JPS62294979A - 接点配列のピツチ変更用アダプタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 ［産業上の利用分野コ この発明はプリント基板検査装置に用いられる接点配列
のピッチを変更するためのアダプタに閃するものである
。

［従来の技術］ プリント基板検査装置は、プリント基板上の任意の２点
間の相互の接続関係を検査するものである。被検査対象
であるプリント基板のターミナル位置に合わせて、検査
用接点を格子状（例えば２゜４’１４ｍｍピッチ）に配
列していた。

しかし、全てのプリント基板が一定の規格に統一されて
いるわけではなく、個々のプリント基板により多種多様
のターミナル間隔を有している。

したがって、プリント基板ごとに検査用接点を用意しな
ければならなかった。検査用接点としては、通常プロー
ブ等が用いられ、その数は数万本にも及ぶことが多い。

したがって、個々のプリント基板ごとに、検査用接点を
用意し、配線を行うことは極めて煩雑であった。

この間肪を解決するため、第５図に示すような装置が既
に考えられている（特開昭６０−４９２７０号）。

格子状に配列されたプローブピン１２に、アダプタピン
５２の根元が接触させられている。アダプタビン５２の
根元は、メツシュボード１５の格子状の穴５０に挿入さ
れている。アダプタピン５２の先端付近は、専用ボード
５６の貫通穴５４に挿入され保持されている。貫通穴５
４は、被検査基板のターミナル位置に合わせて設けられ
ている。したがって、アダプタピン５２の接点５日は、
被検査基板のターミナル位置に合致させられる。

［発明が解決しようとする問題点コ しかしながら、従来の装置では次のような問題点があっ
た。

第一に、構造が複雑となり組立てが困難であった。

第二に、接点５日を勧がし得る範囲が限定されており、
被検査基板のターミナル位置の配置によっては、　対応
できない場合があった。

この発明は上記のような問題点を解決して、検査用接点
位置を簡易かつ自由に変更できるアダプタを提供するこ
とを目的とする。

［問題点を解決するための手段］ この発明にかかる接点配列のピッチ変更用アダプタは変
換基板を備えており、その第１の面には格子状に配され
た第１の接点群が設けられ、第２の面には被検査基板の
測定点に対応する位置に第２の接点社￥が設けられてい
る。対応する第１と第２の接点群は電気的に接続されて
いる。

［作用］ 変換基板は、中継用端子の格子状配列を被検査基板の測
定点に対応する位置に変換する作用を持つ。

［実施例］ この発明の一実施例を第１図に示す、被検査基板１０の
上に、垂直異方導電性を有する感圧導電性ゴム８、変換
基板６、感圧導電性ゴム４、中継用端子１２が格子状に
配された治具２が重ねられる。

第２図に変換基板６の詳細を示す、この変換基板６の第
１図の面６ａには、格子状に配された第１の接点群１６
が設けらいる。第２の面である裏面には第２の接点群１
日が設けられているが、図示されていない。第１の面、
第２の面をそれそ゛れ表したのが第３図（Ａ）と第３図
（Ｂ）である、第２の面には、被検査基板１０の測定点
２０に対応する位置に第２の接点群１日が設けられてい
る。

変換基板６の断面は第１図に示されるようになっており
、第１の接点群１６と第２の接点群１８は電気的に接続
されている。被検査基板１０の測定点２０は、感圧導電
性ゴム８を介して、変換基板６の第２の接点群に接続さ
れる。第２の接点群は、第１の接点１］￥１６、感圧導
電性ゴム４を介して中継用端子２に接続される。各中継
用端子２は接続線１４を通じて、検査回路（図示せず）
につながっている。

ＣＰ　Ｕを有する検査回路は、接続線１４を介してがく
測定点２０に信号を与え、また各測定点２０からの信号
を受は取り、被検査基板１０の良否を判断する。

第４図に、変換基盤６の詳細を示す、変換基板６のベー
スは絶縁体からなっており、格子状に貫通穴６ｃが設け
られている。この貫通穴６ｃは、完全な格子状となるよ
うにあけてもよいが、必要な部分のみにあけるだけでも
よい０貫通穴６Ｃには、中間導電部として導電材１７が
メッキされている。第１の面６ａの側には＠１の接点１
６が設けられている。この第１の接点は、スルーホール
のメッキ部分をそのまま用いることが出来るが、場合に
よっては突出した接点を設けてもよい、第２の而６ｂの
側には、導電材１７に連続して導電パタン］９が設けら
れ、その先端に第２の接点１日が設けられている。この
実施例では、第２の接点１８以外の部分は、エポキシ樹
脂３０等の絶縁性材料により、オーバーコートされてい
る。

上記実施例では、貫通穴〇〇をメッキして、いわゆるス
ルーホールによって中間導電部を形成したが、導電ベー
ストによって中間導電部を形成してもよい。また貫通穴
６ｃに導電性のピンを打ち込んで、第１　（もしくは第
２）の接点１６と中間温７Ｌ部を一度に形成することも
出来る。

なお、バタン１９は、エツチング、無電解１１１メツキ
、導電ペーストの塗布、彫刻等によって形成すればよい
。

なお、完全な格子状に貫通穴６Ｃをあける場合には、後
で不要な貫通穴６Ｃをエポキシ樹脂等で埋めるようにし
てもよい。

他の実施例として、貫通穴を格子状に配列せずに被検査
基板の測定点に対応する位置に設けてもよい、この場合
には、第１の面６ａにパタンを形成する。

［発明の効果］ この発明に係る接点配列のピッチ変更用アダプタによれ
ば、検査装置の格子状に配列された中継用端子を、変換
基板によって、測定点に対応するよう変換している。し
たがって、被検査基板が変わった場合でも、変換基板を
かえるだけで検査を行うことが出来る。すなわち、この
発明によれば、検査用の接点位置を簡易にｆ、更するこ
七が出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す図、第２図は変換基
板を示す斜視図、第３図（Ａ）は変換基板の第１の面を
示す図、第３図（Ｂ）は変換基板の第２の面を示す図、
第４図は変換基板の詳細を示す断面図、第５図は従来の
接点配列のピッチ変更用アダプタを示す図である。 ６　・・・　変換基板 ６ａ・・・　第１の面 （３ｂ・・・　第２の面 ８　・・・　感圧導電性ゴム ｌＯ・・・　被検査基板 １６　　・・・　第１の接点 １８　　・・・　第２の接点 ２０　　・・・　測定点 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人　　弁理士　来　島　隆　冶 第　１　図 ６：変換基、扱　　　　］０：棧撲査基板６０：窮１の
面　　　　１６：第１の撞、？、、６ｂ−第２の面　　
　　　　１８二　第２の接１セ、８　：　をＸ圧ｊ隼電
性フ゛ム　　２０：　；見・１＊、点、第２図 第３図（Ａ）　　　　第３図（Ｂ） 図面の浄書（内容に変更なし） 第４図 図面の浄台（内容に変更なし） 第５図 手　　続　　補　　正　　書　　（方式）％式％ ２、発明の名称 接点配列のピッチ変更用アダプタ ３、補正をする者　　特許出願人 住所　　京都府宇治市猿島町目川８７番地名称　　株式
会社　金子電器製作所 ４、代理人 住所　〒５３０大阪市北区横用三丁目２番１４号５、補
正命令の日付（発送日） 昭和６１年８月２６日　　　　　　　　／・６、補正の
対象　　　　　　　　　　・ヒ、　・！　）１、　　　
　　　　゛ 図面　　　　　　　　　　　　　゛　　−乙ｈ・＞、、
　　　、ｙ ７、補正の内容

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）第１の面に格子状に配された第１の接点群を有し
   、第２の面に被検査基板の測定点に対応する位置に配さ
   れた第２の接点群を有し、対応する第１と第２の接点群
   が電気的に接続された変換基板、を備えたことを特徴と
   する接点配列のピッチ変更用アダプタ。
2. （２）変換基板の第２の面と被検査基板との間に垂直異
   方導電性を有する感圧導電性ゴムを備えたものであるこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の接点配列の
   ピッチ変更用アダプタ。
3. （３）変換基板の第１の接点群と第２の接点群は、変換
   基板に設けられた貫通穴に形成された導電材料によって
   電気的に接続されているものであることを特徴とする特
   許請求の範囲第１項または第２項記載の接点配列のピッ
   チ変更用アダプタ。