JPH0436849A

JPH0436849A - メモリ診断方法

Info

Publication number: JPH0436849A
Application number: JP2141438A
Authority: JP
Inventors: Junji Nakada; 順二中田; Kenichi Saito; 賢一斎藤
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1990-06-01
Filing date: 1990-06-01
Publication date: 1992-02-06

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明はランダムアクセス可能なメモリを有する情報処
理機器によるメモリ診断方法に関する。

〔従来の技術〕

従来の、ランダムアクセス可能なメモリを備えた情報処
理ＪｒＩＡ器は、メモリの正常な動作を確認するため、
電源投入の直後にメモリ診断のためにデータの書き込み
、読み出しを行っていた。しかし、情報処理機器に搭載
するメモリの大容撤化に伴い、これらのメモリ診断に要
する時間は飛躍的に増大する傾向にあシ、使い勝手の面
、また、消費電力の面からも問題となってきている。そ
こで、この問題を解決するために５株式会社日立裏作所
製のエンジニアリング◆ワ〜クスデーション２０５０Ｇ
テハ、第２図のフロルチャートに示したメモリ診断方式
をとっている。すなわら、電源を投入した後、スゲツブ２１：　前回のメモリ診１所時の日付と現在の
日付を比較する。

一致する場合　→ステップ２２一致しない場合→ステップ２３（メモリ診断）ステップ２２：　電源投入直後に′９°キーが。

押された場合　→ステップ２５（メモリ診断）押されない場合→次の処理へステップ２３：　メモリ診断を行なう。

正常に動作　→日付の更新９次の処理へエラー検出　→エラーを表示９次の処理への手順でメモリ診断を行っている。

〔発明が解決しよりとする課題〕

上記従来技術ではユーザ側でメモリ診断プログラムを起
動する場合には、電源投入直後に′９”キーを押す以外
に方法が無い。そのため、あるプログラムを実行する直
前にメモリ診断を行い、そのプログラムの正常な動作を
保証することができない。また、メモリ診断を行う間隔
が一日に固定されているため、システムに要求される信
頼性に応じてメモリ診断の頻度を変えることができない
。

さらに、１１ｔ＋２！Ｘの投入・遮断がメモリ素子に与
える影響も考慮されていない。

本発明の目的は、ユーザが任意のタイミングでメモリ診
断動作を起動できる方法を提供することにある。

本発ツＪの他の目的は、システムに要求される信頼性に
応じてメモリ診断の頻度を変えることができるメモリ診
断方法を提供することにある。

本発明のさらに他の目的は、システムに対するＶＬ′ｔ
Ｍの投入回数が一定数に達する毎にメモリ診断を行う方
法を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本発明は、ソフトウェア・
コマンドでメモリ診断動作を起動し、最後にメモリ診断
を行った日付を記憶し、何日毎にメモリ診断を行うかを
設定し、前回行ったメモリ診断より起算してシステムの
電源投入回数をカウントしこれを記憶し、前記電源投入
回数が所定の回数に達した場合にメモリ診断を行うため
その回数を設定することを特徴とする。

〔作用〕

本発明では、第１図に示すフローチャートに従いメモリ
診断を行う。すなわち、１を源投入後、ステップ１１：
　電源投入回数に１加える。

ステップ１２：　現在の日付と前回のメモリ診断時の日
付の差をと夛、これと予め設定しておいた整数ｎとを比較する。

日付の差くｎ→ステップ１６日付の差≧ｎ→ステップ１４ステップ１３：　電源の投入回数と予め設定しておいた
整数ｍとを比較する。

投入回数くｍ→次の処理へ投入回数≧ｍ→ステップ１４ステップ１４：　メモリ診断を行なう。

正常に動作→日付の書込み、電源投入回数のクリア９次の処理へエラー検出→エラーを表示９次の処理への手順でメモリ診断を行っている。これにょ）、一定の
日数着しくは一定の電源投入回数毎にメモリ診断を行う
ことが可能となる。また、以上の処理とは別に、ソフト
ウェア・コマンドを投入することによシ任意のタイミン
グでメモリ診断動作を起動することも可能である。

□〔実施例〕以下５本発明の一芙施例を第１図および第３図を用込て
説明する。第３図において、１はＣＰＵ。

２はシステムの初期化プログラムが格納されているＩＰ
ＬＲＯＭ％５はリアルタイムクロック（以下Ｒ’ｌ’Ｃ
と記す）、４は前回にメモリ診断を行った日付を記憶す
るメモリ診断日付記憶レジスタ、５は何日毎にメモリ診
断を行うかを設定するメモリ診断間隔設定レジスタ（日
付）、６は電源の投入回数を記憶する電源投入回数カウ
ンタ、７は電源の投入回数が何回に達したらメモリ診断
を行うかを設定するメモリ診断間隔設定レジスタ（電源
投入回数）、８はＲＡＭである。

まず、ＩＰＬＲＯＭ２には予めシステムの初期化プログ
ラムに加えて第１図に示したフローチャートを実現する
プログラムを格納しておく。すなわち、電源投入後、ステップ１１：　　’＠電源投入回数１加える。

ステップ１２：　現在の日付と前回のメモリ診断時の日
付の差をとυ、これと予め設定しておいた整数ｎとを比較する。

日付の差くｎ→スデッグ１５日付の差≧ｎ→ステップ１４（メモリ診断）ステップ１５：　電源の投入回数と予め設定しておいだ
整数ｍとを比較する。

投入回数くｌ→次の処理へ投入回数≧ｍ→ステップ１４（メモリ診断）ステップ１４：　メモリ診断を行なう。

正常に動作→日付の書込み。

電源投入回数のクリア →次の処理へエラー検出→エラーを表示 →次の処理への処理を行う。この処理を第３図に示した実施例で実現
すると次のように表現される。すなわち、電源投入後、ステップ１１：　電源投入回数カウンタ６に１を加える
。

ステップ１２：　　ＣＰＬｌｌはＲ’Ｉ’Ｃ３の内容と
メモリ診断日付記憶レジスタ４の内容との差をと）、これと予めある整数ｎを設定しておいたメモリ診断間隔設定レジスタ（日付）５の内容とを比較する。

日付の差くｎ→ステップ１６日付の差≧ｎ→ステップ１４（メモリ診断）スフ”ッ７’１３：　　ＣＰＵ１は電源投入回数カウン
タ６の内容と予めある整数ｍを設定しておいたメモリ診ｉ間隔設定レジスタ（電源投入回数）７の内容とを比較する。

投入回数くｍ→次の処理へ投入回数≧ｍ→ステップ１４（メモリ診断）ステップ１４：　　ＣＰＵ１はＩＰＬＲＯＭ２内のメモ
リ診断プログラムに従いメモリ診断を行なう。

正常に動作 →メモリ診断日付記憶レジスタイ０更新および電源投入回数カウンタ６のクリア →次の処理へエラー検出→エラーを表示 →次の処理へなお、エラーの発生回数をロギングし、一定期間内の発
生頻度が多くなったら自動的に診断間隔を短くすること
も容易である。

また適当なソフトウェア・コマンドを設け、このコマン
ドを投入するとｃｐｕｌがｘＰＬＲＯＭ２内のメモリ診
断プログラムを実行するようにすることによシ、ソフト
ウェア・コマンドによるメモリ診断が容易に実現される
。

〔発明の効果〕

本発明によれば、ソフトウェア・コマンドによ）メ七り
診断を行うことができるので、ユーザが必要に応じてメ
モリ診断を実行することができる。

また、システムに電源を投入したときに行うメモリ診断
の頻度を変えることができるので、システムに要求され
る信頼性に応じてメモリ診断の回数を増減することがで
きる。そのため、システム立ち上げ時間が短縮され、か
つ、省電力の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のメモリ診断のフローチャー
ト、第２図は従来のメモリ診断のフローチャート、第３
図は本発明のノー−ドウエアのブロック図である。１・・・ＣＰＵ２・・・ＩＰＬＲＯＭ６・・・リアルタイムクロック（Ｒ’ｌ’Ｃ）４・・・
メモリ診断日付記憶レジスタ５・・・メモリ診断間隔設定レジスタ（日付）６・・・電源投入同数カウンタ７・・・メモリ診断間隔設定レジスタ（を源投入回数）８・・・ＲＡＭ

Claims

【特許請求の範囲】１、ランダムアクセス可能なメモリを備えた情報処理機
器において、前記メモリの診断プログラムをソフトウェア・コマンド
で起動することを特徴とするメモリ診断方法。２、請求項１において、前記情報処理機器の電源を投入
した際に、前回メモリの診断を行なった日時と現在の日
時とを比較し、予め設定可能な一定の期間が経過してい
た場合は自動的にメモリ診断が行われるメモリ診断方法
。３、請求項１において、前記情報処理機器の電源を投入
した際に、電源の投入回数が予め設定可能な一定の数を
越えた場合、自動的にメモリ診断が行われるメモリ診断
方法。