JPS6113347A - ハ−ドウエアの初期テスト方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は、コンピュータ等の情報処理装置を構成するハ
ードウェアの初期テスト方式に関する。

［発明の技術的背景とその問題点］ 従来、コンピュータ等を構成するハードウェアの初期テ
ストは以下に述る如く行なわれている。

即ち、電源投入後直ちに作動するイニシャルプログラム
ロード（以下ＩＰＬと略称する−）の中に、最低限必要
とされるシステムのメインメモリ等のテストプログラム
を盛り込むことによって、ハードウェアの初期テストが
行なわれている。しかし例えば標準構成のシステムに拡
張構成部分が付加されたシステムのように、システムの
ハードウェア構成が複ｉｔ、：なると、実記ＩＰＬ内に
設けられたテストプログラムでは十分に全てのハードウ
ェアをテストすることができないという間厘点があった
。′この理由は、上記ＩＰＬがＥＰ−ＲＯＭ又はマスク
ＲＯＭで構成され、容量的に大きなプログラムを入れら
れないためである。

ところでハードウェアテストとし“Ｃは；上記オフライ
ンでの初期テストの他に、オフラインで専用のテストプ
ログラムをかけることもあるが、この場合は、ハードウ
ェアが故障していることを前提に詳しく調べるためのテ
ストであり、前述のシステム立上時に使用するような性
質のものではない。従って、上記バードウ１アの初期テ
ストの問題点をカバー−４る適当な初期テスト方式がな
いのが現状である。

［発明の目的］ 本発明の目的は、上記の欠点に鑑み、複雑なハードウェ
ア構成を有するシステムに対しても十分なハードウェア
の初期テストを行ない得るハードウェアの初期テスト方
式を提供することにある。

［発明の概要］ 本発明は、イニシャルプログラムローダが有するイニシ
ャルプロ、ダラム内に含まれＣいるハードウェアテスト
プログラムによって、システムの電源投入直後のハード
ウェアの初期テストを行なうハードウェアの初期テスト
方式において、前記システムの外部記憶装置に別のハー
ドウェアテストプログラムを格納し、電源投入直後、前
記イニシャルプログラム内のハードウェアテストプログ
ラムを実行すると共に、このイニシャルプログラムにて
前記外部記憶装置から別のハードウェアテストプログラ
ムを該システムにロードし、この別のハードウェアテス
トプログラムによって、イニシャルプログラムロード時
の前記ハードウェアテストでは検査し得なかったハード
ウェアゐテストを行なった後、システムへプログラムの
制御を移すことにより、上記目的を達成するものである
。

［発明の実施例］ 以下本発明の一実施例を図面を参照しつつ説明する。第
１図は本発明のバードウ１アの初期テスト方式を適用す
るシステムの一実施例を示した構成図である。中央処理
装置（ＣＰＵ）１から出るメモリバス２にイニシャルプ
ログラムローダ（ＩＰＬ）３及びメインメ七り（ＩＱ＞
４が接続されている。また、ＣＰ　ＬＪ　１から出るメ
インバス５に外部記憶装置（ＤＩＳＫ＞６、プリンタ（
ＰＦで）７、キャラクタジェネレータ（ＣＧ）８、バー
ディカルラム（Ｖ−ＲＡＭ＞９、キーボードｉｏが接続
されている。キャラクタジェネレータ８とパーティカル
ラム９は亙いに接続され、更にパーティカルラム９には
表示装置（ＣＲＩＩＩが接続されている。メインバス５
には図中点線で示す如く別の中央処理装置（ＣＰＵ＞　
１２が接続され、このＣＰＬｌｌ２は、メインメモリ（
ＭＭ）１３、入出力コントロール１４、更にその他図示
されない機器を接続して１つのシステムを構成していへ
即ち、図中実線で示した部分は標準構成のシステムを示
し、点線で示した部分は拡張されたシステムの構成部分
を示している。

ＩＰＬ３Ｌ［！常ＥＰ−ＲＯＭ又は？スクＲＯＭより成
り、システムに電源が投入されると、その直後に動作し
、この中のプログラムに第１段階のハードウェアテスト
プログラムが含まれている。

メインメモリ４はＣＰＬＪｌに対するメモリである。

外部記憶装置６にはＩＰＬ後のプログラムが内蔵されて
おり、この中に第２段階のハードウェアテストプログラ
ムが含まれている。外部記憶装置６としては、通常、フ
ロッピーディスク、磁気ディスク、マグネットテープ等
が考えられる。キャラクタジェネレータ８はＣＲＴＩＩ
の表示及びプリンタ７に対するパターンデータを発生す
る。パーティカルＲＡＭ９はＣＲ丁１１のビデオメモリ
である。メインメモリ１３はＣＰＵ１２に対するメイン
メモリである。

次に本実施例の動作について説明する。システムに電源
を投入すると、その直後にＩ　’Ｐ　Ｌ　３が作動し、
この１ＰＬａ内の第１段階のハードウェアテストプログ
ラムにより、部品１〜１１から成る標準構成のハードウ
ェアの初期テストが従来例と同様に行なわれる。しかし
、本実施例では上記テストに引き続き、ＩＰＬ３内のプ
ログラムロード命令によって、外部記憶装Ｍ６から、こ
れに含まれる第２段素のハードウェアテストプログラム
をメインメモリ４にロードする。ＣＰＬｌｌはメインメ
モリ４にロードされた第２段階のハードウェアテストプ
ログラムを用いて拡張構成部分のハードウェア１２〜１
４その他を検査し、異常がなければ通常のシステムプロ
グラムが動作するような処理を行なう。もし異常があれ
ば、ＣＲＴＩＩにハードウェアの異常を表示して処・理 を終了する。

本実施例によれば、システム電源投入直後のハードウェ
ア初期テストにおいて、先ず１ＰＬ３内の第１段階のハ
ードウェアテストプログラムにて標準構成部分のハード
ウェアテストを行い、その後、外部記憶装置内の第２段
階のバードウＬアテストプログラムにて拡張構成部分の
ハードウェアテストを行うことにより、複雑なハードウ
ェア構成を有するシステムに対しても、十分なハードウ
ェア初期テストを行うことができる。従って、システム
を稼働させる以前にハードウェアの異常を検出して、シ
ステムの信頼性を向上させることができる。

［発明の効果コ 以上記述した如く本発明のハードウェアの初期テスト方
式によれば、ＩＰＬ内に第１段階のハードウェアテスト
プログラムを格納し、外部記憶装置内に第２段階のバー
ドウＪアアストプログラムを格納し、電源投入直後先ず
前記第１段階のハードウェアテストプログラムにてハー
ドウェアのテストを行った後、次に前記第２段階のハー
ドウェアテストプログラムにて残りの部分のハードウニ
）１のテストを行なうことにより、複雑なハードウェア
構成を有するシステムに対しても十分なハードウェアの
初期テストを行ない得る効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のハードウェアの初期テスト方式を適用
したシステムの一実施例を示す構成図である。 １・・−中央処理装置 ３−・・イニシャルプログラムロード ４−・・メインメモリ ６・−・外部記憶装置

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. イニシャルプログラムローダが有するイニシャルプログ
   ラム内に含まれているハードウェアテストプログラムに
   よつて、システムの電源投入直後のハードウェアの初期
   テストを行なうハードウェアの初期テスト方式において
   、前記システムの外部記憶装置に別のハードウェアテス
   トプログラムを格納し、電源投入直後、前記イニシャル
   プログラム内のハードウェアテストプログラムを実行す
   ると共に、このイニシャルプログラムにて前記外部記憶
   装置から別のハードウェアテストプログラムを該システ
   ムにロードし、これによって、イニシャルプログラムロ
   ード時の前記ハードウェアテストでは検査し得なかった
   ハードウェアのテストを行なった後、システムへプログ
   ラムの制御を移すことを特徴とするハードウェアの初期
   テスト方式。