JPS6230498B2 - - Google Patents

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JPS6230498B2
JPS6230498B2 JP54150654A JP15065479A JPS6230498B2 JP S6230498 B2 JPS6230498 B2 JP S6230498B2 JP 54150654 A JP54150654 A JP 54150654A JP 15065479 A JP15065479 A JP 15065479A JP S6230498 B2 JPS6230498 B2 JP S6230498B2
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JP
Japan
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inner lead
lead
semiconductor device
wire bonding
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Kenryo Kawada
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Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体装置に関し、特にワイヤボンデ
イングを施すインナーリードを改良した半導体装
置に関するものである。
例えばデユアルインライン型パツケージの半導
体装置では、第1図に示すように、リードフレー
ム1の略中央に形成したタブ2上に半導体ペレツ
ト3を固着すると共に、この半導体ペレツト3の
各電極とリードフレーム1の複数のインナーリー
ド4とを夫々金、アルミニウム等のワイヤ5にて
接続し、アウターリード6に導通させるようにな
つている。このリードフレーム1は、通常金属板
をプレス打抜或いはエツチングして形成してい
る。
ところで、一般に前述したような半導体装置で
は、半導体ペレツト3が略方形に形成されている
ことから、リードフレーム1に形成されるタブ2
も略方形に形成される。このため、タブの周囲に
均等な間隔をおいてインナーリードを配設しよう
とすれば、中央のインナーリードはタブの側辺に
対して直角或いは略直角に配設されるが、隅部の
インナーリードはタブ側辺に対して斜め方向に配
設しなければならない。
このため、第2図に一部を拡大図示するよう
に、タブ2の側辺に対する角度が相違する各イン
ナーリード4a,4b,4c相互間では、タブ側
辺に沿つた間隔xを夫々等しくすると、特に各イ
ンナーリード4a,4b,4cの先端部、即ち半
導体ペレツトに接続するワイヤをボンデイングす
る部分7a,7b,7cにおけるワイヤの延設方
向と直角な方向の幅(実効幅)ya,yb,yc
夫夫相違することになる。この実効幅ya,yb
cはタブ側辺に対する角度が小さい(斜め方向
に向けられる)ものほど小さくなる(yc>yb
a)。
従つて、このようなリードフレームを用いてワ
イヤを自動ボンダによりインナーリードに接続し
ようとすると、自動ボンダのキヤピラリやウエツ
ジにおけるワイヤ延設方向と直角な方向の変動許
容幅が実効幅に応じて相違され、良効なワイヤボ
ンデイングを行なうためには、実効幅の小さなイ
ンナーリードほど自動ボンダの変動を小さく抑え
なければならない。このため、自動ボンダでは実
効幅の最も小さなインナーリードに基づいて変動
幅を制御しなければならず、一般にこの変動幅は
キヤピラリやウエツジのボンデイング速度と相関
を有するため、結果としてインナーリードの実効
幅の低減がボンデイングの低速化を招くという不
具合が生じている。
したがつて、本発明の目的は、自動ボンダにお
けるキヤピラリやウエツジ等のワイヤ延設方向と
直角方向の変動許容幅を大きくしてワイヤボンデ
イングの高速化を図ることができるリード構造を
用いた半導体装置を提供することにある。
以下、本発明の実施例を説明する。
第3図は本発明の半導体装置に用いられるリー
ドフレーム11の一部拡大平面図であつて第2図
に対応する図であり、12は略方形に形成された
半導体ペレツト13が固着されるタブ、14はこ
のタブ12の周囲に各先端を配置した複数のイン
ナーリードである。これら各インナーリード14
は、タブ12に対する配設位置の相違によつて
夫々タブ側辺に対して先端部がなす角度が相違し
ており、隅のインナーリードほど角度が小さくな
つている。しかしながら、これらインナーリード
は、例えば図においてインナーリード14a,1
4b,14cにて例示するように、各々の先端
部、換言すればワイヤボンデイング部17a,1
7b,17cはタブ側辺に沿う相互間隔xを同一
寸法としている一方で、各幅寸法za,zb,zcは
隅部のインナーリードほど大きくし、これによつ
て各ワイヤボンデイング部17a,17b,17
cの実効幅ya′,yb′,yc′が全て等しくなるよ
うに形成している。そして、この実効幅ya′,y
b′,yc′は可及的に大きな値とし、少なくとも従
来のリードフレームにおける最大の実効幅よりも
大きくする。
ここで、実効幅は、半導体ペレツト13の各電
極18…と各インナーリードのワイヤボンデイン
グ部17…とにわたつて略真直(平面的に見て)
に延設されるワイヤ15…の延設方向と直角な方
向、換言すればワイヤボンダのキヤピラリやウエ
ツジ等が移動する方向に直角な方向に測つた幅寸
法であることは前述の通りである。
尚、本実施例では、各インナーリード14のワ
イヤボンデイング部の実効幅を同一にするのみな
らず、例えばワイヤボンデイング部17a,17
b,17cの直後のインナーリードを細幅に形成
し、実効幅を増大したことによつて増大したワイ
ヤボンデイング部の面積に対してその直後の部分
のインナーリード面積を低減し、結果として各イ
ンナーリードの面積が従来と変わらないようにし
ているのである。このため、本実施例のインナー
リードでは、ワイヤボンデイング部の形状は略菱
形に形成されることになる。
以上の構成によれば、各インナーリード14
a,14b,14c等は全て実効幅が同一でしか
も最大の幅を有するインナーリードの実効幅に等
しくしているため、ワイヤボンデイングを行なう
自動ボンダのキヤピラリやウエツジの変動許容幅
は全てのインナーリードにおいて同一であり、し
かも従来において最大に許されていた幅に等しく
なる。従つて、これまでのように隅部のインナー
リードの実効幅によつて制約を受けることはな
く、自動ボンダの変動が多少大きくても良好なワ
イヤボンデイングを行なうことができるので、変
動幅と相関のあるボンデイングの高速化を実現す
ることができるのである。
尚、本実施例では各インナーリードの面積を従
来のインナーリードの面積に等しくしているの
で、各インナーリード間の面積も従来と同一にな
る。従つて、レジンモールドにてパツケージを形
成した場合には、各インナーリード間に充填され
るレジン量は従来と略等しくなり、あるいは、ガ
ラス封止にてパツケージを形成した場合には、各
インナーリード間に充填されるガラス量は従来と
略等しくなり実効幅の増大によつて封止性が損な
われることもない。
本発明者が前記構成のリードフレームを用いて
半導体装置を製造したところ、自動ボンダの高速
使用が可能となり、24ピンリードフレームを使用
した半導体装置では60〜80秒/個の時間短縮が図
れ、かつ一方では0.5〜1%歩留りが向上した。
また、封止性についても何等問題は生じていな
い。
ここで本発明は所謂絶縁体にメタライズを施し
て形成したようなリードに対しても有効であり、
例えば第4図に示すようなセラミツクベース20
にメタライズして形成したリード21の各インナ
ーリード22に対しても自動ボンダによる高速化
を可能にするのである。
以上のように本発明の半導体装置によれば、半
導体ペレツトの周囲に配設するインナーリードの
先端のワイヤボンデイング部の実効幅を全て同一
にしかつこれを可及的に大きくしたので、自動ボ
ンダにおける変動許容幅を大きくでき、これによ
つて自動ボンダによるワイヤボンデイングの高速
化を実現できるのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のリードフレームを使用する半導
体装置の破断平面図、第2図はその一部拡大図、
第3図は本発明の半導体装置の一部拡大平面図、
第4図は他の実施例の斜視図である。 11…リードフレーム、12…タブ、13…半
導体ペレツト、14,14a,14b,14c…
インナーリード、15…ワイヤ、17,17a,
17b,17c…ワイヤボンデイング部、ya′,
b′,yc′…実効幅、20…セラミツクベース、
21…リード、22…インナーリード。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ダイボンデイングした半導体ペレツトの周囲
    に配設して半導体ペレツトとの間にワイヤボンデ
    イングを行なう複数のインナーリードを有する半
    導体装置において、前記各インナーリードの先端
    部の幅を実質的に同一としたことを特徴とする半
    導体装置。 2 各インナーリードは先端部が幅広で、この幅
    広部の後部を細幅としたことを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の半導体装置。
JP15065479A 1979-11-22 1979-11-22 Lead structure of semiconductor device Granted JPS5674948A (en)

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JPS5674948A JPS5674948A (en) 1981-06-20
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