JPS62230528A - 粒状物の薄層化輸送方法 - Google Patents

粒状物の薄層化輸送方法

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JPS62230528A
JPS62230528A JP6930986A JP6930986A JPS62230528A JP S62230528 A JPS62230528 A JP S62230528A JP 6930986 A JP6930986 A JP 6930986A JP 6930986 A JP6930986 A JP 6930986A JP S62230528 A JPS62230528 A JP S62230528A
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JP
Japan
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belt conveyor
raw material
granular material
particle size
size distribution
Prior art date
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Pending
Application number
JP6930986A
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English (en)
Inventor
Zensaku Ayuba
善作 阿由葉
Masaaki Matsui
松井 正昭
Takeichi Iwanaga
岩永 竹市
Yasuhiro Suzuki
康弘 鈴木
Takashi Nakamori
中森 孝
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Publication date
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  • Filling Or Emptying Of Bunkers, Hoppers, And Tanks (AREA)
  • Manufacture Of Iron (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は粒状物、例えば高炉装入原料をベルトコンベヤ
ーで輸送する場合において、ベルトコンベヤー上の粒状
物の層厚を間欠的に薄層化する方法に関し、特に粒状物
の粒度分布を測定する場合に適用するものである。
(従来の技術) 例えば高炉操業においては、高炉内に装入される原料の
炉内における粒度分布は、炉内ガス流分布を左右し、操
業に大きな影響を及ぼす。
そこで、好適な炉内ガス流分布を得るための必要な粒度
分布を得るため、原料の装入過程において種々の粒度分
布制御が行われている。
原料の粒度分布制御を行うためには、各装入過程におけ
る原料の粒度分布を把握する必要がある・そして粒度分
布制御の8度を良好に維持するためには各装入過程にお
ける原料粒度分布を正確に把握する必要がある◇ 従来この装入原料の各装入過程における原料の粒度分布
は、ベルトコンベヤーから原料の一部をサンプリング装
置により間欠的にサンプリングし、このサンプリング原
料を系外でスクリーニングして粒度分布を測定し、この
粒度分布をベースとして次回バッチの各装入過程におけ
る粒度分布制御を行うようにしておシ、オンラインでの
粒度分布測定は行われていなかった。
例えば第8図に示す特開昭58−136704号の発明
のように原料Mを中継貯槽1からベルトコンベヤー2、
ホッパー3、旋回シュート4を経て高炉5内に装入する
ようにした高炉装入装置において、炉内半径方向の粒度
分布を最適にするために中継貯槽1とホッパー3に整流
板6−1.6−2 等を設け、中継貯槽1、ホッパー3
内における原料の堆積形態、あるいは排出順を調整し、
ホッパー3から排出される原料Mの経時的粒度分布を制
御するようにしたものがあり斯る発明においては、例え
ばベルトコンベヤー2上の原料Mの粒度を非接触式の測
定装置7で測定しこの測定結果に基づいて中継貯槽lと
ホッパー3内の原料Mの堆積形態、原料の排出順を調整
するようにしている。
一方粒状物の粒度測定法として特開昭59−81535
号がある。
この粒度測定法においては、落下途中の粒状物の画像を
高速−次元イメージセンサ−の線走査の繰返しによりと
らえ、この画像を解析して、粒度分布を求めている。
(本発明が解決しようとする問題点) ところで一般的に言ってベルトコンベヤー上の粒状物の
層厚は300〜500 mm位であり、このような層厚
下での粒度測定は表層部に限られ、又、推定的要素が犬
であり、この測定結果で全体を代表させるため、その測
定値の精度は充分なものとは言い難い。
したがって、この測定値に基づいて炉内における原料の
粒度分布を制御しても最適粒度分布を安定して維持する
ことは困難である。
又前記特開昭59−81535号の粒度測定法において
、測定精度を上げるためには落下流を形成する各粒子が
重なり合わないようにする配慮が必要と思われるが、こ
の発明においては、そのような配慮は示されておらず、
したがって、その測定精度が充分かどうかの疑問が残る
本発明は粒状物の粒度分布測定の精度向上を図るため、
粒子の重なり合いが少ない粒状物を形成する方法を提供
するものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、粒状物をベルトコンベヤーによシ輸送する場
合に適用され、特にベルトコンベヤーヘッド部から粒状
物を落下させ、その落下流でその粒度分布を測定する場
合に顕著な効果を奏するものである。
第1の発明は、ベルトコンベヤーへの粒状物の供給量を
調整し、ベルトコンベヤー上の粒状物の層厚を間欠的に
薄層化するところに特徴があシ、第2の発明は、第1の
発明に加え、ベルトコンベヤーヘッド部に拡散装置を設
け、ベルトコンベヤーヘッド部からの原料を該拡散装置
を介して落下させ、更に薄層化するところに特徴がある
例えば高炉の原料装入における中継貯槽からベルトコン
ベヤー上への原料の供給速度は通常最大5000t/h
rで層厚ば300〜500mm位であるが、本発明にお
いては、ベルトコンベヤー上への原料供給速度を例えば
30秒おきに10秒間50〜100t/hrに落し、層
中を変えず層厚を前記通常層厚の175〜1/10位の
層厚に薄層化してベルトコンベヤーヘッド部から落下さ
せるものである。またさらに必要に応じてベルトコンベ
ヤーヘッド部の下方に拡中板と整流板からなる薄層化装
置を設け、この薄層化装置により、原料の落下流を拡散
し、方向性を消去すると共に整流して落下させるように
し、重なり合いのない落下流を確保するようにするもの
である。
以下に本発明の実施例を第1図〜第7図に示す実施装置
例と共に説明する。
この実施例は、高炉の原料装入装置において適用した場
合のものである。
第1図において、1は中継貯槽で、この中継貯槽1の下
部傾斜面には長方形の排出口1−1と、この排出口1−
1の開度を調整し、速度可変型のベルトコンベヤー2へ
の原料供給速度を調整するためのスライドゲート8が設
けられている。
このスライドゲート8は油圧シリンダー9によって作動
する。油圧シリンダー9は、制御装置11に接続されて
おり、予め設定されたタイミングで所定時間スライドゲ
ート8の開度を絞って保定後、通常の開度に復帰させる
ようになっている。
なお、排出口1−1の両側部には排出原料が所定の巾で
安定して排出できるように可変スカート10を設ける場
合もある。2−1はベルトコンベヤーヘッド部で高炉炉
頂の分配シュート12の上方に位置している。
この分配シュート12は回動自在であシ、その排出端は
ホッパー13、装入口部に位置できるようになっている
。ホッパー13の下部には集合シュート14が設けられ
、その下方には炉内旋回シュート15が設けられている
本実施例では、ベルトコンベヤーヘッド2−1部と、分
配シュート12間に薄層化装置として原料の落下流に対
向して進退自在で、傾斜角度、可変の拡巾板17が設け
られている。16は拡巾仮作動用の油圧シリンダーであ
る。
この拡巾板17は第3図に示すように下床がりで落下流
との対向面には凸曲面が形成されベルトコンベヤーヘッ
ド部からの原料落下流を拡散し、更に薄層化する。拡巾
板17の下部には拡巾板17からの落下流に対向して進
退自在で、傾斜角可変の整流板19が設けられている。
この整流板19は拡巾板17の凸曲面からの原料、落下
流の方向性を消去すると共に拡巾板との間に形成される
間隙を通して整流しはソ垂直で超薄層(粒子の重なりが
非常に少ない)の落下流を形成するものである。したが
って、この間隙は、原料の種類、性状によって調整する
そしてこの拡巾板17と整流板19とによシ形成される
落下流を挾むように粒度分布測定装置として光源22と
イメージセンサ−23が対向して設けられている。この
センサーからの画像信号は画像解析装置24に送信され
、画像解析装置てより粒度分析がされ、粒度分布が粒度
分布表示装置25によって表示されるようになっている
したがって、前記中継貯槽からの供給量の減少開始信号
と終了信号(薄層化の起点と終点を表わす信号)は制御
装置11に送信され、ベルトコンベヤー速度を考慮して
整流板からの薄層流に対するイメージセンサ−作動のタ
イミングを指示するようになっている。
つぎに本発明を実施する場合について述べる。
中継貯槽lに一次貯留された原料Mはベルトコンベヤー
2へ供給(排出)されるが、この供給(排出)条件およ
びベルトコンベヤー2の速度は、原料、の種類、粒度、
(最大、最小粒径)、高炉装入条件(装入量、装入速度
等)に応じて定められるものであり、薄層化のために所
定の原料装入スケジュールを崩さないように薄層化のた
めに減する原料の供給量が回復し易いように考慮される
即ち、例えば、中継貯、漕lからのベルトコンベヤー2
への切出し速度、ベルトコンベヤーの速度等を調整する
必要がある。
しかしながら、メンテナンス、安全性を考慮すれば原料
切出し速度、ベルトコンベヤー速度の高速化には限度が
あるので、原料の安息角を考慮して、薄層化部の粒度分
布が全体の粒度分布を代表するような範囲で、なるべく
薄層化範囲は狭い範囲とすることが好ましく、予め薄層
化パターンを設定しておく。この場合薄層化部は例えば
lバッチの原料の経時的な粒度変化が把握できるように
、はソ等間隔で形成するようにすることが好ましい。
かくして先ず通常層厚を得るためベルトコンベヤーの速
度を通常速度にすると共に中継貯槽1の排出口1−1の
開度をスライドゲート8の作動によって通常開度にしベ
ルトコンベヤー2上に原料を切出し1通常層厚を形成し
ながら搬送する。
所定時間経過後、スライドゲート8を作動し中継貯槽l
排出口1−1の開度を予め設定された薄層化用開度に絞
シ、薄層を形成しながら搬送する。
所定時間経過後、スライド、ゲート8を作動し中継貯槽
1の排出口1−1の開度を通常層厚を得るための開度に
復帰させる。
このような操作を繰返すことによって、通常層厚部R8
と薄層化部ItIを交互に形成しながら搬送し、ベルト
コンベヤー2のヘッド部から拡巾板17上へ落下させる
この拡巾板17の傾斜角度は原料の種類、性状に応じて
設定され、薄層化部が通過後は退避させても良いが、ベ
ルトコンベヤー2からの落下原料の方向性を消去し、又
分配シュート12からホッパー13へ装入される原料の
堆積形態を調整するために常にベルトコンベヤー2から
落下する原料を全て受けられるようにすることも考慮す
る0かくして、拡巾板17上に落下した原料は方向を変
えると共に、拡散されながら、拡巾板17の傾斜曲面を
ころがり、整流板19上に落下し、方向を変え拡巾板と
整流板間に形成される間隙により整流薄層化され略垂直
に落下する。
この薄層化部の落下開始と同時にイメージセンサ−が作
動し、この落下流を走査し落下流を撮像するθ イメージセンサ−での撮像信号は画像処理装置24に送
られ、ここで画像解析され、薄層化部の粒度分布を演算
され、表示装置に粒度分布が表示される。
この粒度分布は中継貯槽1から切出(排出)された原料
の経時的な粒度分布を近似的に示している。
したがって、例えばこの粒度分布を測定点において所定
の粒度分布に維持することによって、ホッパー13、旋
回シュート15を介して炉内に装入される原料の経時的
な粒度分布を調整することが容易になる0 この粒度測定点における粒度分布が所定の粒度分布にな
っていない場合は、前工程である中継貯槽1における原
料の堆積形態を調整して中継貯槽1から排出される次回
バッチの原料の経時的粒度パターンを調整して、粒度分
布測定点において所定の粒度分布が得られるようにする
とか、おるいは後工程であるホッパー13、あるいは旋
回シュート15の旋回条件を調整する等によって最終的
に炉内における粒度分布を所定のものにすることも可能
である。
(実施例) 第1図〜第4図に示した本発明の実施装置例において、
本発明を実施した結果について説明する。
中継貯槽1に貯留された1バッチ分の焼結鉱120t 
(粒径5mm 〜56mm)を速度2 m/secのベ
ルトコンベヤー2によって60 t/hr の速度で高
炉炉内に装入するように薄層化条件を設定した。
この実施例での薄層部rLlは1バツチ5箇所とし。
略等間隔に形成するようにした。又、薄層部rtlの長
さしは1個所当り20,000 mmで、層厚Tは5 
Q mm(通常層の層厚TOはsoomm)になるよう
にした。
このような薄層部の形成は中継貯槽1の排出口の開口巾
を150m7nとし、その開口高さく開度)を調整し、
この排出口からの原料排出速度を自動的に調整すること
によって行った0 その間度調整を図示すれば第5図のとおりである0 このようにして形成した薄層部がベルトコンベヤーヘッ
ド2−1から落下する際拡巾板17と、整流板19を作
動して拡巾板と整流板間に8Q mmの間隙を形成して
薄層部を拡巾板上て落下させ、層中を約600 mmに
拡巾、薄層化し、整流板19で整流して分配シュート1
2内に落下させた。
拡巾板17と整流板19間から落下する薄層化流をイメ
ージセンサ−で走査し、画像を得た。
その結果は第6図のとおりで、粒子は殆ど雷なシ合って
おらず、各粒子画像は鮮明であった。これを画像処理装
置により処理して粒度分布を得た。
その結果を篩分けによシ実測して得た粒度分布と比較す
ると第7図のとおりで、実測値と可成り近似した結果が
得られた〇 なお本実施例においては薄層部をベルトコンベヤーヘッ
ド部下部に設けた拡巾板17、整流板19によって形成
される薄層化装置によシ更に薄層化するようにしたが、
例えばベルトコンベヤー上でスクレーバー等によって、
平坦化薄層化を促進するようにしても良い。
又、本実施例は高炉の原料装入装置において適用した例
を示したが、これに限定されるものではなく特に粒度分
布調整を必要とする粒状物を処理する他の装置にも適用
できることは勿論であシ、薄層化条件はそれらの装置条
件、粒状物の種類、性状等に応じて、適宜設定するもの
である。
(発明の効果) 本発明はベルトコンベヤーによシ搬送される粒状物を薄
層化することによって、オンラインでの粒状物の経時的
粒度分布を高精度で、測定することを可能とするもので
あり、これによって、粒状物処理装置における粒状物の
経時的粒度分布調整精度を大巾に向上することを可能と
するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施する装置の一例を示す説明図、第
2図は、第1図における中継貯槽の排出口開度調整機構
説明図、第3図は、第1図の拡散装置のI−I’矢視説
明図、第4図は[−II’矢視説明図、第5図は、本発
明における薄層化スケジュール例を示す説明図、第6図
は、本発明の実施例で得られた薄層化部をイメージセン
サ−で撮像した画像を示す説明図、第7図は本発明で得
られた原料の粒度分布例と篩分試験による粒度分布例と
の比較図、第8図は従来の装置例を示す説明図である。 l・・・中継貯槽    2・・・ベルトコンベヤー3
.13・・・ホンパー  4.15・・・旋回シュート
5・・・高炉      7・・・測定装置8・・・ス
ライドゲートlO・・・可変スカート11・・・制御装
置    12・・・分配シュート14・・・集合シュ
ート17・・・拡巾板19・・・整流板     22
・・・光源23・・・イメージセンサ−24・・・画像
解析装置M・・・原料 fj5L図 第2図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)粒状物のベルトコンベヤー輸送方法において、ベ
    ルトコンベヤーへの粒状物の供給量を調整して、ベルト
    コンベヤー上の粒状物の層厚を間欠的に薄層化すること
    を特徴とする粒状物の薄層化輸送方法。
  2. (2)粒状物のベルトコンベヤー輸送方法において、ベ
    ルトコンベヤーへの粒状物の供給量を調整してベルトコ
    ンベヤー上の粒状物の層厚を間欠的に薄層化すると共に
    ベルトコンベヤーヘッド部に設けた拡散装置を介して落
    下させることにより、粒状物の落下流を拡散し、更に薄
    層化することを特徴とする粒状物の薄層化輸送方法。
  3. (3)ベルトコンベヤーへの粒状物の供給速度とベルト
    コンベヤーの速度を相対的に調整し、ベルトコンベヤー
    上の粒状物の層厚を間欠的に薄層化することを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項および第2項記載の粒状物の薄
    層化輸送方法。
JP6930986A 1986-03-27 1986-03-27 粒状物の薄層化輸送方法 Pending JPS62230528A (ja)

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