JPS62294927A - 力測定装置 - Google Patents

力測定装置

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JPS62294927A
JPS62294927A JP61139039A JP13903986A JPS62294927A JP S62294927 A JPS62294927 A JP S62294927A JP 61139039 A JP61139039 A JP 61139039A JP 13903986 A JP13903986 A JP 13903986A JP S62294927 A JPS62294927 A JP S62294927A
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JP
Japan
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measuring device
force measuring
temperature
data
zero point
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JP61139039A
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English (en)
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Masami Yamanaka
正美 山中
Shinichi Inoue
真一 井上
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Yamato Scale Co Ltd
Original Assignee
Yamato Scale Co Ltd
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Publication date
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Priority to FR878707710A priority patent/FR2600159B1/fr
Priority to KR1019870005825A priority patent/KR910001240B1/ko
Priority to GB8713670A priority patent/GB2192992B/en
Priority to DE19873719532 priority patent/DE3719532A1/de
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/10Measuring force or stress, in general by measuring variations of frequency of stressed vibrating elements, e.g. of stressed strings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01GWEIGHING
    • G01G23/00Auxiliary devices for weighing apparatus
    • G01G23/48Temperature-compensating arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/26Auxiliary measures taken, or devices used, in connection with the measurement of force, e.g. for preventing influence of transverse components of force, for preventing overload

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〈産業上の利用分野〉 この発明は、力測定装置に関し、特に力測定装置の使用
温度の変化に基づく零点変動または零点変動及びスパン
変動を補正するもの【関する。
〈従来技術〉 一般に、力測定装置には、印加された力に応じたアナロ
グ電気信号を生成する力検出器(例えば電気抵抗線式ロ
ードセル(以下ロードセルと称する。)や弦振動式力検
出器)と、このアナログ電気信号から不要な成分を濾波
したり、増幅したりした後に、ディジタル信号に変換す
る電気処理回路とを備えるものがある。
このような力測定装置では、その周囲の環境温度が変化
すると、ディジタル信号の零点が変動したり、スパンが
変動したりすることがある。その原因としては、例えば
力検出器にロードセルを用いている場合には、電気抵抗
線が貼着されている起歪弾性体のばね定数が温度によっ
て変化することがあげられ、同様に電気処理回路を構成
している部品の値が温度変化によって変化することもあ
げられる。
そのため、従来、力検出器や電気処理回路を構成してい
る部品に、比較的温度変化の影響を受けにくいものを用
いることがあった。さらにこれでは充分な精度が得られ
ない場合、例えばロードセルにおいて、温度によって抵
抗値が変化する感温抵抗器を起歪弾性体に貼付け、この
感温抵抗器をロードセルの励磁回路の一部に入れて、ス
パン変動や零点変動を補正することが行なわれていた。
〈発明が解決しようとする問題点〉 しかし、上記のような補正では、力測定装置に要求され
る精度が比較的緩やかな場合には充分に実用となるが、
要求精度が高い場合には実用にならないという問題点が
あった。すなわち、たとえ全く同一に構成した複数の力
測定装置においても、温度変化に基づくスパン変動や零
点変動は完全に同一にならず、ばらついている。そのた
め、個々の力測定装置の温度変化に基づく零点変動やス
パン変動を補正できる感温抵抗器をそれぞれ製造するこ
とは不可能で、どうしても各力測定装置の温度変化て基
づく零点変動やスパン変動の平均値を補正するような感
温抵抗器を製造して用いることになる。そのため、高精
度を力測定装置が要求される場合、力測定装置個有の零
点変動やスパン変動が補正されずに表われてくる。
この発明は、高精度が要求される力測定装置において温
度変化に基づく零点変動を補正することを第1の目的と
し、零点変動だけでなくスパン変動も補正することを第
2の目的とする。
く問題点を解決するだめの手段〉 第1の発明は、弦振動式または電気抵抗線式ロードセル
を力検出器に用いた力測定装置において、この力測定器
に設けた温度検出手段と、無荷重状態とした上記力測定
装置をそれぞれ異なる温度状態としたときの上記力測定
装置の出力データと上記温度検出手段の温度データとを
それぞれ読込み、これら読込んだ各データを回帰分析し
て無荷重状態における上記力測定装置の出力データと温
度データとの関係式を決定する手段と、上記決定された
関係式が書込まれた記憶手段と、上記力測定装置の使用
状態において上記温度検出手段からの温度データと上記
関係式とに基づいて上記力測定装置の使用状態における
零点補正量を算出し、その零点補正量によってそのとき
の上記力測定装置の出力データの零点変動を補正する演
算手段とを具備するものである。
第2の発明は、弦振動式または電気抵抗線式ロードセル
を力検出器に用いた力測定装置において、この力測定器
に設けた温度検出手段と、無荷重状態としだ上記力測定
装置をそれぞれ異なる温度状態としたときの上記力測定
装置の出力データと上記温度検出手段の温度データとを
読込み、これら読込んだ各データを回帰分析して無荷重
状態における上記力測定装置の出力データと温度データ
との第1の関係式を決定する第1の決定手段と、上記決
定された第1の関係式が書込まれた第1の記憶手段と、
温度変fヒによる零点変化を補正すると共に基準となる
力を印加した状態にした上記力測定装置をそれぞれ異な
る温度状態としたときの上記力測定装置の出力データと
上記温度検出手段の温度データとをそれぞれ読込み、こ
れら読込んだ各データを回帰分析して上記出力データの
スパン変化率と温度データとの第2の関係式を決定する
第2の決定手段と、上記決定された第2の関係式が書込
まれた第2の記憶手段と、上記力測定装置の使用状態に
おいて上記温度検出手段からの温度データと第1の関係
式とに基づいて上記力測定装置の使用状態における零点
補正量を算出すると共に、上記温度データと第2の関係
式とに基づいて上記力測定装置のスパン変化率を算出し
、上記算出された零点補正量とスパン変化率とによって
そのときの上記力測定装置の出力データの零点変動とス
パン変動とを補正する演算手段とを具備するものである
く作用・効果〉 第1の発明によれば、決定手段によって、力測定装置の
周囲温度と零点変動との関係式が得られる。従って、力
測定装置を成る温度で使用したとき、そのときの零点変
動量が演算手段てよって算出され、その算出された零点
変動量を用いて零点変動が演算手段によって補正される
。しかも、この関係式は、その力測定装置を様々な温度
状Bにしたとbの温度データと力測定装置の出力データ
とて基づいて算出したものであるので、この関係式を用
いて補正すると、力測定装置個有の零点変動を完全に補
正できる。
第2の発明は、これに加えてスパン変動も同様にして前
止しているので、零点変動とスパン変動とを共て完全に
補正できる。
さらに、後述する実施例により明確となるが、決定手段
を力測定装置から着脱自在としている。
決定手段は、いったん関係式を決定した後には、力測定
装置における力測定には不要なものである。
従って、決定手段を力測定装置から着脱自在とすること
により、1台の決定手段によって多数の力測定装置の関
係式を決定でき、設備費を安価にできる。
く実 施 例〉 第1の実施例の概略を第1図に示す。この第1の実施例
は、力として重量を測定するもので、さらに温度変化に
よる零点変動を補正しようとするものである。第1図に
おいて、2は力測定装置で、これに印加された(実際に
は物品の荷重)を表わすテ゛イジタル信号であるカデー
タを加減算部4に供給する。6は換算部で、力測、定装
置2に設けた嘉守橙出基8九らの淵庁信号をA/D変換
器10でディジタル化して得た温度データを入力し、R
OM12に書込まれている関係式に温度データを代入し
て、温度検出器8が検出した温度の際の零点変動量を算
出し、減算部4に供給する。減算部4は、力測定装置2
のカデータと換算部6の零点変動量とを減算して、カデ
ータの零点変動を補正し、重量表示部14に表示する。
なお、零点変動量は必らずしも正の値に限ったものでは
なく、負の値をとることもある。従って零点変動量を絶
対値で扱う場合には、減算部4に代えて加減算部を用い
る。
ROM12 K書込まれている関係式は、様々な温度状
態にしたときの力測定装置2(熱論、このとき力測定装
置には風袋以外の荷重は印加されていない。)の各ディ
ジタル信号とA/D変換器10の温度データをメモリ1
6にいったん記憶し、決定部18が、これら記憶値に基
づいて関係式を決定し、ROMライタ20によって、そ
の関係式がROM 12に書き込まれる。
力測定装置2は、第2図に示す力検出器22と、第3図
に示す電気処理回路24とからなる。これら力検出器2
2及び電気処理回路24の詳細は、特開昭59−131
131号公報に開示されており、公知であるので、ここ
では詳細な説明は省略するが、載台26に物品を載荷す
ると、主弾性体2日と副弾性体30との先端間に張設さ
れた弦32には、載台26上の物品の重量Wに比例した
張力Pが印加され、磁界発生体34及び第3図の電気処
理回路24の発振器36から供給される電流によって、
弦32は で振動する。nは高調波数、lは弦32の有効長、rは
弦32の単位長さ当りの質量である。この振動と同じ周
波数fで発振するように発振器36が構成されており、
この発振信号をカウンタ38が所定サイクル数カウント
している間、ゲート40を開いて、fよシ高い周波数の
水晶発振器42の発振信号を力つ/り44でカウントし
、そのカウント値を計算器46で演算して、物品の重量
Wを表わす力データを得る。
温度検出器8は、例えば第2図に示すように副弾性体3
0の基端部側に設けられている。温度検出器8の設置場
所としては、他に第2図に点線で示すような位置が考え
られる。温度検出器8の温度信号は、上述したようにA
/D変換されて温度データが得られる。なお、温度デー
タは、第2図のように温度検出器8を1個だけ設ける他
に、点線で示す位置にもそれぞれ温度検出器8を設け、
これら各温度検出器の温度信号の平均を求め、この平均
値をディジタル化して得てもよい。また、電気処理回路
24内にも温度検出器8を設けて、温度データを得ても
よい。
ところで、力測定装置2には、成る基準温度において、
零点を調整しても、力データの零点が温度変化に従って
第4図に点線で示すように直線的に変化するものもある
が、同図に実線で示すように曲線的に変化するものもあ
る。また、温度と温度データとの関係も、直線的な関係
のものと曲線的な関係のものもある。従って、力測定装
置2の力データの零点変化と温度との関係が直線的であ
っても、温度検出器8に温度と温度データとの関係が曲
線的なものを用いると、力測定装置2の力データの零点
と温度データとの関係は、曲線的なものとなる。同様に
、温度検出器8に温度と温度データとの関係が直線的な
ものを用いても、力測定装置2の力データの零点変化と
温度との関係が曲線的であると、力測定装置2の力デー
タと温度データとの関係は曲線的になる。さらに、力測
定装置2の力データの零点変化と温度データとの関係が
曲線的であるうえに、温度検出器8の温度と温度データ
との関係が曲線的であると、力測定装置2の力データの
零点変化と温度データとの関係は曲線的になる。
しかも、力測定装置2の力データの零点変化と温度デー
タとの関係は、いかに力測定装置2や温度検出器8を同
じように製造しても、基本的には同じ関係があっても微
妙に異なる。例えば力測定装置2の零点変化をy1温度
データをXとしたとき、基本的にはyとXとの間には、
y = a x +bx+aの関係があっても、ある力
測定装置2や温度検出器8.L−仙の力油1安募置2や
需庁檜出慧8にでは、a、b、aの値が異なってくる。
そこで、力測定装置2を基準となる温度で零点を調整し
たうえに、無荷重状態として、この力測定装置2を使用
する環境温度範囲、例えば−1O°C〜+40℃の範囲
のn個のそれぞれ異なる温度状態とし、そのときの温度
データxO〜Xnと力データWO〜Wnをメモリ16に
書込む(第5図ステップSl)。
そして、決定部78が回帰分析プログラムてよって関係
式の係数を決定する(ステップS2)。ここで、上述し
たように成る力測定装置2と成る温度検出器8とを用い
た場合、力データの零点変化と温度データとの関係が、
いかなる関係式で表されるかは、既K ’l’lJ明し
ているので、その関係式に応じた回帰分析プログラムを
用いる。例えば、上述したようにy=ax +bx+a
の関係があるとすると、複数のデータ(Wo 〜Wn 
XXo−Xn )にもつとも誤差が少なく一致する方法
として、次の様に解くことが知られている。
s (x x ) S (x2x2)−(S (xx2
) ) 2n                   
      nただし、 このようにして得たa、b、cを代入した関係式ax2
+bx+cをROMライタ20がROM12に書き込む
(ステップS3)。この決定部18、メモリ16及びR
OMライタ20は、例えばマイクロコンピュータで構成
することができ、これらは、力測定装置2、A/D変換
器10、ROM12に対して着脱自在に設けられている
このようにしてROM12にa x2+bx+cが書き
込まれると、通常の使用状態において、温度データが換
算部6に入力されたとき、ax +bx+cのXに温度
データを代入して、零点変動量yを算出する。
以下、上述したようにして零点変動量が補正される。な
お、〜減算部4、換算部6及びROM12は、1台のマ
イクロコンピュータによって実現できる。
第2の実施例を第6図に示す。この実施例は、温度変化
による零点変動とスパン変動との双方を補正するもので
ある。第7図に温度変化に従って零点及びスパンが変動
する状態を幾分誇張して示す。同図では20℃における
零点及びスパンを基準としている。同図から明らかなよ
って、温度が変化すると、零点が変化すると共にスパン
が変動する。スパンは、荷重が変化しても変動しないが
、温度が変化すると変動する。しかも、そのスパンの変
動と温度との関係は直線的である。従って、成る温度、
例えば20°Cにおける零点及びスパンを基準とし、他
の温度における零点と20°Cにおける零点との変動量
をgot、他の温度におけるカデータと20゛Cにおけ
るカテ゛−夕との差に対する20’Cにおけるカデータ
の比率(スパンの変化率)をrt、20゛Cにおけるカ
データをWO2他の温度における対応するカデータをW
とすると、 W;Wc(1+rt)十εOt となり、Wcは Wc=(W−got)/(1+ l’t )+(W−g
ot ) (1−rt ) となる。ただしit<<1である。従って、第1の実施
例と同様にカデータWから零点変動量εat (第1の
実施例ではyで表わしたもの)を減算したものを、rt
Klを加算したもので除算するか、1からitを減算し
たものを乗算すれば、温度変化による零点変動及びスパ
ン変動を補正できる。なお、スパン変化率は必らずしも
正の値とは限らず負の値をとることもある。従って、ス
パン変化率を絶対値として扱う場合、正の場合には、1
を加算したもので除算するか、lから減算したもので乗
算するか、負の場合には逆に1から減算したもので除算
するか、1を加算したもので乗算する。
従って、第1の実施例と同様に決定部18、メモリ16
及びROIJライタ2oを用いて、ROM/2に零点変
動量を決定する関係式を書き込み、換算部6にて温度デ
ータを関係式に代入して、零点変動量εotを算出し、
演算部22に供給している。演算部22は(v+−5o
t )/(x+rt ) i タtd (W−got)
(1−rt)の演算を行なうものである。
また、演算部22には温度に応じたとtを供給できれば
よい。しかし、上述したようにスパンの変動と温度との
関係は直線的であるので、rtと温度との関係は直線的
であるが、第1の実施例の処で説明したように温度検出
器8によっては、温度と温度データとの関係が曲線的な
ものがある。従って、′  このような温度検出器8を
用いると、温度データとrtとの関係は曲遺的となる。
よって、零点変動の場合と同様にrtと温度データとの
関係式を定めて、ROM12aに書き込み、温度データ
が入力されると換算部6aによってその温度におけるr
tを算出する。
そのため、成る基準となる力を力測定装置2に印加し、
力測定装置2の使用する環境温度範囲の1個のそれぞれ
異なる温度状態(この温度状態の中には基準温度が含ま
れている。)とし、そのときの温度データxO〜Xnと
演算部22の出力データDo−Dnをメモリ16aに書
き込む。ここで、演算部22の出力データを書き込むの
は、温度変化による零点変動を補正したカデータを得る
ためである。
ただし、この場合、演算部22のrtはOとしである。
そして、決定部18aによって、各出力データDo〜D
nに基づいて基準温度の際に対する他の温度の際の変化
率(to〜γtnを算出しこれらYto〜γtnとXo
xXnとに基づいて環境温度範囲内での任意の温度にお
ける変化率を決定する関係式を得る。この関係式も、零
点変化の場合と同様に、温度データと変化率がどのよう
な形の関係式によって表わされるかは、予め判っている
ので、その関係式に応じた回帰分析プログラムを用いて
、係数を決定する。例えば、第1の実施例の零点変動と
同様にax2+bx+cの関係があるとすると、同様に
して各係数a、bXcが決定され、決定されたa、b。
Cを代入した関係式ax2+bx+cをROMライタ2
0aがROM 12aに書込む。第1の実施例と同様に
決定部18.18m 、メモリ16.16a 、  R
OMライタ20.20aは、マイクロコンピュータで構
成することができ、力測定装置2、A/D変換器10.
換算部6.6aに対して直脱自在に設けられている。
通常の使用状態ておいて、温度データが換算部6.6a
に入力されると、換算部6はROM12に記憶されてい
る関係式に温度データを代入して、そのときの温度に応
じた零点補正量εotを算出して、演算部22に供給し
、換算部6aはROM 12aに記憶されている関係式
に温度データを代入して、そのときの温度に応じたスパ
ン変化率りを算出して、演算部22に供給する。演算部
22は、力測定装置2からのカデータWとEatとrt
とによって(W−εO1)/(1+Jt)jたけ(W−
1:01)(1−rt)の演算を行なって、温度変化に
基づく零点変動及びスパン変動を補正する。演算部22
、換算部6.6a 。
ROM12.12mは、マイクロコンピュータで構成す
ることができる。
上記の各実施例では、力測定装置2としては、第2図及
び第3図に示すようなものを用いたが、第8図に示すよ
うにロードセル24からのアナログ信号を増幅器26で
増幅した後に、A/D変換器28でディジタル信号に変
換し、このディジタル信号にスパン係数を演算部30で
乗算したものを用いてもよい。
上記の実施例では、スパン変化率Itを成る温度におけ
るカデータと基準温度におけるカデータとの差に対する
基準温度におけるカデータの比率としたが、成る温度に
おけるカデータと基準温度におけるカデータとの比率と
してもよい。その場合、演算部22での基準温度のカグ
ータへの補正は、(* −got )/rt とすれば
よい。
上記の実施例では、温度データXと零点変動量y(εo
t)は7−a x2+ bx + cで表わされるとし
たが、他の高次方程式、例えばy =a s b Xま
たはy’=axbで表わされることもある。その場合に
用いる回帰分析プログラムは上記の実施例とは異なった
ものとなる。スパン変化率と温度データとの関係も同様
である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による力測定装置の第1の実施例のブ
ロック図、第2図は同第1の実施例に用いる力検出器の
正面図、第3図は同第1の実施例に用いる電気処理回路
のブロック図、第4図は零点と温度との関係を示す図、
第5図は第1の実施例における温度データと零点変化と
の関係を定める方法を示すフローチャート、第6図は第
2の実施例のブロック図、第7図は零点とスパンとが温
度変化に従って変動する状態を示す図、第8図はこの発
明に用いることができる他の力測定装置のブロック図で
ある。 2・・・力測定装置、4・・・減算部、6.6a・・・
換算部、8・・・温度検出器、10・・・A/D変換器
、12.12a・・・ROM、18.18a−決定部、
16.16a −メモリ、20.20a・・・ROMラ
イタ、22・・・演算部。 特許出願人  大和製衡株式会社 代 理 人  清 水  哲 ほか2名牙1図 22 図 一23図 だ 才5図 ′X6図 ′1′3図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)弦振動式または電気抵抗線式ロードセルを力検出
    器に用いた力測定装置において、この力測定器に設けた
    温度検出手段と、無荷重状態とした上記力測定装置をそ
    れぞれ異なる温度状態としたときの上記力測定装置の出
    力データと上記温度検出手段の温度データとをそれぞれ
    読込み、これら読込んだ各データを回帰分析して無荷重
    状態における上記力測定装置の出力データと温度データ
    との関係式を決定する手段と、上記決定された関係式が
    書込まれた記憶手段と、上記力測定装置の使用状態にお
    いて上記温度検出手段からの温度データと上記関係式と
    に基づいて上記力測定装置の使用状態における零点補正
    量を算出し、その零点補正量によつてそのときの上記力
    測定装置の出力データの零点変動を補正する演算手段と
    を具備する力測定装置。
  2. (2)上記関係式を決定する手段が上記力測定装置に対
    して着脱自在に設けられていることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の力測定装置。
  3. (3)弦振動式または電気抵抗線式ロードセルを力検出
    器に用いた力測定装置において、この力測定器に設けた
    温度検出手段と、無荷重状態とした上記力測定装置をそ
    れぞれ異なる温度状態としたときの上記力測定装置の出
    力データと上記温度検出手段の温度データとを読込み、
    これら読込んだ各データを回帰分析して無荷重状態にお
    ける上記力測定装置の出力データと温度データとの第1
    の関係式を決定する第1の決定手段と、上記決定された
    第1の関係式が書込まれた第1の記憶手段と、温度変化
    による零点変化を補正すると共に基準となる力を印加し
    た状態にした上記力測定装置をそれぞれ異なる温度状態
    としたときの上記力測定装置の出力データと上記温度検
    出手段の温度データとをそれぞれ読込み、これら読込ん
    だ各データを回帰分析して上記出力データのスパン変化
    率と温度データとの第2の関係式を決定する第2の決定
    手段と、上記決定された第2の関係式が書込まれた第2
    の記憶手段と、上記力測定装置の使用状態において上記
    温度検出手段からの温度データと第1の関係式とに基づ
    いて上記力測定装置の使用状態における零点補正量を算
    出すると共に、上記温度データと第2の関係式とに基づ
    いて上記力測定装置のスパン変化率を算出し、上記算出
    された零点補正量とスパン変化率とによつてそのときの
    上記力測定装置の出力データの零点変動とスパン変動と
    を補正する演算手段とを具備する力測定装置。
  4. (4)第1及び第2の決定手段が上記力測定装置に対し
    て着脱自在に設けられていることを特徴とする特許請求
    の範囲第3項記載の力測定装置。
JP61139039A 1986-06-13 1986-06-13 力測定装置 Pending JPS62294927A (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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