ用接点材料。 3、主成分金属をマトリックスとして含有する、特許請
    求の範囲第1項または第2項記載の真空バルブ用接点材
    料。
JP21685285A 1985-09-30 1985-09-30 真空バルブ用接点材料 Pending JPS6276223A (ja)

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