JPS6239709A - パトロ−ネ高さ寸法測定装置 - Google Patents

パトロ−ネ高さ寸法測定装置

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Publication number
JPS6239709A
JPS6239709A JP18031885A JP18031885A JPS6239709A JP S6239709 A JPS6239709 A JP S6239709A JP 18031885 A JP18031885 A JP 18031885A JP 18031885 A JP18031885 A JP 18031885A JP S6239709 A JPS6239709 A JP S6239709A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cartridge
support shaft
height
turret
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18031885A
Other languages
English (en)
Inventor
Tokuji Takahashi
高橋 徳治
Terukazu Murakami
村上 輝一
Makoto Asano
朝野 誠
Koji Hashimoto
橋本 光二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP18031885A priority Critical patent/JPS6239709A/ja
Publication of JPS6239709A publication Critical patent/JPS6239709A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、パトローネの高さ寸法を検査ターレットを
用いて連続的に測定するパトローネ高さ寸法測定装置に
関するものである。
(発明の背景) パトローネの高さ寸法を測定する装置として、例えば、
特開昭58−80630号公報に開示されるように、パ
トローネホルダをインデックステーブルに固定し、外部
にフォトスイッチを2個一定ff1lllして配置した
ものがある。
このものは、パトローネをインデックステーブルにより
、間欠的に順次フォトスイッチの配置位置に搬送し、こ
の位置でパトローネホルダの上部の押えのふれ量が許容
範囲内にあるか否かをフォトスイッチのオン・オフで判
断するようになっている。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、このパトローネの高さ測定装置は、パトロー
ネをインデックステーブルにより、間欠的に搬送して測
定しているため、測定速度に一定の限界がある。
また、パトローネホルダの上部の押えのふれ量が許容範
囲内にあるか否かを判断するため、パトローネホルダの
底部の積度が測定誤差となる。このため、多数のパトロ
ーネホルダの全部について、下面を同じレベルに合わせ
なければならない。
さらに、パトローネの高さの判断は2個のフォトスイッ
ヂのオン・オフで、パトローネの高さ寸法が許容範囲内
にあるか否かを判別するのみであり、正確な寸法を測定
できない等の不具合があった。
この発明は前記の実情に鑑みてなされたもので、測定速
度を向上して処理能力が一層増大するとともに、測定精
度がさらに向上するパトローネ高さ測定装置を提供する
ことを目的としている。
(問題点を解決するための手段) この発明は前記の問題点を解決するために、検査ターレ
ットにより、パトローネホルダに保持されたパトローネ
を検査するパトローネ検査装置において、1前記パトロ
ーネホルダを搬送機構に設けるとともに、前記検査ター
レットをパトローネホルダに同期して移動させ、この検
査ターレットにパトローネの軸方向の両端部を挟む高さ
検出機構を設け、この高さ検出機構で搬送しながら前記
パトローネホルダに保持されたパトローネの挟み変化量
に」^づきパトローネの高さを検出するようになしたこ
とを特徴としている。
(作用) この発明では、搬送機構に設けられたパトローネホルダ
にパトローネを保持し、このパトローネホルダと同期し
て検査ターレットが移動する。この検査ターレットに設
けられたパトローネ高さ検出機構で、パトローネの両端
部をパトローネホルダに搬送しながら、その挟み変化量
を検出してパトローネの高さを測定する。
(実施例) 次に、この発明の一実施例を添付図面に基づいて詳細に
説明する。
図において符号1はパトローネ検査装置の回転軸で、こ
の回転軸1にはスプロケット2と、検査ターレット3が
一体回転可能に設けられている。
スプロケット2にはチェーン4が噛合しており、このチ
ェーン4の上部にはパトローネ5を保持するパトローネ
ホルダ6が設けられている。
前記検査ターレット3にはパトローネ5の軸方向の長さ
く高さ)を検出する高さ検出機構7が配置され、さらに
検査ターレット3の外周には円筒カム8が配置されてい
る。
高さ検出機構7のパトローネ下支持軸9及び上支持軸l
Oはそれぞれガイド11に下動可能に支持され、このガ
イド11は検査ターレット3に固定されている。
パトローネ下支持軸9の上部には係止部材12が固定さ
れ、この係止部材12とガイド11の間にはバネ13が
設けられている。パトローネ下支持軸9はこのバネ13
によって、常に上方へ付勢されている。
このパトローネ下支持軸9の下部にはストッパボルト1
4が設けられ、ストッパボルト14がガイド11の下面
に当接することにより、パトローネ下支持軸9が上方へ
抜けないようになっている。
パトローネ下支持軸9の下端部には爪部15が設けられ
、この爪部15はパトローネホルダ6に保持されるパト
ローネ5の下端部に当接するようになっている。
パトローネ下支持軸9の上部側部にはローラ16が軸支
され、さらに先端部には金属平板17が固定されている
。ローラ16は支持軸18を支点として回動可能に支持
されたシーソ19の一端部19aと当接するようになっ
ている。
前記パトローネ上支持軸10にはブラケット20を介し
て、カムフォロアー21が固定されており、検査ターレ
ット3の回転でカムフォロアー21が円筒カム8により
上下動するようになっている。このパトローネ上支持軸
10の下端部には押え部22が設けられ、パトローネホ
ルダ6に載置されたパトローネ5の上端部を保持する。
パトローネ上支持軸10の上部側部にはローラ23が軸
支され、さらに先端部にはブラケット24が固定され、
このブラケット24にはセンサ25が設けられている。
ローラ23はパトローネ上支持軸10の上下動によって
、シーソ19の他端部19bを上下動させる。また、セ
ンサ25は前記パトローネ下支持軸9に設けた金属平板
17に対向しており、金属平板17との間のギャップ量
りを検出する。このギャップff1Lはパトローネ5の
高さ寸法Hに対応しており、予め設定された校正値によ
り、所定の寸法を得るようになっている。
次に、この実施例の作動について説明する。
パトローネ上支持軸10は円筒カム8によりカムフォロ
アー21を介して、1方に持ち上げられ、さらにシーソ
19の他端部19bがパトローネ下支持軸10のローラ
23で押し上げている。
従って、パトローネ下支持軸9はシーソ19の一端部1
9aによって、バネ13に抗して押し下げられている。
いま、パトローネ検査装置の回転軸1が回転すると、ス
プロケット2と検査ターレット3が一体に回転する。こ
のため、スプロケット2によりチェーン4が駆動して、
パトローネホルダ6が検査ターレット3の外周部の検査
領域に搬送される。
また、検査ターレット3の回転により、上方に持ち上げ
られているパトローネ上支持軸10が、円筒カム8上を
スライドするカムフォロアー21を介して下降し、所定
の位置で5パトローネホルダ6上に載置されたパトロー
ネ5の上端部を押さえてパトローネ5を保持する。
このパトローネ上支持軸10の下降により、ローラ23
がシーソ19の他端部19bから離れるため、下方へ押
し下げられていたパトローネ下支持軸9が、バネ13の
バネ力によって上昇する。
そして、パトローネ下支持軸9の爪部15がパトローネ
5の下端部に当接して係止される。
これにより、パトローネ下支持軸9の上端部の金属平板
1フと、パトローネ上支持軸10のセンサ25が近接し
、センサ25が両者間のギャップ量りを検出する。この
ギャップ量しから予め設定されている校正値により、パ
トローネ5の高さ寸法を得る。
このパトローネ5の高さ寸法の測定は、パトローネホル
ダ6の搬送とともに、検査ターレット3の回転によって
、パトローネ5を保持する位置決めの際に連続して行な
われる。
(発明の効果) この発明は前記のように、パトローネホルダと同期して
移動する検査ターレットに設けられた高さ検出機構で、
パトローネの両端部の挟み変化量を、搬送しながら検出
してパトローネの高さを測定するようになしたから、従
来のように、間欠的に搬送するものに比べて測定速度が
向上し、処理能力が一層増大する。さらに、高さ検出機
構によってパトローネ高さが挟み変化量として検出され
るため、測定精度がさらに向上する。
【図面の簡単な説明】
図はこの発明を適用したパトローネ高さ寸法測定装置の
断面図である。 3−検査ターレット 5・−パトローネ 6・・・パトローネホルダ 7・・・高さ検出機構 8−円筒カム 9・・・パトローネ下支持軸 10・−パトローネ上支持軸 25・−センサ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 検査ターレットにより、パトローネホルダに保持された
    パトローネを検査するパトローネ検査装置において、前
    記パトローネホルダを搬送機構に設けるとともに、前記
    検査ターレットをパトローネホルダに同期して移動させ
    、この検査ターレットにパトローネの軸方向の両端部を
    挟む高さ検出機構を設け、この高さ検出機構で搬送しな
    がら前記パトローネホルダに保持されたパトローネの挟
    み変化量に基づきパトローネの高さを検出するようにな
    したパトローネ高さ寸法測定装置。
JP18031885A 1985-08-16 1985-08-16 パトロ−ネ高さ寸法測定装置 Pending JPS6239709A (ja)

Priority Applications (1)

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JP18031885A JPS6239709A (ja) 1985-08-16 1985-08-16 パトロ−ネ高さ寸法測定装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP18031885A JPS6239709A (ja) 1985-08-16 1985-08-16 パトロ−ネ高さ寸法測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6239709A true JPS6239709A (ja) 1987-02-20

Family

ID=16081113

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18031885A Pending JPS6239709A (ja) 1985-08-16 1985-08-16 パトロ−ネ高さ寸法測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56168175A (en) * 1980-05-29 1981-12-24 Fuji Electric Co Ltd Half-wave extending system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56168175A (en) * 1980-05-29 1981-12-24 Fuji Electric Co Ltd Half-wave extending system
JPH0133785B2 (ja) * 1980-05-29 1989-07-14 Fuji Electric Co Ltd

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