JPS62264613A - 積層セラミツクコンデンサ - Google Patents
積層セラミツクコンデンサInfo
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- JPS62264613A JPS62264613A JP61108802A JP10880286A JPS62264613A JP S62264613 A JPS62264613 A JP S62264613A JP 61108802 A JP61108802 A JP 61108802A JP 10880286 A JP10880286 A JP 10880286A JP S62264613 A JPS62264613 A JP S62264613A
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- Japan
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- ceramic capacitor
- external electrode
- multilayer ceramic
- glass frit
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- Pending
Links
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims description 25
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 19
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims description 5
- 239000003973 paint Substances 0.000 claims description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 10
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 8
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 6
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IHWJXGQYRBHUIF-UHFFFAOYSA-N [Ag].[Pt] Chemical compound [Ag].[Pt] IHWJXGQYRBHUIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000406668 Loxodonta cyclotis Species 0.000 description 1
- 241000981595 Zoysia japonica Species 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N palladium silver Chemical compound [Pd].[Ag] SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、積層セラミックコンデンサに関し、特に積層
セラミックコンデンサの外部電極構造の改良に関する。
セラミックコンデンサの外部電極構造の改良に関する。
従来の積層セラミックコンデンサは第4図(a)の斜視
図、第4図(a)のD−Dの断面図である第4図(b)
に示すように構成されている。
図、第4図(a)のD−Dの断面図である第4図(b)
に示すように構成されている。
積層セラミックコンデンサ素子(以後、素子と略称)1
に内部電極が左右に対向して露出する電極端面にガラス
フリットを含んだ導電ペーストを塗布して温度550℃
〜900℃で約1時間焼付けを行い、外部電極4を被着
形成する構造であった。
に内部電極が左右に対向して露出する電極端面にガラス
フリットを含んだ導電ペーストを塗布して温度550℃
〜900℃で約1時間焼付けを行い、外部電極4を被着
形成する構造であった。
上述した従来の積層セラミックコンデンサは素子1の電
極端面にガラスフリットを含んだ導電ペーストを塗布乾
燥して被着させた構造であるため、4tペースト中のガ
ラスフリフトの余剰分が焼結中に導電ペーストの表面に
露出しやすくなり、焼結後にガラスフリットが外部電極
4の表面を覆う。
極端面にガラスフリットを含んだ導電ペーストを塗布乾
燥して被着させた構造であるため、4tペースト中のガ
ラスフリフトの余剰分が焼結中に導電ペーストの表面に
露出しやすくなり、焼結後にガラスフリットが外部電極
4の表面を覆う。
そのため、積層セラミックコンデンサを基板上へ実装す
る半田付けなどを行った場合に、半田付は不良となるこ
とがある。しかし、半田付は不良を防止するために導電
ペースト中のガラスフリットを減少しすぎると、素子1
と外部電極4とを接続する接着力が弱くなり、基板上に
積層セラミックコンデンサを実装した時の機械的接着強
度が低下する。
る半田付けなどを行った場合に、半田付は不良となるこ
とがある。しかし、半田付は不良を防止するために導電
ペースト中のガラスフリットを減少しすぎると、素子1
と外部電極4とを接続する接着力が弱くなり、基板上に
積層セラミックコンデンサを実装した時の機械的接着強
度が低下する。
本発明の目的は、かかる従来欠点を解消した積層セラミ
ックコンデンサを提供することにある。
ックコンデンサを提供することにある。
本発明によればセラミック誘電体からなる成形体の対向
する一対の端面に複数の内部電極層が露出され、かつ上
記端面にガラスフリットを含有する導電塗料を被着焼結
した第1の外部電極層と、上記第1の外部電極層上にガ
ラス7リツトを含まない導電塗料を被着焼結した第2の
外部電極層とを有することを特徴とする積層セラミック
コンデンサが得られる。
する一対の端面に複数の内部電極層が露出され、かつ上
記端面にガラスフリットを含有する導電塗料を被着焼結
した第1の外部電極層と、上記第1の外部電極層上にガ
ラス7リツトを含まない導電塗料を被着焼結した第2の
外部電極層とを有することを特徴とする積層セラミック
コンデンサが得られる。
以下、本発明について図面を参照して説明する。
(実施例1)
第1図(a)は本発明の第1の実施例による積層セラミ
ックコンデンサの斜視図である。第1図(b)は、第1
図(a)のA−A部の断面図である。素子1の左右の相
対向する一対の電極端面にガラスフリットを含んだ銀−
白金ペーストを塗布し、温度550℃〜900℃で焼付
けて第1の外部電極層12を形成する。次に、ガラスフ
リットを除いた銀−白金ペーストを塗布し再び550℃
〜900℃で焼付けて第2の外部電極層13を形成し積
層セラミックコンデンサを得た。
ックコンデンサの斜視図である。第1図(b)は、第1
図(a)のA−A部の断面図である。素子1の左右の相
対向する一対の電極端面にガラスフリットを含んだ銀−
白金ペーストを塗布し、温度550℃〜900℃で焼付
けて第1の外部電極層12を形成する。次に、ガラスフ
リットを除いた銀−白金ペーストを塗布し再び550℃
〜900℃で焼付けて第2の外部電極層13を形成し積
層セラミックコンデンサを得た。
次に、本発明実施例1と従来例によって得た積層セラミ
ックコンデンサの半田付は性を温度230℃の溶融半田
へ4秒間浸漬する半田付は試験により比較した結果を第
1表の(6)に示す。従来例の外部電極が1層のものの
外部電極に半田の付着する面積の範囲が90%であった
が本実施例1によるものは100%であった。
ックコンデンサの半田付は性を温度230℃の溶融半田
へ4秒間浸漬する半田付は試験により比較した結果を第
1表の(6)に示す。従来例の外部電極が1層のものの
外部電極に半田の付着する面積の範囲が90%であった
が本実施例1によるものは100%であった。
第1表
なお、測定に使用した半田は2重量%の銀入シ半田を用
い、ブラックはJIS7ラツクスを使用した。
い、ブラックはJIS7ラツクスを使用した。
(実施例2)
第2図(a)は本発明の第2の実施例による積層セラミ
ックコンデンサの斜視図である。第2図Φ)は、第2図
(a)のB−B部の断面図である。実施例1と同様に素
子1の左右の相対向する一対の電極端面にガラスフリッ
トを含んだ銀ペーストを塗布し、温度550℃〜900
℃で焼付けて第1の外部電極層22を形成する。次に、
ガラス7リツトを除いた銀ペーストを塗布し再び温度5
50℃〜900℃で焼付けて第2の外部電極層23を形
成し積層セラミックコンデンサを得た。
ックコンデンサの斜視図である。第2図Φ)は、第2図
(a)のB−B部の断面図である。実施例1と同様に素
子1の左右の相対向する一対の電極端面にガラスフリッ
トを含んだ銀ペーストを塗布し、温度550℃〜900
℃で焼付けて第1の外部電極層22を形成する。次に、
ガラス7リツトを除いた銀ペーストを塗布し再び温度5
50℃〜900℃で焼付けて第2の外部電極層23を形
成し積層セラミックコンデンサを得た。
次に、本発明実施例2と従来例によって得た積層セラミ
ックコンデンサの半田付は性を比較した結果を第1表の
)に示す。
ックコンデンサの半田付は性を比較した結果を第1表の
)に示す。
(実施例3)
第3図(a)は本発明の第3の実施例による積層セラ中
1.々コソデソ廿の二正Mヤムスー催2Sへ)叶第3図
(a)のC−C部の断面図である。実施例1゜2と同様
に素子1の左右の相対向する一対の電極端面にガラス7
リツトを含んだ銀−白金ペーストを塗布し、温度550
℃〜900℃で焼付けて第1の外部電極層32を形成す
る。次に、ガラスフリットを除いた銀ペーストを塗布し
再び温度550℃〜900℃で焼付けて第2の外部電極
層33を形成し積層セラミックコンデンサを得た。
1.々コソデソ廿の二正Mヤムスー催2Sへ)叶第3図
(a)のC−C部の断面図である。実施例1゜2と同様
に素子1の左右の相対向する一対の電極端面にガラス7
リツトを含んだ銀−白金ペーストを塗布し、温度550
℃〜900℃で焼付けて第1の外部電極層32を形成す
る。次に、ガラスフリットを除いた銀ペーストを塗布し
再び温度550℃〜900℃で焼付けて第2の外部電極
層33を形成し積層セラミックコンデンサを得た。
次に、本発明実施例3と従来例によって得た積層セラミ
ックコンデンサの半田付は性を比較した結果を第1表0
に示す。
ックコンデンサの半田付は性を比較した結果を第1表0
に示す。
従来例による外部電極が1層のものの外部電極に半田が
付着する面積の範囲は90%であったが、本実施例11
本実施例2及び本実施例3によるものは100%であっ
た。
付着する面積の範囲は90%であったが、本実施例11
本実施例2及び本実施例3によるものは100%であっ
た。
なお、本実施例では述べていないが、銀−パラジウム、
パラジウム、ニッケル、銅などについても同様な効果が
ちることはもちろんである。
パラジウム、ニッケル、銅などについても同様な効果が
ちることはもちろんである。
以上説明したように本発明は、
(1)ガラス7リフトを除いた導電ペーストを第2層と
して塗布することによシ、ガラスフリットが外部電極の
表面に露出しにくくなシ、半田付は性が約10%改善さ
れる。
して塗布することによシ、ガラスフリットが外部電極の
表面に露出しにくくなシ、半田付は性が約10%改善さ
れる。
(++)導電ペーストを2度塗布することにより、外部
電極が厚くなるので、耐半田くわれ性及び端子固着力が
優れている。
電極が厚くなるので、耐半田くわれ性及び端子固着力が
優れている。
等の効果がある。
第1図(a)は本発明実施例1の積層セラミックコンデ
ンサの斜視図、第1図(b)は第1図(a)のA −A
部の断面図、第2図(a)は本発明実施例2の積層セラ
ミックコンデンサの斜視図、第2図中)は第2図(a)
のB−B部の断面図、第3図(a)は本発明実施例3の
積層セラミックコンデンサの斜視図、第3図中)は第3
図(a)のC−0部の断面図、第4図(a)は従来の積
層セラミックコンデンサの斜視図、第4図(b)は第4
図(a)のD−D部の断面図である。 l・・・・・・積層セラミックコンデンサ素子、12,
22゜344・−・−・・ガラスフリットを含有する外
部電極、1323、33・・・・・・ガラスフリットを
含有しない外部電極、である。 代理人 弁理士 内 原 =ツ゛−昼〉、′震1
.゛ 牟 / @ (L) 牛 1 図 (b) I・−−aJセラミ・・ノクコS−チ゛シサ象チ/2.
22.32.4・・、ガ゛ラスフ外・/隊宿峠rするダ
陽P禰【上シt3.23.33 −−− ガ′ラスフソ
ヅト芝含南しは1、りに千玲第4習(ヘノ 牟4 図(b)
ンサの斜視図、第1図(b)は第1図(a)のA −A
部の断面図、第2図(a)は本発明実施例2の積層セラ
ミックコンデンサの斜視図、第2図中)は第2図(a)
のB−B部の断面図、第3図(a)は本発明実施例3の
積層セラミックコンデンサの斜視図、第3図中)は第3
図(a)のC−0部の断面図、第4図(a)は従来の積
層セラミックコンデンサの斜視図、第4図(b)は第4
図(a)のD−D部の断面図である。 l・・・・・・積層セラミックコンデンサ素子、12,
22゜344・−・−・・ガラスフリットを含有する外
部電極、1323、33・・・・・・ガラスフリットを
含有しない外部電極、である。 代理人 弁理士 内 原 =ツ゛−昼〉、′震1
.゛ 牟 / @ (L) 牛 1 図 (b) I・−−aJセラミ・・ノクコS−チ゛シサ象チ/2.
22.32.4・・、ガ゛ラスフ外・/隊宿峠rするダ
陽P禰【上シt3.23.33 −−− ガ′ラスフソ
ヅト芝含南しは1、りに千玲第4習(ヘノ 牟4 図(b)
Claims (1)
- セラミック誘電体からなる成形体の対向する一対の端
面に複数の内部電極層が露出され、かつ前記端面にガラ
スフリットを含有する導電塗料を被着焼結した第1の外
部電極層と、前記第1の外部電極層上にガラスフリット
を含まない導電塗料を被着焼結した第2の外部電極層と
を有することを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61108802A JPS62264613A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 積層セラミツクコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61108802A JPS62264613A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 積層セラミツクコンデンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62264613A true JPS62264613A (ja) | 1987-11-17 |
Family
ID=14493850
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61108802A Pending JPS62264613A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | 積層セラミツクコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62264613A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008311362A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Tdk Corp | セラミック電子部品 |
JP2019179812A (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-17 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 積層バリスタの製造方法 |
JP2022028945A (ja) * | 2018-03-30 | 2022-02-16 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 積層バリスタの製造方法および積層バリスタ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5969907A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-20 | 松下電器産業株式会社 | 温度補償用積層セラミツクコンデンサ |
-
1986
- 1986-05-12 JP JP61108802A patent/JPS62264613A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5969907A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-20 | 松下電器産業株式会社 | 温度補償用積層セラミツクコンデンサ |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008311362A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Tdk Corp | セラミック電子部品 |
JP2019179812A (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-17 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 積層バリスタの製造方法 |
JP2022028945A (ja) * | 2018-03-30 | 2022-02-16 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 積層バリスタの製造方法および積層バリスタ |
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