JPS6271810A - 変位変換器 - Google Patents
変位変換器Info
- Publication number
- JPS6271810A JPS6271810A JP21333385A JP21333385A JPS6271810A JP S6271810 A JPS6271810 A JP S6271810A JP 21333385 A JP21333385 A JP 21333385A JP 21333385 A JP21333385 A JP 21333385A JP S6271810 A JPS6271810 A JP S6271810A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- measured
- position sensor
- light
- displacement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は、光学式の変位変換器に関するものである。
更に詳しくは、レンズを介して測定対象面に光を照射す
るとともに、測定対象面上に常に焦点が合うようにレン
ズの位置を移動させ、この時のレンズの移動量から前記
測定対象面の変位量を測定するようにした変位変換器に
関するものである。
るとともに、測定対象面上に常に焦点が合うようにレン
ズの位置を移動させ、この時のレンズの移動量から前記
測定対象面の変位量を測定するようにした変位変換器に
関するものである。
従来、光学式の変位変換器の一例としては、第7図に示
す如き装置が実用化されている。図に示す変位変換器は
、光源1から出射された平行光線を、レンズ2を介して
測定対象面3に照射するとともに、この光束が測定対象
面3上に常に焦点を結ぶようにレンズ2の位置を動かし
、この時のレンズ2の移動量から測定対象面3の変位量
を測定するよう°にしたものである。ここで、測定対象
面3上に焦点が合っているか否かの検出には、シリンド
リカルレンズ4および4分割センサ5が使用され、測定
対象面3からの反射光をレンズ2の後方に配置したハー
フミラ−6によりシリンドリカルレンズ4に導くととも
に、シリンドリカルレンズ4により得られる光スポット
の形状変化を4分割センサ5によって検出している。
す如き装置が実用化されている。図に示す変位変換器は
、光源1から出射された平行光線を、レンズ2を介して
測定対象面3に照射するとともに、この光束が測定対象
面3上に常に焦点を結ぶようにレンズ2の位置を動かし
、この時のレンズ2の移動量から測定対象面3の変位量
を測定するよう°にしたものである。ここで、測定対象
面3上に焦点が合っているか否かの検出には、シリンド
リカルレンズ4および4分割センサ5が使用され、測定
対象面3からの反射光をレンズ2の後方に配置したハー
フミラ−6によりシリンドリカルレンズ4に導くととも
に、シリンドリカルレンズ4により得られる光スポット
の形状変化を4分割センサ5によって検出している。
すなわち、4分割センサ5上に投影される光スポットの
形状は第8図に示すようなもので、測定対象面3上に焦
点が合っている時〔以下、これを合焦状態という〕には
、シリンドリカルレンズ4に入射する光束は平行光線と
なっているので、4分割センサ5上の光スポットの形状
は、図中に実線aで示す如く、円形となっている。また
、焦点が合っていない時には、シリンドリカルレンズ4
に入射する光束が平行光線ではなくなるので、光スポッ
トは破線すおよびCで示す如く、焦点のずれに応じて傾
きの方向が異なる楕円形となる。したがって、4分割セ
ンサ5における出力51〜S4を、例えば、(!31+
33) −(j2+94)の如く演算処理することによ
り、光スポットの形状を検出して、焦点の位置を知るこ
とができる。なお、この4分割センサ5の出力は、レン
ズ2を移動させて、常に測定対象面3上に焦点を合わせ
る自動焦点機構の帰還信号として利用されている。
形状は第8図に示すようなもので、測定対象面3上に焦
点が合っている時〔以下、これを合焦状態という〕には
、シリンドリカルレンズ4に入射する光束は平行光線と
なっているので、4分割センサ5上の光スポットの形状
は、図中に実線aで示す如く、円形となっている。また
、焦点が合っていない時には、シリンドリカルレンズ4
に入射する光束が平行光線ではなくなるので、光スポッ
トは破線すおよびCで示す如く、焦点のずれに応じて傾
きの方向が異なる楕円形となる。したがって、4分割セ
ンサ5における出力51〜S4を、例えば、(!31+
33) −(j2+94)の如く演算処理することによ
り、光スポットの形状を検出して、焦点の位置を知るこ
とができる。なお、この4分割センサ5の出力は、レン
ズ2を移動させて、常に測定対象面3上に焦点を合わせ
る自動焦点機構の帰還信号として利用されている。
(発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、上記のようなシリンドリカルレンズ4お
よび4分割センサ5を使用した変位変換器においては、
測定対象面3に傾きがあると、第9図に示す如く、4分
割センサ5上に投影される光スポヅトの位置が中心から
ずれたものとなるので、合焦状態においても、4分割セ
ンサ5の出力S1〜S4がバランスせず、正確な自動焦
点動作を行なうことができなくなってしまう。このため
、測定対象面3の傾きは±1°以内に抑えなければなら
ない。
よび4分割センサ5を使用した変位変換器においては、
測定対象面3に傾きがあると、第9図に示す如く、4分
割センサ5上に投影される光スポヅトの位置が中心から
ずれたものとなるので、合焦状態においても、4分割セ
ンサ5の出力S1〜S4がバランスせず、正確な自動焦
点動作を行なうことができなくなってしまう。このため
、測定対象面3の傾きは±1°以内に抑えなければなら
ない。
本発明は、上記のような従来装置の欠点をなくし、測定
対象面に比較的大きな傾きがあった場合にも、その変位
量を正確に測定することのできる変位変換器を簡単な構
成により実現することを目的としたものである。
対象面に比較的大きな傾きがあった場合にも、その変位
量を正確に測定することのできる変位変換器を簡単な構
成により実現することを目的としたものである。
〔問題点を解決するための手段]
本発明の変位変換器は、レンズを介して測定対象面に光
を照射するとともに、測定対象面上に常に焦点が合うよ
うにレンズの位置を移動させ、この時のレンズの移動量
から前記測定対象面の変位量を測定するようにした変位
変換器において、点光源から出射される光束をレンズを
介して測定対象面上に照射するとともに、光の入射位置
を検出することのできるポジションセンサを等価的に点
光源と同じ位置に配置して、二のポジションセンサの出
力をレンズおよび点光源等の位置を移動させる自動焦点
機構の帰還信号として利用するようにしたものである。
を照射するとともに、測定対象面上に常に焦点が合うよ
うにレンズの位置を移動させ、この時のレンズの移動量
から前記測定対象面の変位量を測定するようにした変位
変換器において、点光源から出射される光束をレンズを
介して測定対象面上に照射するとともに、光の入射位置
を検出することのできるポジションセンサを等価的に点
光源と同じ位置に配置して、二のポジションセンサの出
力をレンズおよび点光源等の位置を移動させる自動焦点
機構の帰還信号として利用するようにしたものである。
このように、光源として点光源を使用するとともに、等
価的に点光源と同じ位置にポジションセンサを配置する
ようにすると、合焦枦態においては、測定対象面からの
反射光がポジションセンサ(点光源)の位置で実像を結
ぶことになり、しかもこの時の反射光におけるポジショ
ンセンサへの入射位置は常に一定となるので、ポジショ
ンセンサの出力状態から測定対象面上に焦点が合ってい
るか否かを検出することができ、ポジションセンサの出
力を自動焦点機構の帰還信号として利用することにより
、測定対象面の変位量を自動的に測定することができる
。また、測定対象面からの反射光が実像を結ぶ位置は、
光束の経路にかかわらず一定(点光源の位置)であるの
で、測定対象面が傾いていた場合にも、その反射光がレ
ンズに入射しさえすれば、変位量の測定を正確に行なう
ことができる。
価的に点光源と同じ位置にポジションセンサを配置する
ようにすると、合焦枦態においては、測定対象面からの
反射光がポジションセンサ(点光源)の位置で実像を結
ぶことになり、しかもこの時の反射光におけるポジショ
ンセンサへの入射位置は常に一定となるので、ポジショ
ンセンサの出力状態から測定対象面上に焦点が合ってい
るか否かを検出することができ、ポジションセンサの出
力を自動焦点機構の帰還信号として利用することにより
、測定対象面の変位量を自動的に測定することができる
。また、測定対象面からの反射光が実像を結ぶ位置は、
光束の経路にかかわらず一定(点光源の位置)であるの
で、測定対象面が傾いていた場合にも、その反射光がレ
ンズに入射しさえすれば、変位量の測定を正確に行なう
ことができる。
〔実施例]
第1図は本発明の変位変換器の一実施例を示す構成図で
ある。図において、前記第7図と同様のものは同一符号
を付して示す。7は例えばレンズ2の軸上に配置された
点光源、8はハーフミラ−6を介して等価的に点光源7
と同じ位置に配置されたポジションセンサである。点光
源7から出射された光束は、レンズ2の軸にガして一定
の角度を有しており、レンゲ2を介して測定対象面3に
照射されている。また、測定対象面3により反射された
光は、レンズ2およびハーフミラ−6を介してポジショ
ンで〉す8に入射している。さらに、レンズ2.ハーフ
ミラ−6、焦光fi7およびポジションセンサ8は一体
に支持されるとともに、自動焦点機WJ(図示せず)に
よって3動させられ、測定対象面3との距離を任意に調
節されている。
ある。図において、前記第7図と同様のものは同一符号
を付して示す。7は例えばレンズ2の軸上に配置された
点光源、8はハーフミラ−6を介して等価的に点光源7
と同じ位置に配置されたポジションセンサである。点光
源7から出射された光束は、レンズ2の軸にガして一定
の角度を有しており、レンゲ2を介して測定対象面3に
照射されている。また、測定対象面3により反射された
光は、レンズ2およびハーフミラ−6を介してポジショ
ンで〉す8に入射している。さらに、レンズ2.ハーフ
ミラ−6、焦光fi7およびポジションセンサ8は一体
に支持されるとともに、自動焦点機WJ(図示せず)に
よって3動させられ、測定対象面3との距離を任意に調
節されている。
第2図はレンズ2を介して入射する反射光の入射位置を
検出するポジションセンサ8の一@ソ示す構成図である
。図に示すように、ポジションセンサ8は高抵抗シリコ
ン81(1層)の片面あるいは両面に均一なp形抵抗I
I!i82を設けるとともに、表面層に光電効果を持っ
たPN接合を形成し、さらに、層の両端に信号を取り出
すための一対の電[A、Bを設けたものである。二のよ
うな構成を有するポジションセンサ8においては、電極
A。
検出するポジションセンサ8の一@ソ示す構成図である
。図に示すように、ポジションセンサ8は高抵抗シリコ
ン81(1層)の片面あるいは両面に均一なp形抵抗I
I!i82を設けるとともに、表面層に光電効果を持っ
たPN接合を形成し、さらに、層の両端に信号を取り出
すための一対の電[A、Bを設けたものである。二のよ
うな構成を有するポジションセンサ8においては、電極
A。
8間の距離をL1砥抗をRLとし、電極Aより光の入射
位置までの距離をX、その部分の抵抗をRxとすれば、
光の入射位置で発生した光生成電荷は、光の入射エネル
ギーに比例する光電流!0となり、抵抗値Rxおよび(
RL −Rx)に応じて分割されて、電流IA、IBと
して両端の電11iA 、 Bから取り出される。した
がって、この電流IA、1BはIA−1o (RL−R
x) /RL−1o (L −x) /LIBm To
−Rx/ RL−Io−x / Lとなり、各電流I
A、1Bの比IA/ IBはIA/IB= (L、
−x) / xとなるので、電流I^、IBの値を求
めることにより、入射エネルギーの大きさとは無関係に
、光の入射位置を知ることができる。
位置までの距離をX、その部分の抵抗をRxとすれば、
光の入射位置で発生した光生成電荷は、光の入射エネル
ギーに比例する光電流!0となり、抵抗値Rxおよび(
RL −Rx)に応じて分割されて、電流IA、IBと
して両端の電11iA 、 Bから取り出される。した
がって、この電流IA、1BはIA−1o (RL−R
x) /RL−1o (L −x) /LIBm To
−Rx/ RL−Io−x / Lとなり、各電流I
A、1Bの比IA/ IBはIA/IB= (L、
−x) / xとなるので、電流I^、IBの値を求
めることにより、入射エネルギーの大きさとは無関係に
、光の入射位置を知ることができる。
第3図は上記のような動作原理を有するポジションセン
サ8を二次元的に構成したものである。
サ8を二次元的に構成したものである。
図に示すように、各電極Ax 、 Ay 、 Bx 、
Byから取り出される′Kt′!lLの比は、光の入
射位置におけるX軸方向およびY軸方向の位置情報を含
んでおり、これらを演算処理することにより、二次元的
な入射位置を知ることができる。
Byから取り出される′Kt′!lLの比は、光の入
射位置におけるX軸方向およびY軸方向の位置情報を含
んでおり、これらを演算処理することにより、二次元的
な入射位置を知ることができる。
さて、第1図に戻って、測定対象面3上に焦点が合って
いる場合(合焦状態)には、焦光f17とレンズ2との
距離を追1、レンズ2と測定対象面3との距離をQ2、
レンズ2の焦点距離をfとすれば、 1/Ql +1/Q2−1/f の関係式が成り立ち、測定対象面3からの反射光はレン
ズ2を通った後、点光源7の位置で実像を結ぶように返
ってくることになる。この時、焦光127の位置には等
価的にポジションセンサ8が配置されているので、反射
光はポジションセンサ8上に入射し、その入射位置がポ
ジションセンサ8によって検出される。
いる場合(合焦状態)には、焦光f17とレンズ2との
距離を追1、レンズ2と測定対象面3との距離をQ2、
レンズ2の焦点距離をfとすれば、 1/Ql +1/Q2−1/f の関係式が成り立ち、測定対象面3からの反射光はレン
ズ2を通った後、点光源7の位置で実像を結ぶように返
ってくることになる。この時、焦光127の位置には等
価的にポジションセンサ8が配置されているので、反射
光はポジションセンサ8上に入射し、その入射位置がポ
ジションセンサ8によって検出される。
次に、測定対象面3が図中の3゛の位置まで変位したと
すると、測定対象面3が照射される光束の焦点位置から
外れるので、反射光の経路は破線で示す如く移動し、こ
れに伴って、反射光におけるポジションセンサ8への入
射位置も移動することになる。また、この時には、反射
光の結像位置もポジションセンサ8上からずれているの
で、ポジションセンサ8にはある程度法が(1を持った
スポットが入射するようになる。
すると、測定対象面3が照射される光束の焦点位置から
外れるので、反射光の経路は破線で示す如く移動し、こ
れに伴って、反射光におけるポジションセンサ8への入
射位置も移動することになる。また、この時には、反射
光の結像位置もポジションセンサ8上からずれているの
で、ポジションセンサ8にはある程度法が(1を持った
スポットが入射するようになる。
第4図はポジションセンサ8上における反射光の入射位
置とスポットの大きさとの関係を示したものである。図
において、合焦状態における反射光の入射位置をPOと
すれば、この時のスポット停が最も小さく、測定対象面
3が焦点位置からずれるにつれて、入射位置もPL、P
2方向あるいはP3゜なってゆく。例えば、測定対含面
3が焦点位置より近くなった111に、入射位置がP1
方向へ移動したとすると、測定対象面3が焦点位置より
遠(なった時には、入射位置は逆にP3方向へと移動す
る。
置とスポットの大きさとの関係を示したものである。図
において、合焦状態における反射光の入射位置をPOと
すれば、この時のスポット停が最も小さく、測定対象面
3が焦点位置からずれるにつれて、入射位置もPL、P
2方向あるいはP3゜なってゆく。例えば、測定対含面
3が焦点位置より近くなった111に、入射位置がP1
方向へ移動したとすると、測定対象面3が焦点位置より
遠(なった時には、入射位置は逆にP3方向へと移動す
る。
このように、ポジションセンサ8を等価的に点光源7と
同じ位nに置いておくと、測定対象面3の位置に応じて
ポジションセンサ8上の反射光の入射位置が変化するの
で、ポジションセンサ8の出力から合焦状態を知ること
ができ、この出力を帰還信号として自動焦点t1!横を
構成すれば、点光源7から出射された光束が常に測定対
象面3上に焦点を結ぶように、レンズ2等を移動させる
二とができ、この時の移動量から測定対象面3の変位量
を自動的に測定することができる。
同じ位nに置いておくと、測定対象面3の位置に応じて
ポジションセンサ8上の反射光の入射位置が変化するの
で、ポジションセンサ8の出力から合焦状態を知ること
ができ、この出力を帰還信号として自動焦点t1!横を
構成すれば、点光源7から出射された光束が常に測定対
象面3上に焦点を結ぶように、レンズ2等を移動させる
二とができ、この時の移動量から測定対象面3の変位量
を自動的に測定することができる。
ここで、測定対象面3にtt!4.!!−があった場合
を考えてみる。この場合には、測定対象面3から反射さ
れる光の経路が第1図の場合と異なることになるが、レ
ンズ2の性質上、焦点位置が測定対象面3上にあれば、
その反射光が結像する位置は変化しないので、反射光に
おけるポジションセンサ8上の入射位置も変化せず、上
記の場合と同様に、7.ポジションセンサ8の出力から
合焦状態を正確に検出することができる。なお、測定対
象面3が傾いている時には、ポジションセンサ8におけ
る反射光の入射位置は、例えば第5図の如く変化し、測
定対象面3の変位とともに移動する。図から明らがμよ
うに、測定対象面3が焦点位置にある時の入射位置PO
は前記した第4図の位置と等しいので、この時のポジシ
ョンセンサ8の出力も等しい、伯であり、測定対象:f
j3の傾きの影グを受けることなく、変位量の測定を行
なうことができる。
を考えてみる。この場合には、測定対象面3から反射さ
れる光の経路が第1図の場合と異なることになるが、レ
ンズ2の性質上、焦点位置が測定対象面3上にあれば、
その反射光が結像する位置は変化しないので、反射光に
おけるポジションセンサ8上の入射位置も変化せず、上
記の場合と同様に、7.ポジションセンサ8の出力から
合焦状態を正確に検出することができる。なお、測定対
象面3が傾いている時には、ポジションセンサ8におけ
る反射光の入射位置は、例えば第5図の如く変化し、測
定対象面3の変位とともに移動する。図から明らがμよ
うに、測定対象面3が焦点位置にある時の入射位置PO
は前記した第4図の位置と等しいので、この時のポジシ
ョンセンサ8の出力も等しい、伯であり、測定対象:f
j3の傾きの影グを受けることなく、変位量の測定を行
なうことができる。
第6図は本発明の変位変換器に使用される自動焦点81
構の一例を示す構成図である。図において、8はポジシ
ョンセンサであり、前記した如く、反射光の入射位δに
応じた出力信号S(X、Y)を発生する。9はサーボア
ンプで、目標値SETと帰還信号S(X、Y)との差Δ
Sに応じて、前記レンズ2等を移動させるための駆動信
号Sdを発生する。lOはパワーアンプ、11はレンズ
2等を移動させるモータ、12はポジションでンサ8に
おける感度を測定し、サーボアンプ9におけるサーボゲ
インを適当な値に変更するゲイン調整回路である。sw
はサーボアンプ9の出力とゲイン調整回路12の出力と
を選択的にパワーアップ1【〕に供給するスイッチであ
る。
構の一例を示す構成図である。図において、8はポジシ
ョンセンサであり、前記した如く、反射光の入射位δに
応じた出力信号S(X、Y)を発生する。9はサーボア
ンプで、目標値SETと帰還信号S(X、Y)との差Δ
Sに応じて、前記レンズ2等を移動させるための駆動信
号Sdを発生する。lOはパワーアンプ、11はレンズ
2等を移動させるモータ、12はポジションでンサ8に
おける感度を測定し、サーボアンプ9におけるサーボゲ
インを適当な値に変更するゲイン調整回路である。sw
はサーボアンプ9の出力とゲイン調整回路12の出力と
を選択的にパワーアップ1【〕に供給するスイッチであ
る。
上記のように4Iξ成された自動焦点機構においては、
目標(IR5LTは合焦状態におけるポジションセンサ
8の出力S(X、Y)と等しく設定されており、サーボ
アンプ9は偏差ΔSが零となるようにモータ11を駆動
するので、レンズ2等は照射する光束の焦点が常に測定
対象面3上に来るように移動させられる。したがって、
このモータ11の駆動量は測定対象面3の変位量に比例
したものとなるので、この駆動量またはレンズ2等の移
動量を検出することにより、測定対象面3の変位量を測
定することができる。なお、スイッチswは通常はサー
ボアンプ9@に接続されている。− 二一二で、前記したように、測定対象面3が傾きを持っ
ていた場合には、ポジションセンサ8上にお番うる反射
光の入射位置が変化し、その変化の割合(ゲイン)も測
定対象面3の傾きに応じて変化する。したがって、上記
の自動焦点機構においては、自動焦点動作とは別に、モ
ータ11を一定量だけ動かし、この時のポジションセン
サ8における出力変化を検出することにより、測定対象
面3の()Jl?に応じたポジションセンサ8のゲイン
を測定′7、予め与えられたデータに従ってサーボアン
プ9のサーボゲインを変更している。このような調整動
作はゲイン調整回路12によって行なわれるもので、ス
イッチSWはこの期間だけゲイン調整回路12側に接続
される。
目標(IR5LTは合焦状態におけるポジションセンサ
8の出力S(X、Y)と等しく設定されており、サーボ
アンプ9は偏差ΔSが零となるようにモータ11を駆動
するので、レンズ2等は照射する光束の焦点が常に測定
対象面3上に来るように移動させられる。したがって、
このモータ11の駆動量は測定対象面3の変位量に比例
したものとなるので、この駆動量またはレンズ2等の移
動量を検出することにより、測定対象面3の変位量を測
定することができる。なお、スイッチswは通常はサー
ボアンプ9@に接続されている。− 二一二で、前記したように、測定対象面3が傾きを持っ
ていた場合には、ポジションセンサ8上にお番うる反射
光の入射位置が変化し、その変化の割合(ゲイン)も測
定対象面3の傾きに応じて変化する。したがって、上記
の自動焦点機構においては、自動焦点動作とは別に、モ
ータ11を一定量だけ動かし、この時のポジションセン
サ8における出力変化を検出することにより、測定対象
面3の()Jl?に応じたポジションセンサ8のゲイン
を測定′7、予め与えられたデータに従ってサーボアン
プ9のサーボゲインを変更している。このような調整動
作はゲイン調整回路12によって行なわれるもので、ス
イッチSWはこの期間だけゲイン調整回路12側に接続
される。
また、上記のようなポジションセンサ8におけるゲイン
変化、すなわち反射光の入射位置変化の性質を利用すれ
ば、ポジションセンサ8のゲイン変化から逆に測定対象
面3の傾きを測定することも可能である。すなわち、合
焦状態からレンズ2等を一定量だけ変位させ、この時の
ポジションセンサ8における出力変化を測定すれば、こ
の時の反射光の入射位置の変化量および変化する方向は
測定対象面3の傾きに対応しているので、予め測定して
おいたデータと比較することにより、測定対象面3の傾
きを知ることができる。
変化、すなわち反射光の入射位置変化の性質を利用すれ
ば、ポジションセンサ8のゲイン変化から逆に測定対象
面3の傾きを測定することも可能である。すなわち、合
焦状態からレンズ2等を一定量だけ変位させ、この時の
ポジションセンサ8における出力変化を測定すれば、こ
の時の反射光の入射位置の変化量および変化する方向は
測定対象面3の傾きに対応しているので、予め測定して
おいたデータと比較することにより、測定対象面3の傾
きを知ることができる。
なお、上記の説明においては、焦光′/n7をレンズ2
の軸上に配置するとともに、ポジションセンサ8をハー
フミラ−6を使用して等両市に点光源7と同じ位Uに配
置した場合を例示したが、焦光、源?とポジションセン
サ8との部首関係はこれに限られるt、のてはかい。ま
た、焦光11ff17がら出射された光および測定対象
面3がらの反射光の経路を変更する手段はハーフミラ−
6に限られるものではなく、例えば、プリズムや偏光ビ
ームスプリッタのようなものであってもよい。さらに、
測定対象面3に光を照射するとともに、測定対象面3か
らの反射光を4τジシヨンセンサ8上に結像させるレン
ズiは、一枚のレンズに限られるものではな(、独立し
た部分レンズを組み合わせたものであって十・よい、特
に、点光源7がら出射された光がレンズ2に入射する位
6は常に変化しないので、その周囲のレンズ部分は必要
とされない場合が多い。
の軸上に配置するとともに、ポジションセンサ8をハー
フミラ−6を使用して等両市に点光源7と同じ位Uに配
置した場合を例示したが、焦光、源?とポジションセン
サ8との部首関係はこれに限られるt、のてはかい。ま
た、焦光11ff17がら出射された光および測定対象
面3がらの反射光の経路を変更する手段はハーフミラ−
6に限られるものではなく、例えば、プリズムや偏光ビ
ームスプリッタのようなものであってもよい。さらに、
測定対象面3に光を照射するとともに、測定対象面3か
らの反射光を4τジシヨンセンサ8上に結像させるレン
ズiは、一枚のレンズに限られるものではな(、独立し
た部分レンズを組み合わせたものであって十・よい、特
に、点光源7がら出射された光がレンズ2に入射する位
6は常に変化しないので、その周囲のレンズ部分は必要
とされない場合が多い。
(発明の効果〕
以上製明したように、本発明の変位変換器では、レンズ
を介して測定対象面に光を照射するとともに、測定対象
面上に常に焦点が合うようにレンズの位置を移動させ、
この時のレンズの移動量から前記測定対象面の変位量を
測定するようにした変位変換器において、点光源から出
射される光束をレンズを介して測定対象面上に照射する
とともに、光の入射位置を検出することのできるポジシ
ョンでンサを等両市に点光源と同じ位置に配置して、・
このポジションセンサの出力をレンズおよび点光源等の
位置を移動させる自動焦点[構の帰還信号とし5て利用
するようにしているので、合焦状態においては、測定対
牙面からの反射光がポジションセンサ(照光源)の位置
で実像を結ぶことになり、しかもこの時の反射光におけ
るポジションセンサへの入射位置は常に一定となるので
、ポジションセンサの出力状態から測定対象面上に焦点
が合っているか否かを検出することができ、測定対象面
に比酸的大きな傾きがあった場合にも、その変位量を正
確に測定することのできる変位変換器を筒中な構成によ
り実現することができる。
を介して測定対象面に光を照射するとともに、測定対象
面上に常に焦点が合うようにレンズの位置を移動させ、
この時のレンズの移動量から前記測定対象面の変位量を
測定するようにした変位変換器において、点光源から出
射される光束をレンズを介して測定対象面上に照射する
とともに、光の入射位置を検出することのできるポジシ
ョンでンサを等両市に点光源と同じ位置に配置して、・
このポジションセンサの出力をレンズおよび点光源等の
位置を移動させる自動焦点[構の帰還信号とし5て利用
するようにしているので、合焦状態においては、測定対
牙面からの反射光がポジションセンサ(照光源)の位置
で実像を結ぶことになり、しかもこの時の反射光におけ
るポジションセンサへの入射位置は常に一定となるので
、ポジションセンサの出力状態から測定対象面上に焦点
が合っているか否かを検出することができ、測定対象面
に比酸的大きな傾きがあった場合にも、その変位量を正
確に測定することのできる変位変換器を筒中な構成によ
り実現することができる。
第1図は本発明の変位変換器の一実施例を示す構成図、
第2図および第3図は本発明の変位変換器に使用される
ポジションセンサの一例を示す構成図、第4図および第
5図はポジションセンサ上における反射光の入射位置お
よびスポットの状態をポす説明図、第6図は本発明の変
位変換器に使用される自動焦点m横の一例を示す構成図
、第7図は従来の変位変換器の一例を示す構成図、第8
図および第9図は第7図に示す変位変換器に使用される
4分割センサにおける入射光のスポット膨軟を示す説明
図である。 1 ・・・光源、2・・・レンズ、3・・・測定対象面
、4・・・シリンドリカルレンズ、5 ・・・4分割セ
ンサ、6・・・ハーフミラ−17・・・点光源、8・・
・ポジションセンサ、9・・・サーボアンプ、 10・
・・パワーアンプ、 11・・・モータ、12・・・ゲ
イン調整回路、SW・・・スイッチ。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5°図 第ム図
第2図および第3図は本発明の変位変換器に使用される
ポジションセンサの一例を示す構成図、第4図および第
5図はポジションセンサ上における反射光の入射位置お
よびスポットの状態をポす説明図、第6図は本発明の変
位変換器に使用される自動焦点m横の一例を示す構成図
、第7図は従来の変位変換器の一例を示す構成図、第8
図および第9図は第7図に示す変位変換器に使用される
4分割センサにおける入射光のスポット膨軟を示す説明
図である。 1 ・・・光源、2・・・レンズ、3・・・測定対象面
、4・・・シリンドリカルレンズ、5 ・・・4分割セ
ンサ、6・・・ハーフミラ−17・・・点光源、8・・
・ポジションセンサ、9・・・サーボアンプ、 10・
・・パワーアンプ、 11・・・モータ、12・・・ゲ
イン調整回路、SW・・・スイッチ。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5°図 第ム図
Claims (1)
- レンズを介して測定対象面に光を照射するとともにこの
測定対象面上に常に焦点が合うように前記レンズの位置
を移動させこの時のレンズの移動量から前記測定対象面
の変位量を測定するようにした変位変換器において、前
記レンズとともに移動する点光源と、等価的に前記点光
源と同一位置に配置され前記レンズとともに移動するポ
ジションセンサと、このポジションセンサの出力を受け
この出力が一定の値となるように前記レンズの位置を移
動させる自動焦点機構とを具備してなる変位変換器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21333385A JPS6271810A (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | 変位変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21333385A JPS6271810A (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | 変位変換器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6271810A true JPS6271810A (ja) | 1987-04-02 |
Family
ID=16637416
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21333385A Pending JPS6271810A (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | 変位変換器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6271810A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0617306A1 (en) * | 1993-03-22 | 1994-09-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Image projection apparatus with an autofocusing system |
-
1985
- 1985-09-26 JP JP21333385A patent/JPS6271810A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0617306A1 (en) * | 1993-03-22 | 1994-09-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Image projection apparatus with an autofocusing system |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6271810A (ja) | 変位変換器 | |
JPH0226164B2 (ja) | ||
JPH0528762B2 (ja) | ||
JPH0479522B2 (ja) | ||
JPS6275308A (ja) | 変位変換器 | |
JPH05164556A (ja) | 合焦点型非接触変位計 | |
JPH0558483B2 (ja) | ||
JPH0528761B2 (ja) | ||
JPH0619244B2 (ja) | 変位変換器 | |
JPS60147606A (ja) | 厚み測定装置 | |
JPH0697163B2 (ja) | 変位変換器 | |
JP2529049B2 (ja) | 光学式変位計 | |
JP2609606B2 (ja) | 光ピツクアツプの対物レンズ位置検出装置 | |
JPH056643B2 (ja) | ||
JPS635208A (ja) | 表面形状測定装置 | |
JPS61223604A (ja) | ギヤツプ測定装置 | |
JPH10103915A (ja) | 面位置検出装置 | |
JP2594105Y2 (ja) | 光学式変位計 | |
JPS6053804A (ja) | 厚み測定装置 | |
JPS6281525A (ja) | 変位変換器 | |
JPS63169509A (ja) | 傾き計測装置 | |
JPS63289413A (ja) | 形状測定装置 | |
JPH0968408A (ja) | 光学式変位センサ | |
JPH09210620A (ja) | 面位置検出装置 | |
JPS6264904A (ja) | 形状測定装置 |