DE3334458A1 - Korrektureinrichtung fuer ein roentgenanalysegeraet - Google Patents

Korrektureinrichtung fuer ein roentgenanalysegeraet

Info

Publication number
DE3334458A1
DE3334458A1 DE19833334458 DE3334458A DE3334458A1 DE 3334458 A1 DE3334458 A1 DE 3334458A1 DE 19833334458 DE19833334458 DE 19833334458 DE 3334458 A DE3334458 A DE 3334458A DE 3334458 A1 DE3334458 A1 DE 3334458A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
correction
shutter
rays
ray
guide channel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19833334458
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Toshiyuki Tokyo Koga
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Publication of DE3334458A1 publication Critical patent/DE3334458A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
DE19833334458 1982-09-24 1983-09-23 Korrektureinrichtung fuer ein roentgenanalysegeraet Withdrawn DE3334458A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16626982A JPS5967449A (ja) 1982-09-24 1982-09-24 X線自動較正装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3334458A1 true DE3334458A1 (de) 1984-06-07

Family

ID=15828248

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19833334458 Withdrawn DE3334458A1 (de) 1982-09-24 1983-09-23 Korrektureinrichtung fuer ein roentgenanalysegeraet

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPS5967449A (ja)
DE (1) DE3334458A1 (ja)
FR (1) FR2533794B1 (ja)
GB (1) GB2127538B (ja)
NL (1) NL8302740A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03158581A (ja) * 1989-11-15 1991-07-08 Fujita Corp 鍵保管函の解錠装置
EP1097373A2 (en) * 1998-10-29 2001-05-09 PANalytical B.V. X-ray diffraction apparatus with an x-ray optical reference channel
JP6305247B2 (ja) 2014-06-13 2018-04-04 株式会社日立ハイテクサイエンス 蛍光x線分析装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2844704A1 (de) * 1977-10-17 1979-04-26 Bausch & Lomb Verfahren und vorrichtung fuer eine roentgenanalyse von materialproben
EP0014580A1 (en) * 1979-02-09 1980-08-20 Martin Marietta Corporation Element analysis unit
DE3137186A1 (de) * 1980-09-22 1982-05-06 Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1285885A (en) * 1968-11-07 1972-08-16 Atomic Energy Authority Uk Improvements in or relating to nephelometers
US3983397A (en) * 1972-05-08 1976-09-28 Albert Richard D Selectable wavelength X-ray source
JPS5139188A (en) * 1974-09-30 1976-04-01 Horiba Ltd Hibunsangatakeikoxsenbunsekisochi

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2844704A1 (de) * 1977-10-17 1979-04-26 Bausch & Lomb Verfahren und vorrichtung fuer eine roentgenanalyse von materialproben
EP0014580A1 (en) * 1979-02-09 1980-08-20 Martin Marietta Corporation Element analysis unit
DE3137186A1 (de) * 1980-09-22 1982-05-06 Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6259258B2 (ja) 1987-12-10
GB2127538A (en) 1984-04-11
NL8302740A (nl) 1984-04-16
JPS5967449A (ja) 1984-04-17
FR2533794B1 (fr) 1988-06-03
FR2533794A1 (fr) 1984-03-30
GB2127538B (en) 1986-06-25
GB8323706D0 (en) 1983-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4214369C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Knochenmineraldichte und der Knochenstärke
DE2322538C2 (de) Gerät zum Auswerten von Prüfungsbogen
DE2646638A1 (de) Zahnaerztliche roentgendiagnostikeinrichtung
DE2622177A1 (de) Anordnung zur ermittlung der absorption einer strahlung in einer ebene eines koerpers
DE2330415A1 (de) Verfahren zum beruehrungslosen messen eines bewegten gegenstandes und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE2716279C3 (de) Anordnung zur Ermittlung der Strahlungsabsorption in einer Ebene eines Körpers
DE23639T1 (de) Instrument und verfahren zur kalibrierung von szintillationskameras.
DE2702009C2 (de) Computer-Tomograph
DE2701060A1 (de) Fibrinogen-ueberwachungsgeraet
DE2725750A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung des quench-effektes bei szintillationszaehlern mit fluessigem szintillator
DE2804454C2 (ja)
DE4202142C2 (de) Verfahren zur Feststellung der Verschiebung einer aktuellen Signalspitze gegenüber ihrer normalen, bekannten Position im Energiespektrum von sekundären Röntgenstrahlen
DE2831311C2 (de) Vorrichtung zur Ermittlung innerer Körperstrukturen mittels Streustrahlung
DE3334458A1 (de) Korrektureinrichtung fuer ein roentgenanalysegeraet
DE3710745C2 (ja)
DE3211956C2 (de) Strahlungsdetektoranordnung
EP0418587B1 (de) Gerät zur Messung der Strahlendosis eines Fluoreszenzglasdosimeters
DE3319984A1 (de) Automatische korrektureinrichtung fuer ein roentgenstrahl-fluoreszenz-analysegeraet
DE2426794A1 (de) Einrichtung zur strahlungsfeststellung und verfahren zur feststellung des vorhandenseins eines interessierenden elementes in einer probe
DE69824581T2 (de) Verbesserungen von und bezüglich einer Überwachung
DE1755720B2 (de) Einrichtung an fahrbaren Maschinen zur Anzeige, Aufnahme und/oder Korrektur der Lage eines Gleises
DE2325315C2 (de) Verfahren zum Bestimmen der Schwächung einer von einer Strahlungsquelle ausgehenden Strahlung beim Durchgang durch eine Probe und Meßanordnung zur Durchführung eines solchen Verfahrens
DE2642273C3 (de) Pendelschlagwerk für Schlagbiege- und Schlagzugversuche
DE2751095C2 (de) Härteprüfgerät nach Shore
DE1947778A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur aeusseren Standardisierung von fluessigen Szintillationsproben

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8130 Withdrawal