JPS6275308A - 変位変換器 - Google Patents

変位変換器

Info

Publication number
JPS6275308A
JPS6275308A JP21725885A JP21725885A JPS6275308A JP S6275308 A JPS6275308 A JP S6275308A JP 21725885 A JP21725885 A JP 21725885A JP 21725885 A JP21725885 A JP 21725885A JP S6275308 A JPS6275308 A JP S6275308A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
light
displacement
measured
position sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21725885A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenta Mikuriya
健太 御厨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP21725885A priority Critical patent/JPS6275308A/ja
Publication of JPS6275308A publication Critical patent/JPS6275308A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学式の変位変換器に関するものである。
更に詳しくは、レンズを介して測定対象面に光を照射す
るとともに、測定対象面上に常に焦点が合うようにレン
ズの位置を移動させ、この時のレンズの移動量から前記
測定対象面の変位量を測定するようにした変位変換器に
関するものである。
〔従来の技術〕
従来、光学式の変位変換器の一例としては、第7図に示
す如き装置が実用化されている。図に示す変位変換器は
、光源1から出射された平行光線を、レンズ2を介して
測定対象面3に照射するとともに、この光束が測定対象
面3上に常に焦・Jiを結ぶようにレンズ2の位置を動
かし、この時のレンズ2の移動量から測定対象面3の変
位量を測定するようにしたものである。ここで、測定対
象面3上に焦点が合っているか否かの検出には、シリン
ドリカルレンズ4および4分割センサ5が使用され、測
定対象面3からの反射光をレンズ2の後方に配置したハ
ーフミラ−6によりシリンドリカルレンズ4に導くとと
もに、シリンドリカルレンズ4により得られる光スポッ
トの形状変化を4分割センサ5によって検出している。
すなわち、4分割センサ5上に投影される光スポットの
形状は第8図に示すようなもので、測定対象面3上に焦
点が合っている時〔以下、これを合j、+3状態という
〕には、シリンドリカルレンズ4に入射する光束は平行
光線となっているので、4分割センサ5上の光スポット
の形状は、図中に実線aで示す如く、円形となっている
。また、焦点が合っていない時には、シリンドリカルレ
ンズ4に入射する光束が平行光二車ではなくなるので、
光スポットは破線すおよびCで示す如く、焦点のずれに
応じて傾きの方向が異なる楕円形となる。したがって、
4分割センサ5における出力51〜S4を、例えば、(
s1+s3) −(S2+S4)の如く演算処理するこ
とにより、光スポットの形状を検出して、焦点の位置を
知ることができる。なお、この4分割センサ5の出力は
、レンズ2を移動させて、常に測定対象面3上に焦点を
合わせる自動焦点機構の帰1信号として利用されている
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記のようなシリンドリカルレンズ4お
よび4分割センサ5を使用した変位変換器においては、
測定対象面3に傾きがあると、第9図に示す如く、4分
割センサ5上に投影される光スポットの位置が中心から
ずれたものとなるので、合焦状態においても、4分割セ
ンサ5の出力S1〜S4がバランスせず、正確な自動焦
点動作を行なうことができなくなってしまう。このため
、測定対象面3の傾きは±1°以内に抑えなければなら
ない。
本発明は、上記のような従来装五の欠点をなくし、測定
対象面に比較的大きな傾きがあった場合にも、その変位
量を正確に測定することのできる変位変換器を簡単な構
成により実現することを目的としたものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の変位変換器は、レンズを介して測定対象面に光
を照射するとともに、測定対象面上に常に焦点が合うよ
うにレンズの位置を移動させ、この時のレンズの移動量
から前記測定対象面の変位量を測定するようにした変位
変換器において、平行光線をレンズにおける軸以外の位
置に入射させるとともに、レンズを介して戻って来る反
射光の光路中に第2のレンズを配置し、さらに、光の入
射位置を検出することのできるポジションセンサをこの
第2のレンズにおける焦点位置に配置して、このポジシ
ョンセンサの出力をレンズの位置を移動させる自動焦点
機構の帰還信号として利用するようにしたものである。
(作 用〕 このように、反射光の光路中に第2のレンズを配置する
とともに、この第2のレンズにおける焦点位置にポジシ
ョンセンサを配置するようにすると、合焦状態において
は、測定対象面からの反射光がポジションセンサの位置
で実像を結ぶことになり、しかもこの時の反射光におけ
るポジションセンサへの入射位置は常に一定となるので
、ポジションセンサの出力状態から測定対象面上に焦点
が合っているか否かを検出することができ、ポジション
センサの出力を自動焦点機構の帰還信号として利用する
ことにより、測定対象面の変位量を自動的に測定するこ
とができる。また、測定対象面からの反射光が実像を結
ぶ位置は、光束の経路に力)かねらず一定であるので、
測定対象面が傾いていた場合にも、その反射光がレンズ
に入射しさえすれば、変位量の測定を正確に行なうこと
ができる。
〔実施例〕
第1図は本発明の変位変換器の一実施例を示す構成図で
ある。図において、前記第7図と同様のものは同一符号
を付して示す。7はレンズ2の後方に配置されたミラー
、8はレンズ2を介して戻って来る反射光の光路中に配
置された第2のレンズ、9は二の第2のレンズ8におけ
る焦点位置に配置されたポジションセンサである。光1
1から出射された光束は、レンズ2の軸と平行な光軸を
有しており、しかも、レンズ2における軸以外の位置に
入射しており、レンズ2を介して測定対象面3に照射さ
れている。また、測定対象面3により反射された光は、
レンズ2により集光された後、ミラー7および第2のレ
ンズ8を介してポジションセンサ9に入射している。さ
らに、レンズ2は自動焦点機構〔図示せず〕によって移
動させられ、測定対象面3との距離を任意に調節されて
いる。
第2図は第2のレンズ8を介して入射する反射光の入射
位置を検出するポジションセンサ9の一例を示す構成図
である。図に示すように、ポジションセンサ9は高抵抗
シリコン91(i層)の片面あるいは両面に均一なp形
砥抗層92を設けるとともに、表面層に光電効果を持っ
たPN接合を形成し、さらに、層の両端に信号を取り出
すための一対の電極A、Bを設けたものである。このよ
うな構成を有するポジションセンサ9においては、電極
A、B間の距離をL、抵抗をRLとし、電極Aより光の
入射位置までの距離をX、その部分の抵抗をRxとすれ
ば、光の入射位置で発生した光生成電荷は、光の入射エ
ネルギーに比例する光電流Iaとなり、抵抗iRxおよ
び(RL −Rx)に応じて分割されて、電流熱、IB
として両端の電極A、Bから取り出される。したがって
、この電流1八、IBはIA= Io (RL−Rx)
/RL= Io (L −x)/ LIB= IO−R
x/RL= Io −x / Lとなり、各電流IA、
IBの比昆/IBはIA/IB−(L −x) / x となるので、電流■八、IBの佃を求めることにより、
入射エネルギーの大きさとは無関係に、光の入射位置を
知ることができる。
第3図は上記のような動作原理を有するポジションセン
サ9を二次元的に構成したものである。
図に示すように、各電極Ax 、 Ay 、 Bx 、
 Byから取り出される電流の比は、光の入射位置にお
けるX軸方向およびY軸方向の位置情報を含んでおり、
これらを演算処理することにより、二次元的な入射位置
を知ることができる。
さて、第1図に戻って、測定対象面3上に焦点が合って
いる場合〔合焦状態〕には、レンズ2を介して戻って来
る反射光はレンズ2の軸と平行な光軸を有する平行光線
となるので、この反射光は第2のレンズ8を通った後、
その焦点位置で実像を結ぶようになる。この時、第2の
レンズ8における焦点位置にはポジションセンサ9が配
置されているので、反射光はポジションセンサ9上に入
射し、その入射位置がポジションセンサ9によって検出
される。
次に、測定対象面3が図中の3°の位置まで変位したと
すると、測定対象面3が照射される光束の焦点位置から
外れるので、反射光の経路は破線で示す如く移動し、こ
れに伴って、反射光は平行光線ではなくなるので、反射
光におけるポジションセンサ9への入射位置も移動する
ことになる。
また、この時には、反射光の結像位置もポジションセン
サ9上からずれているので、ポジションセンサ9にはあ
る程度広がりを持ったスポットが入射するようになる。
第4図はポジションセンサ9上における反射光の入射位
置とスポットの大きさとの関係を示したものである。図
において、合焦状態における反射光の入射位置をPOと
すれば、この時のスポット径が最も小さく、測定対象面
3が焦点位置からずれるにつれて、入射位置もPI 、
 P2方向あるいはP3゜P4方向へと移動し、スポッ
ト径もしだいに大きくなってゆく。例えば、測定対象面
3が焦点位置より近くなった時に、入射位置がP1方向
へ移動したとすると、測定対象面3が焦点位置より遠く
なった時には、入射位置は逆にP3方向へと移動する。
このように、ポジションセンサ9を第2のレンズ8にお
ける焦点位置に置いておくと、測定対象面3の位置に応
じてポジションセンサ9上の反射光の入射位置が変化す
るので、ポジションセンサ9の出力から合焦状態を知る
ことができ、この出力を帰還信号として自動焦点を型溝
を構成すれば、光源1から出射された光束が常に測定り
を色面3上に焦点を結ぶように、レンズ2を移動させる
ことができ、この時の移動量から測定対象面3の変位量
を自動的に測定することができる。
ここで、測定対象面3に傾きがあった場合を考えてみる
。この場合には、?1111定対象而3から反射される
光の経路が第1図の場合と異なることになるが、レンズ
2および8の性質上、焦点位置が測定対象面3上にあれ
ば、その反射光はレンズ2の軸と平行な光軸を有する平
行光線となり、反射光が第2のレンズ8を介して結像す
る改行は変化しないので、反射光におけるポジションセ
ンサ9上の入射位置も変化せず、上記の場合と同様に、
ポジションセンサ9の出力から合焦状態を正確に検出す
ることができる。なお、測定対象面3が傾いている時に
は、ポジションセンサ9における反射光の入射位置は、
例えば第5図の如く変化し、測定対象面3の変位ととも
に移動する。図から明らかなように、測定対象面3が焦
点改行にある時の入射位置POはIli前記した第4図
の改行と等しいので、この時のポジションセンサ9の出
力も等しい値であり、測定対象面3の傾きの影習を受け
ることなく、変位量の測定を行なうことができる。
第6図は本発明の変位変換器に使用される自動焦点機構
の一例を示す構成図である。図において、9はポジショ
ンセンサであり、前記した如く、反射光の入射位置に応
じた出力信号S(X、Y)を発生する。10はサーボア
ンプで、目標#SETと帰還信号S(X、Y)との差Δ
Sに応じて、前記レンズ2を移動させるための駆動信号
Sdを発生する。11はパワーアンプ、12はレンズ2
を移動させるモータ、13はポジションセンサ9におけ
る感度を測定し、サーボアンプ10におけるサーボゲイ
ンを適当な値に変更するゲイン1iII整回路である。
SWはサーボアンプ10の出力とゲインi整回路13の
出力とを選択的にパワーアンプ11に供給するスイッチ
である。
上記のように構成された自動焦点機構においては、目標
値SETは合焦状態におけるポジションセンサ9の出力
S(X、Y)と等しく設定されており、サーボアンプ1
0は偏差ΔSが零となるようにモータ12を駆動するの
で、レンズ2は照射する光束の焦点が常に測定対象面3
上に来るように移動させられる。したがって、このモー
タ12の駆動量は測定対象面3の変位量に比例したもの
となるので、この駆動量またはレンズ2の移動量を検出
することにより、測定対象面3の変位量を測定すること
ができる。なお、スイッチSWは通常はサーボアンプ1
0側に接続されている。
ここで、前記したように、測定対象面3が傾きを持って
いた場合には、ポジションセンサ9上における反射光の
入射位置が変化し、その変化の割合(ゲイン)も測定対
象面3の傾きに応じて変化する。したがって、上記の自
動焦点機構においては、自動焦点動作とは別に、モータ
12を一定量だけ動かし、この時のポジションセンサ9
における出力変化を検出することにより、測定対象面3
の傾きに応じたポジションセンサ9のゲインを測定し、
予め与えられたデータに従ってサーボアンプ10のサー
ボゲインを変更している。このような調整動作はゲイン
調整四路13によって行なわれるもので、スイッチSW
はこの期間だけゲイン調整回路13側に接続される。
また、上記のようなポジションセンサ9におけるゲイン
変化、すなわち反射光の入射位置変化の性質を利用すれ
ば、ポジションセンサ9のゲイン変化から逆に測定対象
面3の傾きを測定することも可能である。すなわち、合
焦状態からレンズ2を一定量だけ変位させ、この時のポ
ジションセンサ9における出力変化を測定すれば、この
時の反射光の入射位置の変化量および変化する方向は測
定対象面3の傾きに対応しているので、予め測定してお
いたデータと比較することにより、測定対象面3の傾き
を知ることができる。
なお、上記の説明においては、光源1から出射された平
行光線をレンズ2の軸と平行に入射させる場合を例示し
たが、平行光線の光軸は必ずしもレンズ2の軸と平行で
ある必要はない。また、測定対象面3に光を照射すると
ともに、測定対象面3からの反射光をポジションセンサ
9方向に集光するレンズ2は、一枚のレンズに限られる
ものではなく、独立した部分レンズを組み合わせたもの
であってもよい。特に、光源1から出射された光がレン
ズ2に入射する改行は常に変化しないので、その周囲の
レンズ部分は必要とされない場合が多い。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の変位置tAmでは、レン
ズを介して測定対象面に光を照射するとともに、測定対
象面上に常に焦点が合うようにレンズの位置を移動させ
、この時のレンズの移動量から前記測定対象面の変位量
を測定するようにした変位変換器において、平行光線を
レンズにおける軸以外の位置に入射させるとともに、レ
ンズを介して戻って来る反射光の光路中に第2のレンズ
を配置し、さらに、光の入射位置を検出することのでき
るポジションセンサをこの第2のレンズにおける焦点位
置に配置して、このポジションセンサの出力をレンズの
位置を移動させる自動焦点jM横の帰還信号として利用
するにうにしているので、合焦状態においては、測定対
象面からの反射光がポジションセンサの位置で実像を結
ぶことになり、しかもこの時の反射光におけるポジショ
ンセンサへの入射位置は常に一定となるので、ポジショ
ンセンサの出力状態から測定対象面上に焦点が合ってい
るか否かを検出することができ、測定対象面に比較的大
きな傾きがあった場合にも、その変位量を正確に測定す
ることのできる変位変換器を簡単な構成により実現する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の変位変換器の一実施例を示す構成図、
第2図および第3図は本発明の変位変換器に使用される
ポジションセンサの一例を示す構成図、第4図および第
5図はポジションセンサ上における反射光の入射位置お
よびスポットの状態を示す説明図、第6図は本発明の変
位変換器に使用される自動焦点機構の一例を示す構成図
、第7図は従来の変位変換器の一例を示す構成図、第8
図および第9図は第7図に示す変位変換器に使用される
4分割センサにおける入射光のスポット形状を示す説明
図である。 1・・・光源、2・・・レンズ、3・・・測定対象面、
4・・・シリンドリカルレンズ、5・・・4分割センサ
、6・・・ハーフミラ−17・・・ミラー、8・・・第
2のレンズ、9・・・ポジションセンサ、10・・・サ
ーボアンプ、11・・・パワーアンプ、12・・・モー
タ、13・・・ゲイン調整回路、SW・・・スイッチ。 第1図 ! 第2図     第3図 第4図   第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. レンズを介して測定対象面に光を照射するとともにこの
    測定対象面上に常に焦点が合うように前記レンズの位置
    を移動させこの時のレンズの移動量から前記測定対象面
    の変位量を測定するようにした変位変換器において、平
    行光線を前記レンズ上の軸以外の位置に入射させる光源
    と、前記レンズを介して戻つて来る反射光の光路中に配
    置された第2のレンズと、この第2のレンズにおける焦
    点位置に配置されたポジションセンサと、このポジショ
    ンセンサの出力を受けこの出力が一定の値となるように
    前記レンズの位置を移動させる自動焦点機構とを具備し
    てなる変位変換器。
JP21725885A 1985-09-30 1985-09-30 変位変換器 Pending JPS6275308A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21725885A JPS6275308A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 変位変換器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21725885A JPS6275308A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 変位変換器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6275308A true JPS6275308A (ja) 1987-04-07

Family

ID=16701323

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21725885A Pending JPS6275308A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 変位変換器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6275308A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0331713A (ja) * 1989-06-28 1991-02-12 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 位置ずれ検出機構
JPH0331714A (ja) * 1989-06-28 1991-02-12 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 位置検出装置
US5251011A (en) * 1989-06-28 1993-10-05 Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd. Displacement detection system

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0331713A (ja) * 1989-06-28 1991-02-12 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 位置ずれ検出機構
JPH0331714A (ja) * 1989-06-28 1991-02-12 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 位置検出装置
US5251011A (en) * 1989-06-28 1993-10-05 Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd. Displacement detection system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6275308A (ja) 変位変換器
JPS6275309A (ja) 変位変換器
JPS6275303A (ja) 変位変換器
JPS61112905A (ja) 光応用計測装置
JPH0226164B2 (ja)
JPH0528761B2 (ja)
JPS6271810A (ja) 変位変換器
JPS6125011A (ja) 光学式距離測定装置
JPH0697163B2 (ja) 変位変換器
JPH0558483B2 (ja)
JPH0419454Y2 (ja)
JPH056643B2 (ja)
JP2609606B2 (ja) 光ピツクアツプの対物レンズ位置検出装置
JPS61223604A (ja) ギヤツプ測定装置
JPH0511451Y2 (ja)
JPS635208A (ja) 表面形状測定装置
JPS63169509A (ja) 傾き計測装置
JP6482792B2 (ja) 光ピックアップ装置
JPS62218802A (ja) 光学式距離及び傾き計測装置
JP2794855B2 (ja) 位置検出機構
JP2001249010A (ja) 板状のワークの表面形状と板厚の測定方法および測定装置
JPH01147304A (ja) 発光点位置評価装置
JPH0634319A (ja) 光学式変位検出方法及び装置
JPH0315710A (ja) 変位検出装置
JPH07103818A (ja) 方向検出方法及びその検出方法を使用した方向検出装置