JPS62294979A - 接点配列のピツチ変更用アダプタ - Google Patents
接点配列のピツチ変更用アダプタInfo
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- JPS62294979A JPS62294979A JP61138480A JP13848086A JPS62294979A JP S62294979 A JPS62294979 A JP S62294979A JP 61138480 A JP61138480 A JP 61138480A JP 13848086 A JP13848086 A JP 13848086A JP S62294979 A JPS62294979 A JP S62294979A
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Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 241001164374 Calyx Species 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
[産業上の利用分野コ
この発明はプリント基板検査装置に用いられる接点配列
のピッチを変更するためのアダプタに閃するものである
。
のピッチを変更するためのアダプタに閃するものである
。
[従来の技術]
プリント基板検査装置は、プリント基板上の任意の2点
間の相互の接続関係を検査するものである。被検査対象
であるプリント基板のターミナル位置に合わせて、検査
用接点を格子状(例えば2゜4’14mmピッチ)に配
列していた。
間の相互の接続関係を検査するものである。被検査対象
であるプリント基板のターミナル位置に合わせて、検査
用接点を格子状(例えば2゜4’14mmピッチ)に配
列していた。
しかし、全てのプリント基板が一定の規格に統一されて
いるわけではなく、個々のプリント基板により多種多様
のターミナル間隔を有している。
いるわけではなく、個々のプリント基板により多種多様
のターミナル間隔を有している。
したがって、プリント基板ごとに検査用接点を用意しな
ければならなかった。検査用接点としては、通常プロー
ブ等が用いられ、その数は数万本にも及ぶことが多い。
ければならなかった。検査用接点としては、通常プロー
ブ等が用いられ、その数は数万本にも及ぶことが多い。
したがって、個々のプリント基板ごとに、検査用接点を
用意し、配線を行うことは極めて煩雑であった。
用意し、配線を行うことは極めて煩雑であった。
この間肪を解決するため、第5図に示すような装置が既
に考えられている(特開昭60−49270号)。
に考えられている(特開昭60−49270号)。
格子状に配列されたプローブピン12に、アダプタピン
52の根元が接触させられている。アダプタビン52の
根元は、メツシュボード15の格子状の穴50に挿入さ
れている。アダプタピン52の先端付近は、専用ボード
56の貫通穴54に挿入され保持されている。貫通穴5
4は、被検査基板のターミナル位置に合わせて設けられ
ている。したがって、アダプタピン52の接点5日は、
被検査基板のターミナル位置に合致させられる。
52の根元が接触させられている。アダプタビン52の
根元は、メツシュボード15の格子状の穴50に挿入さ
れている。アダプタピン52の先端付近は、専用ボード
56の貫通穴54に挿入され保持されている。貫通穴5
4は、被検査基板のターミナル位置に合わせて設けられ
ている。したがって、アダプタピン52の接点5日は、
被検査基板のターミナル位置に合致させられる。
[発明が解決しようとする問題点コ
しかしながら、従来の装置では次のような問題点があっ
た。
た。
第一に、構造が複雑となり組立てが困難であった。
第二に、接点5日を勧がし得る範囲が限定されており、
被検査基板のターミナル位置の配置によっては、 対応
できない場合があった。
被検査基板のターミナル位置の配置によっては、 対応
できない場合があった。
この発明は上記のような問題点を解決して、検査用接点
位置を簡易かつ自由に変更できるアダプタを提供するこ
とを目的とする。
位置を簡易かつ自由に変更できるアダプタを提供するこ
とを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
この発明にかかる接点配列のピッチ変更用アダプタは変
換基板を備えており、その第1の面には格子状に配され
た第1の接点群が設けられ、第2の面には被検査基板の
測定点に対応する位置に第2の接点社¥が設けられてい
る。対応する第1と第2の接点群は電気的に接続されて
いる。
換基板を備えており、その第1の面には格子状に配され
た第1の接点群が設けられ、第2の面には被検査基板の
測定点に対応する位置に第2の接点社¥が設けられてい
る。対応する第1と第2の接点群は電気的に接続されて
いる。
[作用]
変換基板は、中継用端子の格子状配列を被検査基板の測
定点に対応する位置に変換する作用を持つ。
定点に対応する位置に変換する作用を持つ。
[実施例]
この発明の一実施例を第1図に示す、被検査基板10の
上に、垂直異方導電性を有する感圧導電性ゴム8、変換
基板6、感圧導電性ゴム4、中継用端子12が格子状に
配された治具2が重ねられる。
上に、垂直異方導電性を有する感圧導電性ゴム8、変換
基板6、感圧導電性ゴム4、中継用端子12が格子状に
配された治具2が重ねられる。
第2図に変換基板6の詳細を示す、この変換基板6の第
1図の面6aには、格子状に配された第1の接点群16
が設けらいる。第2の面である裏面には第2の接点群1
日が設けられているが、図示されていない。第1の面、
第2の面をそれそ゛れ表したのが第3図(A)と第3図
(B)である、第2の面には、被検査基板10の測定点
20に対応する位置に第2の接点群1日が設けられてい
る。
1図の面6aには、格子状に配された第1の接点群16
が設けらいる。第2の面である裏面には第2の接点群1
日が設けられているが、図示されていない。第1の面、
第2の面をそれそ゛れ表したのが第3図(A)と第3図
(B)である、第2の面には、被検査基板10の測定点
20に対応する位置に第2の接点群1日が設けられてい
る。
変換基板6の断面は第1図に示されるようになっており
、第1の接点群16と第2の接点群18は電気的に接続
されている。被検査基板10の測定点20は、感圧導電
性ゴム8を介して、変換基板6の第2の接点群に接続さ
れる。第2の接点群は、第1の接点1]¥16、感圧導
電性ゴム4を介して中継用端子2に接続される。各中継
用端子2は接続線14を通じて、検査回路(図示せず)
につながっている。
、第1の接点群16と第2の接点群18は電気的に接続
されている。被検査基板10の測定点20は、感圧導電
性ゴム8を介して、変換基板6の第2の接点群に接続さ
れる。第2の接点群は、第1の接点1]¥16、感圧導
電性ゴム4を介して中継用端子2に接続される。各中継
用端子2は接続線14を通じて、検査回路(図示せず)
につながっている。
CP Uを有する検査回路は、接続線14を介してがく
測定点20に信号を与え、また各測定点20からの信号
を受は取り、被検査基板10の良否を判断する。
測定点20に信号を与え、また各測定点20からの信号
を受は取り、被検査基板10の良否を判断する。
第4図に、変換基盤6の詳細を示す、変換基板6のベー
スは絶縁体からなっており、格子状に貫通穴6cが設け
られている。この貫通穴6cは、完全な格子状となるよ
うにあけてもよいが、必要な部分のみにあけるだけでも
よい0貫通穴6Cには、中間導電部として導電材17が
メッキされている。第1の面6aの側には@1の接点1
6が設けられている。この第1の接点は、スルーホール
のメッキ部分をそのまま用いることが出来るが、場合に
よっては突出した接点を設けてもよい、第2の而6bの
側には、導電材17に連続して導電パタン]9が設けら
れ、その先端に第2の接点1日が設けられている。この
実施例では、第2の接点18以外の部分は、エポキシ樹
脂30等の絶縁性材料により、オーバーコートされてい
る。
スは絶縁体からなっており、格子状に貫通穴6cが設け
られている。この貫通穴6cは、完全な格子状となるよ
うにあけてもよいが、必要な部分のみにあけるだけでも
よい0貫通穴6Cには、中間導電部として導電材17が
メッキされている。第1の面6aの側には@1の接点1
6が設けられている。この第1の接点は、スルーホール
のメッキ部分をそのまま用いることが出来るが、場合に
よっては突出した接点を設けてもよい、第2の而6bの
側には、導電材17に連続して導電パタン]9が設けら
れ、その先端に第2の接点1日が設けられている。この
実施例では、第2の接点18以外の部分は、エポキシ樹
脂30等の絶縁性材料により、オーバーコートされてい
る。
上記実施例では、貫通穴〇〇をメッキして、いわゆるス
ルーホールによって中間導電部を形成したが、導電ベー
ストによって中間導電部を形成してもよい。また貫通穴
6cに導電性のピンを打ち込んで、第1 (もしくは第
2)の接点16と中間温7L部を一度に形成することも
出来る。
ルーホールによって中間導電部を形成したが、導電ベー
ストによって中間導電部を形成してもよい。また貫通穴
6cに導電性のピンを打ち込んで、第1 (もしくは第
2)の接点16と中間温7L部を一度に形成することも
出来る。
なお、バタン19は、エツチング、無電解111メツキ
、導電ペーストの塗布、彫刻等によって形成すればよい
。
、導電ペーストの塗布、彫刻等によって形成すればよい
。
なお、完全な格子状に貫通穴6Cをあける場合には、後
で不要な貫通穴6Cをエポキシ樹脂等で埋めるようにし
てもよい。
で不要な貫通穴6Cをエポキシ樹脂等で埋めるようにし
てもよい。
他の実施例として、貫通穴を格子状に配列せずに被検査
基板の測定点に対応する位置に設けてもよい、この場合
には、第1の面6aにパタンを形成する。
基板の測定点に対応する位置に設けてもよい、この場合
には、第1の面6aにパタンを形成する。
[発明の効果]
この発明に係る接点配列のピッチ変更用アダプタによれ
ば、検査装置の格子状に配列された中継用端子を、変換
基板によって、測定点に対応するよう変換している。し
たがって、被検査基板が変わった場合でも、変換基板を
かえるだけで検査を行うことが出来る。すなわち、この
発明によれば、検査用の接点位置を簡易にf、更するこ
七が出来る。
ば、検査装置の格子状に配列された中継用端子を、変換
基板によって、測定点に対応するよう変換している。し
たがって、被検査基板が変わった場合でも、変換基板を
かえるだけで検査を行うことが出来る。すなわち、この
発明によれば、検査用の接点位置を簡易にf、更するこ
七が出来る。
第1図はこの発明の一実施例を示す図、第2図は変換基
板を示す斜視図、第3図(A)は変換基板の第1の面を
示す図、第3図(B)は変換基板の第2の面を示す図、
第4図は変換基板の詳細を示す断面図、第5図は従来の
接点配列のピッチ変更用アダプタを示す図である。 6 ・・・ 変換基板 6a・・・ 第1の面 (3b・・・ 第2の面 8 ・・・ 感圧導電性ゴム lO・・・ 被検査基板 16 ・・・ 第1の接点 18 ・・・ 第2の接点 20 ・・・ 測定点 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 弁理士 来 島 隆 冶 第 1 図 6:変換基、扱 ]0:棧撲査基板60:窮1の
面 16:第1の撞、?、、6b−第2の面
18二 第2の接1セ、8 : をX圧j隼電
性フ゛ム 20: ;見・1*、点、第2図 第3図(A) 第3図(B) 図面の浄書(内容に変更なし) 第4図 図面の浄台(内容に変更なし) 第5図 手 続 補 正 書 (方式)%式% 2、発明の名称 接点配列のピッチ変更用アダプタ 3、補正をする者 特許出願人 住所 京都府宇治市猿島町目川87番地名称 株式
会社 金子電器製作所 4、代理人 住所 〒530大阪市北区横用三丁目2番14号5、補
正命令の日付(発送日) 昭和61年8月26日 /・6、補正の
対象 ・ヒ、 ・! )1、
゛ 図面 ゛ −乙h・>、、
、y 7、補正の内容
板を示す斜視図、第3図(A)は変換基板の第1の面を
示す図、第3図(B)は変換基板の第2の面を示す図、
第4図は変換基板の詳細を示す断面図、第5図は従来の
接点配列のピッチ変更用アダプタを示す図である。 6 ・・・ 変換基板 6a・・・ 第1の面 (3b・・・ 第2の面 8 ・・・ 感圧導電性ゴム lO・・・ 被検査基板 16 ・・・ 第1の接点 18 ・・・ 第2の接点 20 ・・・ 測定点 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 弁理士 来 島 隆 冶 第 1 図 6:変換基、扱 ]0:棧撲査基板60:窮1の
面 16:第1の撞、?、、6b−第2の面
18二 第2の接1セ、8 : をX圧j隼電
性フ゛ム 20: ;見・1*、点、第2図 第3図(A) 第3図(B) 図面の浄書(内容に変更なし) 第4図 図面の浄台(内容に変更なし) 第5図 手 続 補 正 書 (方式)%式% 2、発明の名称 接点配列のピッチ変更用アダプタ 3、補正をする者 特許出願人 住所 京都府宇治市猿島町目川87番地名称 株式
会社 金子電器製作所 4、代理人 住所 〒530大阪市北区横用三丁目2番14号5、補
正命令の日付(発送日) 昭和61年8月26日 /・6、補正の
対象 ・ヒ、 ・! )1、
゛ 図面 ゛ −乙h・>、、
、y 7、補正の内容
Claims (3)
- (1)第1の面に格子状に配された第1の接点群を有し
、第2の面に被検査基板の測定点に対応する位置に配さ
れた第2の接点群を有し、対応する第1と第2の接点群
が電気的に接続された変換基板、を備えたことを特徴と
する接点配列のピッチ変更用アダプタ。 - (2)変換基板の第2の面と被検査基板との間に垂直異
方導電性を有する感圧導電性ゴムを備えたものであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の接点配列の
ピッチ変更用アダプタ。 - (3)変換基板の第1の接点群と第2の接点群は、変換
基板に設けられた貫通穴に形成された導電材料によって
電気的に接続されているものであることを特徴とする特
許請求の範囲第1項または第2項記載の接点配列のピッ
チ変更用アダプタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61138480A JPS62294979A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 接点配列のピツチ変更用アダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61138480A JPS62294979A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 接点配列のピツチ変更用アダプタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62294979A true JPS62294979A (ja) | 1987-12-22 |
Family
ID=15223057
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61138480A Pending JPS62294979A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 接点配列のピツチ変更用アダプタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62294979A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0243796A (ja) * | 1988-08-04 | 1990-02-14 | Toppan Printing Co Ltd | パターン形成方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5654096A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-13 | Nippon Electric Co | Device for inspecting printed board |
JPS6071970A (ja) * | 1983-09-29 | 1985-04-23 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | プリント回路基板の検査装置 |
-
1986
- 1986-06-13 JP JP61138480A patent/JPS62294979A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5654096A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-13 | Nippon Electric Co | Device for inspecting printed board |
JPS6071970A (ja) * | 1983-09-29 | 1985-04-23 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | プリント回路基板の検査装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0243796A (ja) * | 1988-08-04 | 1990-02-14 | Toppan Printing Co Ltd | パターン形成方法 |
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