JPH0642202Y2 - X線回折用蓄積性蛍光体の基準点マーキング装置 - Google Patents
X線回折用蓄積性蛍光体の基準点マーキング装置Info
- Publication number
- JPH0642202Y2 JPH0642202Y2 JP4872788U JP4872788U JPH0642202Y2 JP H0642202 Y2 JPH0642202 Y2 JP H0642202Y2 JP 4872788 U JP4872788 U JP 4872788U JP 4872788 U JP4872788 U JP 4872788U JP H0642202 Y2 JPH0642202 Y2 JP H0642202Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reference point
- stimulable phosphor
- ray
- center
- ray diffraction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、X線回折装置の検出手段として利用する蓄積
性蛍光体へ、基準点をマークするための装置に関する。
性蛍光体へ、基準点をマークするための装置に関する。
[従来の技術] X線回折装置において蓄積性蛍光体を検出手段として利
用する場合は、次のような手順になる。まず、結晶から
の回折X線を蓄積性蛍光体に入射して、潜像として記録
させる。次に、この蓄積性蛍光体を読取り位置に移動
し、レーザ光を照射して、そのとき発生する蛍光体を光
電子増倍管で測定する。
用する場合は、次のような手順になる。まず、結晶から
の回折X線を蓄積性蛍光体に入射して、潜像として記録
させる。次に、この蓄積性蛍光体を読取り位置に移動
し、レーザ光を照射して、そのとき発生する蛍光体を光
電子増倍管で測定する。
蓄積性蛍光体に記録された回折パターンを読み取る際に
は、結晶および入射X線の座標軸と、蓄積性蛍光体の座
標軸とを、正確に合わせなければならない。通常は、X
線のダイレクトビームを蓄積性蛍光体の中心に照射する
ことによって、入射X線の入射位置を、蓄積性蛍光体上
に記録できる。
は、結晶および入射X線の座標軸と、蓄積性蛍光体の座
標軸とを、正確に合わせなければならない。通常は、X
線のダイレクトビームを蓄積性蛍光体の中心に照射する
ことによって、入射X線の入射位置を、蓄積性蛍光体上
に記録できる。
[考案が解決しようとする課題] ところが、読取りのためには、蓄積性蛍光体を読取り装
置のほうへ移動するので、実際の回折パターンと、読み
取られたパターンとの間で、たとえ中心位置が一致して
いても、入射X線回りの回転角度誤差が生じる。そこ
で、蓄積性蛍光体の中心に基準点をマークする以外に
も、蓄積性蛍光体の他の位置にも何らかの方法で別の基
準点を設ける必要がある。しかし、同一X線源を用いて
このようなマーキングをするのは技術的に難しい。
置のほうへ移動するので、実際の回折パターンと、読み
取られたパターンとの間で、たとえ中心位置が一致して
いても、入射X線回りの回転角度誤差が生じる。そこ
で、蓄積性蛍光体の中心に基準点をマークする以外に
も、蓄積性蛍光体の他の位置にも何らかの方法で別の基
準点を設ける必要がある。しかし、同一X線源を用いて
このようなマーキングをするのは技術的に難しい。
本考案は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、その目的は、中心基準点以外にも別の基準点を設け
ることのできるような、簡易な、基準点マーキング装置
を提供することにある。
て、その目的は、中心基準点以外にも別の基準点を設け
ることのできるような、簡易な、基準点マーキング装置
を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、本考案の基準点マーキング装
置は、蓄積性蛍光体の中心にX線を照射して中心基準点
をマークする装置と、蓄積性蛍光体の中心以外の少なく
とも一点に紫外線を照射して周辺基準点をマークする装
置とを設けている。
置は、蓄積性蛍光体の中心にX線を照射して中心基準点
をマークする装置と、蓄積性蛍光体の中心以外の少なく
とも一点に紫外線を照射して周辺基準点をマークする装
置とを設けている。
[作用] 蓄積性蛍光体の中心にはX線ダイレクトビームを入射し
て中心基準点をマークし、中心以外の少なくとも一点に
は、紫外線を入射して周辺基準点をマークする。紫外線
発生装置は、X線発生装置よりも取り扱い易く、また安
価である。
て中心基準点をマークし、中心以外の少なくとも一点に
は、紫外線を入射して周辺基準点をマークする。紫外線
発生装置は、X線発生装置よりも取り扱い易く、また安
価である。
[実施例] 次に、図面を参照して本考案の実施例を説明する。
図面は本考案の一実施例の斜視図である。この基準点マ
ーキング装置は、蛋白質結晶からの回折X線を測定する
ためのX線回折装置の一部である。X線源10と、蓄積性
蛍光板12との間には、X線シャッタ20、X線コリメータ
14、結晶試料16、ビームストッパ18が配置されている。
X線の光軸は、蓄積性蛍光板12の中心を垂直に通過する
ようになっている。
ーキング装置は、蛋白質結晶からの回折X線を測定する
ためのX線回折装置の一部である。X線源10と、蓄積性
蛍光板12との間には、X線シャッタ20、X線コリメータ
14、結晶試料16、ビームストッパ18が配置されている。
X線の光軸は、蓄積性蛍光板12の中心を垂直に通過する
ようになっている。
一方、紫外線ランプ22と、蓄積性蛍光板12との間には、
紫外線シャッタ26と、紫外線コリメータ24とが配置され
ている。紫外線の光軸は、蓄積性蛍光板12の周縁部近く
の一点を垂直に通過するようになっている。紫外線コリ
メータ24はなるべく長くして、その先端を蓄積性蛍光板
12にできるだけ近付けるのが好ましい。紫外線の影響が
他の部分に現れないようにするためである。ただし、紫
外線コリメータ24の先端は、回折X線32を妨害しない程
度に、蓄積性蛍光板12から離す必要がある。
紫外線シャッタ26と、紫外線コリメータ24とが配置され
ている。紫外線の光軸は、蓄積性蛍光板12の周縁部近く
の一点を垂直に通過するようになっている。紫外線コリ
メータ24はなるべく長くして、その先端を蓄積性蛍光板
12にできるだけ近付けるのが好ましい。紫外線の影響が
他の部分に現れないようにするためである。ただし、紫
外線コリメータ24の先端は、回折X線32を妨害しない程
度に、蓄積性蛍光板12から離す必要がある。
周辺基準点をマークするのに、紫外線を利用したのは次
の理由による。紫外線発生装置は、X線発生装置より
も、取り扱いが簡単でかつ安価でああり、しかも、紫外
線は照射時間さえ少し長くすれば、蓄積性蛍光板を十分
感光させることができるからである。
の理由による。紫外線発生装置は、X線発生装置より
も、取り扱いが簡単でかつ安価でああり、しかも、紫外
線は照射時間さえ少し長くすれば、蓄積性蛍光板を十分
感光させることができるからである。
次に、この実施例の動作を説明する。まず、蓄積性蛍光
板12にX線回折像を露光する前に、中心基準点のマーキ
ングを実施する。そのために、ビームストッパ18をX線
の光軸から外し、X線シャッタ20を開けて、X線のダイ
レクトビームを蓄積性蛍光板の中心に照射する。このと
き、中心基準点28が蓄積性蛍光板12上に記憶される。な
お、このダイレクトビームの照射に当たっては、実際
は、アテネータ(図示せず)を使用して、X線の強度を
減衰させる。
板12にX線回折像を露光する前に、中心基準点のマーキ
ングを実施する。そのために、ビームストッパ18をX線
の光軸から外し、X線シャッタ20を開けて、X線のダイ
レクトビームを蓄積性蛍光板の中心に照射する。このと
き、中心基準点28が蓄積性蛍光板12上に記憶される。な
お、このダイレクトビームの照射に当たっては、実際
は、アテネータ(図示せず)を使用して、X線の強度を
減衰させる。
次に、ビームストッパ18を元に戻して、結晶試料16を回
転させながら、蓄積性蛍光板12に回折X線を照射する。
同時に、周辺基準点のマーキングを実施する。すなわ
ち、紫外線シャッタ26を開いて、細い紫外線コリメータ
24に紫外線を通して、蓄積性蛍光板12の周辺部の一点
に、周辺基準点30をマークする。紫外線は、X線より
も、蓄積性蛍光板を感光させる効率が低いので、紫外線
によるマーキングは、X線回折による露光と並行して実
施する。その照射時間は、X線回折の露光時間よりは短
く、したがって、適当な時間に紫外線シャッタ26を閉じ
ればよい。
転させながら、蓄積性蛍光板12に回折X線を照射する。
同時に、周辺基準点のマーキングを実施する。すなわ
ち、紫外線シャッタ26を開いて、細い紫外線コリメータ
24に紫外線を通して、蓄積性蛍光板12の周辺部の一点
に、周辺基準点30をマークする。紫外線は、X線より
も、蓄積性蛍光板を感光させる効率が低いので、紫外線
によるマーキングは、X線回折による露光と並行して実
施する。その照射時間は、X線回折の露光時間よりは短
く、したがって、適当な時間に紫外線シャッタ26を閉じ
ればよい。
以上の手順により、中心基準点28と、周辺基準点30と
が、蓄積性蛍光板12上にマークされた。これらの基準点
は、蓄積性蛍光板12の読み取りのときに、回折パターン
の基準点となる。中心基準点28と周辺基準点30とを確認
することにより、回折パターンの解析の際のX線ダイレ
クトビーム回りの回転角度誤差を防ぐことができる。
が、蓄積性蛍光板12上にマークされた。これらの基準点
は、蓄積性蛍光板12の読み取りのときに、回折パターン
の基準点となる。中心基準点28と周辺基準点30とを確認
することにより、回折パターンの解析の際のX線ダイレ
クトビーム回りの回転角度誤差を防ぐことができる。
上述の実施例では、周辺基準点を一つだけマークする例
を示したが、特に読取り精度を高めたい場合は、複数の
周辺基準点をマークすることもできる。
を示したが、特に読取り精度を高めたい場合は、複数の
周辺基準点をマークすることもできる。
また、上述の実施例では、紫外線をコリメータで蓄積性
蛍光板上に集めていたが、光ファイバなどの他の手段を
利用することもできる。光ファイバを利用すると、複数
の周辺基準点をマークする場合にも、一つの紫外線ラン
プで済む利点がある。
蛍光板上に集めていたが、光ファイバなどの他の手段を
利用することもできる。光ファイバを利用すると、複数
の周辺基準点をマークする場合にも、一つの紫外線ラン
プで済む利点がある。
[考案の効果] 以上説明したように本考案は、蓄積性蛍光体の中心にX
線を照射して中心基準点をマークするとともに、蓄積性
蛍光体の中心以外の少なくとも一点に紫外線を照射して
周辺基準点をマークするようにしたので、蓄積性蛍光板
に記録された回折パターンを読み取る際に、これらの基
準点により回折パターンの座標を決めることによって、
露光時と読取り時での回折パターンの座標の誤差をなく
すことができる。
線を照射して中心基準点をマークするとともに、蓄積性
蛍光体の中心以外の少なくとも一点に紫外線を照射して
周辺基準点をマークするようにしたので、蓄積性蛍光板
に記録された回折パターンを読み取る際に、これらの基
準点により回折パターンの座標を決めることによって、
露光時と読取り時での回折パターンの座標の誤差をなく
すことができる。
図面は本考案の一実施例の斜視図である。 10……X線源 12……蓄積性蛍光板 22……紫外線ランプ 28……中心基準点 30……周辺基準点
Claims (1)
- 【請求項1】蓄積性蛍光体の中心にX線を照射して中心
基準点をマークする装置と、 蓄積性蛍光体の中心以外の少なくとも一点に紫外線を照
射して周辺基準点をマークする装置と、を設けたことを
特徴とする、X線回折用蓄積性蛍光体の基準点マーキン
グ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4872788U JPH0642202Y2 (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | X線回折用蓄積性蛍光体の基準点マーキング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4872788U JPH0642202Y2 (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | X線回折用蓄積性蛍光体の基準点マーキング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01152251U JPH01152251U (ja) | 1989-10-20 |
JPH0642202Y2 true JPH0642202Y2 (ja) | 1994-11-02 |
Family
ID=31274861
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4872788U Expired - Lifetime JPH0642202Y2 (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | X線回折用蓄積性蛍光体の基準点マーキング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0642202Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-04-13 JP JP4872788U patent/JPH0642202Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01152251U (ja) | 1989-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2569862B2 (ja) | X線露光装置およびx線露光方法 | |
JPH0642202Y2 (ja) | X線回折用蓄積性蛍光体の基準点マーキング装置 | |
US3487559A (en) | Light analog radiotherapy planning method and apparatus | |
US5347139A (en) | Dual energy tracer quantitative analysis | |
US4217493A (en) | Hemispherical Laue camera | |
JPH0781967B2 (ja) | 粉末の回折検査装置 | |
JP3088516B2 (ja) | X線回折測定方法及び装置 | |
JPH0212043A (ja) | 連続的x線回折像撮影法 | |
JP2002250704A (ja) | X線測定装置及びx線測定方法 | |
US3848126A (en) | Recording of kossel lines | |
JP2807000B2 (ja) | X線回折装置 | |
JP2000292377A (ja) | X線回折装置 | |
US4392240A (en) | Method and device for sampling radiation from X-ray machines for analysis | |
JP3090780B2 (ja) | X線回折像動的露光装置 | |
JP3673981B2 (ja) | X線回折定量装置 | |
JPH0229928Y2 (ja) | ||
JP2549048Y2 (ja) | X線分析用の試料ホルダ | |
JP3626965B2 (ja) | X線装置及びx線測定方法 | |
JPS6259258B2 (ja) | ||
JPH0812158B2 (ja) | X線回折装置 | |
SU994967A1 (ru) | Способ рентгенографического исследовани монокристаллов | |
JPH06265489A (ja) | X線回折装置 | |
JPH0346386Y2 (ja) | ||
JPH01196554A (ja) | X線回折装置 | |
JP2560116B2 (ja) | X線回折測定用スリット装置 |