JPS6252248B2 - - Google Patents
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- JPS6252248B2 JPS6252248B2 JP6415179A JP6415179A JPS6252248B2 JP S6252248 B2 JPS6252248 B2 JP S6252248B2 JP 6415179 A JP6415179 A JP 6415179A JP 6415179 A JP6415179 A JP 6415179A JP S6252248 B2 JPS6252248 B2 JP S6252248B2
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- resistor
- semi
- transmission gate
- temperature
- variable resistor
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- Expired
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
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- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、水晶発振式時計において、その電子
回路部分と同一の半導体基板内に設けられた回路
により高精度の温度補償を実現することができる
半導体温度検出回路に関する。
回路部分と同一の半導体基板内に設けられた回路
により高精度の温度補償を実現することができる
半導体温度検出回路に関する。
[従来技術]
従来、水晶発振式時計特に腕時計においてはそ
の発振回路に、32.768KHzの共振周波数をもつ屈
曲モードの音叉型水晶振動子が広く用いられてい
る。この音叉型水晶振動子は小型化しやすいため
時計用に適する反面、温度特性が良好でなく経時
変化が大きいという欠点を有する。この点を改良
する方法として、従来、水晶振動子と類似した温
度特性をもつチタバリコンデンサを用いることや
所望の仕様を満たす2個の水晶振動子を用いるこ
とが行なわれている。しかし、これらの方法によ
ると、調整に手数がかかりすぎること、チタバリ
コンデンサや水晶に厳しい仕様が要求されるこ
と、チタバリコンデンサや水晶を集積回路に外付
けしなくてはならないこと等により、生産性が悪
く、コスト高である。また、外付け部品の数が多
いことは、時計の小型化を妨げ、デザインを悪く
する要因ともなる。この欠点を改良する一つの方
法として、筆者等が以前提案した、時計用集積回
路内に温度検出回路及び論理官給回路をワンチツ
プ化して設けるものがある(特願昭52−42941
号)。具体的な温度検出回路として筆者らは第1
図に示すものを提案した。第1図で、2はカウン
タの掃引により順次抵抗値を変えることのできる
可変抵抗、3はPROMまたはヒユーズを用いるこ
とにより集積化された抵抗の抵抗値のばらつきを
初期調整することのできる半固定抵抗、4,5は
固定抵抗、1はコンパレータ、6は1の出力の反
転を検出すると同時に2の掃引を止める回路、7
は伝送ゲート、8は電源を表わす。第1図の温度
検出回路において、可変抵抗2または半固定抵抗
3は、各々第3図、第4図に類似した構成となつ
ている。第3図の22ないし24は集積化された
抵抗、5ないし29は伝送ゲート、30はデーコ
ーダ、31はカウンタであり、端子19,21,
32は各々第1図A,B、6に接続されている。
第1図の可変抵抗2の接続方法によれば、端子1
9Aから供給される電流は、カウンタ31、デコ
ーダ30により選択された伝送ゲートを通過し
て、端子21Bに達する。次に、半固定抵抗3に
ついて述べる。第4図の36ないし38は集積化
された抵抗、39ないし43は伝送ゲート、44
はPROMであり、端子33,35は各々第1図の
A,Cに接続される。第1図の半固定抵抗3の接
続方法によれば、端子33Aから供給される電流
は、PROMで指定された伝送ゲートを通過して、
端子35Cに達する。
の発振回路に、32.768KHzの共振周波数をもつ屈
曲モードの音叉型水晶振動子が広く用いられてい
る。この音叉型水晶振動子は小型化しやすいため
時計用に適する反面、温度特性が良好でなく経時
変化が大きいという欠点を有する。この点を改良
する方法として、従来、水晶振動子と類似した温
度特性をもつチタバリコンデンサを用いることや
所望の仕様を満たす2個の水晶振動子を用いるこ
とが行なわれている。しかし、これらの方法によ
ると、調整に手数がかかりすぎること、チタバリ
コンデンサや水晶に厳しい仕様が要求されるこ
と、チタバリコンデンサや水晶を集積回路に外付
けしなくてはならないこと等により、生産性が悪
く、コスト高である。また、外付け部品の数が多
いことは、時計の小型化を妨げ、デザインを悪く
する要因ともなる。この欠点を改良する一つの方
法として、筆者等が以前提案した、時計用集積回
路内に温度検出回路及び論理官給回路をワンチツ
プ化して設けるものがある(特願昭52−42941
号)。具体的な温度検出回路として筆者らは第1
図に示すものを提案した。第1図で、2はカウン
タの掃引により順次抵抗値を変えることのできる
可変抵抗、3はPROMまたはヒユーズを用いるこ
とにより集積化された抵抗の抵抗値のばらつきを
初期調整することのできる半固定抵抗、4,5は
固定抵抗、1はコンパレータ、6は1の出力の反
転を検出すると同時に2の掃引を止める回路、7
は伝送ゲート、8は電源を表わす。第1図の温度
検出回路において、可変抵抗2または半固定抵抗
3は、各々第3図、第4図に類似した構成となつ
ている。第3図の22ないし24は集積化された
抵抗、5ないし29は伝送ゲート、30はデーコ
ーダ、31はカウンタであり、端子19,21,
32は各々第1図A,B、6に接続されている。
第1図の可変抵抗2の接続方法によれば、端子1
9Aから供給される電流は、カウンタ31、デコ
ーダ30により選択された伝送ゲートを通過し
て、端子21Bに達する。次に、半固定抵抗3に
ついて述べる。第4図の36ないし38は集積化
された抵抗、39ないし43は伝送ゲート、44
はPROMであり、端子33,35は各々第1図の
A,Cに接続される。第1図の半固定抵抗3の接
続方法によれば、端子33Aから供給される電流
は、PROMで指定された伝送ゲートを通過して、
端子35Cに達する。
[発明が解決しようをする問題点]
従来の接続方法によれば、伝送ゲートを電流が
流れることになり、設計の際に伝送ゲートのイン
ピーダンスを考慮しなくてはならない。伝送ゲー
トのインピーダンスが温度に依存して変わる、伝
送ゲートのインピーダンスが経時変化する等の問
題が生ずる。
流れることになり、設計の際に伝送ゲートのイン
ピーダンスを考慮しなくてはならない。伝送ゲー
トのインピーダンスが温度に依存して変わる、伝
送ゲートのインピーダンスが経時変化する等の問
題が生ずる。
本発明は、可変抵抗および半固定抵抗の構成に
用いられている伝送ゲートの一方の端子をMOS
電界効果トランジスタ(以下、MOSFETと略
記)のゲートに接続することにより、上述の欠点
を解決するものである。
用いられている伝送ゲートの一方の端子をMOS
電界効果トランジスタ(以下、MOSFETと略
記)のゲートに接続することにより、上述の欠点
を解決するものである。
[実施例]
第2図は、本発明の一実施例を示す回路図であ
る。同図において、9,10はそれぞれ第3図、
第4図に示すように構成される。第3図で22な
いし24は集積化された抵抗、25ないし29は
伝送ゲート、30はデコーダ、31はカウンタで
あり、端子19,20,21,32はそれぞれ第
2図の14,15,11,12に接続される。同
様に第4図で36ないし38は集積化された抵
抗、39ないし43は伝送ゲート、44はPROM
であり、端子33,34,35はそれぞれ第2図
の16,17,11に接続される。また、第2図
で、11はコンパレータ、12はカウンタの掃引
を止める回路、13は伝達ゲート、14ないし1
7は集積化された抵抗、18は直流電源である。
11,12の回路例は、それぞれ第5図、第6図
に示すようになる。第5図はCMOSで構成された
演算増幅器である。同図aの45ないし47の端
子はそれぞれ同図bの45ないし47の端子に相
当する。また、51,52はそれぞれ正電源、負
電源、48は該演算増幅器の活性、非活性を制御
する信号φの入力端子であり、49および50に
はφが入力される。
る。同図において、9,10はそれぞれ第3図、
第4図に示すように構成される。第3図で22な
いし24は集積化された抵抗、25ないし29は
伝送ゲート、30はデコーダ、31はカウンタで
あり、端子19,20,21,32はそれぞれ第
2図の14,15,11,12に接続される。同
様に第4図で36ないし38は集積化された抵
抗、39ないし43は伝送ゲート、44はPROM
であり、端子33,34,35はそれぞれ第2図
の16,17,11に接続される。また、第2図
で、11はコンパレータ、12はカウンタの掃引
を止める回路、13は伝達ゲート、14ないし1
7は集積化された抵抗、18は直流電源である。
11,12の回路例は、それぞれ第5図、第6図
に示すようになる。第5図はCMOSで構成された
演算増幅器である。同図aの45ないし47の端
子はそれぞれ同図bの45ないし47の端子に相
当する。また、51,52はそれぞれ正電源、負
電源、48は該演算増幅器の活性、非活性を制御
する信号φの入力端子であり、49および50に
はφが入力される。
演算増幅器の入力45,46には第3図21及
び第4図35が接続される。このため第3図、第
4図の伝送ゲートは演算増幅器を構成するMOS
トランジスタのゲート45,46に接続されるこ
とになるから伝送ゲートのインピーダンスを無視
できることになる。則ち、演算増幅器を構成する
MOSトランジスタの入力インピーダンスが伝送
ゲートのインピーダンスに比べはるかに大きいた
めである。
び第4図35が接続される。このため第3図、第
4図の伝送ゲートは演算増幅器を構成するMOS
トランジスタのゲート45,46に接続されるこ
とになるから伝送ゲートのインピーダンスを無視
できることになる。則ち、演算増幅器を構成する
MOSトランジスタの入力インピーダンスが伝送
ゲートのインピーダンスに比べはるかに大きいた
めである。
次に、第6図で、53,54はそれぞれ第2図
の9,11に接続され、55,56には、それぞ
れ、カウンタのクロツク信号、RSフリツプフロ
ツプのセツト信号が入力される。また、57ない
し59はCMOSのNAND回路である。なお、第2
図の実施例において、用いられる抵抗14ないし
17、および9,10のうち少なくとも一つは温
度係数が他と異なつていなくてはならない。
の9,11に接続され、55,56には、それぞ
れ、カウンタのクロツク信号、RSフリツプフロ
ツプのセツト信号が入力される。また、57ない
し59はCMOSのNAND回路である。なお、第2
図の実施例において、用いられる抵抗14ないし
17、および9,10のうち少なくとも一つは温
度係数が他と異なつていなくてはならない。
例として、第7図を使つて説明する。抵抗1
4,15,16,17の温度係数がそれぞれα,
β,γ,δ、抵抗60ないし63の温度係数がθ
であり、抵抗14,15,16,17の温度t=
0(℃)のときの抵抗値がそれぞれR1,R2,
R3,R4、抵抗60,61,62,63のt=0
のときの抵抗値がそれぞれr1,r2,r3,r4である
場合を考える。このときコンパレータ11への作
動入力電圧ΔVは、 ΔV=[{R1(1+αt)+r1(1+θt)} {R4(1+δt)+r4(1+θt) −{R3(1+γt)+r3(1+θt)} {R2(1+βt)+r2(1+θt)}]/D ただし、DはVの分母を表わし常にD>0であ
る。温度tは、r1,r2を順次変化させた時のΔV
の符号の反転則ちコンパレータ11の出力信号の
反転によつて検出される。温度係数の大きさの組
合わせ方は多数考えられるが、例えば、α=δか
つα,δ≫β,γ,θとするとΔVの温度に対す
る感度∂ΔV/∂tはαと2αの間の値となりセンサー として用いる抵抗の温度係数αより大きくするこ
とができる。なおΔVの温度に対する感度は用い
る抵抗の組合わせにより種々変えることが可能で
ある。
4,15,16,17の温度係数がそれぞれα,
β,γ,δ、抵抗60ないし63の温度係数がθ
であり、抵抗14,15,16,17の温度t=
0(℃)のときの抵抗値がそれぞれR1,R2,
R3,R4、抵抗60,61,62,63のt=0
のときの抵抗値がそれぞれr1,r2,r3,r4である
場合を考える。このときコンパレータ11への作
動入力電圧ΔVは、 ΔV=[{R1(1+αt)+r1(1+θt)} {R4(1+δt)+r4(1+θt) −{R3(1+γt)+r3(1+θt)} {R2(1+βt)+r2(1+θt)}]/D ただし、DはVの分母を表わし常にD>0であ
る。温度tは、r1,r2を順次変化させた時のΔV
の符号の反転則ちコンパレータ11の出力信号の
反転によつて検出される。温度係数の大きさの組
合わせ方は多数考えられるが、例えば、α=δか
つα,δ≫β,γ,θとするとΔVの温度に対す
る感度∂ΔV/∂tはαと2αの間の値となりセンサー として用いる抵抗の温度係数αより大きくするこ
とができる。なおΔVの温度に対する感度は用い
る抵抗の組合わせにより種々変えることが可能で
ある。
[発明の効果]
本発明は、温度検出回路をIC化し時計用ICと
同一のチツプ内に設けるもので、これにより時計
の小型化、低コスト化が容易になる。また、検出
回路を構成するコンパレータをCMOSで構成され
るうえ、検出回路にはカウンタの掃引により短期
間パルス電流が流れるにすぎないため少ない消費
電流で温度補正を行なうことができる。本発明の
応用としては、電子時計の歩度の調整のみなら
ず、液晶表示体に対する温度補正、時計内への温
度計の組込みなど広範囲の可能性が考えられる。
同一のチツプ内に設けるもので、これにより時計
の小型化、低コスト化が容易になる。また、検出
回路を構成するコンパレータをCMOSで構成され
るうえ、検出回路にはカウンタの掃引により短期
間パルス電流が流れるにすぎないため少ない消費
電流で温度補正を行なうことができる。本発明の
応用としては、電子時計の歩度の調整のみなら
ず、液晶表示体に対する温度補正、時計内への温
度計の組込みなど広範囲の可能性が考えられる。
また、本発明ではカウンタの掃引により抵抗値
が変えられる可変抵抗および初期調整用の半固定
抵抗を構成する伝送ゲートの一方の端子がコンパ
レータの入力端となるMOSFETのゲートに接続
されており、入力インピーダンスの方が伝送ゲー
トのインピーダンスよりはるかに大きいため、入
力インピーダンスを無視することができ、温度や
経時変化による温度検出の精度低下を防ぐことが
できる。
が変えられる可変抵抗および初期調整用の半固定
抵抗を構成する伝送ゲートの一方の端子がコンパ
レータの入力端となるMOSFETのゲートに接続
されており、入力インピーダンスの方が伝送ゲー
トのインピーダンスよりはるかに大きいため、入
力インピーダンスを無視することができ、温度や
経時変化による温度検出の精度低下を防ぐことが
できる。
第1図は、従来の温度検出回路を示す図。第2
図は、本発明による温度検出回路の全体図を示す
図。第3図は、第2図の9の説明及び従来例の説
明をするための図。第4図は、第2図の10の説
明及び従来例の説明をするための図。第5図は、
第2図の11を説明するための図。第6図は、第
2図の12を説明するための図。第7図は、異な
る温度係数をもつ抵抗を用いて温度検出を行なう
機構を説明するための図。
図は、本発明による温度検出回路の全体図を示す
図。第3図は、第2図の9の説明及び従来例の説
明をするための図。第4図は、第2図の10の説
明及び従来例の説明をするための図。第5図は、
第2図の11を説明するための図。第6図は、第
2図の12を説明するための図。第7図は、異な
る温度係数をもつ抵抗を用いて温度検出を行なう
機構を説明するための図。
Claims (1)
- 1 カウンタの掃引により抵抗値が変えられる可
変抵抗、初期値調整用の半固定抵抗、該可変抵抗
及び該半固定抵抗とは温度係数の異なる第1の抵
抗を含むブリツジ回路と、コンパレータとを用い
た温度検出回路において、前記コンパレータは
MOSトランジスタよつて構成された演算増幅器
よりなり、前記可変抵抗及び前記半固定抵抗は
各々複数の分割点を有し、該分割点に一端を接続
した伝送ゲートの開閉によつて抵抗値が設定さ
れ、前記可変抵抗に接続される伝送ゲートの他端
は前記演算増幅器の第1の入力端となる第1の
MOSトランジスタのゲート電極に接続し、前記
半固定抵抗に接続される伝送ゲートの他端は前記
演算増幅器の第2の入力端となる第2のMOSト
ランジスタのゲート電極に接続してなることを特
徴とする温度検出回路。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6415179A JPS55155219A (en) | 1979-05-23 | 1979-05-23 | Temperature detection circuit |
GB8016491A GB2054997B (en) | 1979-05-23 | 1980-05-19 | Temperature detecting circuit |
FR8011337A FR2457606B1 (fr) | 1979-05-23 | 1980-05-21 | Circuit de detection et de compensation de temperature pour une montre |
US06/152,448 US4465379A (en) | 1979-05-23 | 1980-05-22 | Temperature detector circuit for timepiece |
DE3019831A DE3019831C2 (de) | 1979-05-23 | 1980-05-23 | Temperaturfühlerschaltung |
CH406480A CH654716GA3 (ja) | 1979-05-23 | 1980-05-23 | |
GB08233659A GB2114835B (en) | 1979-05-23 | 1982-11-25 | Temperature detecting device |
HK882/85A HK88285A (en) | 1979-05-23 | 1985-11-07 | Temperature detecting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6415179A JPS55155219A (en) | 1979-05-23 | 1979-05-23 | Temperature detection circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS55155219A JPS55155219A (en) | 1980-12-03 |
JPS6252248B2 true JPS6252248B2 (ja) | 1987-11-04 |
Family
ID=13249781
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6415179A Granted JPS55155219A (en) | 1979-05-23 | 1979-05-23 | Temperature detection circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS55155219A (ja) |
-
1979
- 1979-05-23 JP JP6415179A patent/JPS55155219A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS55155219A (en) | 1980-12-03 |
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