JPS6249640A - 金電極構造およびその製造方法 - Google Patents
金電極構造およびその製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、サーマルヘッドの導電パターン部のように
ワイヤポンドされるものに適用される金電極構造に関す
るものである。
ワイヤポンドされるものに適用される金電極構造に関す
るものである。
[従来の技術]
一般に、サーマルヘッドは、感熱記録紙上に数字、文字
、記号などを記録するために用いられるものであり1通
常は、セラミックなどの絶縁性基板上に1対の電極を形
成するとともに、両電極間に発熱体としての抵抗体を電
気的に接続して構成されている。
、記号などを記録するために用いられるものであり1通
常は、セラミックなどの絶縁性基板上に1対の電極を形
成するとともに、両電極間に発熱体としての抵抗体を電
気的に接続して構成されている。
そして、サーマルヘッドを用いて記録を行なう場合には
1両電極間の抵抗体に電圧を印加して抵抗体を発熱させ
、その熱を感熱記録紙に与えることによって、感熱記録
紙には抵抗体の発熱に応じて感熱記録が行なわれる。こ
こで、感熱記録紙としては、周知のように、熱を与える
ことによって物理的あるいは化学的に変色するように処
理されたものが用いられる。
1両電極間の抵抗体に電圧を印加して抵抗体を発熱させ
、その熱を感熱記録紙に与えることによって、感熱記録
紙には抵抗体の発熱に応じて感熱記録が行なわれる。こ
こで、感熱記録紙としては、周知のように、熱を与える
ことによって物理的あるいは化学的に変色するように処
理されたものが用いられる。
ところで、このようなサーマルヘッドには、感熱記録紙
上に高精度に熱記録を行なうことができること、抵抗体
の消費電力が少ないこと等が強く要求されている。
上に高精度に熱記録を行なうことができること、抵抗体
の消費電力が少ないこと等が強く要求されている。
ti117図は従来のサーマルヘッドの断面図を示して
いる0図において、(1)はたとえばセラミックなどか
らなる絶縁性基板、(2)は金電極(3)にこの電極(
3)の1部を被覆して形成された発熱体としての抵抗体
であり、抵抗体(2)は酸化ルテニウムなどを含有する
抵抗ペーストを用いて、絶縁性基板(1)上に厚膜技術
などの手法によって形成されている。上記金電極(3)
は発熱抵抗体(2)への通電リード用導電パターンを形
成している。(0は外部リード用導電パターンを形成す
る金電極で、金電極(3) 、 (4)と上記絶縁性
基板(1)上に設定されている集積回路素子(5)との
間は金ワイヤ(+1)で接続されている。これら金電極
(3)、(4)は金を含有する導電性ペーストを用いて
絶縁性基板(1)上に発熱抵抗体(2)を形成する手法
と同様の手法によって形成される。
いる0図において、(1)はたとえばセラミックなどか
らなる絶縁性基板、(2)は金電極(3)にこの電極(
3)の1部を被覆して形成された発熱体としての抵抗体
であり、抵抗体(2)は酸化ルテニウムなどを含有する
抵抗ペーストを用いて、絶縁性基板(1)上に厚膜技術
などの手法によって形成されている。上記金電極(3)
は発熱抵抗体(2)への通電リード用導電パターンを形
成している。(0は外部リード用導電パターンを形成す
る金電極で、金電極(3) 、 (4)と上記絶縁性
基板(1)上に設定されている集積回路素子(5)との
間は金ワイヤ(+1)で接続されている。これら金電極
(3)、(4)は金を含有する導電性ペーストを用いて
絶縁性基板(1)上に発熱抵抗体(2)を形成する手法
と同様の手法によって形成される。
上記金電極(3) 、 (4)は、絶縁性基板(1)
上に比較的なじみ易いオルガニック金(有機金)を使用
して印刷スクリーン法で導電パターンを形成したのち、
第8図のような昇温−焼成インターバル−降温がそれぞ
れ約15分づつの温度プロファイルで焼成されることに
よって成膜される。
上に比較的なじみ易いオルガニック金(有機金)を使用
して印刷スクリーン法で導電パターンを形成したのち、
第8図のような昇温−焼成インターバル−降温がそれぞ
れ約15分づつの温度プロファイルで焼成されることに
よって成膜される。
このような金電極(3) 、 (4)への金ワイヤ(
8)の接合は、第9図に示すように、金ワイヤ(8)を
保持したキャピラリ(7)を有する超音波ワイヤポンド
手段で行なわれる。すなわち、キャピラリ(7)に超音
波を印加して、このキャピラリ(7)を絶縁性基板(1
)側に降下させて金ワイヤ(6)を金電極(3) 、
(4)に当接すれば、金ワイヤ(6)が金電極(3)
、 (4)に溶融接合される。
8)の接合は、第9図に示すように、金ワイヤ(8)を
保持したキャピラリ(7)を有する超音波ワイヤポンド
手段で行なわれる。すなわち、キャピラリ(7)に超音
波を印加して、このキャピラリ(7)を絶縁性基板(1
)側に降下させて金ワイヤ(6)を金電極(3) 、
(4)に当接すれば、金ワイヤ(6)が金電極(3)
、 (4)に溶融接合される。
[発明が解決しようとする問題点]
従来では、上記金電極(3) 、 (4)の表面が緻
密であるほど、金ワイヤ(8)との接合がよいとの通説
にしたがい、約0.51L■の膜厚を有する金電極(3
) 、 (4)の表面粗度を、第10図のように表面の
凹凸の高さが約xooA <ピーク拳ピーク)の緻密な
面としていたけれども、金ワイヤ(8)に必要な強度で
ある3g以上の引張強度を付勢すると、金電極(3)
、 (4)から金ワイヤ(8)が剥離する欠点を有して
いた。
密であるほど、金ワイヤ(8)との接合がよいとの通説
にしたがい、約0.51L■の膜厚を有する金電極(3
) 、 (4)の表面粗度を、第10図のように表面の
凹凸の高さが約xooA <ピーク拳ピーク)の緻密な
面としていたけれども、金ワイヤ(8)に必要な強度で
ある3g以上の引張強度を付勢すると、金電極(3)
、 (4)から金ワイヤ(8)が剥離する欠点を有して
いた。
しかも、金電極(3) 、 (4)の表面の緻密化の
ために、昇温等に時間をかけて焼成しなければならず、
製造能率の悪いものであった。
ために、昇温等に時間をかけて焼成しなければならず、
製造能率の悪いものであった。
この発明は上記従来の欠点を除去するためになされたも
ので、超音波ワイヤポンドで十分な接合強度が得られ、
かつ生産能率の高い金電極構造を提供することを目的と
している。
ので、超音波ワイヤポンドで十分な接合強度が得られ、
かつ生産能率の高い金電極構造を提供することを目的と
している。
[問題点を解決するための手段]
この発明は、絶縁性基板に直接もしくは下地層を介して
形成され、かつ金ワイヤが超音波ワイヤポンドで接合さ
れる金電極の膜厚を0.5〜1.Ou。
形成され、かつ金ワイヤが超音波ワイヤポンドで接合さ
れる金電極の膜厚を0.5〜1.Ou。
■とし、その表面荒さを300ム(ピーク・ピーク)以
上に設定したことを特徴とする。
上に設定したことを特徴とする。
[作用]
この発明においては、超音波ワイヤポンドの強度が金ワ
イヤを保持して金電極に当接させるとともに、上記金ワ
イヤが金電極に擦すられて良好にワイヤボンドされるう
え、金電極の焼成時の昇温時間を短縮することができる
。
イヤを保持して金電極に当接させるとともに、上記金ワ
イヤが金電極に擦すられて良好にワイヤボンドされるう
え、金電極の焼成時の昇温時間を短縮することができる
。
[実施例]
以下、この発明の実施例を図面にしたがって説明する。
第1図はこの発明による金電極構造が適用されたサーマ
ルヘッドの一部を示す概略断面図であ゛す、第7図と同
一部分には、同一符号を付してその詳しい説明を省略す
る。
ルヘッドの一部を示す概略断面図であ゛す、第7図と同
一部分には、同一符号を付してその詳しい説明を省略す
る。
同図において、(21)は発熱抵抗体(2)への通電リ
ード用導電パターンを形成する金電極、(22)は外部
リード用導電パターンを形成する金電極で、これらの金
電極(21) 、 (22)の膜厚は0.5〜1.0
JL■とし、その表面荒さは3GOA (ピーク・ピー
ク)以上に設定されている。
ード用導電パターンを形成する金電極、(22)は外部
リード用導電パターンを形成する金電極で、これらの金
電極(21) 、 (22)の膜厚は0.5〜1.0
JL■とし、その表面荒さは3GOA (ピーク・ピー
ク)以上に設定されている。
これら金電極(21) 、 (22)は金を含有するメ
タル・オルガニック・ペース)A−4615(エンゲル
ハード社製)を用いて絶縁性基板(1)上に臼刷スクリ
ーン法で導電パターンを形成したのち、高速焼成炉で第
2図のような昇温−焼成インターバル−降温の温度プロ
ファイルで焼成されることによって成膜される。
タル・オルガニック・ペース)A−4615(エンゲル
ハード社製)を用いて絶縁性基板(1)上に臼刷スクリ
ーン法で導電パターンを形成したのち、高速焼成炉で第
2図のような昇温−焼成インターバル−降温の温度プロ
ファイルで焼成されることによって成膜される。
この場合、昇温速度は150度1分以上の高速度で行な
うことにより、たとえば第3図のような表面荒さが50
0λ(ピーク・ピーク)の粗度に設定される。
うことにより、たとえば第3図のような表面荒さが50
0λ(ピーク・ピーク)の粗度に設定される。
このような金電極(21) 、 (22)に対し、第9
図のキャピラリ(7)を用いて、金ワイヤ(8)をそれ
ぞれ超音波ワイヤポンドし、上記金電極(21) 、
(22)の膜厚と表面荒さに対する各ワイヤ引張強度を
測定した結果、第4図および第5図のような結果が得ら
れた。
図のキャピラリ(7)を用いて、金ワイヤ(8)をそれ
ぞれ超音波ワイヤポンドし、上記金電極(21) 、
(22)の膜厚と表面荒さに対する各ワイヤ引張強度を
測定した結果、第4図および第5図のような結果が得ら
れた。
第4図において、特性Aは所要のワイヤ引張強度3g以
上であるけれども、特性Bは所要のワイヤ引張強度3g
以下であった。ところが、金電極(21) 、 (22
)の膜厚が0.5涛■のものについて、その表面荒さが
300λ(ピーク・ピーク)以上においては、第5図に
示すように、特性a、bともに所要のワイヤ引張強度3
g以上であり、その表面荒さが300λ(ピーク・ピー
ク)以下においては、特性すで示すように所要のワイヤ
引張強度3g以下であった。
上であるけれども、特性Bは所要のワイヤ引張強度3g
以下であった。ところが、金電極(21) 、 (22
)の膜厚が0.5涛■のものについて、その表面荒さが
300λ(ピーク・ピーク)以上においては、第5図に
示すように、特性a、bともに所要のワイヤ引張強度3
g以上であり、その表面荒さが300λ(ピーク・ピー
ク)以下においては、特性すで示すように所要のワイヤ
引張強度3g以下であった。
つまり、第4図および第5図から明らかなように、金電
極(21) 、 (22)の膜厚が0.5〜1.0終膳
であって、その表面荒さが300λ(ピーク・ピーク)
以上であれば、金電極(21) 、 (22)は所要の
ワイヤ引張強度3g以上の接合強度を有するけれども。
極(21) 、 (22)の膜厚が0.5〜1.0終膳
であって、その表面荒さが300λ(ピーク・ピーク)
以上であれば、金電極(21) 、 (22)は所要の
ワイヤ引張強度3g以上の接合強度を有するけれども。
金電極(21) 、 (22)の膜厚が0.5〜1.0
#Ltsであって、その表面荒さが30OA (ピー
ク・ピーク)以下であれば、金電極(21) 、 (2
2)は所要のワイヤ引張強度3g以下の接合強度しか有
しない。
#Ltsであって、その表面荒さが30OA (ピー
ク・ピーク)以下であれば、金電極(21) 、 (2
2)は所要のワイヤ引張強度3g以下の接合強度しか有
しない。
このことは、金電極(21) 、 (22)の膜厚が0
.5〜1、OIL−であって、その表面荒さが300A
Cピーク・ピーク)以上に形成することにより、金ワ
イヤ(8)を金電極(21) 、 (22)に超音波ワ
イヤポンドした際に、金ワイヤ(6)が金電極(21)
、 (22)の粗面に強く擦られて超音波接合が良好
になされる結果と推測される。
.5〜1、OIL−であって、その表面荒さが300A
Cピーク・ピーク)以上に形成することにより、金ワ
イヤ(8)を金電極(21) 、 (22)に超音波ワ
イヤポンドした際に、金ワイヤ(6)が金電極(21)
、 (22)の粗面に強く擦られて超音波接合が良好
になされる結果と推測される。
なお、上記の例において、金電極(21) 、 (22
)の表面粗度は焼成時間を変えることにより制御したが
、300λ以下のアルミナ粉末や500番以上の市販の
サンドベーパを用いて、前述した所定の表面粗度を得る
ことができる。
)の表面粗度は焼成時間を変えることにより制御したが
、300λ以下のアルミナ粉末や500番以上の市販の
サンドベーパを用いて、前述した所定の表面粗度を得る
ことができる。
また、上記の例では、金電極(21) 、 (22)を
絶縁性基板(1)に直接形成したものであるが、第6図
のようにガラス等の下地層(23)の表面をアルミナ粒
子等でラッピングして表面(23a)を所定の粗度に荒
した状態で、この上に同図CB)のように金電極(21
) 、 (22)を被着しても、同様の効果を奏するこ
とができる。
絶縁性基板(1)に直接形成したものであるが、第6図
のようにガラス等の下地層(23)の表面をアルミナ粒
子等でラッピングして表面(23a)を所定の粗度に荒
した状態で、この上に同図CB)のように金電極(21
) 、 (22)を被着しても、同様の効果を奏するこ
とができる。
[発明の効果]
以上のように、この発明によれば、絶縁性基板に直接も
しくは下地層を介して形成され、かつ金ワイヤが超音波
ワイヤボンドで接合される金電極の膜厚を0.5〜1.
0終■とし、その表面荒さを300λ(ピーク・ピーク
)以上に設定したから、超音波ワイヤポンド時に、金ワ
イヤが金電極に擦すられて良好にワイヤポンドされるう
え、金電極の焼成時の昇温時間を短縮することができる
。
しくは下地層を介して形成され、かつ金ワイヤが超音波
ワイヤボンドで接合される金電極の膜厚を0.5〜1.
0終■とし、その表面荒さを300λ(ピーク・ピーク
)以上に設定したから、超音波ワイヤポンド時に、金ワ
イヤが金電極に擦すられて良好にワイヤポンドされるう
え、金電極の焼成時の昇温時間を短縮することができる
。
第1図はこの発明による金電極構造が適用されるサーマ
ルヘッドの一部を示す概略断面図、第2図は同サーマル
ヘッドの金電極の焼成温度プロファイルを示すタイムチ
ャート、第3図は同金電極の表面粗度の実測波形図、第
4図および第5図は金電極の膜厚と表面荒さに対する各
ワイヤ引張強度の測定図、第6図は金電極構造が適用さ
れるサーマルヘッドの要部の変形例を示す断面図、第7
図は従来の金電極構造が適用されたサーマルヘッドの一
部を示す概略断面図、第8図は従来の金電極の焼成温度
プロファイルを示すタイムチャート、第9図は超音波ワ
イヤポンドを説明する断面図、第10図は従来の金電極
の表面粗度の実測波形図である。 (1)・・・絶縁性基板、(θ)・・・金ワイヤ、(2
1) 、 (22)・・・金電極、 (23)・・・下
地層。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
ルヘッドの一部を示す概略断面図、第2図は同サーマル
ヘッドの金電極の焼成温度プロファイルを示すタイムチ
ャート、第3図は同金電極の表面粗度の実測波形図、第
4図および第5図は金電極の膜厚と表面荒さに対する各
ワイヤ引張強度の測定図、第6図は金電極構造が適用さ
れるサーマルヘッドの要部の変形例を示す断面図、第7
図は従来の金電極構造が適用されたサーマルヘッドの一
部を示す概略断面図、第8図は従来の金電極の焼成温度
プロファイルを示すタイムチャート、第9図は超音波ワ
イヤポンドを説明する断面図、第10図は従来の金電極
の表面粗度の実測波形図である。 (1)・・・絶縁性基板、(θ)・・・金ワイヤ、(2
1) 、 (22)・・・金電極、 (23)・・・下
地層。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- (1)メタル・オルガニック金で絶縁性基板に直接もし
くは下地層を介して導電パターン状に形成されたのち、
焼成して成膜されるとともに、超音波ワイヤボンドで金
ワイヤが接合される金電極を備えた金電極構造において
、上記金電極の膜厚を0.5〜1.0μmとし、その表
面荒さを300Å(ピーク・ピーク)以上に設定したこ
とを特徴とする金電極構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60192218A JPS6249640A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 金電極構造およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60192218A JPS6249640A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 金電極構造およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6249640A true JPS6249640A (ja) | 1987-03-04 |
JPH0525176B2 JPH0525176B2 (ja) | 1993-04-12 |
Family
ID=16287625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60192218A Granted JPS6249640A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 金電極構造およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6249640A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006049095A1 (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-11 | Rohm Co., Ltd. | サーマルプリントヘッドおよびその製造方法 |
US7697020B2 (en) | 2004-11-04 | 2010-04-13 | Rohm Co., Ltd. | Thermal print head and method for manufacturing same |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS547866A (en) * | 1977-06-20 | 1979-01-20 | Mitsubishi Electric Corp | Manufacture for semiconductor device |
JPS5434678A (en) * | 1977-08-22 | 1979-03-14 | Matsushita Electronics Corp | Semiconductor device |
JPS5739548A (en) * | 1980-08-21 | 1982-03-04 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
-
1985
- 1985-08-29 JP JP60192218A patent/JPS6249640A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS547866A (en) * | 1977-06-20 | 1979-01-20 | Mitsubishi Electric Corp | Manufacture for semiconductor device |
JPS5434678A (en) * | 1977-08-22 | 1979-03-14 | Matsushita Electronics Corp | Semiconductor device |
JPS5739548A (en) * | 1980-08-21 | 1982-03-04 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006049095A1 (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-11 | Rohm Co., Ltd. | サーマルプリントヘッドおよびその製造方法 |
JP2006130707A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Rohm Co Ltd | サーマルヘッドおよびその製造方法 |
US7697020B2 (en) | 2004-11-04 | 2010-04-13 | Rohm Co., Ltd. | Thermal print head and method for manufacturing same |
JP4633442B2 (ja) * | 2004-11-04 | 2011-02-16 | ローム株式会社 | サーマルヘッド |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0525176B2 (ja) | 1993-04-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |