JPS6228842A - ハ−ドウエアテスト方式 - Google Patents

ハ−ドウエアテスト方式

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Publication number
JPS6228842A
JPS6228842A JP60168952A JP16895285A JPS6228842A JP S6228842 A JPS6228842 A JP S6228842A JP 60168952 A JP60168952 A JP 60168952A JP 16895285 A JP16895285 A JP 16895285A JP S6228842 A JPS6228842 A JP S6228842A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hardware
counter
hardware test
power
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60168952A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Tezuka
手塚 幸司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Computer Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Computer Engineering Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Computer Engineering Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS6228842A publication Critical patent/JPS6228842A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はパーソナルコンピュータ等、比較的小形のコン
ビエータシステムに使用して好適なハードウェアテスト
方式に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
パーソナルコンビエータをはじめとするコンビエータシ
ステムのハードウェア検査にパワーオンテストがある。
パワーオンテストは、電源供給時もしくはリセット時に
オペレーテイグシステム金立上げる前1例えばIPL(
イニシャルプログラムローデング)に先立ち、ハードウ
ェアの検査を行うものである。即ち、リソースとして供
給されるメモリ全てにつきデータのRe a a/ W
r i t eを行ない、そしてそのデータの比較を行
うことにより正常動作を確認してい九、システムはこの
自己診断終了後、プートストラップローダを起動しシス
テムを立上げる。
近年、ハードウェアの高性能化に伴い、王タモリ容量等
ハードウェア量も増大し必然的に自己診断に要する時間
も長くなってきている。オペレータは都度、ハードウェ
アテストの完了を待ってジ璽ブを実行してい友ものであ
る。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に鑑みてなはれたものであり、システ
ムのil!:#投入時もしくはシステムリセット時に行
なわれていたハードウェアテストを¥IL源没入のある
回数に1回の割合で行rLい。
それ以外のときノ・−ドウ1アテストヲ省略することに
より、システムのセットアツプ時の時間短縮をはかっ九
ハードワエアテスト方式全提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は上記目的を実現する九め、電源投入の回数を記
憶する。バッテリバックアップされたメモリと、ハード
ウェアテス)k行なうか否かt上Cメモリから得られる
回数清報により判断するプログラムとを用意した。この
プログラムに従がい、あらかじめ規定された特定の値と
比較し、電源投入の回数がこの値を越えたときに始めて
ハードウェアテストを実行する構成とした。このことに
より、システムの電源投入の都度毎回行なわれてい九7
・−ドウエアテストが。
ある回数に1回の割合で行なわれることによりオペレー
タの待ち時間が短縮される。パソコン等ではリセットス
イッチを持たず、電源OFF/6NVCよりリセットス
イッチの代りをするものが多いが、ソフトフェアのデパ
ック等で電源OF Flo Nを繰返すとき本発明を使
用すればハードウェアテストをバイパスすることが出来
この場合、特に有効となる。
〔発明の実施例〕
以下1図面を使用して本発明実施例につき詳aVC,i
5!明する。渠1図は本発明が採用嘔nるパソコンシス
テムの構成例を示すブロック図である。図において、1
はシステムの制御中枢となるマイクロプロセッサ(μC
PU)であり。
ROM2に収納されたプログラムに従いシステムのコン
トロールを行なう。ROMjには、@2因に70−チャ
ートとして示す、ハードウェアテス)?行なうべきか否
か全判断するプロゲラAOa、プートストラップローダ
等が収納される。3はワークエリアとして使用嘔れるR
ん式4はキーボードJ5はオペレーティングシステムが
;6納されるフロッピーディスクドライブ。
6は画面表示を行なうCRTモニタ、7は時刻表示とカ
レンダである。
8は本発明により付7JI]すれるバッテリバックアッ
プされたRAMである。RAM8にはカウンタが割付け
られており、このカウンタは電源投入の都度力ヴントを
行ない、ある所定の直だけカウントを終了したときにク
リアされる。上記2〜8の各ブロックはマイクロプロセ
ッサ1が持つ内部バス9に共通に接続される。
第2図は本発明実施例の動作を示す70−チャートであ
る。以下、第2因に示したフローチャート七参照しなが
ら不発明実施列の動作につき詳MUVC説明する。
まず、システムの電源投入の後マイクロプロセッサ1は
、バッテリーバックアップされているRんM8内の力ヴ
ンタの内容をロードする。
そしてこのカウンタの内容と、ある回数に1回ハードウ
ェアテストを行なうある回数(本発明実施例では5″と
しである)とを比較し、5以上であれば、カウンタをク
リアし、ハードウェアテストを実施して、更に、カウン
タの内容を更新(+1’)してバッテリーバックアップ
され念RAM&ヘセーブする。
一方、比較した結果、5未満であることが確認されたと
きには、ハードウェアテストは行なわれず、カウンタの
内容を更新(+1)L、てバッテリーバックアップされ
tRAM&ヘセーブし1次のステップへ進む。
上記動作では、ある回数ごとに1回のテストを行なうが
、ある回数までは、テストヲ行ない。
それ以上になっ九時、テス)t−行なわないといった制
御も可能となる。回数の比較数(本発明実施列では′″
5″に固定)もバッテリバックアップ逼れているR入M
8円に置きキーボード4等から設定できるようにすれば
インターバルの回数は自由に変更できる。更に、バッテ
リバックアップ回路をコンデンサだけの簡易タイプ(1
0秒種間保持できるもの)とし、電源0FF−ONの間
が10数秒のバックアップ期聞内であればハードウェア
テスト全行わス、ソれ以上のときだけハードウェアテス
ト全行うといった制御も可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明の様に本発明に従えば、従来、システム電源投
入時に毎回性なわれていたハードウェアテストをある回
数に1回テストを行なうことvc7:CiJ、このため
オペレータの待ち時間が短縮される。又、パソコン等で
はリセットスイッチに持九ず、電源のOFF→ONによ
りリセットスイッチの代り七するものが多いが、ソフト
ウェアのデパック婢で電源OFF→0Nt−繰り返すと
きにはハードフェアテストヲバイパススることができ、
効果が顕著に現われる。
【図面の簡単な説明】
汀1図は本発明が実現されるパソコンシステムの構成列
金示す図、第2図は本発明実施例の動作を示すフローチ
ャートである。 1・・・マイクaブσセッサ、2・・・ROM、8・・
・バッテリバックアップRAM0

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電源投入の回数を記憶するバッテリバックアップ
    された記憶手段を備え、該手段によって示される値に従
    がい電源投入時のハードウェアテストを行なうか否かを
    判断し、その結果に従がいハードウェアテストもしくは
    システムのセットアップを行なうことを特徴とするハー
    ドウェアテスト方式。
  2. (2)上記判断はあらかじめ規定された特定の値との比
    較により行なうものとし、該比較する値を上記バッテリ
    バックアップされた記憶手段に設定することを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載のハードウェアテスト方式
JP60168952A 1985-07-31 1985-07-31 ハ−ドウエアテスト方式 Pending JPS6228842A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60168952A JPS6228842A (ja) 1985-07-31 1985-07-31 ハ−ドウエアテスト方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60168952A JPS6228842A (ja) 1985-07-31 1985-07-31 ハ−ドウエアテスト方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6228842A true JPS6228842A (ja) 1987-02-06

Family

ID=15877586

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60168952A Pending JPS6228842A (ja) 1985-07-31 1985-07-31 ハ−ドウエアテスト方式

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JP (1) JPS6228842A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6431235A (en) * 1987-07-27 1989-02-01 Hitachi Ltd Initial self-diagnosis control device for data processor
JPH03171346A (ja) * 1989-11-30 1991-07-24 Mita Ind Co Ltd データ処理装置
JPH0436849A (ja) * 1990-06-01 1992-02-06 Hitachi Ltd メモリ診断方法
JP2010165007A (ja) * 2009-01-13 2010-07-29 Mitsubishi Electric Corp 情報処理装置

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