JPS6259258B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6259258B2
JPS6259258B2 JP16626982A JP16626982A JPS6259258B2 JP S6259258 B2 JPS6259258 B2 JP S6259258B2 JP 16626982 A JP16626982 A JP 16626982A JP 16626982 A JP16626982 A JP 16626982A JP S6259258 B2 JPS6259258 B2 JP S6259258B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
calibration
ray
shutter
reference plate
rays
Prior art date
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Expired
Application number
JP16626982A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5967449A (ja
Inventor
Toshuki Koga
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SEIKO DENSHI KOGYO KK
Original Assignee
SEIKO DENSHI KOGYO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SEIKO DENSHI KOGYO KK filed Critical SEIKO DENSHI KOGYO KK
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Priority to NL8302740A priority patent/NL8302740A/nl
Priority to GB8323706A priority patent/GB2127538B/en
Priority to FR8315076A priority patent/FR2533794B1/fr
Priority to DE19833334458 priority patent/DE3334458A1/de
Publication of JPS5967449A publication Critical patent/JPS5967449A/ja
Priority to US06/780,966 priority patent/US4962517A/en
Publication of JPS6259258B2 publication Critical patent/JPS6259258B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076—X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、試料へのＸ線照射を制御するシヤツ
ターが閉じているとき、Ｘ線強度および波高値変
動を較正する手段を有しているＸ線装置に関し、
特に正確にかつ効率的に装置を較正するための新
規な発明に関するものである。
一般に、較正用試料にＸ線を照射し試料から照
射されるケイ光Ｘ線を測定することによつて装置
を較正する手段を有するＸ線装置において、精度
よく装置を較正するために必要なケイ光Ｘ線の測
定時間は、所定の時間が必要である。したがつ
て、シヤツターが閉じているとき即ち被試料の非
測定時に装置を較正するＸ線装置においては較正
のためのケイ光Ｘ線の測定が終了するまで、被測
定試料の測定は行えないという欠点があつた。
本発明は、以上の欠点をすみやかに除去するた
めの極めて効果的な手段を提供するもので、較正
のための較正用試料からのケイ光Ｘ線の測定が終
了しないうちに被測定試料の測定が開始された場
合、それまでの較正用試料の測定データをメモリ
ーに貯えておき、次の較正用試料測定時との合計
時間が較正に必要な時間を満たしたとき装置を較
正するようにしたものである。
以下、図面と共に本発明によるＸ線自動較正装
置を詳細に説明する。
第１図はＸ線自動較正装置を示す図で、第２図
は第１図を90゜回転方向から見た図である。第３
図は装置の構成図を示す。
第３図において１はＸ線管、２は較正用基準
板、４はＸ線検出器、８は被測定試料、９はシヤ
ツター、１０はシヤツターの位置センサー、１１
は波高分析器、１２はスケラータイマー、１３は
Ｘ線自動較正手段、１４は記憶装置を示す。シヤ
ツターの位置はシヤツターの位置センサ１０によ
つて検出され、シヤツターがＸ線の被測定試料へ
の照射を中止しているときに較正モードになる。
シヤツターが開くと位置検出センサによつて較正
モードは中断され、較正モード中のケイ光Ｘ線の
強度、波高値などの情報がメモリーに貯えられ
る。被測定試料の測定が終了しシヤツターが閉じ
再び較正モードとなり、前の較正モードとの合計
時間が較正に必要な測定時間となつたときに初め
て較正が実際に行なわれる。
なおメモリーの使用に関し次のような方法も考
えられる。即ち、仮に較正に必要な測定時間をＴ
秒とすると、例えば１秒毎に較正のためのＸ線強
度を区切つてメモリーに貯える。従つてＴ回測定
し平均値を求めるとすれば較正を行えるのである
が、較正後すべてのメモリーをクリヤーしない
で、最初の測定のデータのみをクリヤーし、移動
平均を求めることによつて常に装置を較正するこ
とができる。
この発明によるＸ線自動較正装置は、以上のよ
うに、メモリーを用いて前回の較正データを記憶
しているため、装置の較正を効率的に行うことが
できる。
【図面の簡単な説明】
第１図はＸ線自動較正装置の構成図、第２図は
第１図の90゜回転方向から見た図、第３図はこの
考案による構成図を示す。 １…Ｘ線管、２…較正用基準板、３…較正用基
準板からのケイ光Ｘ線をＸ線検出器からのケイ光
Ｘ線をＸ線検出器へ導くための第２案内孔、４…
Ｘ線検出器、５…Ｘ線検出器の開口部、６…Ｘ線
管からのＸ線を較正用基準板へ導くための第１案
内孔、７…Ｘ線管からのＸ線を被測定試料へ導く
ための第３案内孔、８…被測定試料、９…シヤツ
ター、１０…シヤツターの位置センサー。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ Ｘ線管と、このＸ線管から放射されるＸ線束
    を絞るためのコリメータと、試料へのＸ線の照射
    を制御するシヤツターと、比例計数管などのＸ線
    検出器と、波高分析器と、スケーラータイマー
    と、Ｘ線強度および波高値の変動を較正する手段
    と、シヤツターが閉じているときに自動的にＸ線
    強度および波高値の変動を較正するようシヤツタ
    ー内に前記Ｘ線管と対向して設けられた較正用基
    準板と、前記Ｘ線管からのＸ線を前記較正用基準
    板に照射させるため設けられたシヤツター内の第
    １案内孔と、前記較正用基準板からのケイ光Ｘ線
    を前記Ｘ線検出器に入射させるため、第１案内孔
    と連通してシヤツターに設けられた第２案内孔を
    有するＸ線自動較正装置において、較正時の測定
    データをメモリーに貯えておき、所定の較正時
    に、較正に必要な測定時間が得られないとき、較
    正は行わずデーターをメモリーに貯えておき次回
    の較正時のデーターとして用いることを特徴とす
    るＸ線自動較正装置。
JP16626982A 1982-06-03 1982-09-24 Ｘ線自動較正装置 Granted JPS5967449A (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16626982A JPS5967449A (ja) 1982-09-24 1982-09-24 Ｘ線自動較正装置
NL8302740A NL8302740A (nl) 1982-09-24 1983-08-02 Inrichting voor het automatisch corrigeren van x-straling.
GB8323706A GB2127538B (en) 1982-09-24 1983-09-05 X-ray device
FR8315076A FR2533794B1 (fr) 1982-09-24 1983-09-22 Dispositif de correction automatique de rayons x
DE19833334458 DE3334458A1 (de) 1982-09-24 1983-09-23 Korrektureinrichtung fuer ein roentgenanalysegeraet
US06/780,966 US4962517A (en) 1982-06-03 1985-09-25 Automatic X-ray correction device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16626982A JPS5967449A (ja) 1982-09-24 1982-09-24 Ｘ線自動較正装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5967449A JPS5967449A (ja) 1984-04-17
JPS6259258B2 true JPS6259258B2 (ja) 1987-12-10

Family

ID=15828248

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16626982A Granted JPS5967449A (ja) 1982-06-03 1982-09-24 Ｘ線自動較正装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPS5967449A (ja)
DE (1) DE3334458A1 (ja)
FR (1) FR2533794B1 (ja)
GB (1) GB2127538B (ja)
NL (1) NL8302740A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03158581A (ja) * 1989-11-15 1991-07-08 Fujita Corp 鍵保管函の解錠装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002529699A (ja) * 1998-10-29 2002-09-10 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Ｘ線光学基準チャネルを有するｘ線回折装置
JP6305247B2 (ja) 2014-06-13 2018-04-04 株式会社日立ハイテクサイエンス 蛍光ｘ線分析装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1285885A (en) * 1968-11-07 1972-08-16 Atomic Energy Authority Uk Improvements in or relating to nephelometers
US3983397A (en) * 1972-05-08 1976-09-28 Albert Richard D Selectable wavelength X-ray source
JPS5139188A (en) * 1974-09-30 1976-04-01 Horiba Ltd Hibunsangatakeikoxsenbunsekisochi
US4134012A (en) * 1977-10-17 1979-01-09 Bausch & Lomb, Inc. X-ray analytical system
DE3062151D1 (en) * 1979-02-09 1983-04-07 Martin Marietta Corp Element analysis unit
JPS5758300U (ja) * 1980-09-22 1982-04-06

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03158581A (ja) * 1989-11-15 1991-07-08 Fujita Corp 鍵保管函の解錠装置

Also Published As

Publication number Publication date
FR2533794B1 (fr) 1988-06-03
GB8323706D0 (en) 1983-10-05
JPS5967449A (ja) 1984-04-17
GB2127538A (en) 1984-04-11
DE3334458A1 (de) 1984-06-07
FR2533794A1 (fr) 1984-03-30
NL8302740A (nl) 1984-04-16
GB2127538B (en) 1986-06-25

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